球差电镜分析
1 球差电镜的原理 球差是像差的一种，是影响TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，无论是光学透镜还是电磁透镜，其透镜系统都无法做到完美。光学透镜中，可通过将凸透镜和凹透镜组合使用来减少由凸透镜边缘汇聚能力强中心汇聚能力弱所致的所有的光线(电子)无法汇聚到一个焦点的缺点，可对于电磁透镜，我们没有凹透镜，球差便成了影响TEM分辨率最主要也最难解决的问题。球差和色差示意图 2 ACTEM的种类 TEM中包含多个磁透镜：聚光镜、物镜、中间镜和投影镜等。球差是由于磁镜的构造不完美造成的，那么这些磁镜组都会产生球差。当我们矫正不同的磁透镜就有了不同种类的ACTEM。回想一下STEM的原理，当我们使用STEM模式时，聚光镜汇聚电子束扫描样品成像，此时聚光镜球差是影响分辨率的主要原因。 因此，以做STEM为主的TEM，球差校正装置会安装在聚光镜位置，即为AC-STEM。而当我们使用imag......阅读全文
电镜法粒度分析
优点是可以提供颗粒大小，分布以及形状的数据。此外，一般测量颗粒的大小可以从1纳米到几个微米数量级。并且给的是颗粒图像的直观数据，容易理解。但其缺点是样品制备过程会对结果产生严重影响，如样品制备的分散性，直接会影响电镜观察质量和分析结果。电镜取样量少，会产生取样过程的非代表性。适合电镜法粒度分析的仪器
透射电镜及选区衍射的发展趋势
透射电镜及选区衍射的发展趋势 利用EELS精细结构研究电子结构[14]；利用Z衬度，真正实现原子的化学成份的分辨；结合正、倒空间信息，进行三维重构，实现原子水平的空间分辨本领。最新进展：德国科学家利用计算机技术实现了对磁透镜进行球差矫正，可以实现零球差，以及负球差，从而大大提高了透射电镜的空间分辨
新一代电子显微镜发展趋势
一、高性能场发射枪电子显微镜日趋普及和应用。场发射枪透射电镜能够提供高亮度、高相干性的电子光源。因而能在原子--纳米尺度上对材料的原子排列和种类进行综合分析。九十年代中期，*只有几十台；现在已猛增至上千台。我国目前也有上百台以上场发射枪透射电子显微镜。常规的热钨灯丝（电子）枪扫描电子显微镜，分辨率z
扫描电镜分析实验
一 、实验目的1.了解扫描电子显微镜的原理、结构;2.运用扫描电子显微镜进行样品微观形貌观察。二、实验原理扫描电镜(SEM)是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是主要的成像信号。由电子枪发射的电子，以其交叉斑作为电子源
电镜能谱分析(EDS)
原理：高能电子束照射样品产生X射线，不同元素发出的特征X射线具有不同频率，即具有不同能量，通过检测不同光子的能量来对元素进行定性分析，另元素的含量与X射线的强度有关系，通过此关系可以对元素进行定量分析。分析元素范围：4号铍(Be)-92号铀(U)分析特点：一般与电镜组合用于微区及表面分析；主要用于元
什么是差示热分析？
差示热分析（Differential Thermal Analysis，DTA）简称差热分析，是在程序控制温度下测定待测物质和参比物之间的温度差和温度关系的一种技术。物质在加热或冷却过程中的某一特定温度下往往会伴随吸热或放热效应的物理、化学变化，如晶型转换、沸腾、升华、蒸发、融化等物理变化以及氧
差压变送器的故障分析
1.调查法： 回顾故障发生前的打火、冒烟、异味、供电变化、雷击、潮湿、 误操作、误维修。 2.直观法： 观察回路的外部损伤、导压管的泄漏，回路的过热，供电开关状态等。 3.检测法： 1) 断路检测：将怀疑有故障的部分与其它部分分开来，查看故障是否消失，如果消失，则确定故障所在，否则可进
差压变送器的故障分析
