平均粒度仪的简介
平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。该仪器在我国最早研制的企业是丹东市热工仪表厂于1977年研制成功并投入生产的。主要研制人是罗锡亨高级工程师，至到93年成立了丹东市环境分析仪器厂，把以前WLP-202平均粒度测定仪用户使用的问题改进为WLP-205平均粒度测定仪，在99年时增加了YXQ-100压力校正器升级为WLP-208平均粒度测定仪，后期转为丹东华宇仪器有限公司。Fisher Sub-Sieve Sizer 仪器最早于1943年在美国fisher公司生产，直到2008年该美国fisher公司停止生产该仪器。国内市场生产的平均粒度仪主要是丹东华宇仪器有限公司的产品，主要型号有WLP-202、205、208、216等等，在07年丹东华宇仪器有限公司针对于国外用户需要又增加了WLP-205A平均粒度测定仪、WLP-208A平均粒度测定仪，这二款都扩大了测量范围。......阅读全文
平均粒度仪的简介
平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。该仪器在我国最早研制的企业是丹东市热工仪表厂于1977年研制成功并投入生产的。主要研制人是罗锡亨高级工程师，至到93年成立了丹东市环境分析仪器厂，把以前WLP-202平均粒度测定仪用户使用的问题改进为WLP-205平均粒度测定仪，在99年时增
关于平均粒度仪的简介
平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。我国最早研制该仪器的企业是丹东市热工仪表厂，其于1977年研制成功并投入生产。主要研制人是罗锡亨高级工程师，1993年成立了丹东市环境分析仪器厂，将过去的WLP-202平均粒度测定仪改进为WLP-205平均粒度测定仪，在1999年时增加了
平均粒度仪
平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。是利用空气泵打出一定量的气体，通过一定的气体流量流经粉末层所有颗粒表面，最后由U形压力计及流量阻力系数，而在仪器上直接显示粉料的平均粒径来。广泛应用于磁性材料粉末，硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末，另外测定速度快
简介平均粒度仪的应用范围和原理
应用范围 由于是空气透过法，对于粉末有结团、结块的不存在分散的问题尤为适用。 广泛应用于 磁性材料粉末，硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末，另外测定速度快、重复性好是该仪器的最大特点。 仪器原理 是利用空气泵打出一定量的气体，通过一定的气体流量流经粉末层所有颗
平均粒度仪概述
平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。该仪器在我国最早研制的企业是丹东市热工仪表厂于1977年研制成功并投入生产的。主要研制人是罗锡亨高级工程师，至到93年成立了丹东市环境分析仪器厂，把以前WLP-202平均粒度测定仪用户使用的问题改进为WLP-205平均粒度测定仪，在99年
什么是平均粒度仪？
平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。是利用空气泵打出一定量的气体，通过一定的气体流量流经粉末层所有颗粒表面，最后由U形压力计及流量阻力系数，而在仪器上直接显示粉料的平均粒径来。广泛应用于磁性材料粉末，硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末，另外测定速
平均粒度仪的应用范围
由于是空气透过法，对于粉末有结团、结块的不存在分散的问题尤为适用。广泛应用于磁性材料粉末，硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末，另外测定速度快、重复性好是该仪器的最大特点。
平均粒度仪的仪器原理
是利用空气泵打出一定量的气体，通过一定的气体流量流经粉末层所有颗粒表面，最后由U形压力计及流量阻力系数，而在仪器上直接显示粉料的平均粒径来。
平均粒度仪的－技术指标
测量范围：0.2-50微米、50-100微米孔隙度范围：0.25-0.40、0.40-0.80、0.80-0.95精度：±3%重复性：±3%电源：220V±22V重量：18KG外形尺寸：735×415×245mm3其计算公式如下：K—形状系数ε—孔隙度η—空气粘度g—重力加速度ΔΡ—气体压力U—流速
丹东华宇WLP205平均粒度测定仪简介
该仪器是用空气透过原理研制的快速测定粉末颗粒平均粒径的仪器，通称费氏仪（Fsss）又称费氏超细筛。是磁性材料、粉末冶金、难熔金属、特种陶瓷、钨钼材料、硬质合金、有色金属、非金属、化工、建材、国防功能材料及粉末研究和生产必不可少的检测手段。特点如下：性能稳定，操作简便，重复性好，选用耐磨金属研制的费氏
平均粒度怎么算
破碎前后粒度的比较，看D50就行。平均粒度有许多种，计算步骤都较繁。介绍一种常用的，叫“表面积体积平均径”，简写D(3,2)：D(3,2) = 1 / (Σ(fVI /DI))。就是，“(体积)表中百分数，除对应的边界中值”，这些值相加后，再倒数。例如，边界0到1有10%，1到2有30%，2到4有4
平均粒度怎么算
破碎前后粒度的比较，看D50就行。平均粒度有许多种，计算步骤都较繁。介绍一种常用的，叫“表面积体积平均径”，简写D(3,2)：D(3,2) = 1 / (Σ(fVI /DI))。就是，“(体积)表中百分数，除对应的边界中值”，这些值相加后，再倒数。例如，边界0到1有10%，1到2有30%，2到4有4
平均粒度怎么算
破碎前后粒度的比较，看D50就行。平均粒度有许多种，计算步骤都较繁。介绍一种常用的，叫“表面积体积平均径”，简写D(3,2)：D(3,2) = 1 / (Σ(fVI /DI))。就是，“(体积)表中百分数，除对应的边界中值”，这些值相加后，再倒数。例如，边界0到1有10%，1到2有30%，2到4有4
