金刚石表面Ar离子溅射效应的电子能谱分析
用 X射线光电子能谱 ( XPS)对微波等离子体 ( MPCVD)合成的金刚石进行了 Ar离子溅射效应原位分析 .原始表面的 C1 s光电子峰位于 2 85 .80 e V,随着溅射时间的延长 ,C1 s峰位向低结合能方向移动 ,1 h后移至 2 85 .40 e V.在溅射过程中 ,C1 s的半高峰宽 ( FWHM)由最初的 1 .80 e V增加到 2 .2 0 e V.C1 s峰的解叠结果表明经 Ar离子溅射后 ,金刚石表面出现了石墨态碳 ,而且其含量随溅射的增强而增加 .由于 Ar离子的溅射 ,俄歇电子谱 ( XAES)也发生了明显的变化 ,XAES微分特征距离 D值则由 1 4 .3 7e V增加到 1 9.3 4e V,同时 C的价带电子谱 ( VBS)金刚石特征消失 ,这些结果补充证明了 Ar离子的溅射效应是诱导金刚石向石墨转化 .......阅读全文
大连化物所揭示MXene电子声子表面散射效应
近日，中国科学院大连化学物理研究所化学动力学研究室分子光化学动力学研究组研究员袁开军团队，利用飞秒时间分辨光谱，实现了对复合结构的二维过渡金属碳化物的动力学探测，发现其尺寸效应在电子-声子散射过程中具有重要作用。 二维金属纳米材料的厚度小于载流子的平均自由程时，尺寸效应可能在载流子界面运输和能
表面分析的基本内容
biaomian fenxi 表面分析 surface analysis 对固体表面或界面上只有几个原子层厚的薄层进行组分、结构和能态等分析的 材料物理试验。表面分析方法有数十种，常用的有离子 探针、 俄歇电子能谱分析和 X射线光电子能谱分析,其次还有离子中和谱、离子散射谱、低能 电子衍射
离子溅射仪操作流程相关介绍
1、一般工作距离可调，距离越近，溅射速度越快，但热损伤会增加。 2、离子流的大小通过控制真空压力实现，真空度越低，I越大，溅射速度越快，原子结晶晶粒越粗，电子轰击样品（阳极）产生的热量越高；真空度越高,I 越小，溅射速度越慢，原子结晶晶粒越细小，电子轰击样品产生的热量小。 3、加速电压为固定
解析离子溅射仪常见故障
故障现象：使用一段时间后，溅射电流变小 解决方法：对靶材有无变色、破裂和油污等现进行检查。前两者对靶材进行更换，后者被油蒸汽污染，通过无水乙醇进行清洁，等到干了以后才能够抽真空。 故障现象：在使用一段时间以后，有着过低的真空。 解决方法：对溅射室中或管道内是否有油进行检查，能够使用汽油进行
二次离子质谱的原理组成和结构
二次离子质谱Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)1 引言:离子探针分析仪，即离子探针（Ion Probe Analyzer，IPA），又称二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用电子光学方法把惰性气体等初级离子加
基于扫描探针电子能谱学的表面等离子体激元研究
扫描隧道显微镜(STM)已经成为表面科学中一种极其重要的测量分析手段,用于对固体表面形貌的测量以及费米面附近电子态的探测。然而STM在能谱测量方面的不足限制了它在固体表面微区元素分析及能谱谱学成像方面的应用,将STM与电子能谱技术相结合组建扫描探针电子能谱仪(SPEES)是解决这个问题的一种方案。本
基于扫描探针电子能谱学的表面等离子体激元研究
扫描隧道显微镜(STM)已经成为表面科学中一种极其重要的测量分析手段,用于对固体表面形貌的测量以及费米面附近电子态的探测。然而STM在能谱测量方面的不足限制了它在固体表面微区元素分析及能谱谱学成像方面的应用,将STM与电子能谱技术相结合组建扫描探针电子能谱仪(SPEES)是解决这个问题的一种方案。本
基于扫描探针电子能谱学的表面等离子体激元研究
扫描隧道显微镜(STM)已经成为表面科学中一种极其重要的测量分析手段,用于对固体表面形貌的测量以及费米面附近电子态的探测。然而STM在能谱测量方面的不足限制了它在固体表面微区元素分析及能谱谱学成像方面的应用,将STM与电子能谱技术相结合组建扫描探针电子能谱仪(SPEES)是解决这个问题的一种方案。本
不同杂质气体注入对EAST偏滤器状态和芯部约束的影响
