原子力显微镜(AFM)在光盘检测应用
CD/DVD光盘具有存储量大、成本低、精度高和信息保存寿命长等特点,现已成为主要的数据储存介质。为了继续提高光盘容量及其质量,需要改善 盘片和模板表面质量的分析方法。原子力显微镜(AFM)可直接进行三维测量[1-2],能够在nm尺度上对CD/DVD及其模板上的信息位凹坑和凸台结构 进行直接观测和统计分析,进而找出影响光盘质量的直接原因。它具有效率高、能提供量化的三维信息和对样品无破坏的特点,是分析CD/DVD盘片及其模板质 量的重要工具。原子力显微镜(AFM) 1981年,G.Binnig和H.Roher等人发明了扫描隧道显微镜(STM),STM采用电场电子隧道效应,因而具有极高的测量分辨率。 其测量机理是探针针尖与被测表面在近场范围内发生作用,通过检测这种近场作用,就可获得被测样品的表面形貌。近场作用是多种多样的,利用不同的近场作用就 可构成不同的测量仪器,从而形成了扫描探针显微镜(SPM)族,原......阅读全文
原子力显微镜(AFM)在光盘检测应用
CD/DVD光盘具有存储量大、成本低、精度高和信息保存寿命长等特点,现已成为主要的数据储存介质。为了继续提高光盘容量及其质量,需要改善 盘片和模板表面质量的分析方法。原子力显微镜(AFM)可直接进行三维测量[1-2],能够在nm尺度上对CD/DVD及其模板上的信息位凹坑和凸台结构 进行直接观
AFM位置检测
位置检测部分主要是由激光和激光检测系统组成。而反馈系统中主要包含一系列的压电陶瓷管。压电陶瓷是一种性能奇特的材料，当在压电陶瓷对称的两个端面加上电压时，压电陶瓷会按特定的方向伸长或缩短。而伸长或缩短的尺寸与所加的电压的大小成线性关系。即可以通过改变电压来控制压电陶瓷的微小伸缩。通常把三个分别代表X，
AFM检测技术
原子力显微镜(Atomic Forcc Microscopc,AFM),也称扫描力显微镜(scanning FOrccMicroscopc,sFM),是一种纳米级高分辨的扫描探针显微镜,优于光学衍射极限1000倍。 ADM811原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德・宾宁与斯福
AFM力检测部分
仪器结构： 在原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）的系统中，可分成三个部分：力检测部分、位置检测部分、反馈系统。力检测部分在原子力显微镜（AFM）的系统中，所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用微小悬臂（cantilever）来检测原子之间力的
AFM位置检测部分
位置检测部分在原子力显微镜（AFM）的系统中，当针尖与样品之间有了交互作用之后，会使得悬臂cantilever摆动，所以当激光照射在微悬臂的末端时，其反射光的位置也会因为悬臂摆动而有所改变，这就造成偏移量的产生。在整个系统中是依靠激光光斑位置检测器将偏移量记录下并转换成电的信号，以供SPM控制器作信
AFM的位置检测部分
位置检测部分在原子力显微镜/AFM的系统中，当针尖与样品之间有了交互作用之后，会使得悬臂摆动，所以当激光照射在微悬臂的末端时，其反射光的位置也会因为悬臂摆动而有所改变，这就造成偏移量的产生。在整个系统中是依靠激光光斑位置检测器将偏移量记录下并转换成电的信号，以供SPM控制器作信号处理。
AFM的力检测部分
力检测部分在原子力显微镜/AFM的系统中，所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用微小悬臂（）来检测原子之间力的变化量。微悬臂通常由一个一般100～500μm长和大约500nm～5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖，用来检测样品－针尖间的相互作用力。这微小悬臂有
光盘[存储]技术特点
中文名称光盘[存储]技术英文名称optical disc ［memory］ technique定 义利用激光将信息存储到记录介质上且可用激光读出的技术。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），激光器件和激光设备-激光应用（三级学科）
细菌DNA＝未来光盘？
英国《自然》杂志11日发表了一项生物技术重要成果：科学家利用CRISPR手段，成功将图片和视频短片编码进了细菌的DNA中，通过测序DNA再重新提取出来后仍相当准确。其证明了活细胞作为一种可靠媒介，存储一定数量的数据完全有可能。 CRISPR被称为“生物科学领域的游戏规则改变者”。最近的一些研
日发现光盘替代介质－制成光盘是DVD容量千倍
一张普通激光ＣＤ光盘的容量大约为７００兆字节，一张数字视频ＤＶＤ光盘的容量约为４．７千兆字节或４．７Ｇ字节。而日本研究人员新近发现一种新型数字存储介质，用这种介质制成的光盘容量可以是ＤＶＤ容量的数千倍。 日本东京大学化学教授
如何激光检测原子力显微镜/AFM/AFM探针工作
二极管激光器发出的激光束经过光学系统聚焦在微悬臂（Cantilever）背面，并从微悬臂背面反射到由光电二极管构成的光斑位置检测器（Detector）。在样品扫描时，由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力，微悬臂将随样品表面形貌而弯曲起伏，反射光束也将随之偏移，因而，通过光电二极管检
超薄光盘－低碳环保
今天很多媒体都在评选年度网络热词，“低碳”无疑成为2010年最热词语之一。如今市场上出现一种只有普通DVD一半厚度的EcoDis-cDVD。 DVD光盘采用双层基片粘合而成的物理结构，普通DVD5信息层处在光盘中间位置，采用单面单层读盘方式，读取激光从读出面进入光盘基片扫描成型在
“超级光盘”存储器问世
原文地址：http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2024/2/517834.shtm上海理工大学光子芯片研究院顾敏院士、中国科学院上海光学精密机械研究所阮昊研究员、上海理工大学光电信息与计算机工程学院文静教授等合作，在国际上首次利用双光束调控聚集诱导发光超分辨光存储技