平均粒度怎么算
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平均粒度怎么算
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平均粒度怎么算
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平均粒度怎么算
破碎前后粒度的比较，看D50就行。平均粒度有许多种，计算步骤都较繁。介绍一种常用的，叫“表面积体积平均径”，简写D(3,2)：D(3,2) = 1 / (Σ(fVI /DI))。就是，“(体积)表中百分数，除对应的边界中值”，这些值相加后，再倒数。例如，边界0到1有10%，1到2有30%，2到4有4
平均粒度怎么算
破碎前后粒度的比较，看D50就行。平均粒度有许多种，计算步骤都较繁。介绍一种常用的，叫“表面积体积平均径”，简写D(3,2)：D(3,2) = 1 / (Σ(fVI /DI))。就是，“(体积)表中百分数，除对应的边界中值”，这些值相加后，再倒数。例如，边界0到1有10%，1到2有30%，2到4有4
平均粒度怎么算
破碎前后粒度的比较，看D50就行。平均粒度有许多种，计算步骤都较繁。介绍一种常用的，叫“表面积体积平均径”，简写D(3,2)：D(3,2) = 1 / (Σ(fVI /DI))。就是，“(体积)表中百分数，除对应的边界中值”，这些值相加后，再倒数。例如，边界0到1有10%，1到2有30%，2到4有4
平均粒度怎么算
破碎前后粒度的比较，看D50就行。平均粒度有许多种，计算步骤都较繁。介绍一种常用的，叫“表面积体积平均径”，简写D(3,2)：D(3,2) = 1 / (Σ(fVI /DI))。就是，“(体积)表中百分数，除对应的边界中值”，这些值相加后，再倒数。例如，边界0到1有10%，1到2有30%，2到4有4
关于平均粒度仪的基本信息介绍
平均粒度仪一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器： 平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。是利用空气泵打出一定量的气体，通过一定的气体流量流经粉末层所有颗粒表面，最后由U形压力计及流量阻力系数，而在仪器上直接显示粉料的平均粒径来。广泛应用于磁性材料粉末，硬质合金粉末、
关于平均粒度仪的应用和原理介绍
一、平均粒度仪的应用范围： 由于是空气透过法，对于粉末有结团、结块的不存在分散的问题尤为适用。 广泛应用于磁性材料粉末，硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末，另外测定速度快、重复性好是该仪器的最大特点。 二、平均粒度仪的仪器原理： 是利用空气泵打出一定量的气体，
WLP216平均粒度测定仪
该仪器兼容了WLP-205、208型平均粒度测定仪各项功能及技术指标，在此基础上增加了计算机及其系统软件支持，主机体积缩小1/2，测试精度更准确（减少人为视觉误差，人为的估计误差），缩短了测试时间，同时增加了比表面积测量，测试报告可在电脑上直读取，打印和保留在电脑里。
粒度仪的平均粒径、边界粒径及粒度分布离散度是什么？
平均粒径：表示样品中小于它和大于它的颗粒各占50％。边界粒径：更接近通俗意义上的最大和最小粒径。不过用最大和最小粒径来描述样品颗粒大小的上下限不科学,所以一般用一对边界粒径来表示,如（D10,D90）=（8,60）,它表示直径小于8微米的颗粒数占10％,直径小于60微米的颗粒数占90%。粒度分布的离
粒度仪的平均粒径、边界粒径及粒度分布离散度是什么？
平均粒径：表示样品中小于它和大于它的颗粒各占50％。 边界粒径：更接近通俗意义上的最大和最小粒径。不过用最大和最小粒径来描述样品颗粒大小的上下限不科学,所以一般用一对边界粒径来表示,如（D10,D90）=（8,60）,它表示直径小于8微米的颗粒数占10％,直径小于60微米的颗粒
费氏平均粒度与激光粒度分布的关系
Fisher透过仪,有人称之为“费氏法”，此仪器的商业名称是Fishe亚筛粒度测试仪(Fisher Sub-sieve sizer)。它是依据大气经过粉末床层产生的压力差所造成的压差计两管液面高度差h 得出颗粒比表面积。它的平均粒度与其比表面积的关系为：平均粒度 = 6000/体积比表面积,平均
激光粒度仪的简介
激光粒度仪是专指通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小的仪器。建材、化工、冶金、能源、食品、电子、地质、军工、航空航天、机械、高校、实验室，研究机构等。静态激光能谱是稳定的空间分布。主要适用于微米级颗粒的测试，经过改进也可将测量下限扩展到几十纳米。动态激光根据颗粒布朗运动的快慢，
丹东华宇WLP－208平均粒度测定仪
WLP－208平均粒度测定仪:该仪器是在WLP－205仪器基础上增加了一套压力校正器。在测试中采用该校正器可使粉料很容易的压紧到规定的压力上（国际通用50磅力·吋即22.7kgf·cm）,从而使测试更加简便、性能稳定、重复性好，其他主要技术指标与WLP－205型平均粒度测定仪相同。主要技术指标 1
粒度分析仪的简介
当被测颗粒的某种物理特性或物理行为与某一直径的同质球体（或其组合）最相近时，就是把该球体的直径（或其组合）作为被测颗粒的等效粒径（或粒度分布）。 其含义： 1、粒度测量实质上是通过把被测颗粒和同一种材料构成的圆球相比较而得出的； 2、不同原理的仪器选不同的物理特性或物理行为作为比较的参考量
简介激光粒度仪的应用
基于光散射理论的激光粒度仪己经广泛用于粉末冶金、薄膜、膜片料、催化剂、绝缘材料、润滑油、超导体、无线电技术等行业，涉及化学、制药、食品、建材等工业领域并发挥着越来越大的作用。激光粒度仪可以直接测定大气中烟尘与灰尘在不同时间、不同位置的含量，从而得出大气中烟尘灰尘时间-空间分布图，为解决环境污染和