分析影响X荧光光谱仪测量结果的因素

X荧光光谱仅的样品制备简单,能够非破坏性地快速进行多元素分析,可以迅速筛查多种类样品基质如固体、泥浆、粉末、糊状物、薄膜、空气过滤物以及其它很多基质样品中的未知成分,已成为电子行业有害物质初步筛选普遍采用的检测方法。分析影响X荧光光谱仪测量结果的因素,正确使用X荧光光谱仪。对电子产品中有害物质的准确控制有直接的影响。 影响X荧光光谱仪测量准确度的因素有仪器本身的性能、工作曲线、测试样品和测试方法等。其中仪器本身的性能是由所购买仪器的硬件设施决定的.购买仪器时就已决定.测试方法与仪器的工作原理有关,目前普遍采用相对测量法。工作曲线、测试样品对测量结果的影响非常大。并且可以通过简单的处理就可以大幅提高测量准确度。所以本文将重点分析制作工作曲线的样品、工作曲线的偏移、工作曲线的适用范围、样品的形态、样品大小、非均质样品、样品表面以及干扰元素等影响因素。并介绍简单、常见的处理方法。 1、工作曲......阅读全文

X射线荧光光谱仪X射线防护系统故障分析

  为了防止X射线泄漏,高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否,主要检查以下二部分: 1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统,面板是最外层的射线防护装置,如果有一块面板不到位,仪器就有射线泄漏的可能。因此,每块面板上都有位置接触传感器,面板没有完全合上

影响拉曼光谱仪的分析质量的因素

  拉曼光谱仪在使用中,避免不了出现分析质量的问题,具体因素有哪些,下面我们来分析下:  1、系统误差的来源  (1)标样和试样中的含量和化学组成不完全相同时,可能引起基体线和分析线的强度改变,从而引入误差。  (2)标样和试样的物理性能不完全相同时,激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。  (3

影响气相色谱仪测量结果的重要因素

  GC-1920型气相色谱仪基于总线技术开发平台,是通用型气相色谱仪的升级换代产品,同属5.7寸的液晶显示器立式显示界面,更大空间内显示更加全面的设备参数,ABS工程按键手感更加舒服直观。广泛应用于石油、化工、制药、矿井、电力、食品、商检、粮食、海关、大专院校、科研、卫生防疫、环境监测等单位。气相

色差仪测量的结果出现异常因素分析

色差仪测量的结果出现异常因素分析用电池供电,色差仪开不机,该怎么办呢?电池供电,国产色差仪开不机,该怎么办?出现此现象,表示电池电量不足,需要给色差仪供电;(插上电源适配器)若还不行可以拔出电源适配器,再插入电源适配器,查看是否可以开机,或重复拔插电源适配器几次试试。如果以上方法还不行,换电池。色差

长期操作x荧光光谱仪对健康有影响吗?

X射线是波长介于紫外线和γ射线间的电磁辐射,X射线的特征是波长非常短,频率很高,是不带电的粒子流。是原子核能级跃迁蜕变时释放出的射线,是波长短于0.2埃的电磁波。γ射线有很强的穿透力,工业中可用来探伤或流水线的自动控制。γ射线对细胞有杀伤力,医疗上用来治疗肿瘤。从以上可以看出,X荧光射线是射线中辐射

影响荧光强度的因素

主要有:温度、溶剂、pH、荧光熄灯灭剂。1、温度:温度对于溶液的荧光强度有着显著的影响。在一般情况下,随着温度的升高,荧光物质溶液的荧光效率和荧光强度将降低。2、溶剂:同一物质在不同溶剂中,其荧光光谱的位置和强度都有差别。一般情况下,荧光波长随着溶剂极性的增大而长移,荧光强度也有增强。3、pH:当荧

影响荧光强度的因素

主要有:温度、溶剂、pH、荧光熄灯灭剂。1、温度:温度对于溶液的荧光强度有着显著的影响。在一般情况下,随着温度的升高,荧光物质溶液的荧光效率和荧光强度将降低。2、溶剂:同一物质在不同溶剂中,其荧光光谱的位置和强度都有差别。一般情况下,荧光波长随着溶剂极性的增大而长移,荧光强度也有增强。3、pH:当荧

