简述利用SEM、TEM、FTIR、Raman、CV、EIS、BET、XRD和质谱可获得什么信息
SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息 TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成 FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。如单键，双键等等 Raman：通过测定转动能及和振动能及，用来测定材料的结构。 CV：CV曲线可以测试得到很多信息，比如所需电沉积电压，电流，以及可以得到直流偏压 EIS：EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位，阻抗信息，从而模拟出系统内在串联电阻，和电容相关信息 BET：主要是测试材料比表面积的，可以得到材料的比表面积信息。 XRD：主要是测试材料的物性，晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。 质谱：主要用于鉴定材料的化学成分，包括液相质谱，气象质谱......阅读全文
生命科学常用实验仪器名称中英文对照表（一）
DNA测序仪 DNA SequencersDNA合成仪 DNA synthesizer紫外观察灯 Ultraviolet Lamp分子杂交仪 Hybridization OvenPCR仪 PCR Amplifier化学发光仪 Chemiluminescence Apparatus紫外检测仪 Ultr
什么是全信息串联质谱（MSE）？
MS E 是在一次液质分析中同时获得高精确的母离子及碎片离子信息的串联质谱方法。 2. MS E 由“无碰撞能”与“高碰撞能”两种扫描交替构成，分别记录母离子及碎片信息。 3. MS E 通过母离子与其碎片离子具有相同色谱行为的特性进行母-子离子的关联归属。
EDS,XRD,XPS有什么不同
原子吸收光谱（Atomic Absorption Spectrometry, AAS） 根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量；适合对纳米材料中痕量金属杂质离子进行定量测定，检测限低 ，ng/cm3，10-10—10-14g；测量准确度很高，1%（3
xps和eds的区别
原子吸收光谱（Atomic Absorption Spectrometry, AAS） 根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量；适合对纳米材料中痕量金属杂质离子进行定量测定，检测限低 ，ng/cm3，10-10—10-14g；测量准确度很高，1%（3
XRD和TEM在样品物象上表征的区别
样品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三个方面。物相分析一般使用 X－射线粉末衍射仪（XRD）和电子显微镜。形貌和粒度可通过扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）直接观测到粒子的大小和形状。但由于电镜只能观测局部区域，可能产生较大的统计误差。晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念，在多数情况下
金等离子体M带谱强度的定量测量
以无水CH3CN·BCl3和Li3N为原料,以苯为溶剂,在温度为330℃,压力为8～9MPa条件下,利用溶剂热合成方法成功地制备出了BCN三元化合物。X射线粉末衍射(XRD)分析表明,产物为类石墨态结构,透射电子显微镜(TEM)观测到产物中含有B C N纳米管。X射线能谱(XPS)和Fourier变
SEM－vs－TEM：操作上的差异
SEM vs TEM：操作上的差异 这两种电子显微镜系统在操作方式上也有所不同。 扫描电镜（SEM）通常使用15kV以上的加速电压，而透射电镜（TEM）可以将其设置在60-300kV的范围内。 与扫描电镜（SEM）相比，透射电镜（TEM）提供的放大倍数也相当高：透射电镜（TEM）可以将样品放大5
SEM－vs－TEM：操作上的差异
SEM vs TEM：操作上的差异 这两种电子显微镜系统在操作方式上也有所不同。 扫描电镜（SEM）通常使用15kV以上的加速电压，而透射电镜（TEM）可以将其设置在60-300kV的范围内。 与扫描电镜（SEM）相比，透射电镜（TEM）提供的放大倍数也相当高：透射电镜（TEM）可以将样品放大5
SEM－vs－TEM：操作上的差异
这两种电子显微镜系统在操作方式上也有所不同。 扫描电镜（SEM）通常使用15kV以上的加速电压，而透射电镜（TEM）可以将其设置在60-300kV的范围内。 与扫描电镜（SEM）相比，透射电镜（TEM）提供的放大倍数也相当高：透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SE
关于MOFs表征，你想知道的都在这里！
近日，2025 年诺贝尔化学奖公布，授予北川进（Susumu Kitagawa）、理查德·罗布森（Richard Robson）和奥马尔·亚吉（Omar Yaghi），以表彰“他们对金属-有机框架的发展”。三位获奖者创造了一种具有巨大空间的分子结构，使气体和其他化学物质能够在其中流动。这些结构被称为
常用实验仪器名称中英文对照表（一）
仪器中文名称 仪器英文名称(缩写) 原子发射光谱仪 Atomic Emission Spectrometer(AES) 电感偶合等离子体发射光谱仪 Inductive Coupled Plasma Emission Spectrometer(ICP) 直流等离子体发射光谱仪 Dir
扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别
sem的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而tem的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑
扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别
sem的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而tem的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑
扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别
sem的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而tem的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑
扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别
sem的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而tem的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑
扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别
扫描电镜，是观察样品表面的结构特征；透射电镜，是观察样品的内部精细结构。
扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别
sem的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而tem的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑
扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别
扫描电镜，是观察样品表面的结构特征；透射电镜，是观察样品的内部精细结构。
扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别
扫描电镜，是观察样品表面的结构特征；透射电镜，是观察样品的内部精细结构。
扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别
sem的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而tem的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑
扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别
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扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别
sem的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而tem的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑
扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别
sem的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而tem的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑
常用材料测试方法总结
成分分析： 成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。 体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱
常用材料测试方法总结
成分分析： 成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。 体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方
XRD测试能够给出什么物理信息
常规XRD测试给出的是晶体样品物相信息，比如测定晶体二氧化硅粉末时，可以得到该样品的X射线衍射图谱。衍射谱是由样品在X射线照射下产生的，随着角度的变化，逐渐把晶体每个晶面显现出来，形成对应的衍射峰，多个衍射峰形成一张特定衍射谱。某一种物相有对应的衍射谱，若已知衍射谱，也可以反推物相。
XRD测试能够给出什么物理信息
常规XRD测试给出的是晶体样品物相信息，比如测定晶体二氧化硅粉末时，可以得到该样品的X射线衍射图谱。衍射谱是由样品在X射线照射下产生的，随着角度的变化，逐渐把晶体每个晶面显现出来，形成对应的衍射峰，多个衍射峰形成一张特定衍射谱。某一种物相有对应的衍射谱，若已知衍射谱，也可以反推物相。
什么是质谱及质谱图
质谱（又叫质谱法）是一种与光谱并列的谱学方法，通常意义上是指广泛应用于各个学科领域中通过制备、分离、检测气相离子来鉴定化合物的一种专门技术。质谱法在一次分析中可提供丰富的结构信息，将分离技术与质谱法相结合是分离科学方法中的一项突破性进展。在众多的分析测试方法中，质谱学方法被认为是一种同时具备高特异性
origin8.0－Raman谱去基线处理
首先声明一下，本人菜鸟一只。首次遭遇Raman谱去基线处理，可是费了不少周折。总算会简单操作了，先写下来，备用。因为笨，而且健忘，只能这样咯。 Analysis（分析）-peaks and baseline---peak analyzer---open dialogue---打开对话窗口，见
什么是气体吸附法和－BET－理论？
气体吸附法是在恒温条件下，通过测定样品在一系列分压下对背吸附气体的饱和吸附量获得吸附—脱附等温线，以求得样品比表面积孔径分布的方法。 求得样品比表面和孔径分布的理论基础是BTE理论，也叫多孔物质的多分支层吸附理论，它是建立在 Langmuir 方程之上并对其修正的一种方法，是计算比表面的普遍理论。