开关电源系统待机功耗测试&分析（四）
C．RCD吸收电路C＝2200PF 电阻R＝100K／2W 12V／10mA CH1：VDD（IC） CH2：DRV（IC）CH3：CS（IC） 5根脉冲；间隔时间5．568MsD．RCD吸收电路C＝4700PF 电阻R＝100K／2W 12V／10mA CH1：VDD（IC） CH2：DRV（IC）CH3：CS（IC） 5根脉冲；间隔时间5．4720Ms我通过简单的实战测试提供对FLY－开关电源系统的待机及轻载时的功耗进行测试，可以快速指导优化无负载及极轻负载的功耗分析思路！如果你想追求极限可以通过理论加实践试试吧。......阅读全文
开关电源系统待机功耗测试分析（四）
C．RCD吸收电路C＝2200PF 电阻R＝100K／2W 12V／10mA CH1：VDD（IC） CH2：DRV（IC）CH3：CS（IC） 5根脉冲；间隔时间5．568MsD．RCD吸收电路C＝4700PF 电阻R＝100K／2W 12V／10mA CH1：VDD（IC） CH2：DRV（I
开关电源系统待机功耗测试分析（一）
现在的电子产品＆设备，我们应用开关电源方式除了效率以外，空载或者待机功耗也变得越来越重要了！这不仅是因为各种各样的能效标准的执行，也符合实际应用的需求；特别对于一些电子电器甚至大部分的用电设备都需要长时间工作在待机状态。我们用AC／DC的开关电源系统，不同的产品应用要求不一样，有500mW、300m
开关电源系统待机功耗测试分析（二）
7．开关管MOSFET上的损耗mos损耗包括：导通损耗，开关损耗，驱动损耗。其中在待机状态下最大的损耗就是开关损耗。改善办法：降低开关频率、使用变频芯片甚至跳频芯片（在空载或很轻负载的情况下芯片进入间歇式振荡）8．整流管上的吸收损耗输出整流管上的结电容与整流管的吸收电容在开关状态下引起的尖峰电流反射
开关电源系统待机功耗测试分析（二）
4．整流桥的后面在母线上会有几个高压器件，需要特别注意漏电流的大小！300V的母线每10uA就产生3mW的损耗。半导体器件一般来说都还好，比如整流桥、MOSFET，关断时的漏电基本都在1uA以下。高温情况下会大一些；但在空载损耗基本也只看常温条件，没有负载电路本身也没热量产生。电解电容的漏电在有些情
开关电源系统待机功耗测试分析（三）
2．实际的数据测试参考（TL431及光耦设计电路标准化）保证可靠性前提！A．RCD吸收电路C＝2200PF 电阻R＝100K／2W CH1：VDD（IC） CH2：DRV（IC）CH3：CS（IC） 5根脉冲；间隔时间14．58MsB．RCD吸收电路C＝4700PF 电阻R＝100K／2W CH1
FLY高低压输出待机功耗测试分析（四）
B．RCD吸收电路C＝4700PF 电阻R＝100K／2W CH1：VDD（IC） CH2：DRV（IC）CH3：CS（IC） 5根脉冲；间隔时间14．38Ms C．RCD吸收电路C＝2200PF 电阻R＝100K／2W 12V／10mA CH1：VDD（IC） CH2：DRV（IC）CH3：CS
FLY高低压输出待机功耗测试分析（三）
10．RCD吸收电路设计分析RCD是比较常用的吸收电路，主要是吸收漏感的能量以限制开关管上的尖峰电压。相信大家都清楚，RCD如果做的太强的话会对效率有很明显的影响，那自然也会影响轻载效率和待机功耗。如果考虑到待机状态下电源都是工作在极低频率的Burst状态下的话，实际上C的大小对待机功耗的影响比R要
FLY高低压输出待机功耗测试分析（二）
实际上Burst的方式也有一些细节是值得注意的。每隔100ms连出10个开关和每10ms出一个开关，看起来平均频率是一样的，但转换效率会不会有差别呢？注意是会有一些区别的。请关注下面的测试Data！！注意：FLY电源中，有RCD钳位电路中的能量每次Burst都是充满再放完的，这样的话连续出的开关数多
FLY高低压输出待机功耗测试分析（一）
现在的电子产品＆设备，我们应用开关电源方式除了效率以外，空载或者待机功耗也变得越来越重要了！这不仅是因为各种各样的能效标准的执行，也符合实际应用的需求；特别对于一些电子电器甚至大部分的用电设备都需要长时间工作在待机状态。我们用AC／DC的开关电源系统，不同的产品应用要求不一样，有500mW、300m