影响荧光强度的因素

主要有:温度、溶剂、pH、荧光熄灯灭剂。1、温度:温度对于溶液的荧光强度有着显著的影响。在一般情况下,随着温度的升高,荧光物质溶液的荧光效率和荧光强度将降低。2、溶剂:同一物质在不同溶剂中,其荧光光谱的位置和强度都有差别。一般情况下,荧光波长随着溶剂极性的增大而长移,荧光强度也有增强。3、pH:当荧

影响荧光强度的因素

主要有:温度、溶剂、pH、荧光熄灯灭剂。1、温度:温度对于溶液的荧光强度有着显著的影响。在一般情况下,随着温度的升高,荧光物质溶液的荧光效率和荧光强度将降低。2、溶剂:同一物质在不同溶剂中,其荧光光谱的位置和强度都有差别。一般情况下,荧光波长随着溶剂极性的增大而长移,荧光强度也有增强。3、pH:当荧

X射线荧光光谱仪样品室的故障分析

  光谱室和样品室的真空抽不到规定值,样品室最常见的漏气部位是样品自转装置上的密封圈,样品测量时通常以0.5转/秒的速度自转,仪器几年运行下来,样品自转处的密封圈磨损,密封效果变差。

分析多道x射线荧光光谱仪的产品优点

 多道x射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型(WD)和能量色散型(ED)。波长色散型是由色散元件将不同能量的特征X射线衍射到不同的角度上,探测器需移动到相应的位置上来探测某一能量的射线。而能量色散型,去掉了色散系统,是由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的X射线的。波长色散型能量分辨本领高,而

偏振X射线荧光光谱仪的贵金属分析

 近期全新推出SPECTROCUBE型X射线贵金属测试仪器,采用高分辨、高计数检测器技术,缩短了样品的测量间隔,仪器软件直观、简捷,测试流程轻松流畅,大大减少了宕机时间。   贵金属分析   SPECTROCUBE型X射线贵金属测试仪器作为新仪器的推出,为测试中心、纯度标识和分析实验室,以及珠宝制造

X荧光光谱仪分析原理及构造的介绍

  X射线荧光(XRF)能用于测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料,其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。凡是能和X射线发生激烈作用的样品都不能分析,而要分析的样品必须经受在真空(4~5Pa)环境下测定,与其他分析技术相比,XRF具有分

X射线荧光光谱仪的构成与分析原理

 X射线荧光光谱仪 (XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生发射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素都会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测

X射线荧光光谱仪光谱室的故障分析

  光谱室最常见的漏气部位是流气计数器,流气计数器安装在光谱室内,有一根入气管和一根出气管与外界相通,流气计数器的窗膜很薄,窗膜漏气,就会影响光谱室真空。检查方法:将入气管和出气管用一根软管连接,使流气计数器与外界隔绝,然后抽真空。 检查真空故障,在拆卸和安装时,要小心操作,不要让灰或头发掉到密封圈

偏振X射线荧光光谱仪的应用和分析

  它分析专业、检出下限低,灵敏度高、稳定性好,还能应对欧洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083标准。   SPECTRO XEPOS多功能偏振型X射线荧光光谱仪应用广泛,应用于石油、化工、冶金、矿业、制药、食品、环保、地质、建材、废物处理以及再加工工业等。以油中各种元素的分析为例,

X射线荧光光谱仪的构成与分析原理

   X射线荧光光谱仪 (XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生发射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素都会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将

极度影响涂层测厚仪的测量精度之因素分析

极度影响涂层测厚仪的测量精度之因素分析    极度影响涂层测厚仪的测量精度之因素分析一、基体金属磁性质磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对涂层测厚仪进行校准;亦可用待涂覆试件

能量色散X荧光光谱仪分析原理

X射线管产生的初级X射线照射到平整均匀的颗粒物表面时,样品所含待测元素原子受到激发后发射出特征X射线,经探测器接收后,将其光信号转变为模拟电信号,经过模数变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理,通过专用软件获取元素特征X射线强度,根据元素特征谱峰强度与含量的相应数学模型计算待测元素含量

