X荧光光谱仪的两大分类介绍

X荧光光谱仪有多种,以能量色散和波长色散两类为主。1.能量色散荧光光谱仪能量色散法是将X射线激发被测所有元素的荧光简单过滤后,全部进入到检测器中,利用仪器和软件来分出其中的光谱。如测的为元素周期表中相邻的两个元素,会因光谱重叠而产生测量误差。能量色散型仪器zui大的优点是不破坏被测的材料或产品,也不需要专业人员操作,缺点是对铬和溴是总量测定(一般不影响使用,因为很多情况可以判定,如测铬总量超标,常可知是不是六价铬超标,特别是溴,如被作为阻燃剂加入,不管是那种溴,总量超标就不合格)。2.波长色散荧光光谱仪。波长法是因其激发出的荧光足够强,进到仪器中用来分析的光谱是单一元素(“过滤”了不需测的元素),不含其它元素的光谱,所以测量数据很准确。这种仪器的灵敏度比能量色散型高一个数量级,也就是说,所测的数据并不存在“灰色地域”,不存在测定后还需拿到检测机构复检。缺点是,波长法需将被测材料粉碎压制成样本后测才准确。所以,用在材料厂zui适合......阅读全文

X射线荧光光谱仪的粒度效应介绍

  在荧光强度的推导公式中,假设的样品都是均匀且表面光滑的。但是实际上只有液体样品或经过充分抛光的纯金属或某些合金样品才能满足这些条件。对于其他固体样品特别是粉末样品常常存在着样品不均匀及粒度效应和表面效应。  均匀样品,对于固体粉末样品来说是指粉末的粒度和化学组成完全相同的样品。实验表明这种样品在

X荧光光谱仪的应用领域介绍

  被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画。  X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,可以测定元素含量。  近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、

X射线荧光光谱仪的分析方法介绍

X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点,分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点: 分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方

X射线荧光光谱仪相关知识介绍

X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱仪产品,可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱仪具有灵明度强、度高、检测范围广、自动快速等特点,广泛应用于地质、冶金、有色金属加工、建材、考古等领域,在主、次量和痕量元素分析中发挥的作用日趋重要

X荧光分析仪的分类

不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同,因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射    线强度跟这元素在样品中的含量有关,因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。    因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色

X射线荧光分析技术分类

  X射线荧光分析技术可以分为两大类型:波长色散X射线荧光分析(WDXRF)和能量色散X射线荧光分析(EDXRF);而能量色散型又根据探测器的类型分为(Si-PIN)型和SDD型。在不同的应用条件下,这几种类型的技术各有其突出的特点。目前,X射线荧光分析不仅材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一

X荧光光谱仪的应用

 初从事近红外光谱分析的人员常常会提出这样的问题:什么样的近红外光谱仪器zui好? 如何选择一台合适的近红外光谱仪器?实际上,“zui好”仪器的定义是很难确定的, “zui好”的仪器也是不存在的。因为对某一特定的仪器所提出的各项要求是随着所需要解决的具体问题的不同而有所差异的。为了帮助使用者根据特定

X荧光光谱仪的保养

  X荧光光谱仪工作的外部环境   1、周围强磁场干扰   设备合理的工作环境,要求在没有电机、振动、电磁、高压或有高频率电焊器等电磁干扰的地方安装,否则会干扰设备的谱形或造成设备不能正常工作。   2、环境温度,湿度的影响   应保持室温20~25℃为宜,气温过高或过低都会

X荧光光谱仪的保养

X荧光光谱仪工作的外部环境   1、周围强磁场干扰   设备合理的工作环境,要求在没有电机、振动、电磁、高压或有高频率电焊器等电磁干扰的地方安装,否则会干扰设备的谱形或造成设备不能正常工作。   2、环境温度,湿度的影响   应保持室温20~25℃为宜,气温过高或过低都会影响设备的正常运作,所以配有

X荧光光谱仪的原理

    X射线是一种电磁波,波长比紫外线还要短,为0.001- 10nm左右。X射线照射到物质上面以后,从物质上主要可以观测到以下三种X射线。荧光X射线、散射X射线、透过X射线,Atomray CX-5500产品使用的是通过对第一种荧光X射线的测定,从物质中获取元素信息(成分和膜厚)的荧光X射线法原

X荧光光谱仪的使用

 用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X荧光光谱仪能将探测系统所收集到的信息转换成

X荧光光谱仪的优点

X荧光光谱仪优点:   a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。   b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可

X荧光光谱仪的优点

 1、 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。   2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特

