各种仪器分析的基本原理及谱图表示方法（一）
紫外吸收光谱 UV 分析原理 ：吸收紫外光能量，引起分子中电子能级的跃迁 谱图的表示方法 ：相对吸收光能量随吸收光波长的变化 提供的信息 ：吸收峰的位置、强度和形状，提供分子中不同电子结构的信息 荧光光谱法 FS 分析原理 ：被电磁辐射激发后，从最低单线激发态回到单线基态，发射荧光 谱图的表示方法 ：发射的荧光能量随光波长的变化 提供的信息 ：荧光效率和寿命，提供分子中不同电子结构的信息 红外吸收光谱法 IR 分析原理 ：吸收红外光能量，引起具有偶极矩变化的分子的振动、转动能级跃迁 谱图的表示方法 ：相对透射光能量随透射光频率变化 提供的信息 ：峰的位置、强度和形状，提供功能团或化学键的特征振动频率 拉曼光谱法 Ram 分析原理 ：吸收光能后，引起具有极化率变化的分子振动，产生拉曼散射 谱图的表示方......阅读全文
各种烟气分析方法的适用比较
传统的烟气分析方法即奥式气体分析法是利用不同的溶液来相继吸收气体试样中的不同组分：用40％的氢氧化钠吸收试样中的二氧化碳；用焦没食子酸钾溶液吸收试样中的氧气；用氨性氯化亚铜溶液来吸收试样中的一氧化碳。然后根据吸收前后试样体积的变化来计算各组分的含量。奥氏气体分析仪结够简单虽一次购置成本低但长期运
实验室分析仪器核磁共振谱仪定义、发展及基本原理
核磁共振是指一个射频场引起有磁矩的原子核与外磁场相互作用而产生的磁能之间的跃迁。核磁共振波谱仪是基于核磁矩不等于零的原子核,在静磁场作用下,对稳定频率电磁波的吸收现象来研究物质结构的一种工具。分析工作者从共振峰的数和相对的强度、化学位移和弛豫时间等参数进行物质结构分析。一、核磁共振的定义核磁共振(n
质谱中的各种离子
1). 分子离子(molecular ion)分子被电子束轰击失去一个电子形成的离子称为分子离子。分子离子用M+•表示。分子离子是一个游离基离子。在质谱图上，分子离子对应的峰为分子离子峰。分子离子峰的应用：分子离子峰的质荷比就是化合物的相对分子质量，所以，用质谱法可测分子量。2). 同位素离子(is
常用的荧光分析方法及仪器
直接测定法利用物质自身发射的荧光进行测定分析。间接测定法不管是直接测定，还是间接测定，一般的采用标准工作曲线法，取各种已知量的荧光物质，配成一系列的标准溶液，测定出这些标准溶液的荧光强度，然后给出荧光强度对标准溶液的浓度的工作曲线。在同样的仪器条件下，测定未知样品的荧光强度，然后从标准工作曲线上查出
红外光谱图横坐标有哪两种表示方法
红外光谱图横坐标有两种表示方法：红外从780nm到50微米，以纳米为单位：780-50000nm；以波数为单位的话，12820-200cm-1。纵轴%T：T代表透过率（transmittance），%是透过率的单位。横轴cm-1：cm-1是波数（wavenumber）的单位。波数是原子、分子和原子核
如何表示化学分析方法的的分析结果？
应从以下方面表述分析方法的结果（以滴定法为例）：1）分析结果的内容——表示结果的方法；——计算公式及简化公式；——式中符号、代号和系数的含义与单位；——结果所要求的有效位数及修约间隔。化学分析方法标准中量的符号如下：m——质量；V——体积；C——浓度。当同一字母符号表示有不同数值的量时，应在字母符号
与色谱图和质谱图相关的故障解决方法简介
1.故障现象：出现平失峰 产生故障的可能原因及排除方法： a. 柱子中的样品过载，排除方法是分流进样或稀释样品； b. 检测器过载，排除方法是降低检测器电压。 2.故障现象：保留时间不稳定 产生故障的可能原因及排除方法： a. 毛细管柱的固定相发生降解，排除方法是切去毛细管柱端0.5
