钛酸钡中主次元素含量的能量色散X荧光法同时测定
在电子行业,钛酸钡由于其特殊的电性能,在电子元器件中被广泛应用。钛酸钡的生产成本较低、合成方法简单、掺杂改性容易,是附加值高、发展前景广阔的精细化工产品。随着电子工业的高速发展,不仅敏感元件的需求量日益增大,而且对材料理化指标的要求也趋向多元化,更加全面。加之现代制造业产品质量管理体系的普遍建立,对电子元器件原材料生产的可追溯性以及应用的质量可控性的要求也不断提高。就化学指标而言,钛酸钡中杂质含量指标越来越向微量甚至痕量的方向发展,因此,相应简便、快捷、可靠的分析方法的建立就成为人们所关注的课题。根据最新化工行业标准,电子级钛酸钡化学指标的检测有化学法、电感耦合等离子体发射光谱法以及可见光分光光度法等方法。完成钛酸钡化学指标的检测不仅需要电感耦合等离子体发射光谱仪这种国内材料及元器件行业中普及率不高的大型仪器,而且这些检测方法的样品分解与前处理均十分繁琐,需要昂贵的铂金坩埚;基体效应较为严重,Al、Si、Fe、Sr等元素的检测灵......阅读全文
钛酸钡中主次元素含量的能量色散X荧光法同时测定
在电子行业,钛酸钡由于其特殊的电性能,在电子元器件中被广泛应用。钛酸钡的生产成本较低、合成方法简单、掺杂改性容易,是附加值高、发展前景广阔的精细化工产品。随着电子工业的高速发展,不仅敏感元件的需求量日益增大,而且对材料理化指标的要求也趋向多元化,更加全面。加之现代制造业产品质量管理体系的普遍建立,对
电子级钛酸钡中主次元素含量能量色散X荧光法测定研究
在电子行业,钛酸钡由于其特殊的电性能,在电子元器件中被广泛应用。钛酸钡的生产成本较低、合成方法简单、掺杂改性容易,是附加值高、发展前景广阔的精细化工产品。随着电子工业的高速发展,不仅敏感元件的需求量日益增大,而且对材料理化指标的要求也趋向多元化,更加全面。加之现代制造业产品质量管理体系的普遍建立,对
X荧光光谱法测定镍矿石中的主次元素
采用硝酸钡作为氧化剂,在预氧化阶段将低价态的S转化为硫酸盐,与其它氧化剂相比可更好将硫定量保留在硼酸盐熔剂中,27.8%的S的RSD为0.61%。Tm作为Ni的内标,Ni的分析准确度和精密度得到明显改善。采用(Li2B4O7:LiBO2=12:22)的混合熔剂,准确测定镍矿中的15中主次痕量元素,最
X射线能谱法测定土壤中7种主次量元素
采用粉末样品压片制样,土壤标准物质以及人工合成标样为标准,用X 射线荧光能谱仪对土壤试样中的Si、K、Ca 、Ti、Mn 、Fe 和Sr 7 种主、次量元素进行测定。讨论了基体效应及校正等问题。方法经土壤标样分析验证,其结果与标准值符合较好,方法的精密度( RSD,n = 5) < 3 % 。
ICP测定天青石中主次量元素
测定天青石中主次量元素精确称取天青石样品0. 1g(准确至0. 000lg),偏硼酸锂0.4g置石墨坩埚中(样品夹裹在偏硼酸锂中),再将石墨坩埚祸放人高温炉中,直至生成一种清亮熔珠后取出,待熔体冷却至室温后,将熔珠倒人盛有50mL5%硝酸的烧杯中,在电热板上加热至熔珠完全溶解后,取下冷却,转移至10
X射线荧光光谱法测定土壤样品中的24种主次量及痕量元素
近年来随着国家对矿产资源调查工作的进一步重视和投入的不断加大,地质行业得到了飞速发展,作为基础地质调查工作的多目标区域地球化学调查项目顺势启动。地质实验测试工作作为地质工作的“眼睛”,在多目标区域地球化学调查项目中发挥着关键的技术支撑作用。同时,它也面临着重大的机遇和挑战,要求分析测试工作具有更高的
应用扫描电镜和X射线能谱仪研究钛酸钡
该文使用发射扫描电子显微镜和X射线能谱仪对钛酸钡进行表征。针对钛酸钡的材料特性和工作目标,采用了多种测试工作条件,通过其结果对比,找到了对钛酸钡进行形貌观察的最佳条件,并分析了其成分。
能量色散-X-荧光法测定法相较传统分析法的优势有哪些?
