基于光谱能量分析的介质厚度测量方法
摘要: 介绍了一种对厚度很小的平行玻璃平板厚度的高精度测量方法。通过激光束垂直照射被测物,用光谱仪接受并分析反射光各波长的能量。以此数据分析出介质对不同波长光线的反射率,找出反射率极大的波长。使用这些具有反射极大的波长进行计算,就得到介质的厚度值。该测量方案结构简单,测量精度较高。点击这里进入下载页面：进入下载页面......阅读全文
光纤光谱仪在发射光谱、LED、薄膜厚度测量应用
光纤光谱仪是光学仪器的主要构成部分。由于其检测精度高、速度快等优点，已成为光谱测量学中使用的重要测量仪器被广泛应用于农业、生物、化学、地质、食品安全、色度计算、环境检测、医药卫生、LED检测、半导体工业、石油化工等领域。 1、发射光谱测量 发射光谱测量可以用不同的实验布局和波长范围来实现
NanoCalc光学薄膜厚度测量系统
NanoCalc 光学薄膜厚度测量系统NanoCalc是一种用户可配置的膜厚测量系统，它利用分光光谱反射仪来精确地测量光学或非光学薄膜厚度，可广泛应用于半导体、医疗和工业生产中。利用白光干涉测量法的原理，NanoCalc用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和k随膜厚的不同而变化，
光谱仪分析检测什么和光谱仪快速的分析检测
光谱仪分析检测什么和光谱仪快速的分析检测 便携式拉曼光谱仪检测范畴 现如今信息共享的大环境社会下我们越来越喜欢刨根问底了，某某事件不断发生，不断升级，大众对于一些事物喜欢去了解其本质，比如说某毒奶粉事件，为了探究其成分，我们就可以用便携式拉曼光谱仪来鉴别其物质成分。那么我们常用的便携
光学镜片厚度检测仪
光学镜片厚度检测仪在光学领域中,透镜的三项基本参数是中心厚度、折射率和曲率半径,其中透镜中心厚度加工的误差是影响光学系统成像的重要因素。例如在航空、航天等高精度光学系统产品中,对透镜的公差有着严格的要求,透镜的光轴偏角、径向偏移和轴向间隙需要根据镜头中透镜的中心厚度来进行精确计算；因此光学透镜中心厚
能量色散X荧光光谱仪分析原理
X射线管产生的初级X射线照射到平整均匀的颗粒物表面时,样品所含待测元素原子受到激发后发射出特征X射线,经探测器接收后,将其光信号转变为模拟电信号,经过模数变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理,通过专用软件获取元素特征X射线强度,根据元素特征谱峰强度与含量的相应数学模型计算待测元素含量
能量色散荧光光谱仪
能量色散荧光光谱仪是一种用于物理学、化学、能源科学技术领域的分析仪器，于2010年4月1日启用 技术指标 1、X射线发生器： 管靶-Rh标配；电压范围4-50 kV；滤光片：七个滤光片+直接激发； 2、基本性能：稳定性RSC0.3%,8h；灵敏度 Fe,Pb, 3pmm； 3、样品室：3
能量色散荧光光谱仪
能量色散荧光光谱仪是一种用于物理学、化学、能源科学技术领域的分析仪器，于2010年4月1日启用。 技术指标 1 X射线发生器： 管靶-Rh标配；电压范围4-50 kV；滤光片：七个滤光片+直接激发；2 基本性能：稳定性RSC0.3%,8h；灵敏度 Fe,Pb, 3pmm； 3 样品室：30c
光谱仪颜色测量
物物体的颜色可以用CIE1976（L*a*b*）颜色空间表示。L*值表示颜色的亮度，正的a*值表示颜色的红色值，负的a*值表示颜色的绿色值。近似地，黄色和蓝色值由b坐标值表示，正值表示颜色的黄色值，负值表示颜色的蓝色值。L*a*b*各值可以根据样品（物体）的CIE三刺激值X,Y,Z和标准光源的三刺激
光谱仪蓝光测量