开关电源系统LLC应用的测试分析技巧（四）
产品的硬件电路测试！＆调试技巧！注意用好示波器的触发方法，可以帮助我们解决复杂的问题系统带载上电需要考虑的几个问题：A．电源系统：需要考虑上电的冲击电压＆上电的冲击电流B．IC的检测：需要考虑上电的时序＆上电的速度（检测电路的瞬态响应判断机制）任何的设计要从实际的需求出发；阿杜老师的理论是：产品可靠
开关电源系统LLC应用的测试分析技巧（三）
通过示波器测试在触发模式时，单次触发基线在几uS／几十uS上电测试系统带载工作时启动波形数据；测试Data如下；检测LLC系统上电工作状态：CH2：开关MOS下管－DRV2（驱动） CH3： 开关MOS上管－DRV1（驱动）系统控制检测电路上电工作时，LLC－驱动会从轻载到满载的工作变化过程；上电轻
开关电源系统LLC应用的测试分析技巧（一）
EMC在电子产品／设备已经成为可靠性的重要组成部分；将越来越被重视！特别对于我们的工业＆消费类产品要求满足其相应的认证和出口要求，对应的国家政策也在不断完善；同时国际贸易的深化发展；EMC技术成为电子产品／设备必过的硬性指标！随着电子产品／设备的供电系统都开始大量运用高频开关电源并且也越来越高端化；
开关电源系统LLC应用的测试分析技巧（二）
如上图的LLC恒压电源及如下的LED背光恒流的设计应用1．LLC半桥谐振变换器我们典型的在原边侧（高压共地）和在次级侧（输出端共地）的应用其测试方析基本相同；确认IC的是否能正常工作（IC后级不工作）！A．电路设计焊接调试或者电源系统出现故障时；我们可以通过测试其驱动的波形进行IC的工作评估；B．测
功率分析仪LMG671功耗测试仪
这篇内容是对一些“众所周知”的功率测量参数的简单描述，这些测量参数是经常用到的，但是事实上很少的人能记住，他们来自哪里，什么是他们的确切定义。 功率测量和理论背景 功率分析仪LMG671功耗测试仪 直流DC 数值 ■ 单纯的信号 一个信号最简*的情况是一个信号，它在
功率分析仪LMG671功耗测试仪
这篇内容是对一些“众所周知”的功率测量参数的简单描述，这些测量参数是经常用到的，但是事实上很少的人能记住，他们来自哪里，什么是他们的确切定义。 功率测量和理论背景 功率分析仪LMG671功耗测试仪 直流DC 数值 ■ 单纯的信号 一个信号最简*的情况是一个信号，它在
高温四探针测试系统特点
TVS瞬间抑制防护技术： 光耦与隔离无非是提高仪器的采集的抗干扰处理,对于闪络放电过程中的浪涌对控制系统的防护起不到任何作用。华测独立开 发的TVS瞬间抑制防护技术，将起到对控制系统的防护。● 多级循环温度采集技术： 设备采用PID算法，以及多级循环温度采集以保证温度的有效值。控温和测温采用同一个传
硬件高手的开关电源设计心得（四）
反激电源反射电压还有一个确定因素反激电源的反射电压还与一个参数有关，那就是输出电压，输出电压越低则变压器匝数比越大，变压器漏感越大，开关管承受电压越高，有可能击穿开关管、吸收电 路消耗功率越大，有可能使吸收回路功率器件永久失效（特别是采用瞬变电压抑制二极管的电路）。在设计低压输出小功率反激电
开关电源的主要测试点
调试开关电源时，除了用电压表测量控制电路中相关元器件引脚的电压外，更重要的是用示波器观测相关的电压波形，以便判断开关电源是否处于最佳工作状态。本篇文章主要讲解示波器测试点的选择。例如，测试点为PWM控制芯片的输出引脚时，可用示波器同时测量驱动脉冲的幅度和占空比这两个重要参数。 测试点的
浅析嵌入式系统低功耗设计
在嵌入式系统中，低功耗设计是在产品规划以及设计过程中必须要面对的问题。半导体芯片每18个月性能翻倍。但同时，电池的技术却跟不上半导体的步伐，同体积的电池10年容量才能翻一倍。嵌入式系统对于使用时间以及待机时间的要求也越来越高，这就需要在设计产品的时候充分考虑到整个系统的低功耗设计。功耗控制是一个系统
开关电源电路组成及各部分详解（四）
