SurtronicDUO校准方法
Surtronic DUO校准方法DUO为软件自动校准。将驱动单元放置在标准多刻线样板上，在测量显示状态，按左键进入校准状态1、若显示的Ra值与标准板相同，按开关／测量键完成一次测量。若测量结果与标准值误差在允许范围内，按左键退出校准状态。若测量结果与标准值误差不在允许范围内，按中键校准，按左键退出校准状态。Surtronic DUO是Taylor Hobson新款便携式粗糙度仪，采用了显示控制单元和驱动单元分体方案，依靠蓝牙技术实现两个单元的相互通讯。采用2.4英寸彩色大屏幕，显示剖面图和测量参数。设计新颖独特，操作简便灵活，适用于各种场合。Surtronic Duo是一种高级便携式表面粗糙度测量仪，只需按一键即可测量多个粗糙度参数。这些参数(如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt)会显示在直观的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充电电池，便于在所有环境和表面进行快速、轻松和准确的现场测量。该文章仅做参考，如需了解详细资......阅读全文
Surtronic DUO校准方法
Surtronic DUO校准方法DUO为软件自动校准。将驱动单元放置在标准多刻线样板上，在测量显示状态，按左键进入校准状态1、若显示的Ra值与标准板相同，按开关／测量键完成一次测量。若测量结果与标准值误差在允许范围内，按左键退出校准状态。若测量结果与标准值误差不在允许范围内，按中键校准，按左键退出
泰勒Surtronic Duo简易操作说明
校准：驱动单元放置在标配的Ra样板上，样板标称值Ra=5. 81微米控制单元选择校准模式，按开始键，仪器自动完成校准。注意Ra=5.81um; Rz=21.5umo存储：Surtronic Duo在其配置中提供了存储功能，即连接到控制单元的驱动单元。在使用前，必须将驱动单元与控制单元分开。注意:建
英国泰勒DUO表面粗糙度仪维修电池维修站
国泰勒DUO表面粗糙度仪维修电池维修站英国泰勒SURTRONICDUO是英国泰勒公司 新型粗糙度仪，SURTRONIC DUO新型粗糙度仪可测量多种粗糙度参数：Ra Rz Rp Rv Rt Rz1max Rsk Rq Rku; Pa Pz Pp Pv Pt（ISO 4287标准）。英国泰勒-霍普森T
粗糙度仪的参数怎样选择？
为研究表面粗糙度对零件性能的影响和度量表面微观不平度的需要，从20年代末到30年代，欧美等国等设计制作了轮廓记录仪、轮廓仪，给从数值上定量评定表面粗糙度创造了条件。 30年代起，已对表面粗糙度定量评定参数进行了研究，美国人提出了用距表面轮廓峰顶的深度和支承长度率曲线来表征表面粗糙度。1936年出版
便捷式表面粗糙度仪英国泰勒Surtronic S-116
便捷式表面粗糙度仪英国泰勒Surtronic S-116：1.功能特点一个50mm长的测针升降装置和直角附件；360度任意旋转，任何方向任何高度测量；轻触快捷键即可进行所有关键设置。迷你USB 2.0用于充电或连接电脑传输数据。A类型USB 2.0可连接便携式打印机或USB存储设备。防滑的V型脚架设
SevenGo Duo多参数测试仪
详细介绍 SevenGo Duo多参数测试仪：满足最高要求的移动测量，中文版便携式双通道多参数测试仪。拥有全中文操作界面、双通道多参数测量、前所未有的安全性、应用齐全的电极、可连接电脑和打印机。
Surtronic S-100系列关键性能
USB数据储存或打印 在测针能力范围内可测量任何表面、任何高度 防滑的V型脚架意味着系统可应用在光滑或者曲面 持久设计- 耐冲击涂胶造型设计? 一次充电可进行2000次测量 Taylor Hobson提供人工制品和仪器提供全面认证，提供更高的传送率。是测量大尺寸部件的可靠平台。轮廓仪。可能是厚度和
涂层测厚仪校准要求和校准方法
标准厚度片是用于检定涂层测厚仪示值误差和示值变动性或校准涂层测厚仪的厚度标准器。涂层测厚仪校准条件，检测室内温度: 20℃±2℃,厚度片与量块温度平衡时间: 2h;检测室内湿度:≤65% 立式光学计预热时间:不少于15min 仪器所用电源:220 (1±10%) V, 50Hz。1 外观要求:厚
检定涂层测厚仪校准要求和校准方法
1、 外观 要求:厚度片两表面应无划痕、凹凸点等缺陷，校准方法:目测观察。 2、有效面积 ①要求:不均匀表面应标注半径大于5mm的圆面积,均匀表面厚度片面积应不小于20mm×20mm。校准方法:钢直尺测量。 3、数的平均值。 校准方法:用三等量块和立式光学计,用直接法或比较法测量标准厚度片的厚
Surtronic 25粗糙度仪使用操作说明
TAYLOR HOBSON Surtronic 25粗糙度仪是泰勒公司在原来TAYLOR HOBSON Surtronic 3+粗糙度仪的基础上进行改进的一一个新产品，该仪器适用于生产现场，可测量多种机加工零件的表面粗糙度，根据选定的测量条件计算相应的参数，在液晶显示器上清晰地显示出全部测量