X射线荧光光谱仪常见故障分析

1、故障现象:X射线发生器的高压开不起来。    故障分析:    这是X射线荧光光谱仪较常见的故障,一般发生在开机时,偶尔也发生在仪器运行中。故障的产生原因可以从三个方面去分析:1、X射线防护系统;2、内部水循环冷却系统;3、高压发生器及X射线光管。2、故障现象:光谱室和样品室的真空抽不到规定值。

旋光仪测量误差影响因素分析

1、温度误差因素  旋光仪长时间工作温升较高,样品与旋光仪温度平衡需一定时间,由于测试方法上的原因,时间长样品会逐渐浑浊,影响光线透过率,同批次样品较多时易造成测量误差。当样品温度偏离规定的20℃±0.2℃时,应进行修正。  另外,温度变化还会使待测物质分子间发生缔合或离解,使旋光度发生改变。不同物

旋光仪测量误差影响因素分析

旋光仪是一种分析物质旋光特性的分析仪器,通过对样品旋光度的测定,可以分析确定物质的浓度、含量及纯度,广泛应用于医药卫生、制糖等行业的化学分析。旋光仪测量误差分析的重要性旋光仪的结构有机械传动系统、发光元部件及电信号处理电路。在正常情况下,旋光仪精确度应达到0.01°、0.02°、0.03°旋光度。除

旋光仪测量误差影响因素分析

旋光仪是一种分析物质旋光特性的分析仪器,通过对样品旋光度的测定,可以分析确定物质的浓度、含量及纯度,广泛应用于医药卫生、制糖等行业的化学分析。旋光仪测量误差分析的重要性  旋光仪的结构有机械传动系统、发光元部件及电信号处理电路。在正常情况下,旋光仪精确度应达到0.01°、0.02°、0.03°旋光度

影响直读光谱仪分析质量的7个因素

  1 、氩气   吹氩的主要作用是试样激发时赶走火花室内的空气,减小空气对紫外光区谱线的吸收。主要是因为空气中的氧气、水蒸气在远紫外区具有强烈的吸收带,对分析结果造成很大的影响,且不利于激发稳定,形成或加强扩散放电,激发时产生白点。另外,样品中的合金元素在高温情况下可能会与空气中成分发生化学反应生

X荧光光谱仪的保养

  X荧光光谱仪工作的外部环境   1、周围强磁场干扰   设备合理的工作环境,要求在没有电机、振动、电磁、高压或有高频率电焊器等电磁干扰的地方安装,否则会干扰设备的谱形或造成设备不能正常工作。   2、环境温度,湿度的影响   应保持室温20~25℃为宜,气温过高或过低都会

X荧光光谱仪的优点

X荧光光谱仪优点:   a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。   b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可

X荧光光谱仪的原理

    X射线是一种电磁波,波长比紫外线还要短,为0.001- 10nm左右。X射线照射到物质上面以后,从物质上主要可以观测到以下三种X射线。荧光X射线、散射X射线、透过X射线,Atomray CX-5500产品使用的是通过对第一种荧光X射线的测定,从物质中获取元素信息(成分和膜厚)的荧光X射线法原

X荧光光谱仪的使用

 用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X荧光光谱仪能将探测系统所收集到的信息转换成

X荧光光谱仪的优点

X荧光光谱仪是一种射线式分析仪器,是X射线分析仪器的一种常用形式。X射线荧光光谱仪能分析原子序数 12~92的所有元素,选择性高,分析微量组分时受基体的影响小,在地质、采矿和冶金等部门应用很广。X荧光光谱仪的原理:元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,

X荧光光谱仪的应用

 初从事近红外光谱分析的人员常常会提出这样的问题:什么样的近红外光谱仪器zui好? 如何选择一台合适的近红外光谱仪器?实际上,“zui好”仪器的定义是很难确定的, “zui好”的仪器也是不存在的。因为对某一特定的仪器所提出的各项要求是随着所需要解决的具体问题的不同而有所差异的。为了帮助使用者根据特定