478万！中国民航科学技术研究院场发射扫描电镜采购项目
分析测试百科网讯 近日，航科院航空安全实验基地场发射扫描电镜采购项目（项目编号：TC1904B11）进行公开招标，包括场发射扫描电镜、能谱仪、EBSD等,预算金额：650万。详情如下： 项目联系人：潘太新 电话：010-62108285 开标时间：2019年11月13日 09:30 开标地点：北京市海淀区学院南路62号中关村资本大厦6层会议室采购项目的名称、数量、简要规格描述或项目基本概况介绍： 简要规格描述或项目基本概况介绍：包括场发射扫描电镜、能谱仪、EBSD等......阅读全文
波谱仪和能谱仪工作原理
波谱仪和能谱仪的范围基本一样，在于波谱仪的分析定量精度要高于能谱仪，可以对重叠的谱峰进行分峰处理和分析。而能谱仪以快速分析见长。但是现在波谱仪也有了进步，分析起来已经很快，对于定量要求不高的样品，十几秒就够了。
波谱仪和能谱仪的区别
能谱仪是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。当X射线光子进入检测器后，在Si（Li）晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的（在低温下平均为3.8ev），而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε，因此，入射X射线
波谱仪和能谱仪的区别
能谱仪是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。当X射线光子进入检测器后，在Si（Li）晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的（在低温下平均为3.8ev），而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε，因此，入射X射线
X射线能谱仪应用范围
1、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，
俄歇电子能谱仪简介
俄歇电子能谱仪（AugerElectronSpectroscopy，AES），作为一种最广泛使用的分析方法而显露头角。这种方法的优点是：在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高；数据分析速度快；能探测周期表上He以后的所有元素。虽然最初俄歇电子能谱单纯作为一种研究手段，但现在它已成为常规分析
能谱仪的功能和应用
来自样品的X光子通过铍窗口进入锂漂移硅固态检测器。每个X光子能量被硅晶体吸收将在晶体内产生电子空穴对。不同能量的X光子将产生不同的电子空穴对数。例如，Fe的Kα辐射可产生1685个电子空穴对，而Cu为2110。知道了电子空穴对数就可以求出相应的电荷量以及在固定电容（1μμF）上的电压脉冲。多道脉冲高
波谱仪和能谱仪工作原理
波谱仪和能谱仪的范围基本一样，在于波谱仪的分析定量精度要高于能谱仪，可以对重叠的谱峰进行分峰处理和分析。而能谱仪以快速分析见长。但是现在波谱仪也有了进步，分析起来已经很快，对于定量要求不高的样品，十几秒就够了。根据具体问题类型，进行步骤拆解／原因原理分析／内容拓展等。具体步骤如下：／导致这种情况的原
能谱仪性能指标
固体角：决定了信号量的大小，该角度越大越好检出角：理论上该角度越大越好探头：新型硅漂移探测器（SDD）逐步取代锂硅Si(Li)探测器能量分辨力：目前最高级别的能谱仪分辨力可达121eV探测元素范围：Be4～U92
能谱仪结构及工作原理
能谱仪结构及工作原理能谱仪,结构,工作原理,特征X射线,X射线探测器X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的,具有成分分析功能的方法,通常称为X射线能谱分析法,简称EDS或EDX方法.它是分析电子显微方法中最基本,最可靠,最重要的分析方法,所以一直被广泛使用.1.特征X射线的产生特征
扫描电镜运用领域十分宽广
扫描电镜的高性能、 高质量、高可靠性和稳定性已得到世界范围内广大用户的信赖与认可。 扫描电镜广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等 检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材 料、化学材料等领域
扫描电镜X射线能谱法测定镀金饰品的镀层结构
介绍一种测定镀金饰品镀层结构的方法。该法可测定厚度为几十纳米的镀层成分。
应用扫描电镜X射线能谱研究神东矿区砂岩中结构
神东矿区砂岩地层中存在大量的结构面,这种结构面的存在会对岩层的力学性能、超声波传播、破坏形式以及力的传递等都有显著的影响,但是结构面的微观结构及元素特征是其主要原因之一。本文以布尔台煤矿、大柳塔煤矿和补连塔煤矿地层砂岩中的结构面为研究对象,采用FEI-SEM扫描电镜和能谱仪对不同类型结构面的微观结构
用扫描电镜与X射线能谱测定麦冬中的元素分布
使用扫描电镜与X射线能谱分析技术对川产麦冬的横切面各种组织结构进行了形态学观察,同时获得了被观察区域无机成分的定性和半定量分析结果。结果表明:麦冬横切面中含有Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe、Cu和Zn等无机成分,而且进一步了解到各种无机成分在麦冬各个不同结构部位的分布情况。
X射线能谱仪谱峰重叠问题的探讨
针对X射线能谱仪在对样品进行定性分析时经常出现的元素谱峰重叠问题,进行机理分析和归纳总结,提出在物证检验中如何避免谱峰重叠带来定性分析偏差的方法.