能量色散 X 荧光法测定铁、钾、硅、钙、锰、镁、钛、铅、铝、磷、硫等 11 个元素有四个优点:构建基本参数法、强度校正法测定模型后,铁矿石试样中11 个元素的测定一次完成;除使用铁矿石标准样品外,不需要其它化学试剂;不产生废水、废气,对环境、操作人员没有危害;试样不需要进行前处理,测定速度快,检测效
能量色散X射线荧光光谱法检测食品中金属元素的研究
食品中的金属元素及其含量多少与人体诸多代谢功能密切相关。食品中所含的常量、微量元素能够维系身体正常新陈代谢等生命活动,当摄入过多的人体所必需的金属元素时,也会产生毒性作用影响身体健康。目前检测食品中金属元素的方法很多,主要有原子吸收法、电感耦合等离子体发射光谱法、电感耦合等离子体质谱法、高效液相色谱
能量色散X荧光光谱仪
能量色散X荧光光谱仪用途:1.荧光激发光谱和荧光发射光谱2.同步荧光波长和能量扫描光谱 3.3D 4.Time Base和CWA固定波长单点测量 5.荧光寿命测量,包括寿命分辨及时间分辨 6.计算机采集光谱数据和处理数据
能量色散X射线荧光光谱技术
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
能量色散X荧光能谱仪
能量色散X-荧光能谱仪是一种用于化学、材料科学领域的分析仪器,于2011年11月10日启用。 技术指标 检测项目:适用于金属、化工、石油、土壤、矿石元素分析,满足固体、液体、粉末、 水质及油类等形态样品中的多种无机元素的定性、半定量和定量分析。满足镀层和薄膜厚度的测定。用于科研制标工作。 检
X射线荧光法的相关介绍
X射线荧光法是用,照射待测样品,使受激元素产生二次特征X射线(即荧光),使用X射线荧光仪测量并记录样品中待测元素的特征X射线照射量率,从而确定样品的成分和目标元素含量的方法。 方法的特点是操作简单,速度快,可以进行原位测量,在现场获得目标元素的含量;划分矿与非矿的界限,代替或部分代替刻槽取样。
能量色散X荧光光谱仪用途
能量色散X荧光光谱仪用途:1.荧光激发光谱和荧光发射光谱2.同步荧光波长和能量扫描光谱 3.3D 4.Time Base和CWA固定波长单点测量 5.荧光寿命测量,包括寿命分辨及时间分辨 6.计算机采集光谱数据和处理数据
能量色散X射线荧光光谱技术简介
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
能量色散型X荧光光谱仪
能量色散型X荧光光谱仪是一种用于材料科学领域的分析仪器,于2000年11月14日启用。 1、技术指标 元素范围:Na-U; 浓度:亚ppm-100%; X射线管:50w; 阳极:铑靶; 最大电压:60KV; 最大电流:2mA。 准直器:直径1.0mm 3.5mm 7.0mm; 检测器:电致冷
单波长能量色散X射线荧光分析技术
单波长能量色散X射线荧光分析技术(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence),就是依靠双曲面弯晶、二次靶或者多层膜弯晶等技术,将X射线管出射谱中的单一能量衍射聚焦到样品一点,激发样品中元素荧光,这样极大降
能量色散X射线荧光光谱仪
在20世纪80年代初,EDXRF谱仪主要有:①液氮冷却的Si(Li)半导体探测器与X射线管及高压电源组成的谱仪; ②非色散型可携式谱仪,它主要由封闭式正比计数器和放射性核素源组成,通常一次仅能测定1~2个元素。EDXRF谱仪由于仪器性能的改善现在测定元素已由Na扩展到F,甚至可检出C; 可携式XRF
能量色散X射线荧光光谱仪
(1)现场和原位EDXRF。现场和原位EDXRF分为两种: ①移动式谱仪,系指可以随身携带的谱仪,用于现场分析; ②手持式谱仪, 要求整机质量小于1.5 kg,可实施原位分析。现场EDXRF谱仪依据所用的激发源、探测器和电子学线路、谱仪的技术指标可划分为四代。第一代约在 20世纪60年代中期,由英、
能量色散X射线荧光光谱仪介绍
能量色散X射线荧光光谱仪是根据元素辐射x射线荧光光子能量不同,经探测器接收后用脉冲高度分析器区别,进行元素鉴定,根据分析线脉冲高度分布的积分强度进行元素定量的分析方法。能量色散X射线荧光光谱仪主要用于固体、粉末或液体物质的元素分析,被广泛用于许多部门和领域,已成为理化检测、野外现场分析和过程控制分析
