扫描电镜X射线能谱法在镀层分析中的应用

以测定人民币壹元和伍角硬币的镀层成分为例子来说明扫描电镜-X射线能谱法在镀层分析中的应用。这种无损、检测速率快的分析方法,必将在电镀工艺研究和开发等方面发挥更大的作用。 ......阅读全文

X射线光电子能谱

X射线光电子能谱(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)技术也被称作用于化学分析的电子能谱(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA).XPS属表面分析法,它可以给出固体样品表面所含的元素种类、化学组成以及有

X射线能谱仪的原理介绍

   在许多材料的研究与应用中,需要用到一些特殊的仪器来对各种材料从成分和结构等方面进行分析研究。    其中,X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器之一。下面详细介绍一下X射线能谱仪的基本原理、结构、优缺点及应用。    X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法

X射线能谱分析原理

X射线能谱分析原理     X射线能谱定性分析的理论基础是Moseley定律,即各元素的特征X射线频率ν的平方根与原子序数Z成线性关系。同种元素,不论其所处的物理状态或化学状态如何,所发射的  特征X射线均应具有相同的能量。    X射线能谱定性分析是以测量特征X射线的强度作为分析基础,可分为有标样

X射线镀层膜厚测试仪分析特性

X射线镀层膜厚测试仪Ux-720,该款仪器特别为颇具挑战性的RoHS/ WEEE分析而研发。而且,它还十分适合于测量黄金及其他贵金属,分析金的成分重复性可达0,5 ‰。可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。 使用安全简便,坚固耐用节省维护

电子探针X射线微区分析能谱仪分析特点

  具有以下优点(与波谱仪相比)  能谱仪探测X射线的效率高。  在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数,在几分钟内可得到定性分析结果,而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。  结构简单,稳定性和重现性都很好(因为无机械传动),不必聚焦,对样品表面无特殊要求,适于粗糙表面分析。 

X射线镀层测厚仪的工作原理

 X射线镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。  X射线镀层测厚仪的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法, 射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡

x射线镀层测厚仪的使用原理

X荧光分析仪的工作原理及特点荧光,顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚,成为自由电子,我们说原子被激发了,处于激发态,这时,

X荧光射线镀层测厚仪技术原理

X荧光射线镀层测厚仪原理    XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号

X射线能谱岩芯扫描分析技术的研究开发

XRF(X射线荧光光谱分析)岩芯扫描方法,是一种非破坏性的、高效的岩芯元素组成分布的XRF分析测试方法。我们研制的国内第一台XRF岩芯扫描仪将传统的点数据改为线扫描面积型数据,使数据对样品元素组成的变化趋势描述的更加准确,清晰,结合计算机数据分析,可以提供可靠的趋势数据。 

硫化物X射线能谱定量分析探讨

711-F型能谱仪对常见硫化物(黄铁矿、磁黄铁矿、方铅矿、闪锌矿等)元素定量分析的条件试验结果表明,一定要选择好仪器的最佳试验条件;保证分析样品的质量,排除影响元素定量分析精度的因素。经反复条件试验,获得硫化物的最佳试验测试参数:电压25kV、束流64μA、束斑0.125μm、计数率2300c/s、

用X射线能谱(TEM)分析晶界偏析的方法

本文利用EM400T透射电子显微镜和EDAX9100能谱仪研究微量元素在晶界的偏聚。通过本文采用的电子束直径小到40A的微探针,低背底样品台,沿晶界拉长束斑,分段积分等措施,明显地提高了分析灵敏度。用这种方法测量了含磷820ppm的Si-Mn高强度钢和含镁94ppm的GH169高温合金中P和Mg的晶

软骨钙化的X射线能谱半定量分析

软骨的钙化过程实质上是钙盐在软骨内沉积的积累过程。尽管人们一直关注这个问题,但并未完全清楚。本文利用透射电镜观察了钙盐在软骨细胞内外沉积的部位和形态,利用 X 射线能谱仪对沉积钙盐的 Ca- P 强度、浓度和摩尔数进行了半定量分析。

X射线能谱仪谱峰重叠问题的探讨

针对X射线能谱仪在对样品进行定性分析时经常出现的元素谱峰重叠问题,进行机理分析和归纳总结,提出在物证检验中如何避免谱峰重叠带来定性分析偏差的方法. 

衰减透射法测量高能X射线能谱

研究了基于衰减透射原理的高能X射线能谱测量与重建。利用蒙特卡罗方法对神龙一号直线感应加速器的X射线源穿过不同厚度铝时的衰减透射过程进行模拟实验。解谱方法采用迭代扰动法,对不同的初始能谱估计和测量噪声水平条件下的能谱重建进行计算分析。结果表明:实验测量不包含噪声时,选择合适的初始能谱可以获得比较准确的

软X射线能谱仪数据采集系统

在 线 存 储 软X射线能谱仪的结构框图见图1。不同能量的软X射线被Johann弯晶衍射分光,分光后的能量分布转化成在探测器上对应的位置分布。位置灵敏、时间分辨好的MWPC和MCP都可做为这种探测器。软X射线区适用的MWPC采用逐丝阳极读出法以允许高计数率,同时也是为了满足将可测能区延伸到更低能区时

衰减透射法测量高能X射线能谱

研究了基于衰减透射原理的高能X射线能谱测量与重建。利用蒙特卡罗方法对神龙一号直线感应加速器的X射线源穿过不同厚度铝时的衰减透射过程进行模拟实验。解谱方法采用迭代扰动法,对不同的初始能谱估计和测量噪声水平条件下的能谱重建进行计算分析。结果表明:实验测量不包含噪声时,选择合适的初始能谱可以获得比较准确的