近日，中国科学院合肥物质科学研究院等离子体物理研究所聚变堆材料及部件研究室杨钟时课题组在辐射偏滤器实验中取得新进展，研究了不同杂质气体（Ar和Ne）注入对偏滤器状态和芯部约束的影响。相关研究成果以Comparison of divertor behavior and plasma confine
X射线光电子能谱技术（XPS）的历史、原理及应用
一、XPS的历史X 射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析电子能谱(ESCA)。该方法首先是在六十年代由瑞典科学家K.Siebabn 教授发展起来的。这种能谱最初是被用来进行化学元素的定性分析,现在已发展为表面元素定性、半定量分析及元素化学价态分析的重要手段。此外,配合离子束剥离技术和变角XPS
XPS测试怎么看
中国科学院山西煤炭化学研究所、中国科学院化学研究所分别在今年7月、11月与岛津签订了高端配置的X射线光电子能谱仪(XPS)的订单。两台仪器分别用于催化剂原位研究及固体表面有机/金属沉积薄膜分析。 针对科学院的高水平分析需求，配置了Ar/C24H12双模式离子枪，该离子枪的C
岛津XPS喜获中科院两台大单
中国科学院山西煤炭化学研究所、中国科学院化学研究所分别在今年7月、11月与岛津签订了高端配置的X射线光电子能谱仪(XPS)的订单。两台仪器分别用于催化剂原位研究及固体表面有机/金属沉积薄膜分析。 针对科学院的高水平分析需求，配置了Ar/C24H12双模式离子枪，该离子枪的C24H12离子源
金刚石表面重构研究获进展
近日，吉林大学超硬材料国家重点实验室在“表面重构的模拟新方法与金刚石表面的自组装碳纳米管阵列”研究方面取得重要进展，该研究成果发表在2014年4月16日出版的《自然—通讯》期刊上。研究工作得到了国家自然科学基金委杰出青年基金、面上和重点基金，科技部973计划，教育部长江学者研
俄歇电子能谱在金刚石金属化研究中的应用
近年来随着纳米材料科学的迅猛发展,金刚石表面金属化的研究越来越受到重视。金刚石虽然是一种超硬材料,并具有很多优异的性能,但由于其表面能高及化学惰性,金刚石与金属胎体的结合较弱,使得金刚石工具的性能和寿命大大降低。由于目前研究方法上的困难,有关研究主要集中于金刚石表面金属化工艺及宏观切削性能的研究,而
X射线光电子能谱分析
X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量，以光电子的动能为横坐标，相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得待
关于俄歇电子能谱的表面分析介绍
俄歇电子能谱在固体中运行也同样要经历频繁的非弹性散射，能逸出固体表面的仅仅是表面几层原子所产生的俄歇电子，这些电子的能量大体上处于 10～500电子伏，它们的平均自由程很短，大约为5～20埃,因此俄歇电子能谱所考察的只是固体的表面层。俄歇电子能谱通常用电子束作辐射源，电子束可以聚焦、扫描，因此俄
基于在线表界面表征发现储能电极的表面效应
近日，中国科学院大连化学物理研究所催化基础国家重点实验室研究员傅强团队与大连化物所二维材料化学与能源应用研究组研究员吴忠帅、储能技术研究部研究员李先锋，中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所研究员陈立桅，浙江大学教授高超和北京理工大学教授吴川等合作，在电化学储能过程原位在线（Operando）表界面
俄歇电子能谱分析是一种表面分析方法且空间分辨率高
（1）大多数元素在50~1000eV能量范围内都有产额较高的俄歇电子，它们的有效激发体积（空间分辨率）取决于入射电子束的束斑直径和俄歇电子的发射深度。（2）能够保持特征能量（没有能量损失）而逸出表面的俄歇电子，发射深度仅限于表面以下大约2nm以内，约相当于表面几个原子层，且发射（逸出）深度与俄歇电子
二次离子质谱仪同时分析非金属元素和金属元素
二次离子质谱（sims）和溅射中性粒子质谱（snms）是表面分析科学和材料科学中广泛应用的分析技术。使用离子溅射固体表面能够引起光子、电子、中性粒子和二次离子的发射。sims技术探测溅射产生二次离子，snms技术探测溅射产生中性粒子。由于二次离子的产率和基体相关，sims技术具有显著的基体效应，
