如何用耗散型石英晶体微天平测量薄膜降解
薄膜降解—时而需要时而避免 我们周围有许多工艺流程中，包括自发进行的和人为设计的，会有薄膜或涂层的降解或者剥落。一个典型的例子是蚀刻或腐蚀，比如说在管道基础设施中，这是一个不希望的过程，但是在制造电子元件时却是非常需要的。另一个需要薄膜剥落的领域是用洗涤剂去除油污。在这两种情况下，了解材料的降解和剥落就十分重要了，这样便可以对其进行优化和控制。既能防止不必要的降解，又能提高需降解薄膜的脱落速度。为了能够控制这一过程，降解或者剥落必须被模拟和理解。QCM-D，原理上是一个测量微小质量的天平，可以测量和量化这种膜的降解，无论是在数量上还是在动力学方面。 定性和定量测量薄膜的降解 当薄膜降解时，表面会失去质量。初始表面结合层的厚度也会随之减少。这是两个参数正是QCM-D在纳米尺度所能够实时测量的。 示例1：评价清洁效率 举个例子，让我们看看在清洗表面时薄膜的降解。我们有一个带有油污的表面想用洗涤剂......阅读全文
可生物降解的柔性硅晶体管
2015年6月30日华盛顿--当今，随着新科技不断为人们带来的越来越多的便利，便携式电子产品的用户日益频繁地更新他们的电子用品。2012年美国环境保护局（the U.S. Environmental Protection Agency）的一篇报告表明每年约有一亿五千万移动电子产品被丢弃，其中只有
兰州化物所提出实现超低摩擦新策略
摩擦是生活中常见的物理现象，源于滑动界面上离散原子间的相互阻碍作用，其能量耗散模式取决于滑移能垒与自身力学性能的竞争。界面阻力极低的状态称为超低摩擦，是摩擦学中的重要课题之一。目前，学术界主要通过结构润滑和连续滑动两种方式来实现超低摩擦。结构润滑通过构建非公度界面结构，有效地降低滑动能垒实现低摩
石英晶体微分析仪的主要功能
主要功能 质量测定：测试表面形成的分子层的质量，精度达到毫微克。例如，可检测到1%或更低浓度蛋白质单分子层的结构变化。结构变化：同步测试结构变化，因此可以区分两个相似的键合反应或观察到吸附层上发生的相转变。实时分析：可以进行实时记录和动力学评估。无须标记：无须对分子做标记，仪器测定的是分子本身
多通道石英晶体监测仪的特点和参数
特点 1、rs-232 接口, usb 或以太网可选 2、双通道（标准型），四通道可选 3、高精度: 0.03hz at 10个读数/s 4、沉积速率/膜层厚度模拟输出 参数 qcm传感器输入：标准型: 2；路 可选: 4路 频率范围 ：1-10 mhz 频率分辨率：标准型: ±
多通道石英晶体监测仪的使用方法
开启速率和膜厚测量，只需先按住zero键以清除上次读数，然后关闭，打开源和传感器档板。宽大明亮的led显示器可以同时显示膜层厚度和沉积速率，即使操作人员离监测仪一定距离也仍然清晰可见。当达到预设膜厚或者镀膜时间到了，档板就会自动关闭，同时前面板报警器开始亮灯。在镀膜过程中，操作员可以在任意时间通
石英晶体振荡器结构介绍及特性
同义词 石英晶体振荡器一般指石英谐振器结构介绍石英谐振器常用的有圆片型、棒型、音叉型。音叉型石英谐振器体积小，抗冲击性能好、频率低，其谐振频率为32.768kHz，适于用在石英手表中。近来，不少石英钟也采用了这种低频石英谐振器。圆片型为高频石英谐振器，其谐振频率为4.194304MHz，它大多为石英
石英晶体振荡器老化的原因分析
晶体振荡器老化是在恒定的环境和系统级条件下，振荡器频率随时间的变化。石英晶体振荡器中的老化是由石英晶体本身或其它振荡器组件的变化引起的。石英晶体的老化是多种因素共同作用的结果。其中一些因素可能包括杂质扩散和气体释放石英晶体、其支架、玻璃或陶瓷底座以及用于安装石英的粘合剂。它还可以包括金属从电极迁移到
高非线性石英光子晶体光纤研制取得进展
中国科学院上海光学精密机械研究所研究员廖梅松带领非线性光纤课题组刘垠垚、吴达坤等人，在高非线性光子晶体光纤的研制方面取得了新进展。 由于高非线性光子晶体光纤具有普通阶跃型光纤所不具备的特殊色散和高非线性，是产生超连续谱激光的核心器件。超连续谱是一种具有超宽的光谱和高度方向性的高亮度宽带光源，在
磁天平（古埃型）－适用于磁性测量的研究
