多功能存储器芯片的测试系统设计：提高芯片测试效率2
硬件电路设计在测试NAND FLASH时，测试时间长达十个小时不等。在此为提高测试效率，增加测试速度，本设计采用两套完全一样且独立的硬件系统构成。可同时最多测试2片NAND FLASH器件。每一个硬件系统由一个微处理器（NIOSII）加一个大容量FPGA及一个存储器测试扩展接口（即ABUS接口）三大模块构成。如图3-1。RS232通信接口实现测试系统与上位机的数据交换，完成人机交互操作。电源系统产生各种合适的电压，满足各芯片的电源供给。图 3?1 硬件方块图处理器模块电路处理器模块电路由FPGA内嵌的NIOSII软核（CPU）、两路RS232通信、一个FLASH芯和一个SRAM芯片组成。CPU是整个系统的核心管理者，向下负责各种存储器芯片的读写测试，向上负责与上位机通信，实现人机交互。通信由其中一个RS232电路完成，另一个RS232电路用来实现系统调试和软件固化。FLASH芯片用来存储程序代码及重要的数据。而SRAM芯......阅读全文
多功能存储器芯片的测试系统设计：提高芯片测试效率2
硬件电路设计在测试NAND FLASH时，测试时间长达十个小时不等。在此为提高测试效率，增加测试速度，本设计采用两套完全一样且独立的硬件系统构成。可同时最多测试2片NAND FLASH器件。每一个硬件系统由一个微处理器（NIOSII）加一个大容量FPGA及一个存储器测试扩展接口（即ABUS接
多功能存储器芯片的测试系统设计：提高芯片测试效率1
本文提出了一种多功能存储器芯片的测试系统硬件设计与实现，对各种数据位宽的多种存储器芯片（SRAM、MRAM、NOR FALSH、NAND FLASH、EEPROM等）进行了详细的结口电路设计（如何挂载到NIOSII的总线上），最终解决了不同数据位宽的多种存储器的同平台测试解决方案，并详细地设
kit芯片测试多功能推拉力测试机设备
LB-8600多功能推拉力测试机广泛用于LED封装测试，IC半导体封装测试、TO封装测试，IGBT功率模块封装测试，光电子元器件封装测试，汽车领域，航天航空领域，军工产品测试，研究机构的测试及各类院校的测试研究等应用。设备功能介绍：1.设备整体结构采用五轴定位控制系统，X轴和Y轴行程1
芯片自动测试led多功能推拉力测试机
多功能推拉力测试机产品优势：1.采用测试工位自动模式，在软件选择测试工位后，系统自动到达对应工作位。2.三个工作传感器，采用独立采集系统，保证测试精度。3.每项传感器采用独立防碰撞及过力保护系统。4.每项测试工位采用独立安全限位及限速功能。5.人性化的操作界面，人员操作方便。6.高精度传感系统结合独
量子点微芯片提高肿瘤疗法效率
俄罗斯国立核能研究大学莫斯科工程物理学院与法国香槟—阿登大区南特大学和兰斯大学的研究者合作，在量子点基础上研发出一种微芯片，有助于发现高效激酶抑制剂（能够降低活性的物质），这将有望使抗癌疗法的效率提高许多倍。研究结果发表在《科学报告》上。 莫斯科工程物理学院纳米工程国际实验室主要学者、法国兰斯
射频/无线芯片测试基础
射频／无线系统会同时包含一个发射器和接收器分别用于发送和接收信号。我们先介绍发射器的基本测试，接下来再介绍接收器的基本测试。 发射器测试基础 数字通信系统发射器由以下几个部分构成： ＊ ＣＯＤＥＣ（编码／解码器） ＊ 符号编码 ＊ 基带滤波器（ＦＩＲ）
推拉力测试机半导体芯片测试设备
推拉力测试机设备特点1.所有传感器采用高速动态传感及高速数据采集系统，确保测试数据的准确无误。2.采用公司独特研发的高分辨率(24 BitPlus超高分辨率)的数据采集系统。3.采用公司独有的安全限位及安全限速技术，让操作得心应手。4.采用公司独有的智能灯光控制与调节系统，减少光源对视力的损伤。5.
