轻元素EDXRF分析技术研究及应用
轻元素(这里主要是指原子序数12~20之间的元素,如Al、Si、S、K、Ca等元素)是很多工业原料中元素分析的必测成分,它们有可能是有益元素也有可能是有害元素。在工业生产流程中,对于轻元素测量的准确度、精确度以及测量速度都提出了很高的要求。近年来EDXRF分析方法越来越广泛地应用于工业领域的元素分析,该分析方法具有分析速度快、检测范围广、结果稳定可靠、易于实现自动化及在线分析等优点。但是由于轻元素特征X射线能量低、荧光产额低,激发、探测效率很低,同时由于轻元素间的K系谱线能量十分接近,基体效应影响严重等原因,大大限制了EDXRF分析技术在轻元素定性定量分析上的应用。本项研究源自国家“863”计划项目“海底原位X射线探针分析系统研制”,开展EDXRF分析技术对轻元素(主要是S、K、Ca)的分析研究,探讨轻元素测量的最佳实验条件,对S元素的检出限进行了测定,同时对不同样品中的S、K、Ca元素进行了定量分析,以此促进EDXRF技术在工......阅读全文
XRF的发展过程
1895 年，德国物理学家伦琴 ( Roentgen WC) 发现了 X射线。1896 年，法国物理学家乔治( Georgs S) 发现了 X射线荧光。1948 年，弗利德曼( Friedman H． ) 和伯克斯( Birks L S)首先研制了第一台商品性的波长色散 X射线荧光( WDXRF)
能量色散－X－射线荧光－(ED－XRF)的相关介绍
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 是用于元素分析应用的两种通用型 X 射线荧光技术之一。在 EDXRF 光谱仪中，样品中的所有元素都被同时激发，而能量色散检测仪与多通道分析仪相结合，用于同时收集从样品发射的荧光辐射，然后区分来自各个样品元素的特性辐射的不同能量。EDXRF 系统的分辨率取决
能量色散X射线荧光光谱法应用于矿石及水体现场分析
能量色散-X射线荧光光谱法(EDXRF)在矿产勘查、矿山环境监测及找矿现场分析中具有重要地位。包括硫化物矿石在内的高矿化度地质样品,由于缺乏基体匹配的标准样品,存在分析校准问题,基体校正难度也很大,分析数据的准确度会受到严重影响,制约了EDXRF在该类样品分析中的应用；分散在水体中的、对生态环境和人
天瑞仪器2019年营收9.08亿元－EDXRF和质谱仪收入和毛利上升
分析测试百科网讯，4月15日，天瑞仪器发布2019年年报，报告期内，公司实现营业收入为9.078亿元，比去年同期10.24亿元下降11.36%；归属于上市公司股东的净利润为 2,105.51 万元，比去年同期3617.7万元下降41.80%。归属于上市公司股东的扣除非经常性损益的净利润为-171.5
能量色散x射线荧光光谱EDXRF在测试铁矿石压片样品的应用
Introduction 简介由于钢铁工业对铁矿石的高需求，使之成为当今社会最重要的商品之一。然而铁矿石中的一些成分会干扰生产过程或者对最终产品的性质产生负面作用。因此，监控铁矿石的化学成分不仅对炼钢过程控制有重要作用，也有助于优化钢铁生产过程中的熔炉加料工艺。在铁矿石样品中，一些元素是必须被监控
X荧光光谱的初识
XRF是一种确定各种材料化学组成的一种分析方法。被测材料可以是固体、液体、粉末或其它形式。XRF还可测定镀层和薄膜的厚度及成分。XRF具有分析速度快、准确度高、不破坏样品及样品前处理简单等特点。应用范围广泛，涉及金属、水泥、油品、聚合物、塑料、食品以及矿物、地质和环境等领域，在医药研究方面，XRF也
波长色散X射线荧光光谱仪的新进展
X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法，是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射线荧光光谱仪（XRF）是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线），从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有波长色散型和能量色
X射线荧光光谱原理
X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法，是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的方法之一。 X射线荧光光谱仪（XRF）是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线），从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有波长色散型和能
能量弥散X射线荧光光谱分析技术介绍
能量弥散X射线荧光（EDXRF）光谱分析技术主要基于两点：一是其简便性，二是它非常适用于现场手持测试。 每个EDXRF光谱分析系统通常包含三个主要部分： 激发源、一台光谱仪或检测器以及一个数据收集或处理器。与波长色散X射线荧光光谱分析系统相比，EDXRF光谱分析系统具有以下特点：操作简单、分析进
能量色散X射线荧光光谱仪
在20世纪80年代初，EDXRF谱仪主要有:①液氮冷却的Si(Li)半导体探测器与X射线管及高压电源组成的谱仪; ②非色散型可携式谱仪，它主要由封闭式正比计数器和放射性核素源组成，通常一次仅能测定1～2个元素。EDXRF谱仪由于仪器性能的改善现在测定元素已由Na扩展到F，甚至可检出C; 可携式XRF
教你如何识别X射线荧光光谱仪缩略术语
X射线X射线(Xray)是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现，故又称伦琴射线。其特性通常用能量(keV)或波长(nm)描述。λ(nm)=1.24E(keV)X射线是原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发射的光辐射，其波长很短约介于0.001~2
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)原理及结构简述
X射线荧光(XRF)是当原级X射线照射样品时，受激原子内层电子产生能级跃迁所发射的特征二次X射线。该二次X射线的能量及强度可被探测，与样品内待测元素的含量相关，此为XRF光谱仪的理论依据。 根据分光系统的不同，XRF光谱仪主要有波长色散型(WDXRF)和能量色散型(EDXRF)两种，二者结构示