1.调查法： 回顾故障发生前的打火、冒烟、异味、供电变化、雷击、潮湿、 误操作、误维修。 2.直观法： 观察回路的外部损伤、导压管的泄漏，回路的过热，供电开关状态等。 3.检测法： 1) 断路检测：将怀疑有故障的部分与其它部分分开来，查看故障是否消失，如果消失，则确定故障所在，否则可进
复旦大学透射电镜环境保障系统采购公开招标公告
分析测试百科网讯 近日，复旦大学透射电镜环境保障系统采购（项目编号：182008KG）进行公开招标，用于双球差校正透射电镜和场发射透射电镜环境保障，以满足超高空间及能量分辨率工作环境要求。预算金额：196万。详情如下： 项目联系人：许老师 电话：65641327 开标时间：2019年11月0
了解几种电镜
大型透射电镜 大型透射电镜（conventional TEM）一般采用80-300kV电子束加速电压，不同型号对应不同的电子束加速电压，其分辨率与电子束加速电压相关，可达0.2-0.1nm，高端机型可实现原子级分辨。低压透射电镜 低压小型透射电镜（Low-Voltage
透射电子显微镜的发展趋势
透射电子显微学（TEM）是一门探索电子与固态物质结构相互作用的科学。 透射电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。由电子枪发射出来的电子束，在真空通道中沿着镜体光轴穿越聚光镜，通过聚光镜将之会聚成一束尖细、明亮而又均匀的光斑，照射在样品室内的样品
颈部恶性血管球瘤病例分析
患者男性，68岁。发现右颈部渐大性肿物3月就诊。患者右颈部肿物约“指甲盖”大小，近2月肿物进行性肿大，伴阵发性疼痛并向头顶部放射。查体：右颈部触及一活动度较差、不规则形肿物，质中等，轻微压痛。超声检查：右颈部颈动脉内侧旁见约8cm×4cm×6cm的实性肿块，与甲状腺分界不清，肿块包膜尚清，边缘不规整
关于睑球粘连的病因分析
多发生于化学性（酸、碱）烧伤、热烧伤、爆炸伤、结膜本身疾患如Stevens-Johnson综合征、结膜天疱疮、重度沙眼以及结膜手术等后遗症。结膜化学伤最常为酸性及碱性烧伤，其病理过程一般分为4个时期： 1.变性坏死期； 2.炎症反应期； 3.溃疡增生期； 4.瘢痕期。 酸性物质可引起蛋
关于睑球粘连的病因分析
睑球粘连多发生于化学性（酸、碱）烧伤、热烧伤、爆炸伤、结膜本身疾患如Stevens-Johnson综合征、结膜天疱疮、重度沙眼以及结膜手术等后遗症。结膜化学伤最常为酸性及碱性烧伤，其病理过程一般分为4个时期： 1.变性坏死期； 2.炎症反应期； 3.溃疡增生期； 4.瘢痕期。 酸性物质
电子显微镜开启微观世界探索大门
*台电子显微镜是怎样制成的呢?1932年斯卡想到利用电子束进行成像并制成了世界上*台电子显微镜，在50多年后终于得到科学界的认可并因此获得了诺贝尔奖，电子显微镜的发明开启了人们探索微观世界的大门。目前电子显微镜主要应用的两个领域是材料科学和生命科学。在材料科学领域主要是进行材料原子水平的结构与成份分
荧光微球分析技术及荧光微球吞噬实验的操作流程
荧光 微球分析技术属于化学材料发展结果，可用于细胞表面抗原的检测、退行性神经病变示踪物、吞噬功能的检测、血流分析、敏感性诊断试剂等，本文介绍了荧光微球分析技术以及荧光微球吞噬实验的操作步骤。荧光微球分析 技术简介荧光微球分析技术是近年来化学材料科学活跃发展 的产物，各种大小(0.2～10μm)可产生
扫描电镜和透射电镜分析的区别
扫描电镜，是观察样品表面的结构特征；透射电镜，是观察样品的内部精细结构。
扫描电镜和透射电镜分析的区别
扫描电镜，是观察样品表面的结构特征；透射电镜，是观察样品的内部精细结构。
扫描电镜和透射电镜分析的区别
扫描电镜，是观察样品表面的结构特征；透射电镜，是观察样品的内部精细结构。
选区电子衍射的分析