设计着床芯片系统－重建早期人类妊娠
一项研究展示了一个微工程系统，可建模早期妊娠中发生的多细胞事件。该系统重建了母胎界面，有助于增进人们对胚胎成功着床的基础机制的理解。相关研究3月16日发表于《自然—通讯》。要成功建立妊娠，胚胎需要能够连接并植入支持妊娠的母体子宫内膜层。过去的研究表明该过程中发生的异常可能导致并发症，例如先兆子痫。但
TD1168多功能高空接线钳大大提高测试效率
TD-1168多功能高空接线钳又称高空接线钳、多功能高空接线钳、多功能高空测试钳、可伸缩高空测试钳、伸缩式高空测试钳及可伸缩高空接线钳,多功能高空接线钳具有种功能，多功能高空接线钳是测试或检修电气设备时进行临时接线的专用高空接线钳，多功能高空接线钳在对不能直接接触到的电气设备进行测试或检修时，该高空
上海微系统所60GHz芯片通过专家测试
在中国科学院部署下，“十一五”期间，上海微系统与信息技术研究所率先开展了60GHz收发芯片及通信系统验证的开发与研制工作。10月28日，中科院组织专家对60GHz芯片进行了现场在片测试，测试结果表明：各项指标达均达到预先设定的技术指标要求。 60GHz作为未来高速宽带短距离的通
线路板测试机led芯片测试推拉力测试机
LB-8600多功能推拉力测试机广泛用于LED封装测试，IC半导体封装测试、TO封装测试，IGBT功率模块封装测试，光电子元器件封装测试，汽车领域，航天航空领域，军工产品测试，研究机构的测试及各类院校的测试研究等应用。设备功能介绍：1.设备整体结构采用五轴定位控制系统，X轴和Y轴行程100mm,Z轴
led芯片测试机半导体推拉力测试机
半导体推力测试仪是一种应用于航空、航天等领域的先进测试仪器。它可用于测试各种推进系统在推力、推力变化、推力稳定性等方面的表现情况。 半导体推力测试仪亦可称之为大面积推拉力试验机，可进行拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、压陷硬度、低周疲劳等各项物理力学试验。还能自动求取大试验力、断裂力、屈服
《组委会》「通知」芯片展2025深圳国际存储器芯片展
2025深圳半导体展暨中国电子信息博览会（CITE）即将于4月9日至11日在深圳会展中心盛大开幕。本届博览会以“深化交流与合作，推动产业创新发展”为主题，通过九大展馆的全面展示，为全球半导体行业带来一场交流与合作的盛宴。本届展会将重点打造半导体产业链馆和新型显示及应用馆，全面展示IC设计、半导体材料
《组委会》「通知」芯片展2025深圳国际芯片封装测试展
2025深圳半导体展暨中国电子信息博览会（CITE）即将于4月9日至11日在深圳会展中心盛大开幕。本届博览会以“深化交流与合作，推动产业创新发展”为主题，通过九大展馆的全面展示，为全球半导体行业带来一场交流与合作的盛宴。本届展会将重点打造半导体产业链馆和新型显示及应用馆，全面展示IC设计、半导体材料
半导体芯片推拉力测试设备
力标精密设备(深圳)有限公司，是一家研发、生产、销售为一体的多功能推拉力测试机生产厂家，产品主要应用于:微电子行业、半导体封装、LED封装、摄像头模组、功率模块、光通讯等封装行业的精密检测，公司坚持自主创新不断优化产品核心技术，我们拥有专门的研发团队，可根据不同客户的需求提供订制化精密测量仪器，满足
微流控芯片测温测试流程
随着电子芯片的不断发展，其测试的结果以及准确性也不断提高，所以，对于微流控芯片测温流程还是需要了解清楚才能更好的运行微流控芯片测温设备。 因为微流控芯片测温准确性要求的提高，以及减少测试时间降低测试成本的压力，传统的采用测试模式调节芯片参数的缺点变得明显，当芯片在各站点进行测试时，每个站点均需
大脑芯片首次进行人类测试
每年都有数以百万计的人经历着失忆的痛苦。原因有很多：比如大量退伍军人和足球运动员的创伤性脑损伤，比如老年人的脑中风和老年痴呆症；甚至我们所有人都会经历的大脑正常老化。记忆的丧失似乎不可避免，但是一位特立独行的神经科学家正致力于电子疗法。由DARPA资助的南加州大学生物医学工程师Theodore
siRNAs结合生物芯片的实验设计2
Figure 2. Silencer ™ siRNA Validation Data Generated Using Applied Biosystems TaqMan® Gene Expression Assays. The indicated Silencer Validated siRNAs
焊点拉力测试机芯片推拉力测试仪
