新型纳米力学成像探针实现原子力显微镜下DNA的直读检...
新型纳米力学成像探针实现原子力显微镜下DNA的直读检测和高分辨成像 近日，中国科学院上海应用物理研究所物理生物学研究室与上海交通大学、南京邮电大学合作，基于DNA纳米技术发展了一系列DNA折纸结构并作为纳米力学成像探针，实现了原子力显微镜下对基因组DNA的直读检测和高分辨成像。相关结果发表于《自然-通讯》(Nature Communications 2017, 8, 14738)。DNA折纸结构是利用DNA碱基互补配对原则，通过程序性设计将M13 DNA在上百条DNA短链的辅助下折叠成指定几何形状。上海应物所博士张宏陆等在研究员樊春海指导下，并与晁洁、师咏勇等合作，通过设计DNA折纸结构作为原子力显微镜的纳米力学成像探针，在单分子水平下实现了对DNA分子的特异性标记和单核苷酸变异性(SNP)的直读检测。相较于基于荧光成像的直读方法，这种新技术将分辨率提升一个数量级，可达到远超光学衍射极限的10纳米分辨。基于DN......阅读全文
新型纳米力学成像探针实现原子力显微镜下DNA的直读检...
新型纳米力学成像探针实现原子力显微镜下DNA的直读检测和高分辨成像 近日，中国科学院上海应用物理研究所物理生物学研究室与上海交通大学、南京邮电大学合作，基于DNA纳米技术发展了一系列DNA折纸结构并作为纳米力学成像探针，实现了原子力显微镜下对基因组DNA的直读检测和高分辨成像。相关结果发表于《
新型纳米力学成像探针实现DNA的直读检测和高分辨成像
近日，中国科学院上海应用物理研究所物理生物学研究室与上海交通大学、南京邮电大学合作，基于DNA纳米技术发展了一系列DNA折纸结构并作为纳米力学成像探针，实现了原子力显微镜下对基因组DNA的直读检测和高分辨成像。相关结果发表于《自然-通讯》(Nature Communications 2017,
新型纳米力学成像探针实现DNA的直读检测和高分辨成像
近日，中国科学院上海应用物理研究所物理生物学研究室与上海交通大学、南京邮电大学合作，基于DNA纳米技术发展了一系列DNA折纸结构并作为纳米力学成像探针，实现了原子力显微镜下对基因组DNA的直读检测和高分辨成像。相关结果发表于《自然-通讯》(Nature Communications 2017,
上海应物所在DNA折纸纳米力学成像探针设计方面取得进展
近日，中国科学院上海应用物理研究所物理生物学研究室与上海交通大学、南京邮电大学合作，基于DNA纳米技术发展了一系列DNA折纸结构并作为纳米力学成像探针，实现了原子力显微镜下对基因组DNA的直读检测和高分辨成像。相关结果发表于《自然-通讯》（Nature Communications 2017,
原子力显微镜探针、原子力显微镜及探针的制备方法
原子力显微镜探针、原子力显微镜及探针的制备方法。原子力显微镜探针包括探针本体和设置在探针本体的针尖一侧的接触体，接触体具有连接段和接触段，接触段具有接触端面；接触段为二维材料，且接触端面为原子级光滑且平整的单晶界面。本发明ZL技术的原子力显微镜探针可精确地检测受测样品的各种性质。介绍随着微米纳米科学
新型可发光纳米探针－能实现对深层组织显微成像
记者7月12日从上海理工大学获悉，该校科学家与暨南大学、新加坡国立大学的同行们合作，开发出一种可发光的镧系元素纳米探针，该探针可用于亚细胞结构的低功率受激发射损耗（STED）显微镜和深层组织超分辨率成像。相关成果发表在《自然·纳米技术》上。 光学显微技术在生物领域中是一个重要工具，借助这一技术
原子力显微镜探针简介
原子力显微镜（AFM),是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。首台原子力显微镜在1985年研发成功，其模式可分为接触模式和轻敲模式等多种模式。AFM探针由于应用范围仅限于原子力显微镜，属于高科技仪器的耗材，应用领域不广，全世界的使用量也不多。主要的生产厂家分布在德国，瑞士，保加
科研人员研发高分辨实时成像协同纳米操控技术
近日，中国科学院深圳先进技术研究院研究员杨慧团队提出微透镜与原子力显微镜的耦合方法，通过聚焦离子束技术在微透镜表面沉积金刚石尖端，研发出兼具超分辨成像与精准操控功能的新型原子力显微镜探针系统。该技术将传统原子力显微镜光学成像模块的成像分辨率提升1个量级以上，并实现操作过程中200纳米银纳米线的实