古埃（ Gouy）磁天平的特点是结构简单，灵敏度高。用古埃磁天平法测量顺磁性物质的磁化率，推算其不成对电子数，并判断这些分子的配键类型。通过实验将掌握古埃法测定磁化率的实验原理和技术，并了解物质的原子、分子或离子在外磁场作用下的磁化现象。 磁天平具有结构紧凑、性能稳定、实验方便等特点，适用于高等院
薄膜厚度测量仪原理和薄膜测厚测量仪应用介绍
国际标准分类中，薄膜厚度的测量涉及到分析化学、长度和角度测量、罐、听、管、无损检测、涂料和清漆、非金属矿。 在中国标准分类中，薄膜厚度的测量涉及到工业技术玻璃、材料防护、包装材料与容器、金属理化性能试验方法综合、金属无损检验方法、长度计量、涂料、建材原料矿。薄膜厚度测量仪 济南三泉中石实验仪器有限
3158万元，中科院兰州化物所发布27台/套仪器设备采购意向
近日，中国科学院兰州化学物理研究所对外公布了 2025 年 7 至 12 月的政府采购意向，25 个采购项目涵盖新能源、润滑材料等多个科研领域。 从公布的信息来看，此次采购的设备种类丰富，包括新能源电车高速轴承电蚀测试系统、高精度流变学及微摩擦测量分析系统、原子力显微镜等，涉及工艺试验机、显微
压电生物传感器的应用
根据检测原理的不同，压电生物传感器一类为质量响应型，即晶体表面质量在一定范围内的微小改变将引起频率的改变，通过测定vF 可知vM。由于此类传感器对质量改变非常敏感，因此有人亦将之称为石英晶体微天平QCM( Quarts Crystal Microbalance)。另一类为非质量响应型，利用电导率
nsplorion传感器涂层与蛋白质表面形貌等相互作用的影响
支持的脂质双层(SLBs)已被证明是研究蛋白质、肽和纳米颗粒与生物膜相互作用的有价值的模型系统。固体衬底的物理化学性质(例如，形貌、涂层)可能会影响负载型磷脂双层的形成和性质，从而影响随后与生物分子或纳米粒子的相互作用。 这里,我们用具有耗散监测和NPS技术石英晶体微量天平分析支持
如何用红外测温仪测量温度
下列为非接触测温仪的三种测温技术： 点测量：测定物体全部表面温度，像发动机或其他设备 温差测量：比较两个独立点的测量温度，像连接器或断路器 扫描测量：探测在宽的区域或连续区域目标变化。象制冷管线或配电室。
如何用红外测温仪测量温度
红外测温仪由光学系统，光电探测器，信号大器及信号处理。显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号，该信号再经换算转变为被测目标的温度值。 一、如何用红外测温仪测量温度，下列为非接触测温仪的三种测温技术： (1)点测量：测定物体
AvaSoftThinfilm－薄膜测量软件
AvaSoft-Thinfilm 薄膜测量软件AvaSoft-Thinfilm软件是个独立的软件包，与AvaThinfilm薄膜测量系统相配套。AvaThinfilm系统在本手册应用章节里有详细介绍。 AvaSoft-Thinfilm应用软件通过已知光学参数的透光膜层的上下表面反射所形成的干涉光谱来
吸收测量用于晶体品质评估
背景: 海洋光学对3块激光晶体进行可行性研究。这些晶体以QC08(矩形)，QC-09(矩形)及QC09(圆柱形)标识，如图1所示。测试目的为对其进行200nm-1000nm光谱范围内的吸收测量。激光晶体主要用于固态激光器的增益介质。Figure 1. 客户激光晶体样品 实验实施 实
LB膜分析仪的产品联用
本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪(ISR)，荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如:1.红外反射吸收光谱(PM-IRRAS)2.石英晶体微天平(QCM-D)3.布鲁斯特角显微镜(BAM)4.界面剪切流变仪(IS
美开发出无缺陷半导体纳米晶体薄膜
据物理学家组织网8月21日(北京时间)报道，美国麻省理工学院的研究人员利用电子束光刻技术和剥离过程开发出无缺陷半导体纳米晶体薄膜。这是一种很有前途的新材料，可广泛应用并开辟潜在的重点研究领域。相关报告发表在近期出版的《纳米快报》杂志网络版上。 半导体纳米晶体的大小决定了它们的电子和光学性质
微量天平与分析天平有什么区别？