“超级光盘”是这样诞生的
原文地址：http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2024/3/519063.shtm存储容量是普通光盘上万倍、普通硬盘上百倍的“超级光盘”诞生了。 ?“超级光盘”实物图。上海光机所供图中国工程院外籍院士、上海理工大学光子芯片研究院院长顾敏与中国科学院上海光
原子力显微镜与扫描电子显微镜
原子力显微镜与扫描电子显微镜尽管SEM 和AFM 的横向分辨率是相似的,但每种方法又会根据观察者对试样表面所要了解的信息不同而提供更完美的表征。SEM 和AFM 两种技术最基本的区别在于处理试样深度变化时有不同的表征。极其平整的表面既可能是天然形成的,如某些矿物晶体表面,也可能是经过处理的,如抛光和
激光盘煤仪应用特点介绍
适用于电力、煤炭、冶金、石化、煤化、环保、水泥、造纸、地质勘探、土建、规划设计、科研院所等行业对任何形状的煤堆、土方、矿石方、砂石方、矿石堆、填方等的高度、长度、体积进行测量。 激光盘煤仪的功能特点： 激光盘煤仪的工作原理 采用激光测距技术，快速测量煤堆上特征点的三维数据，并自动记录其空间坐
激光盘煤仪的应用范围
激光盘煤仪适用于电力、煤炭、冶金、石化、煤化、环保、水泥、造纸、地质勘探、土建、规划设计、科研院所等行业对任何形状的煤堆、土方、矿石方、砂石方、矿石堆、填方等的高度、长度、体积进行测量。
15日直播|“超级光盘”如何诞生？
直播时间：2024年4月15日（周一）19:00-20：00直播平台：科学网APPhttps://weibo.com/l/wblive/p/show/1022:2321325021987549347858(科学网微博直播间链接)科学网微博科学网视频号科学网B站科学网抖音【内容简介】今年2月22日，《
原子力显微镜（AFM）之力检测部分
在原子力显微镜（AFM）的系统中，所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用微小悬臂（cantilever）来检测原子之间力的变化量。这微小悬臂有一定的规格，例如：长度、宽度、弹性系数以及针尖的形状，而这些规格的选择是依照样品的特性，以及操作模式的不同，而选择不同类型的探针。
AFM动态电场诱导氧化加工及其电流检测
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'} 纳米加工技术是构建新一代纳米电子器件的重要基础技术。而基于扫描探针显微镜(SPM)的纳米加工技术是迄今为
激光检测原子力显微镜（AFM）原理
原子力显微镜（AFM）的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光
原子力显微镜（AFM）之位置检测部分
在原子力显微镜（AFM）的系统中，当针尖与样品之间有了交互作用之后，会使得悬臂cantilever摆动，所以当激光照射在cantilever的末端时，其反射光的位置也会因为cantilever摆动而有所改变，这就造成偏移量的产生。在整个系统中是依靠激光光斑位置检测器将偏移量记录下并转换成电的信号，以
什么是AFM
明。AFM 是一種類似於STM 的顯微技術，它的許多元件和STM是共同的，如用於三 維掃描的電壓陶瓷系統以及反饋控制器等。它和STM 最大的不同是用一個對微弱作用 力極其敏感的微懸臂針尖代替了STM 的隧道針尖，並以探測原子間的微小作用力(Van der Walls’ Force)代替了STM 的微
AFM相移模式
相移模式(相位移模式)作为轻敲模式的一项重要的扩展技术，相移模式(相位移模式)是通过检测驱动微悬臂探针振动的信号源的相位角与微悬臂探针实际振动的相位角之差（即两者的相移）的变化来成像。引起该相移的因素很多，如样品的组分、硬度、粘弹性质等。因此利用相移模式(相位移模式)，可以在纳米尺度上获得样品表面局
AFM力学测量
力学测量在纳米材料和器件的诸多性质中，力学性质不仅面广而且也是评价纳米材料和器件的主要指标，是纳米材料和器件得以真正应用的关键。目前关于AFM的微纳米力学研究，已在纳米材料力学性质、纳米摩擦等领域取得了较大进展。在AFM接触模式下，研究样品材料微纳尺度内的形貌和力学性质(包括杨氏模量、硬度、粘弹性、
AFM的介绍
AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵；现
AFM形态结构
形态结构 作为新兴的形态结构成像技术，AFM实现了对接近自然生理条件下生物样品的观察。这主要由于它具备以下几个特点: 1).与扫描电镜和透射电镜这些高分辨的观测技术相比，样品制备过程简便，可以不需染色、包埋、电镀、电子束的照射等处理过程; 2).除对大气中干燥固定后样品的观察外，还能对液体中样
AFM工作原理
AFM工作原理 将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一个微小的针尖，其尖端原子与样品表面原子间存在及极微弱的排斥力，利用光学检测法或隧道电流检测法，通过测量针尖与样品表面原子间的作用力获得样品表面形貌的三维信息。图1 AFM 工作原理示意图 下面，我们以激光检测原子力显微镜
AFM应用实例
应用实例 1．应用于纸张质量检验。 2．应用于陶瓷膜表面形貌分析。 3．评定材料纳米尺度表面形貌特征 原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描，从而
AFM曲线测量
曲线测量SFM除了形貌测量之外，还能测量力对探针-Zt（Zs）。它几乎包含了所有关于样品和针尖间相互作用的必要信息。当微悬臂固定端被垂直接近，然后离开样品表面时，微悬臂和样品间产生了相对移动。而在这个过程中微悬臂自由端的探针也在接近、甚至压入样品表面，然后脱离，此时原子力显微镜/AFM测量并记录了探