选区电子衍射的分析 单晶电子衍射花样[5]可以直观地反映晶体二维倒易平面上阵点的排列，而且选区衍射和形貌观察在微区上具有对应性，因此选区电子衍射一般有以下几个方面的应用。 (1) 根据电子衍射花样斑点分布的几何特征，可以确定衍射物质的晶体结构；再利用电子衍射基本公式Rd＝Lλ，待求得d之后与标准
透射电子显微镜基础知识（一）
电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、
透射电子显微镜基础知识（一）
电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、
电镜能谱分析测试项目
形貌分析：通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征，可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织等形貌像的观察，同时还可对材料断口进行分析。微区成分分析：通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析，可确定样品的组成。失效分析：金属材料失效分析、非金属材料（橡胶、塑料、涂层、
扫描电镜分析实验服务
一 、实验目的1.了解扫描电子显微镜的原理、结构;2.运用扫描电子显微镜进行样品微观形貌观察。二、实验原理扫描电镜(SEM)是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是主要的成像信号。由电子枪发射的电子，以其交叉斑作为电子源
扫描电镜图片如何分析
你的SEM图片，工作电压是5KV,放大倍数是40倍，你的样品应该是颗粒状的直接放置在导电胶上进行SEM测试的，通过这个图片，可以看到你的样品的形貌，大部分是规则的多面体颗粒，大小的话，这张图片的尺寸标尺是100um，你的颗粒大小在400~600um之间
扫描电镜图片如何分析
第一、扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。背散射电子像主要反映样品表面元素分布情况，越亮的区域，原子序数越高。第二、看表面形貌，电子成像，亮的区域
电镜能谱分析测试范围
►金属材料： 金属分析主要为企业提供金属材料准确的元素信息或牌号鉴定，确保产品原材料符合成分要求，协助企业进行材料质量控制，减少产品质量问题。1黑色金属牌号鉴定与元素分析：各类铁基合金材料（不锈钢、结构钢、碳素钢、合金钢、铸铁等）。 2有色金属：铜合金、铝合金、锡合金、镁合金、镍合金、锌合金等。 ►
电镜法粒度分析的介绍
优点是可以提供颗粒大小，分布以及形状的数据。此外，一般测量颗粒的大小可以从1纳米到几个微米数量级。 并且给的是颗粒图像的直观数据，容易理解。但其缺点是样品制备过程会对结果产生严重影响，如样品制备的分散性，直接会影响电镜观察质量和分析结果。电镜取样量少，会产生取样过程的非代表性。 适合电镜法粒
差示热分析的结构简介
典型的差热分析装置如图3所示 。基本由以下几部分组成:(1)温度程序控制单元使炉温按给定的程序方式(升温、降温、恒温、循环)以一定速度上升、下降或恒定。(2)差热放大单元用以放大温差电势,由于记录仪量程为毫伏级,而差热分析中温差信号很小,一般只有几微伏到几十微伏,因此差热信号须经放大后再送入记录仪中
织构及取向差分析－－EBSD
织构及取向差分析EBSD不仅能测量各取向在样品中所占的比例，还能知道这些取向在显微组织中的分布，这是织构分析的全新方法。EBSD可应用于取向关系测量的范例有：推断第二相和基体间的取向关系、穿晶裂纹的结晶学分析、单晶体的完整性、微电子内连使用期间的可靠性、断口面的结晶学、高温超导体沿结晶方向的氧扩散、