HORIBA全资收购MANTA拓宽颗粒表征仪器技术

HORIBA全资收购MANTA－拓宽颗粒表征仪器技术

　　分析测试百科网讯 近日，株式会社堀场制作所 (HORIBA, Ltd.)宣布，集团旗下美国子公司HORIBA Instruments Incorporated(总部位于美国Irvine；以下称“HORIBA Instruments”)于1月24日，以全部股份收购的形式完成对MANTA Instr

颗粒表征

1. 颗粒尺寸激光散射法具体是怎样的，可以举例说明吗激光照射到颗粒上会发生光散射，散射光的强度和角度与颗粒尺寸有关。大颗粒的散射光较强，但散射角度较窄；小颗粒的散射光强度较弱，但角度较宽。将不同角度检测器收集到的光信号，根据数学模型转换成颗粒尺寸。2. 请问DSL测定纳米粒径时，溶液的溶剂，浓度，温

颗粒表征小贴士

    人们可以制造各种颗粒，自然界存在更多种类的粒子。而我们需要量子力学或更复杂的理论去解释那些基本的粒子，如中子，电磁学和经典的机械物理学通常足以解释大于1nm的粒子的基本行为。但这并不意味着我们可以轻而易举的预判诸如此类的粒子的行为，科学家几乎每天都能碰到让人眼花缭乱难以捉摸的粒子行为，在这一

HORIBA粒度表征技术交流会将召开

　　“HORIBA最新 激光粒度表征技术暨其在新材料领域的应用交流会”将于2011年5月19日在广州华南理工大学举行，本届交流会将对激光粒度表征技术在新材料、新能源领域的发展及应用进行交流，同时也会对最先进的HORIBA激光粒度表征技术(SZ 100 & LA950V2)进行现场展示。来自华

麦克仪器将举行颗粒表征分析技术研讨会

　　美国麦克仪器公司Micromeritics Instrument Corporation自1962年成立以来，一直致力于发展创新细微颗粒的表征技术，在细微颗粒表征仪器领域内始终处于世界领先地位。麦克仪器公司在中国已有32年的商务历史，并于2011年成立了独资进出口商贸公司麦克默瑞提克(上海)

颗粒表征基本概念

1　描述颗粒大小的概念1颗粒最大长度、最大宽度颗粒投影最大外接四边形的长为颗粒最大长度za，四边形的宽为颗粒最大宽度zb，如（图2-1）所示，b是最大外接四边形。2颗粒长度，颗粒宽度颗粒投影最小外接四边形的长为颗粒长度ka，四边形的宽为颗粒宽度kb，如（图2-2）所示，b是最小外接四边形。3等效圆直

KSV－NIMA表征仪器

界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带偏振模块的红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测，并可提供不同的分辨率和其他分析数据选项。表面电位测量仪（SPOT）使用振动盘技术来监测薄膜的电位变化，从而对单

油墨中纳米颗粒的表征方法

表征某一特定过程种颗粒体系的特性时不仅需要考虑到多方面因素的影响还要考虑到最终的使用。表征颗粒体系时必须要包括但不仅仅局限于以下几点：粒径分布、表面积、孔隙率、形状和颗粒的带电性。实际上，将所有的表征参数结合起来可以让我们对颗粒有更清晰的认识。通过粉体流动性、分散性、药物疗效、干燥涂层效果、悬浮稳定

扫描电镜（SEM）和颗粒表征

扫描电镜（SEM）和颗粒表征 如上所述，扫描电镜（SEM）对 AM 工艺制造的产品的表面进行成像和表征。 另外，对于粉末材料的表征，可以使用专用软件，例如由飞纳电镜开发的颗粒统计分析测量系统（ParticleMetric）。   该软件可以自动检测扫描电镜样品上存在的颗粒，并通过测量几种最重要的物理

探索新材料，创造“芯”未来－——HORIBA半导体材料表征主题研讨会圆满召开！

　　2024年3月23日，HORIBA 开放日——半导体材料表征主题研讨会在HORIBA集团全新投资的厚立方大楼(C-CUBE) 成功举办。本次研讨会由HORIBA携手上海集成电路材料研究院、集成电路材料创新联合体共同举办，吸引了诸多技术专家与前端企业共聚一堂，共同探讨光刻胶、宽禁带材料和光掩膜等关