应用X射线能谱仪检验原子印油

 原子印章是一种新型的印章。原子印章携带和使用极为方便,已被普遍使用。由于原子印章的特殊结构,其印油的成份不同于普通的印台油及印泥。早期的原子印油多为国外进口,目前国内亦有一些厂家生产。我们应用扫描电子显微镜和 X 射线能谱仪对原子印油进行检验,获得一些有用的信息。

X射线能谱过滤的MC模拟研究

能量低于300 keV且能谱简单的稳定放射性核素较少,作为替代,利用X射线机产生X射线,并经过不同厚度的材料的过滤,可以得到用于对辐射防护仪器进行校准和确定其能量响应和角响应的一系列规定辐射质的参考辐射。由于材料的质量衰减系数与X射线在物质中各种作用过程有关,并强烈的依赖于光子的能量,基于这一物理现

太阳耀斑硬X射线能谱演变特征

太阳硬X射线是耀斑高能电子束流与太阳大气相互作用产生的韧致辐射,根据简单的太阳耀斑环物理模型,假定具有流量与能谱同步变化的高能电子束流从耀斑环顶部注入,计算了硬X射线辐射在不同的靶物质密度区的能谱演变特征.结果表明:硬X射线辐射在低大气密度靶区呈现软一硬一硬的能谱演变特征,在高密度靶区硬X射线能谱则

X射线光电子能谱(-XPS)

XPS:X射线光电子能谱分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)测试的是物体表面10纳米左右的物质的价态和元素含量,而EDS不能测价态,且测试的深度为几十纳米到几微米,基本上只能定性分析,不好做定量分析表面的元素含量。 原理:用X射线去辐射样品,使原子或分子

砚石的X射线能谱分析

用 X射线能谱仪对一系列砚石样品进行成分分析得知砚石主要含铝、硅、钙、铁、钾等元素 ,为砚石的成因研究打下基础 ,指出砚石成因研究有助于某些地球课题的深化。 

X射线能谱分析过程、原理

当X射线光子进入检测器后,在Si(Li)晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的(在低温下平均为3.8ev),而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε,因此,入射X射线光子的能量越高,N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对,经过前置放大器转换成电流脉

不锈钢X射线能谱定量分析方法研究

配备X射线能谱仪的扫描电子显微镜不仅能够观察材料的微观形貌还可对微区成分进行分析,现已广泛应用于材料分析测试领域。提高能谱仪定量分析的准确度,是科学研究和工业生产的重要课题。本论文对能谱仪的物理基础、工作原理、定性分析、定量分析等方面进行了阐述,并围绕如何获得不锈钢标样定量分析的最佳工作条件以及提高

表面层外全反射角X射线能谱微分析

电子探针微区分析(EPMA,XRMA)由于X射线激发深度较大而对薄层分析产生困难,无法准确确定分析结果是样品表面的成分还是样品体相的成分。本工作在通常的X射线微区分析设备上,采用外全反射角X射线能谱微分析方法,通过对硅衬底上不同膜厚的铝膜和铜膜的测定,探索出一种区分膜成分和体相成分的新方法。结果表明

家猫针毛的形态研究和X射线能谱元素分析

本文对家猫针毛的形态结构进行了扫描电镜(SEM)观察,并且利用X 射线能谱仪(EDAX)分别对鳞片层、皮质层和髓质层进行了元素分析。结果表明:家猫针毛具有特殊的形态结构,针毛纤维各层间所含元素有明显区别。可为家猫针毛的性能研究及鉴别提供依据。

多相体系银焊条的X射线能谱定量分析

稀土银焊条属多相体系,它由低含量微细稀土氧化物弥散分布在银基体中所组成。文献[1][2]提出的多相体系样品电子探针定量分析法均由样品面扫描谱获得实验数据,对焊条中低含量的第二相元素,其峰强很低,实验误差大。因在银焊条中:基体对第二相各元素无荧光效应;基体对第二相各元素的质量吸收系数相近,第二相各元素

X射线光电子能谱特性分析及其优缺点

X射线光电子能谱,简称XPS,别称ESCAX射线光电子能谱学是近四十年来发展起来的一门综合性学科。它与多种学科相互交叉,融合了物理学,化学,材料学,真空电子学,以及计算机技术等多学科领域。现代X射线光电子能谱学已经发展为一门独立的,完整的学科。它是研究原子,分子和固体材料的有力工具。 优点:(1)可

CdZnTe半导体探测器X射线能谱响应特性分析

CdZnTe是一种性能优异的高能射线探测材料,在空间科学、核安全以及核医学等众多领域有广泛的应用前景.本文选取了3枚不同等级的CdZnTe探测器,在详细阐述了CdZnTe探测器工作原理的基础上,对比分析了他们的能谱响应曲线和载流子输运特性的关系.重点分析了CdZnTe探测器能量分辨率、电荷收集效率和

PVC/PP共混体系的X射线能谱微区分析

用X射线能谱微区分析方法对PVC/PP共混物进行了研究,得到了共混物断面氯元素的面分布图,并对面分布图像进行了相分析,从亚微观层次揭示了PVC/ PP共混物的相结构.将面分布图像与扫描电镜(SEM) 对PVC/PP共混物的形态照片进行了比较.结果表明,元素面分布图像比形态照片具有更清晰、直观的特点,

微分消卷积法在分析X射线能谱和衍射谱中的应用

x射线谱图中,谱峰的重叠现象十分常见。本文应用微分消卷积法,对实测的谱图进行消卷积处理,从而提高了x射线谱图的分辨率,使原来重叠的谱峰得以分离,通过谱峰面积的计算,得到了它们的相对含量,与配置值基本符合。