推拉力测试机采用了AUTO-RANGE技术和VPM垂直定位技术，测试传感器采用自动量程设计，分辨率高达达0.0001克。力标推拉力测试机（多功能剪切力测试仪）是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，是填补国内的微电子和电子制造领域的重要仪器设备。该设备测试迅速、准确
焊接拉力测试仪LED芯片推拉力测试机
型号：LB：8500L 产品优势：1.采用测试工位自动模式，在软件选择测试工位后，系统自动到达对应工作位。2.三个工作传感器，采用独立采集系统，保证测试精度。3.每项传感器采用独立防碰撞及过力保护系统。4.每项测试工位采用独立安全限位及限速功能。5.人性化的操作界面，人员操作方便。6.高精度传感系统
器官芯片走向研发测试“舞台中心”
轮状病毒感染会导致幼儿严重腹泻、呕吐、脱水甚至死亡。在一些国家，高达98%的接种轮状病毒疫苗的儿童会获得终身免疫力。但在另一些国家，只有大约三分之一接种疫苗的儿童会产生免疫力。这一惊人的偏差，是由于研发时样本代表性不足造成的。美国弗吉尼亚大学医学院儿科胃肠病学家肖恩·摩尔希望“器官芯片”能帮助他解决
集成芯片测试仪器使用建议
集成芯片测试仪器是使用在不同的工艺中，在不同的工况要求下，集成芯片测试仪器在使用的时候需要注意一些使用知识，那么，集成芯片测试仪器在使用需要注意哪些呢？ 芯片上的温度变化会显著地影响芯片功耗、速度和可靠性。特别是泄漏功率与温度呈指数关系，如果不能正确地处理，将导致热失控。而像压降和时钟偏移
电路芯片拉拔力测试仪概述
电路芯片拉拔力测试仪主要用于测试芯片的拉拔力测试，先在CCD相机上观察先接触到胶水，然后再拉开，后显示一个峰值，一般会在5克左右的力为测试合格。电路芯片拉拔力测试仪MX-0580(单臂）设备概述：主要适用于试验负荷低于5000N的各种金属、非金属及复合材料进行力学性能测试和分析研究。具有应力、应变、
器官芯片走向研发测试“舞台中心”
轮状病毒感染会导致幼儿严重腹泻、呕吐、脱水甚至死亡。在一些国家，高达98%的接种轮状病毒疫苗的儿童会获得终身免疫力。但在另一些国家，只有大约三分之一接种疫苗的儿童会产生免疫力。这一惊人的偏差，是由于研发时样本代表性不足造成的。美国弗吉尼亚大学医学院儿科胃肠病学家肖恩·摩尔希望“器官芯片”能帮助他解决
芯片反向设计流程（一）
什么是芯片反向设计？反向设计其实就是芯片反向设计，它是通过对芯片内部电路的提取与分析、整理，实现对芯片技术原理、设计思路、工艺制造、结构机制等方面的深入洞悉，可用来验证设计框架或者分析信息流在技术上的问题，也可以助力新的芯片设计或者产品设计方案。芯片反向工程的意义：现代IC产业的市场竞争十分
自动推拉力测试仪晶片芯片推拉力测试机
型号：LB-8600产品介绍LB-8600多功能推拉力测试机广泛用于LED封装测试，IC半导体封装测试、TO封装测试，IGBT功率模块封装测试，光电子元器件封装测试，汽车领域，航天航空领域，军工产品测试，研究机构的测试及各类院校的测试研究等应用。设备功能介绍：1.设备整体结构采用五轴定位控制系统，X
新型微流控芯片可提高单细胞转录组测序效率
近日，中国科学院深圳先进技术研究院医工所微纳系统与仿生医学研究中心研究员陈艳和南加州大学教授钟江帆合作，在针对稀有细胞样本的单细胞测序技术方面取得新进展。相关研究成果以Improving single-cell tranome sequencing efficiency with a microfl
《组委会》「通知」芯片展2025深圳国际芯片设计展
2025深圳半导体展暨中国电子信息博览会（CITE）即将于4月9日至11日在深圳会展中心盛大开幕。本届博览会以“深化交流与合作，推动产业创新发展”为主题，通过九大展馆的全面展示，为全球半导体行业带来一场交流与合作的盛宴。本届展会将重点打造半导体产业链馆和新型显示及应用馆，全面展示IC设计、半导体材料
基于FPGA的微流控芯片电泳控制系统设计
1 概 述 微型全分析系统的概念由Manz于20世纪90年代初提出，是集进样、样品处理、分离检测为一体的微型检测和分析系统。微流控芯片是其主要部件，采用微电子机械系统技术集成了微管道、微电极等多种功能元器件。微流控芯片的电泳技术是指以电场方式驱动样品在芯片的微管道中流动，然后再通过光电倍增管(P
AI芯片展会|2024上海国际存储器芯片展览会「上海半导体展」
2024年第二十一届中国国际半导体博览会（IC CHINA）时 间：2024 年 9 月 5 一 7 日地 点：中国·北京 · 北人亦创国际会展中心参展咨询：021-5416 3212大会负责人：李经理 136 5198 3978（同微）作为中国半导体行业协会主办的唯一展览会，自 2003 年起已连