X射线光电子能谱技术（XPS）的结构和使用方法
一、超高真空系统超高真空系统是进行现代表面分析及研究的主要部分。XPS谱仪的激发源,样品分析室及探测器等都安装在超高真空系统中。通常超高真空系统的真空室由不锈钢材料制成,真空度优于1×10-9 托。在X射线光电子能谱仪中必须采用超高真空系统,原因是(1)使样品室和分析器保持一定的真空度,减少电子在运
俄歇电子能谱分析的基本原理
俄歇电子的产生和俄歇电子跃迁过程：一定能量的电子束轰击固体样品表面，将样品内原子的内层电子击出，使原子处于高能的激发态。外层电子跃迁到内层的电子空位，同时以两种方式释放能量：发射特征X射线；或引起另一外层电子电离，使其以特征能量射出固体样品表面，此即俄歇电子。俄歇电子跃迁过程俄歇电子跃迁过程能级图俄
贫铀表面的Ar气脉冲辉光放电清洗
由于贫铀特有的化学性质,其表面在大气中始终存在一层影响界面结合的氧化层。为了增强薄膜与铀基体之间的有效结合,需要采用先进的辉光放电技术对铀基体进行薄膜沉积前的原位清洗。铀样品经金相砂纸逐级打磨并抛光,将样品放入俄歇电子能谱仪(AES)预制室,充入Ar气进行辉光放电清洗,清洗后用俄歇电子能谱仪对表面进
太阳表面出现大型黑子群AR2529
记者14日从中科院云南天文台获悉，4月8日，太阳上出现了一个大黑子群AR2529，12日面积达到最大，13日开始黑子群面积开始减小。 据中科院云南天文台闫晓理博士介绍，4月8日，科学家利用位于云南抚仙湖太阳观测站的“一米新真空太阳望远镜”观测到了太阳黑子群AR2529，从4月8日到12日，这个
SEM样品表面的导电处理
扫描电镜的成像原理是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号，而若样品不导电造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走，一定程度后就反复出现充电放电现象（charging)，最终影响电子信号的传递，造成图像扭曲，变形、晃动等等一些现象。本文罗列了一些常见的样品表面的导电处理方法。
俄歇电子能谱分析被测样品要求
导体或半导体材料，表面清洁
阴极发光仪和离子溅射仪原理有什么区别
阴极发光仪和离子溅射仪原理有什么区别主要利用辉光放电(glow discharge)将氩气(Ar)离子撞击靶材(target)表面, 靶材的原子被弹出而堆积在基板表面形成薄膜。溅镀薄膜的性质、均匀度都比蒸镀薄膜来的好,但是镀膜速度却比蒸镀慢很多。新型的溅镀设备几乎都使用强力磁铁将电子成螺旋状运动以加
样品制备丨扫描电镜主要用于观察的方法
1样品处理的要求 扫描电子显微镜的优势为可以直接观察非常粗糙的样品表面，参差起伏的材料原始断口。但其劣势为样品必须在真空环境下观察，因此对样品有一些特殊要求,笼统的讲：干燥，无油，导电。 1形貌形态，必须耐高真空。 例如有些含水量很大的细胞，在真空中很快被抽干水分，细胞的形态也发生了改变，
扫描电子显微镜（SEM）之样品制备篇
一、样品处理的要求 扫描电子显微镜的优势为可以直接观察非常粗糙的样品表面，参差起伏的材料原始断口。但其劣势为样品必须在真空环境下观察，因此对样品有一些特殊要求,笼统的讲：干燥，无油，导电。 1 形貌形态，必须耐高真空。 例如有些含水量很大的细胞，在真空中很快被抽干水分，细胞的形态也发生了改
辉光放电质谱法介绍
GDMS 是辉光放电质谱法（glow discharge mass spectrometry）的简称。是利用辉光放电源作为离子源与质谱仪器联接进行质谱测定的一种分析方法。GDMS在多个学科领域均获得重要应用。在材料科学领域， GDMS成为反应性和非反应性等离子体沉积过程的控制和表征的工具。GDMS已
UO2表面铝薄膜生长过程的AES原位研究
室温下在俄歇电子能谱(AES)分析仪超高真空室中,通入适量O2,促使基底U表面氧化,生成UO2,然后利用Ar+枪溅射铝箔,使铝沉积在UO2表面形成Al薄膜。沉积过程中实时采集UO2表面的AES谱和低能电子损失谱(EELS),原位分析铝薄膜在UO2表面的生长过程和膜间界面反应。研究表明,室温下,UO2