X荧光光谱仪的优点

X荧光光谱仪是一种射线式分析仪器,是X射线分析仪器的一种常用形式。X射线荧光光谱仪能分析原子序数 12~92的所有元素,选择性高,分析微量组分时受基体的影响小,在地质、采矿和冶金等部门应用很广。X荧光光谱仪的原理:元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,

X荧光光谱仪的保养

  X荧光光谱仪工作的外部环境   1、周围强磁场干扰   设备合理的工作环境,要求在没有电机、振动、电磁、高压或有高频率电焊器等电磁干扰的地方安装,否则会干扰设备的谱形或造成设备不能正常工作。   2、环境温度,湿度的影响   应保持室温20~25℃为宜,气温过高或过低都会

X-射线荧光光谱仪

用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。图

X荧光光谱仪特点

 X荧光光谱仪特点:   1、无损检测,可对电子电气设备,玩具指令中的有害物质进行定性定量分析。   2、测量时间短,客户可选择测试时间:60-300秒。   3、全封闭式金属机箱及防泄漏保护开关设计,更好地保障操作员的人身安全。流水线型外观,美观大方。   4、配备X Y轴可移动平台,方便样品点选

X荧光光谱仪原理

X荧光光谱仪原理当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12~10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁.当较

x荧光光谱仪原理

荧光,顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。从原子物理学的知识我们知道,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以各自

X荧光光谱仪原理

  当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12~10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程   称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁.当较外层

X射线荧光光谱仪的全反射荧光

  如果n1>n2,则介质1相对于介质2为光密介质,介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线,一般固体与空气相比都是光疏介质。所以,如果介质1是空气,那么α1>α2,即折射线会偏向界面。如果α1足够小,并使α2=0,此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1

荧光光谱仪分类

  按荧光原理可分:原子荧光光谱仪、分子荧光光谱仪和X射线荧光光谱仪等。  原子荧光光谱仪是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下所产生的荧光发射强度,来测定待测元素含量的仪器。原子荧光激发光源一般为高强度空心阴极灯或无极放电灯一般原子荧光光度计用来对各类样品中痕量的铅、汞、砷、锗、锡、硒、碲、铋

XRFX射线荧光光谱仪的优点介绍

  X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。    受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。    探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。    然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种

实验室X荧光光谱仪的特点介绍

   实验室能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器,通过智能激发和检测设计实现高灵敏度,用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法,适用于不同的应用场合。   实验室能量

关于X射线荧光光谱仪的维护保养介绍

  1、进样系统的维护保养  待仪器关闭后打开仪器外盖,卸下进样系统上的样品杯,卸开样品杯用酒精纱布清理样品杯的所有部件,用酒精纱布清理射线管底座的O环,待清理完后安装好样品杯和仪器外盖开机,维护完毕。  2、循环水的维护保养  换外循环水:首先按正常程序关闭仪器包括仪器背面的主电源,关闭循环水机,

关于X射线荧光光谱仪的应用特点介绍

  X射线荧光光谱仪(XRF)是用于元素定量分析的仪器,广泛应用于钢铁、水泥、石油化工、环境保护、有色冶炼、材料、科研等各个领域,其在制样方便、无损、快速等方面优于其它分析方法,但其在定量精度和样品适应范围等方面一直存在挑战。  当前XRF广泛应用的领域往往具备三个特点:一是样品基体相对稳定;二是分

X射线荧光光谱仪的特点及应用介绍

   X射线荧光光谱仪应用领域:冶金、铸造、机械、科研、商检、汽车、石化、造船、电力、航空、核电、金属和有色金属冶炼、加工和回收工业中的各种分析。    X射线荧光光谱仪主要特点:    1、电子系统采用国际标准机笼、高集成化设计。    2、ZL技术的入缝及整体出射狭缝制造技术,确保光学系统

X荧光光谱仪分析原理及构造的介绍

  X射线荧光(XRF)能用于测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料,其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。凡是能和X射线发生激烈作用的样品都不能分析,而要分析的样品必须经受在真空(4~5Pa)环境下测定,与其他分析技术相比,XRF具有分

X射线荧光光谱仪的原理和应用介绍

X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是

X-射线荧光光谱仪的组成部分介绍

  (1)X射线系统(X射线光管、高压变压器、管压管流控制单元);  (2)水循环冷却系统(内外部冷却水单元、温度、电导率控制监测单元);  (3)真空系统(真空泵、样品室);  (4)检测系统(光谱室、分光晶体、衰减器、狭缝、测角仪、晶体交换器等);  (5)检测记录系统(流〈充〉气正比计数器和闪