一看就懂！各种仪表工作原理动图（三）
7.文丘里流量计8.涡轮流量计9.转子式流量计液位仪表原理1.差压式液位计A2.差压式液位计B3.差压式液位计C4.超声波测量液位原理5.电容式液位计
一看就懂！各种仪表工作原理动图（二）
4.热电偶温度计5.热电阻的结构流量仪表原理1.靶式流量计2.孔板流量计3.立式腰轮流量计4.喷嘴流量5.容积式流量计6.椭圆齿轮流量计7.文丘里流量计
水硬度各种检测方法大全（一）
水总硬度是否符合标准是自来水的一个重要参考数据，它主要是描述钙离子和镁离子的含量。水总硬度根据不同的标准可以进行不同的分类。不同国家的换算单位也是有不同的标准。 水硬度是水质的一个重要监测指标，通过监测可以知道其是否可以用于工业生产及日常生活，如硬度高的水可使肥皂沉淀使洗涤剂的效用大大降
深度揭秘氦质谱检漏技术——氦质谱检漏的各种方法
利用氦质谱检漏仪进行检漏的方法很多，而检漏中所遇到的被检件的结构、大小、要求也是各式各样的，因此应根据这些特定的条件选择合适的检漏方法。一、喷吹法检漏系统如图15所示。图中的辅助泵是用来对被检容器进行预抽并当被检容器存在大漏时用来维持检漏仪的工作压力的。检漏时，先用辅助泵将被检容器抽到低真空，然后再
深度揭秘氦质谱检漏技术——氦质谱检漏的各种方法
利用氦质谱检漏仪进行检漏的方法很多，而检漏中所遇到的被检件的结构、大小、要求也是各式各样的，因此应根据这些特定的条件选择合适的检漏方法。一、喷吹法检漏系统如图15所示。图中的辅助泵是用来对被检容器进行预抽并当被检容器存在大漏时用来维持检漏仪的工作压力的。检漏时，先用辅助泵将被检容器抽到低真空，然后再
液质联用仪分析质谱图的程序
解析未知样的质谱图，大致按以下程序进行：解析分子离子区1， 标出各峰的质荷比数，尤其注意高质荷比区的峰。2，识别分子离子峰。首先在高质荷比区假定分子离子峰，判断该假定分子离子峰与相邻碎片离子峰关系是否合理，然后判断其是否符合氮律。若二者均相符，可认为是分子离子峰。3，分析同位素峰簇的相对强度比及
实验室分析仪器常见色谢图问题及解决办法一
常见色谢图问题及相关原因分析和解决办法现象原因排除方法进样后不出峰1.检测器选择不当2.样品浓度低于仪器检出限3.信号记录问题4.注射器堵塞或泄漏导致样品没有被注入色谱系统1.选择合适的检测器，如样品没有吸收就不要选用UV-VIS，而应换用其他检测器2.增大样品浓度，改进方法，选用灵敏度高的检测器3
质谱图的组成
质谱图由横坐标、纵坐标和棒线组成。横坐标标明离子质荷比(m/z)的数值，纵坐标标明各峰的相对强度，
质谱分析法术语质谱图
质谱图（mass spectrogram）质谱测定结果经计算机处理统计后，以棒状图（或数据列表形式）表示的谱图。它是二维图谱，横坐标表示离子的质荷比（m/z），对于单电荷的离子，电荷数z＝1，横坐标表示的数值即为离子的质量；纵坐标表示离子流的强度，通常用相对强度来表示，即把被记录的各个质量数的离子峰
常用加热仪器及加热方法（一）
(1)酒精灯 酒精灯一般是玻璃制的。由灯帽、灯芯、灯壶三部分组成。其灯焰温度通常可达400-500℃ ，外焰最高，内焰次之，焰心最低。酒精灯用于温度不需太高的实验，点燃时，切勿用点燃的酒精灯直接点火；添加酒精时，必须将火焰熄灭，且加入的量不能超过灯容量的三分之二；熄灭酒精灯时必须用灯罩罩熄，
举例|色谱图和质谱图的差别