土壤重金属分析
土壤是重金属污染的主要载体，也是重金属污染防治，修复的主要目标。摸清土壤污染状况，监测土壤污染动态是污染防治的基础。土壤中重金属污染的分析除了常见的原子吸收，等离子体发射光谱和等离子体质谱法之外，使用zui频繁的是X射线荧光光谱仪(XRF), 按照仪器设计与检测原理的不同，XRF产品可分为能量色散E
能量色散X射线荧光光谱仪
(1)现场和原位EDXRF。现场和原位EDXRF分为两种: ①移动式谱仪，系指可以随身携带的谱仪，用于现场分析; ②手持式谱仪， 要求整机质量小于1.5 kg，可实施原位分析。现场EDXRF谱仪依据所用的激发源、探测器和电子学线路、谱仪的技术指标可划分为四代。第一代约在 20世纪60年代中期，由英、
日本理学（Rigaku）携多款产品亮相Pittcon－2015
日本理学公司 日本理学公司对此次在新奥尔良市Ernest N. Morial会议中心举办的Pittcon 2015十分重视。3月8日至12日参展期间，该公司在＃3727展台展示了多款台式XRD及XRF设备。 Su
值得收藏！一文了解XRF前世今生及主流产品
主要厂商及产品XRF中便携式X射线荧光是主要类型，约占40%。本文对主要手持式 XRF产品（均为EDXRF）制造商及拳头产品进行总结，以供读者参考。更多XRF产品的介绍请见续篇。品牌型号特点赛默飞Niton™ XL5 Plus2021年发布，重2.8磅，1~2秒牌号鉴别，可靠的元素分析（包括轻元素）
偏振能量色散X射线荧光光谱仪XEPOS在拉链行业的应用
REACH法规即“化学品注册、评估、许可和限制”,是欧盟对进入其市场的所有化学品进行预防性管理的法规,该法规自2007年实施以来,不仅对我国出口化工企业带来了一系列长期的冲击,也对包括纺织、机电、玩具、家具等在内的下游产品企业的生产、管理和出口产生深远影响。近年来,欧盟对于REACH法规的消费品监管
X射线荧光分析的原理及应用
X射线荧光分析(XRF)——是对任何种类的样品进行元素分析的好分析技术，无论必需分析的样品是液体、固体还是粉末。XRF可以将高的准确度和精密度与简单和快速的样品准备结合，对铍 (Be) 到铀 (U) 的元素喜迁分析，浓度范围从 100 % 到低至亚 ppm 级。 作为一种确定各种材料
水体样品化学富集薄试样X射线荧光光谱现场分析
本工作的主要内容是研究适合便携式x射线荧光光谱分析环境水体中重金属元素的富集和制样技术。建立EDXRF现场分析方法,以期达到两个目标：(1)扩充车载EDXRF实验室的现场样品分析范围,实现资源环境调查综合支撑能力；(2)使手持式XRF分析仪能够应用于水体重金属元素分析,为支撑环境水体样品调查和监测提
波长色散X射线荧光光谱仪的新进展
X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法，是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射线荧光光谱仪（XRF）是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）,从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有波长色散型和能量色散型
【专利】一种基于XRF的盐湖卤水在线测量装置及测量方法
一种基于XRF的盐湖卤水在线测量装置及测量方法 申请号：CN202310715601.X 申请日：20230616 公开（公告）日：20230922 申请（专利权）人：南京航空航天大学 发明人：贾文宝； 单卿； 罗阳雪； 张新磊； 张纪伟 摘要：本发明公开了一种基于XRF的盐湖卤水在
XRF－分析污泥中的重金属
能量色散X 射线荧光 (EDXRF) 适合于对污泥中的重元素进行筛查和监控。这项技术依赖于高灵敏度的探测器，能够测量从钠(Na, Z=11) 到铀(U, Z=92)所有元素的发射谱线，测量浓度可从几个ppm到百分含量，且样品制备非常简单，一次完整的样品分析所需的时间不超过15 mi
理学推出NEX－LS扫描多元素涂层分析仪
Rigaku NEX LS扫描仪为卷筒纸和卷材应用执行多元素组成，涂层重量和涂层厚度分析。 Rigaku NEX LS能量色散X射线荧光线性扫描仪 分析测试百科网讯 2018年2月26日，应用理学技术公司（ART）宣布发布新型Rigaku NEX LS扫描多元素涂层分析仪。该仪器是Rigak
合金分析仪具有哪些特点
合金分析仪是用来分析金属成分合含量的仪器，目前被很多领域广泛应用。 随着合金工业产量的急速飙升，国内各制造厂商对自动检测设备的需求也迫不可待。 目前市场上出现很多的合金分析仪，在的仪器网中获得了用户的高度认可和肯定； 那么合金分析仪的具有哪些主要特点呢？ 1.能检
EDS与EDX有什么区别
EDX指的是能量散射型X射线荧光光谱仪，也有人叫EDXRF。EDS是能谱仪。XRF是比EDS更准确的定量。
EDS与EDX有什么区别
EDX指的是能量散射型X射线荧光光谱仪，也有人叫EDXRF。EDS是能谱仪。XRF是比EDS更准确的定量。
X射线荧光光谱法在化学分析中的应用
主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，最轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪，可
X射线荧光光谱法在化学分析中的应用
主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，最轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪
X光谱计的化学分析
主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，最轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪
关于XRF光谱仪的化学分析介绍
主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，最轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