实验室天平是一种用于称量的实验室工具，微量天平能够准确测量微量体积或微小的物体的重量，分辨率达百万分之一克。那么，微量天平与分析天平有什么区别呢？微量天平其实有很多种。生命科学实验中经常使用的一般是常见的是石英晶体微量天平 (QCM) ，它的min称量值可以达到 0.1ug较为灵敏，可以称量低至 0
微区扫描电化学工作站的产品性能说明
微区扫描电化学工作站是一款研究级电化学工作站，为燃料电池寿命测试、超级电容器的特征和性能研究、电池和电镀实验而量身定做的。微区扫描电化学工作站也可使用于常规电化学领域，是一款研究级电化学工作站，具备易断开的电流扩展器。 微区扫描电化学工作站是市场上竞争性的单通道电化学工作站。微区扫描电化学工作
微区扫描电化学工作站的产品性能说明
微区扫描电化学工作站是一款研究级电化学工作站，为燃料电池寿命测试、超级电容器的特征和性能研究、电池和电镀实验而量身定做的。微区扫描电化学工作站也可使用于常规电化学领域，是一款研究级电化学工作站，具备易断开的电流扩展器。 微区扫描电化学工作站是市场上竞争性的单通道电化学工作站。微区扫描电化学工作站
薄膜测厚仪－塑料薄片厚度测量仪－薄膜厚度仪
薄膜测厚仪 塑料薄片厚度测量仪 薄膜厚度仪型号：LT/CHY-C2薄膜测厚仪/薄膜厚度仪特 征微电脑控制、液晶显示菜单式界面、PVC操作面板接触式测量测头自动升降手动、自动双重测量模式数据实时显示、自动统计、打印显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差标准接触面积、测量压力（非标可选）标准量块
GB/T6672－薄膜测厚仪－薄膜厚度测量仪
Labthink兰光CHY-C2 薄膜测厚仪 薄膜厚度测量仪满足多项国家和国际标准：ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、
探索实验室称量世界：解析电子与机械式天平的功能与应用
实验室天平主要分为以下几大类别：1. 机械式天平： - 杠杆天平：利用杠杆原理进行称量，包括普通教学用的双盘天平和精密的物理分析天平。 - 扭力天平：基于弹性元件（如扭丝）变形产生的扭力与被称物体重量平衡的原理设计。2. 电子天平： - 粗天平：最大载重量较大，精确度相对较低，适合一般性
可编程的有源石英晶体振荡器
晶体振荡器编程对于我们的晶体行业来说是个陌生的词，但是我们会听说一些计算机程序员不知道他们在做什么。所以如果有人告诉你他们在编程，你会觉得很神秘。但别担心。现在我们有晶体振荡器的编程。让我们看看它是一个多么神秘的晶体振荡器。那么目前可编程石英晶体振荡器的市场是什么？目前，可编程石英晶体振荡器在我国的
石英晶体振荡器符号与等效电路
晶体振荡器当晶体不振动之时，可以把它看成一个平板的电容器称为静电的电容C，它得大小和晶片的几何尺寸、电极面积有关，一般大约几个PF至几十PF。当晶体振荡之时，机械振动得惯性可以用电感L 来等效。一般L的值是几十mH 到几百mH。晶片得弹性可以用电容C来等效，C的值非常小，一般只有0.0002～0.1
砝码如何用来校正电子天平
一。在检定（测试）中我们发现，对天平进行计量测试时误差较大,究其原因，相当一部分仪器，在较长的时间间隔内未进行校准，而且认为天平显示零位便可直接称量。（需要指出的是，电子天平开机显示零点，不能说明天平称量的数据准确度符合测试标准，只能说明天平零位稳定性合格。因为衡量一台天平合格与否，还需综合考虑其它
大型交替型LB膜分析仪－产品亮点
产品亮点4.2.1 联用或相关分析技术本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪（ISR），荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如：1. 红外反射吸收光谱(KSV NIMA PM-IRRAS)2.
如何用QCMD来表征粘弹性？
作者简介：Gabriel Ohlsson担任瑞典百欧林科技有限公司的应用科学家和销售经理。他拥有查尔莫斯大学工程物理专业博士学位，就职于瑞典百欧林科技有限公司后花费大量时间开发软物质传感技术的应用。在这项研究中他使用的主要工具之一是耗散型石英晶体微量天平（QCM-D）技术。木头、冰块和人体脊柱中