色谱图是指被分离组分的检测信号随时间分布的图象。样品流经色谱柱和检测器，所得到的信号-时间曲线，又称色谱流出曲线。色谱图形状随色谱方法和检测记录的方式不同而不同，迎头色谱和顶替色谱的色谱图为一系列台阶；在洗脱法色谱中，若采用微分型检测器时，分离组分的检测信号随时间变化的图形为近似于高斯分布的一组
水分活度的定义、表示方法及意义
水分活度Aw的定义为一定温度下食品所显示的水蒸气压P与同一温度下纯水蒸气压Po之比，即：Aw=P/Po。水分活度数值用Aw表示。水分活度Aw值对食品保藏具有重要的意义。含有水分的食物等由于其水分活度值不同，其储藏期的稳定性也不同。利用水分活度的测试，控制微生物的生长，计算食品和药品的保质期，已逐渐成
各种常用粒度测试方法特点分析
粉体材料有很多物理指标，主要反映在组成粉体材料颗粒的一些参数，包括粒度、粒形、表面积、孔径、带电特性以及堆积性能和流动性能等。粒度测试是一门跨学科、跨领域技术，它需要面向几十个领域中的各式粉体和千差万别的用户，因此要求从事颗粒测试工作的人员具有丰富的理论知识和实践经验。其中理论知识包括颗粒学、物理学
实验室分析仪器红外光谱仪－红外谱图的分区
按吸收峰的来源，可以将2.5~25μm的红外光谱图大体上分为特征频率区（2.5~7.7μm）以及指纹区（7.7~16.7μm）两个区域。其中特征频率区中的吸收峰基本是由基团的伸缩振动产生，数目不是很多，但具有很强的特征性，因此在基团鉴定工作上很有价值，主要用于鉴定官能团。如羰基，不论是在酮、酸、酯或
计量泵型号表示方法及含义
例如：JZ M -3× 160/ 2 2——压力（MPa） 160——流量（l/h） 3——缸数（单缸不标注） M——缸头形式（柱塞式不标注，M为隔膜式） JZ——机座号 （微-Ｗ、小-Ｘ、中-Ｚ、大-Ｄ、特大-Ｔ） 计量泵流量 Q=60Fsnηvi/60 式中 Ｑ
实验室分析方法质谱分析质谱图主要离子峰的类型介绍
分子离子峰、同位素离子峰、碎片离子峰、亚稳离子峰、重排离子峰。
X射线能谱仪分析的基本原理
X射线能谱仪为扫描电镜附件，其原理为电子枪发射的高能电子由电子光学系统中的两级电磁透镜聚焦成很细的电子束来激发样品室中的样品，从而产生背散射电子、二次电子、俄歇电子、吸收电子、透射电子、X射线和阴极荧光等多种信息。若X射线光子由Si（Li）探测器接收后给出电脉冲讯号，由于X射线光子能量不同（对某一元
一文了解高光谱图检测技术的基本原理
光谱分辨率在10l数量级范围内的光谱图像称为高光谱图像(Hyperspectral Image)。遥感技术经过20世纪后半叶的发展，无论在理论上、技术上和应用上均发生了重大的变化。其中，高光谱图像技术的出现和快速发展无疑是这种变化中十分突出的一个方面。通过搭载在不同空间平台上的高光谱传感器，即成
怎么分析通过XRD测结晶度的谱图
分析方法：已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。当X
怎么分析通过XRD测结晶度的谱图
分析方法：已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。当X
怎么分析通过XRD测结晶度的谱图
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分析方法：已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。当X
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分析方法：已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。当X