八、输出过压保护电路的原理 输出过压保护电路的作用是：当输出电压超过设计值时，把输出电压限定在一安全值的范围内。当开关电源内部稳压环路出现故障或者由于用户操作不当引起输出过压现象时，过压保护电路进行保护以防止损坏后级用电设备。应用最为普遍的过压保护电路有如下几种：1、可控硅触发保护电路：如上图，当
高温四探针电阻率测试系统
采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具，满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。二、适用行业：广泛用于：生产企业、高等院
原位光电分析测试系统
原位光电分析测试系统以扫描电子显微镜为基础，集成阴极荧光谱、微纳机械臂、外部电学测量等功能，构建了一个直观、实时和原位地研究先进功能材料和器件物理性能的系统，不仅可以实现对纳米材料或器件的原位发光的检测和电学物性的测试、纳米尺度的操作和控制、以及特定纳米光电子器件的构筑，还可以实现实时原位研究
氨气分析仪的待机时间超长
氨气分析仪的设计可原位运行，无需要维护的取样系统，可减少总拥有成本。氨气分析仪是用于检测环境中氨气浓度的电子仪器，可随身携带。当检测到环境中氨气的浓度达到或超过预置报警值时，氨气检测仪会发出声光及震动报警信号。氨气分析仪广泛应用于各类型冷库机房、有氨气存在的实验室、氨气存放仓库等应用到氨气的工业
如何选购凝胶成像分析系统（四）
2化学发光成像分析系统:中有KODAK Gel Logic 1500和KODAK Gel Logic 2200及拥有化学发光成像和基础多色荧光的KODAK Image Station 4000R系统，其中KODAK Gel Logic 1500属于经济型的---其价位低一些常温CCD的，如果
四川打造分析测试“联合舰队”
中国测试技术研究院牵头四川各实验室打造分析测试“联合舰队” 7月18日，四川省举行重大科技成果转化分析检测平台对接会暨国产科学仪器设备应用示范(四川)中心落成仪式。今后，由中国测试技术研究院等15家单位共建、整合科学仪器资源达到6亿元的分析测试“联合舰队”，将服务于四川重大科技成果转化的
PRTS4A型全自动扫描四探针测试系统
PRTS-4A型全自动扫描四探针测试系统 关键词：全自动四探针，2D,3D，多点扫描, 电阻率, 方块电阻 可对样品进行 49 点、81 点、中心 1 点、中心 10 点、中心半径 5 点、中心边缘 5 点、中心半径边缘 9 点、直径扫描等测试；统计分析测试数据生成 2D 和 3D 的 map
超长待机雨量记录仪
产品概述： 本产品的持续工作时长可达5年，其间无需更换电池。 本产品是一款能够自动观测并存储“雨量”参数的仪器，由雨量传感器、数据采集记录仪、内置电池等组成，具有功耗低、灵敏度高、安装便利、操作简单、使用方便等特点，可长期在野外观测并记录雨量数据，不定期地用（笔记本）电脑读取记录仪内
低功耗时代如何正确测量无线通讯功耗？（二）
这个问题往往是由MCU的配置引起的，一般的MCU单个IO口功耗就能达到mA级别。换句话说，如果不小心漏掉或者错配一个IO口的状态，很有可能就将破坏前期的低功耗设计。下面以某产品为例进行一个小实验，看看这个问题影响有多大。图4 产品A的低功耗IO配置测试结果图5 产品A的IO配置不当测试结果在图4和图
低功耗时代如何正确测量无线通讯功耗？（二）
3常见功耗问题与原因为了保证产品的低功耗，除了增加包间隔时间，还有就是降低产品本身的电流消耗，也就是上面提及到的I＿work和 I＿sleep。正常情况下，这两个数值应该跟芯片数据手册一致，但如果用户使用不当，有可能出现问题。我们在测试模块的发射电流时，发现是否安装天线对测试结果有很大影响。
低功耗时代如何正确测量无线通讯功耗？（一）
低功耗，是万物互联中极为重要的一个概念，绝大多数的物联网节点都需要使用电池供电，而只有正确测量无线模块的功耗，才能准确估算到底5年续航需要使用多大的电池，本文将为您讲解详细的测量方法。在物联网的很多应用中，终端设备通常是电池供电，可用的电量有限。由于电池存在自放电，最差情况下实际使用电量只有标称电量