BCEIA－2015－HORIBA－SZ100纳米颗粒分析仪

　　分析测试百科网讯 2015年10月26日，第十六届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA 2015）于北京国家会议中心举办。本届展览会共有461家展商参加，展出当今国内外分析测试领域的前沿技术和先进仪器设备，分析测试百科网对流变仪、热分析仪、粒度仪等部分优秀物性检测分析仪器进行了盘点。　　H

Horiba推出MEXA－2010SPCS

　　分析测试百科网讯 作为排放测量和汽车测试系统的领先供应商，Horiba将其固体粒子数的测量能力进一步扩展到纳米范围新的MEXA-2010SPCS（Solid Particle Counting System）固体粒子计数系统的引入使粒子测量低于当前23nm的法定检测限。在最近的科学证据表明纳米颗

微流成像图像法颗粒分析技术助力颗粒表征

《梓梦科技》微流成像颗粒分析系统采用高频成像检测器对动态连续的样品中的颗粒物进行静态的图像捕获,获取一系列的数据照片,并通过软件对颗粒物进行形态学参数描述和计数分析,根据形态学参数可对颗粒进行大致分类,比如蛋白聚体、硅油、气泡、纤维等。蛋白质药物易于形成可见或亚可见（在显微镜下可见）的聚集体，从而影

直击HORIBA新品拉曼－LabRAM－Soleil搭载多个“首次”亮相发布会

　　分析测试百科网讯 2020年5月19日，HORIBA拉曼新品LabRAM Soleil（高分辨超灵敏智能拉曼成像仪）在线上如期举行。HORIBA拥有着200年的光学发展历史沉淀，近50年来，始终致力于拉曼光谱的制造与研发。此次LabRAM Soleil新品发布吸引了诸多领域专家学者关注，分析测试

为行业育才，赋能科研突破与产业转化——第二届外泌体实验技能实训营圆满举办！

2025 年 5 月 28 至 30 日，第二届外泌体实验技能实训营在 HORIBA 前沿应用开发中心（Analytical Solution Plaza，简称 ASP）圆满举行。作为北京恩泽康泰生物科技有限公司（以下简称“恩泽康泰”）与 HORIBA 达成战略合作后的首次实践，实训营吸引了 50

HORIBA构建SPRi仪器的战略伙伴关系

　　自2010年3月1日，HORIBA Jobin Yvon (隶属于HORIBA Scientific)与CLIPP(法国临床蛋白质组学创新平台)所属成员FEMTO-ST研究所(法国贝桑松)及IFR100研究所(法国第戎)构建了R&D合作伙伴关系，合作开发SPRi-M

激光粒度仪怎么表征颗粒群粒度大小

一般情况下由同一粒径颗粒组成的颗粒群称为单分散颗粒群。实际上单分散颗粒群是极少的。颗粒群体通常由大量大小不同的颗粒组成。    以粒度为横坐标，以颗粒单位粒径宽度内的颗粒含量（体积含量、个数含量、表面积含量等）为纵坐标，绘出的曲线称为粒度分布曲线（又称频率分布）。如果纵坐标采用某一粒度下颗粒的累积含

激光粒度仪怎么表征颗粒群粒度大小

    一般情况下由同一粒径颗粒组成的颗粒群称为单分散颗粒群。实际上单分散颗粒群是极少的。颗粒群体通常由大量大小不同的颗粒组成。    以粒度为横坐标，以颗粒单位粒径宽度内的颗粒含量（体积含量、个数含量、表面积含量等）为纵坐标，绘出的曲线称为粒度分布曲线（又称频率分布）。如果纵坐标采用某一粒度下颗粒

化工常见实验仪器及表征仪器原理动画

　　1.紫外分光光谱UV　　分析原理：吸收紫外光能量，引起分子中电子能级的跃迁　　谱图的表示方法：相对吸收光能量随吸收光波长的变化　　提供的信息：吸收峰的位置、强度和形状，提供分子中不同电子结构的信息。物质分子吸收一定的波长的紫外光时，分子中的价电子从低能级跃迁到高能级而产生的吸收光谱较紫外光谱。紫