原子力显微镜的探针的分类
1、非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针：最常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用于表面形貌观察。 2、导电探针：通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt（以及别的提高镀层结合力的金属，如Cr，Ti，Pt和Ir等）得到。 导电探针应用于EFM，K
原子力显微镜成像模式
原子力显微镜是显微镜中的一种类型，应用范围十分广泛。是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。原子力显微镜三种成像模式 当原子力显微镜成像模式的针尖与样品表面原子相互作用时，通常有几种力同时作用于微悬臂，其中最主要的是范德瓦尔斯力。当针尖与样品表面原子相互靠近时，它们先互
原子力显微镜成像模式
原子力显微镜的主要工作模式有静态模式和动态模式两种。在静态模式中，悬臂从样品表面划过，从悬臂的偏转可以直接得知表面的高度图。在动态模式中，悬臂在其基频或谐波或附近振动，而其振幅、相位和共振与探针和样品间的作用力相关，这些参数相对外部参考的振动的改变可得出样品的性质。 接触模式 在静态模式中，
原子力显微镜的成像模式
根据尖端运动的性质，原子力显微镜的操作通常被描述为三种模式之一的接触模式，也称为静态模式(与称为动态模式的其他两种模式相反)；敲击模式，也称为间歇接触、交流模式或振动模式，或在检测机制后调幅AFM；非接触模式，或者再次在检测机制之后，频率调制AFM。 应该注意的是，尽管有命名法，排斥接触在调幅
原子力显微镜的成像模式
探针和样品间的力-距离关系是此仪器测量的关键点。当选择不同的初始工作距离时,探针所处的初始状态也是不同的。由此可将原子力显微镜的操作模式分为3大类型:接触模式(Contact Mode)、非接触模式(Non-contact Mode)和轻敲模式(Tapping Mode)。图2给出了AFM不同操作模
原子力显微镜探针的优缺点
AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备。探针针尖半径一般为10到几十nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。 利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了
原子力显微镜探针的显微镜由来
原子力显微镜(atomic force microscope, AFM)是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。1981年，STM（scanning tunneling microscopy, 扫描隧道显微镜）由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer
原子力显微镜成像要点
原子力显微镜(AFM)作为现代微观领域研究的重要工具，在表面分析中具有广泛的应用，它具有非常高的分辨率，是近年来表面成像技术中最重要的进展之一。原子力显微镜探针 探针(包括微悬臂和针尖)是原子力显微镜的核心部件，直接决定原子力显微镜的分辩率。在针尖与样品的接触模式中，为了不使针尖损坏样品
纳米测量和成像完美工具：Nanite原子力显微镜系统
Nanite原子力显微镜系统是纳米丈量和成像的完满东西。该系统供给三维数据。原子力显微镜丈量性的，无需制备样品。此外，机械活动平台答应批量的，预编程丈量，利用大型花岗岩主动X/Y/Z样品台可测试尺寸达180mm样品的分歧区域，用户以至能够定制更大的挪动样品台。Nanite设想矫捷、操作简单，是您抱负
原子力显微镜探针的分类及应用
原子力显微镜是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。原子力显微镜探针由于应用范围仅限于原子力显微镜，属于高科技仪器的耗材，应用领域不广，全世界的使用量也不多。原子力显微镜探针的分类 原子力显微镜探针基本都是由MEMS技术加工Si或者Si3N4来制备。探针针尖半径一般为10
原子力显微镜的接触成像模式