什么是EBSD技术
EBSD是一种“结晶学”分析系统。1996年美国TSL(TexSemLaboratories,Inc.)公司推出了TSLOIM系统，空间分辨本领已优于0.2μm，比原理相似的电子通道图样(ECP)提高了一个量级，在0.4秒钟内即能完成一张衍射图样的自动定标工作。英国牛津集团显微分析仪器Link-OP
什么是EBSD技术？
EBSD是一种“结晶学”分析系统。1996年美国TSL(TexSemLaboratories,Inc.)公司推出了TSLOIM系统，空间分辨本领已优于0.2μm，比原理相似的电子通道图样(ECP)提高了一个量级，在0.4秒钟内即能完成一张衍射图样的自动定标工作。英国牛津集团显微分析仪器Link-OP
扫描电子显微镜（SEM）和电子探针显微分析装置（EPMA）
扫描电子显微镜和电子探针显微分析仪基本原理相同，但很多人分不清其差异，实际上需要使用电子探针领域比较少，而扫描电镜相对普遍。扫描电子显微镜（SEM），主要用于固体物质表面电子显微高分辨成像，接配电子显微分析附件，可做相应的特征信号分析。 最常用的分析信号是聚焦电子束和样品相互作用区发射出的元素特征X
清华大学仪器共享平台JEOL－JSM－6301F－动力学动态信号测量仪场发射扫描电子显微镜
仪器名称：场发射扫描电子显微镜 JEOL JSM 6301F仪器编号：98075000产地：日本生产厂家：日本电子型号：JSM-6301F出厂日期：199707购置日期：199803所属单位：材料学院>材料中心 >电镜中心放置地点：清华大学主楼东配楼十一区118室固定电话：固定手机：固定email：
清华大学仪器共享平台JEOL－JSM－6301F－场发射扫描电子显微镜
仪器名称：场发射扫描电子显微镜 JEOL JSM 6301F仪器编号：98075000产地：日本生产厂家：日本电子型号：JSM-6301F出厂日期：199707购置日期：199803所属单位：材料学院>材料中心 >电镜中心放置地点：清华大学主楼东配楼十一区118室固定电话：固定手机：固定email：
场发射扫描电子显微镜－JEOL－JSM－6301F共享
仪器名称：场发射扫描电子显微镜 JEOL JSM 6301F仪器编号：98075000产地：日本生产厂家：日本电子型号：JSM-6301F出厂日期：199707购置日期：199803所属单位：材料学院>材料中心 >电镜中心放置地点：清华大学主楼东配楼十一区118室固定电话：固定手机：固定email：
清华大学仪器共享平台JEOL－JSM－6301F场发射扫描电子显微镜
仪器名称：场发射扫描电子显微镜 JEOL JSM 6301F仪器编号：98075000产地：日本生产厂家：日本电子型号：JSM-6301F出厂日期：199707购置日期：199803所属单位：材料学院>材料中心 >电镜中心放置地点：清华大学主楼东配楼十一区118室固定电话：固定手机：固定email：
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仪器名称：场发射扫描电子显微镜 JEOL JSM 6301F仪器编号：98075000产地：日本生产厂家：日本电子型号：JSM-6301F出厂日期：199707购置日期：199803所属单位：材料学院>材料中心 >电镜中心放置地点：清华大学主楼东配楼十一区118室固定电话：固定手机：固定email：
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仪器名称：场发射扫描电子显微镜 JEOL JSM 6301F仪器编号：98075000产地：日本生产厂家：日本电子型号：JSM-6301F出厂日期：199707购置日期：199803所属单位：材料学院>材料中心 >电镜中心放置地点：清华大学主楼东配楼十一区118室固定电话：固定手机：固定email：
JEOL－JSM－6301F场发射扫描电子显微镜－共享
仪器名称：场发射扫描电子显微镜 JEOL JSM 6301F仪器编号：98075000产地：日本生产厂家：日本电子型号：JSM-6301F出厂日期：199707购置日期：199803所属单位：材料学院>材料中心 >电镜中心放置地点：清华大学主楼东配楼十一区118室固定电话：固定手机：固定email：
清华大学仪器共享平台JEOL－JSM－6301F－场发射扫描电子显微镜
仪器名称：场发射扫描电子显微镜 JEOL JSM 6301F仪器编号：98075000产地：日本生产厂家：日本电子型号：JSM-6301F出厂日期：199707购置日期：199803所属单位：材料学院>材料中心 >电镜中心放置地点：清华大学主楼东配楼十一区118室固定电话：固定手机：固定email：
关于能谱仪的测试原理介绍
当X射线光子进入检测器后，在Si（Li）晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的（在低温下平均为3.8ev），而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε，因此，入射X射线光子的能量越高，N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对，经过前置放大器转换成电
X光电子能谱仪
X光电子能谱仪是一种用于能源科学技术领域的分析仪器，于2010年10月1日启用。 技术指标 最佳能量分辨率 < 30 μm，最佳能量分辨率 < 0.5 eV FWHM，C1s能量分辨率< 0.85 eV，离子源能量范围：100 eV至3 keV，最大束流：4 μA，在烘烤完成24小时后，分析
简介能谱仪的使用范围
使用范围 1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析； 2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定； 3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测； 4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域； 5、进行材
关于电子能谱仪的分类介绍
电子能谱仪的类型有许多种，它们对样品表面浅层元素的组成能做出比较精确的分析，有时还能进行在线测量如膜形成成长过程中成分的分布、变化的探测等，使监测制备高质量的薄膜器件成为可能。 1、光电子能谱仪 光电子谱仪分析样品成分的基本方法，就是用已知光子照射样品，然后检测从样品上发射的电子所带有关于样
X射线能谱仪的原理介绍
在许多材料的研究与应用中，需要用到一些特殊的仪器来对各种材料从成分和结构等方面进行分析研究。 其中，X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器之一。下面详细介绍一下X射线能谱仪的基本原理、结构、优缺点及应用。 X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法