HORIBA重组欧洲业务－成立HORIBA－FRANCE－SAS

　　分析测试百科网讯 近日，HORIBA宣布其旗下HORIBA Jobin Yvon SAS与其子公司HORIBA FRANCE SARL合并。新公司将被称为HORIBA FRANCE SAS。　　HORIBA Jobin Yvon SAS主营材料科学和生物制药仪器以及高性能光学元件，其子公司HOR

70周年纪念|Horiba开发创新技术推动科学发展

　　HORIBA 为研发和 QC 实验室提供范围广泛的仪器和系统，专门从事拉曼、荧光、X 射线荧光 (XRF)、显微光谱、流体控制、水质、气体分析、粒径和元素分析。　　HORIBA 在开发创新技术以推动科学发展方面有着悠久的历史，现在为全球大学和研究机构、政府和各种制造业的实验室的研究、分析和 QC

英国马尔文仪器携两款顶级纳米颗粒表征产品出席WCPT7

　　第七届世界颗粒学大会（The 7th World Congress of Particle Technology，简称WCPT7）于2014年5月19～22日在北京国际会议中心召开。英国马尔文仪器作为全球颗粒表征领域领先的解决方案供应商，为本次大

创新实践，化学人才孵化新阵地－——－厦大化院与HORIBA共建实习基地

　　在战略合作揭牌仪式上，任斌教授回忆起与HORIBA的初识，感叹当年第一次接触HORIBA的时候，他还是个学生，如今已肩负起教书育人的责任。而正因如此，任教授对学生实习基地成立的充满期待，他表示：学生实习基地的成立，不仅将为学生们提供实践创新的平台，也将成为校企双方互利共赢的新契机！　　为鼓励更多

安东帕收购Cilas的颗粒表征产品线

　　分析测试百科网讯 近日，安东帕宣布收购Cilas的颗粒表征产品线以扩大粒子表征的产品组合。　　PSA仪器基于光散射原理或图像分析。他们提供关于颗粒的尺寸分布和形状的信息。应用范围从调查到干粉末到分散体中的颗粒研究。　　新产品将被纳入安东帕现有的粒子表征业务领域。业务部门负责人Jakob Sant

安东帕材料表征仪器指南，助力科研申报

颗粒表征分检及筛网标准化技委会颗粒分委会成立

　　6月21日，全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会颗粒分技术委员会成立大会在中科院过程工程研究所举行。会议由主任委员李洪钟院士主持。出席大会的有过程工程所名誉所长郭慕孙院士、国家标准化管理委员会工业一部王军伟处长和王宇、中科院计划财务局姚冠辉副研究员、过程工程所副所长江明等领导及全体

守护健康，照耀生命——HORIBA生命科学主题研讨会圆满召开

　　2024年3月28日， “HORIBA开放日生命科学主题研讨会” 在HORIBA集团全新投资的厚立方（C-CUBE）大楼成功举办。此次会议汇聚了众多行业先驱，共同探讨疾病诊断与药物开发等领域的前沿技术，深入分析光谱技术在显微成像、单细胞分析、病理诊断、药物研发及工艺优化等领域的前沿进展、应用实例

光电创新耀未来——武汉光电国家研究中心能源光子学研究部“HORIBA－科学奖”颁奖仪式成功举行

　　2024年1月8日，首届武汉光电国家研究中心（以下简称：中心）能源光子学研究部“HORIBA 科学奖”颁奖仪式在光电信息大楼成功举行。武汉光电国家研究中心能源光子学研究部执行主任王磊教授、党支部书记胡彬教授、工程科学学院行政副院长徐书华、HORIBA 集团科学仪器事业部中国区总经理濮玉梅女士、销

Keynote－Speaker:－Atsushi－Horiba

Atsushi Horiba　　Atsushi Horiba is Chairman & Group CEO of HORIBA, Ltd., an analytical device manufacturing company located in Kyoto with 49 group comp

麦克默瑞提克颗粒表征技术讲座成功举办

         麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司于2011年4月27日在北京中科院过程工程研究所过程大厦成功的举办了2011年第5次“颗粒表征技术讲座”。在此次讲座中，来自美国麦克仪器公司的资深专家Simon Yunes博士和Andres先生深入浅出地讲解了物理吸附，化学吸附，电阻