天瑞X荧光光谱仪能量色散
目前本产品可用于稻米、小麦、谷物、烟草等作物中的重金元素镉(Cd)、铅(Pb)、汞(Hg)、砷(As)、硒(Se)的快速无损检测,其检出限低可达0.03ppm。其2-3分钟能进行快速筛查,测试小于15分钟对样品的准确测量。射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》
能量色散X射线荧光光谱技术基本介绍
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
能量色散-X-射线荧光-(ED-XRF)的相关介绍
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 是用于元素分析应用的两种通用型 X 射线荧光技术之一。在 EDXRF 光谱仪中,样品中的所有元素都被同时激发,而能量色散检测仪与多通道分析仪相结合,用于同时收集从样品发射的荧光辐射,然后区分来自各个样品元素的特性辐射的不同能量。EDXRF 系统的分辨率取决
能量色散X荧光光谱仪性能特点
超薄窗X光管,指标达到先进水平采用数字多道技术,可以达到超高计数率,提高测试效率和精度SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率、峰背比和能谱特性低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证仪器工作的一致性高信噪比的电子线
能量色散型x射线光谱仪的介绍
现代应用X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用,是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手段之一,各种与X射线荧光光谱相关的分析技术,如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等,在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用。
能量色散X荧光光谱仪分析原理
X射线管产生的初级X射线照射到平整均匀的颗粒物表面时,样品所含待测元素原子受到激发后发射出特征X射线,经探测器接收后,将其光信号转变为模拟电信号,经过模数变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理,通过专用软件获取元素特征X射线强度,根据元素特征谱峰强度与含量的相应数学模型计算待测元素含量
天瑞X荧光光谱仪能量色散
目前本产品可用于稻米、小麦、谷物、烟草等作物中的重金元素镉(Cd)、铅(Pb)、汞(Hg)、砷(As)、硒(Se)的快速无损检测,其检出限低可达0.03ppm。其2-3分钟能进行快速筛查,测试小于15分钟对样品的准确测量。射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-200
能量色散X射线荧光光谱仪介绍
能量色散X射线荧光光谱仪是根据元素辐射x射线荧光光子能量不同,经探测器接收后用脉冲高度分析器区别,进行元素鉴定,根据分析线脉冲高度分布的积分强度进行元素定量的分析方法。能量色散X射线荧光光谱仪主要用于固体、粉末或液体物质的元素分析,被广泛用于许多部门和领域,已成为理化检测、野外现场分析和过程控制分析
便携能量色散X射线荧光光谱检测土壤
能量色散X 荧光光谱仪至今还没有形成统一的国家检定规程。因此,根据仪器的实际检定要求,参考相关仪器的检定规程,对能量色散X 荧光光谱仪的检定方法进行了深入的研究和探讨,提出了能量色散X 射线荧光光谱仪的检定方法。 X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦
陶瓷原料化学成分分析的N种方法
1)滴定法湿法化学分析测定陶瓷原料的化学成分,滴定法是其中常用的方法之一。滴定分析法的原理是,滴定试剂与被测组分在适当的酸碱pH值下反应,通过指示剂在反应达到终点时颜色突变所使用的滴定试剂的多少来计算被测物的含量。陶瓷成分测定中,三氧化二铝、氧化镁>5%、氧化钙、三氧化二铁、氟化钙、较高含量的二氧化