在接触式AFM中，探针与样品表面进行“软接触”．当探针逐渐靠近样品表面时，探针表面原子与样品表面原子首先相互吸引，一直到原子间电子云开始相互静电排斥。 这种静电排斥随探针与样品表面原子进一步靠近，逐渐抵消原子间的吸引力．当原子间距离小于1nm，约为化学键长时，范德华力为0．当合力为正值(排斥
原子力显微镜的敲击成像模式
敲击式AFM与非接触式AFM比较相似，但它比非接触式AFM有更近的样品与针尖距离．和非接触式AFM一样，在敲击模式中，一种恒定的驱动力使探针悬臂以一定的频率振动(一般为几百千赫)．振动的振幅可以通过检测系统检测．当针尖刚接触到样品时，悬臂振幅会减少到某一数值．在扫描样品的过程中，反馈回路维持悬臂
原子力显微镜针尖下的世界
还是以我们之前提到的测量水下礁石为例，如果某次测量的时候用力不合适，竹竿末端接触礁石表面的时候折断了一小节，而我们又没有及时发现这个问题，那么接下来的测量结果就会变得不准确。正因为如此，原子力显微镜的使用者往往需要足够的经验和耐心来判断得到的结果是否合理。不过瑕不掩瑜，原子力显微镜仍然是一种非常便捷
开尔文探针力显微镜的开尔文探针力显微镜
原子力显微镜（atomic force microscope，简称AFM），也称扫描力显微镜（scanning force microscope，SFM）是一种纳米级高分辨的扫描探针显微镜，优于光学衍射极限1000倍。原子力显微镜的前身是扫描隧道显微镜，是由IBM苏黎士研究实验室的海因里希·罗雷
扫描探针显微镜的原理
扫描探针显微镜的基本工作原理是利用探针与样品表面原子分子的相互作用，即当探针与样品表面接近至纳米尺度时形成的各种相互作用的物理场，通过检测相应的物理量而获得样品表面形貌。扫描探针显微镜丰要由探针、扫描器、位移传感器、控制器、检测系统和图像系统5部分组成。而原子力显微镜是一种扫描探针显微镜的一支，更具
原子力显微镜是不是扫描探针显微镜
原子力显微镜（AFM）是扫描探针显微镜（SPM）的一种。SPM也包括STM等。可参看《分子手术与纳米诊疗：纳米生物学及其应用》。
原子力显微镜探针针尖形貌盲重构
随着微电子学、材料学、精密机械学、生命科学和生物学等的研究深入到原子尺度,纳米加工工艺要求逐步提高,纳米尺度精密测量和量值传递标准需求越来越大。为此,迫切需要具有计量功能的纳米、亚纳米精度测量系统(包括测量仪器和标定样品等)。原子力显微镜(AFM)是目前最重要、应用最广泛的纳米测量仪器之一,是真正意
原子力显微镜的最新检测成像技术
原子力显微镜的最新检测成像技术 相位成像(Phase Imaging)技术 相位检测成像是指在轻敲模式扫描过程中通过记录驱动微悬臂周期性振荡的信号与微悬臂响应信号的相位差值,即相位滞后角的变化来对所观察样品表面进行成像的一种新的成像检测技术[4]。它是Tappingmode AFM应用技术的一种
针尖下的世界——漫谈原子力显微镜
眼睛是人类认识世界的重要工具，然而对于小到只有几个或者几十个微米（1微米是1米的百万分之一）的物体，像构成我们身体的细胞、导致我们生病的细 菌等，人眼就无法分辨了，需要求助于光学显微镜。光学显微镜的问世使得我们能够观察到微米尺度的各种物体，这给我们的生活带来了许多革命性的变化，例如细菌的发现颠覆了我
针尖下的世界——漫谈原子力显微镜
眼睛是人类认识世界的重要工具，然而对于小到只有几个或者几十个微米（1微米是1米的百万分之一）的物体，像构成我们身体的细胞、导致我们生病的细菌等，人眼就无法分辨了，需要求助于光学显微镜。光学显微镜的问世使得我们能够观察到微米尺度的各种物体，这给我们的生活带来了许多革命性的变化，例如细菌的发现颠覆了
科研常用的几种显微镜原理及应用介绍
在科研中常见的几种科研型显微镜主要有扫描探针显微镜，扫描隧道显微镜和原子力显微镜几种，下面对这几种显微镜逐一做以介绍：扫描探针显微镜 扫描探针显微镜（ScanningProbeMicroscope，SPM）是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微
原子力显微镜（AFM）之纳米加工
扫描探针纳米加工技术是纳米科技的核心技术之一，其基本的原理是利用SPM的探针－样品纳米可控定位和运动及其相互作用对样品进行纳米加工操纵，常用的纳米加工技术包括：机械刻蚀、电致/场致刻蚀、浸润笔等。