蓝光运用，蓝光伤害，蓝光的影响近期，关于蓝光所带来的伤害在国际间广受讨论，这里讨论的有害蓝光是介于光谱中波长400-450奈米之间，属于可见光的蓝色区块（短波长）。同时，此蓝色区块也被称为HEV（High-energy visible light，高能量可见光），因此，医学界认为高能量的蓝光是引
光谱分析仪属于光学测量吗
光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收，由发射光谱被减弱的程度，进而求得样品中待测元素的含量，它符合郎珀-比尔定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I为透射光强度，I0为发射光强度，T为透射比，L为光通过原子化器光程由
光谱仪光学系统和光谱仪故障解析
光谱仪光学系统由入射狭缝、光栅、出射狭缝及罗兰圆组成——其目的是让采集到的一束复合光通过光学系统的分光作用后变成单色光，找到每个元素的特征分析谱线。 光学室的特性 真空光室测试UV波段的元素：C,N,O,P,S,B。主要应用在Fe基或是其他的合金(如；Ti,Al…) 空气光室测
能量色散荧光光谱仪简介
能量色散型仪器最大的优点是不破坏被测的材料或产品，也不需要专业人员操作，缺点是对铬和溴是总量测定（一般不影响使用，因为很多情况可以判定，如测铬总量超标，常可知是不是六价铬超标，特别是溴，如被作为阻燃剂加入，不管是那种溴，总量超标就不合格）。进口或国产的各种能量色散荧光光谱仪技术水平虽有差别，但已
能量色散X荧光光谱仪
能量色散X荧光光谱仪用途：1.荧光激发光谱和荧光发射光谱2.同步荧光波长和能量扫描光谱 3.3D 4.Time Base和CWA固定波长单点测量 5.荧光寿命测量，包括寿命分辨及时间分辨 6.计算机采集光谱数据和处理数据
NanoCalc光学薄膜厚度测量系统产品主要优势和特点
产品主要优势和特点UV/VIS/NIR高分辨率的配置测量准确度在1nm，精度在0.1nm可测量最大10层薄膜膜厚测量最小可至1nm，最大可至1mm可测量最小1nm厚的透明金属层提供试验台及附件用于复杂外形材料的测量对表面缺陷和光滑度不敏感庞大的材质数据库，保证各种材料的精确测量快 速：每次
铜排宽度、厚度及包胶厚度同时检测的测量系统研发
引言铜排又称铜母排或铜汇流排，是由铜材质制作的，截面为矩形或倒角（圆角）矩形的长导体(现在一般都用圆角铜排，以免产生尖端放电），在电路中起输送电流和连接电气设备的作用。铜排是一种大电流导电产品，适用于高低压电器、开关触头、配电设备、母线槽等电器工程，也广泛用于金属冶炼、电化电镀、化工烧碱等超大电流电
直读光谱仪——仪器激发能量每天都有差异，分析不稳定？
(1)造成仪器不稳定除了人的因素外，主要就是温度和湿度了。不过要是用控样法要是能做出好的曲线来也就可以满意。 (2)要想让仪器处于最好的状态，保证它的工作环境是必需的。仪器不稳定还有一个可能的原因，就是地线，查查地线吧。
实验室光学仪器原子吸收光谱仪的检测系统结构分析
一、光电倍增管光电倍增管是一种多极的真空光电管,内部有电子倍增机构,内增益极高,是目前灵敏度最高、响应速度最快的一种光电检测器,广泛应用于各种光谱仪器上。光电倍增管由光窗、光电阴极、电子聚焦系统、电子倍增系统和阳极等5个部分组成。光窗是入射光的通道,同时也是对光吸收较多的部分,波长越短吸收越多,所以
海洋光学推出SteadiQ极限环境下高精度测量用光谱仪
海洋光学推出SteadiQ温控装置来扩大微型光纤光谱仪的现场应用； SteadiQ 控温装置可以有效稳定测试环境温度（-20℃至50℃），消除热漂移，非常便于苛刻恶劣环境下应用。便携、坚固耐用的特点可为现场测量诸如太阳辐射，火山观测，温室监控，工业应用（如：
一文看懂光谱分析仪的工作原理及应用范围
根据物质的光谱来鉴别物质及确定它的化学组成和相对含量的方法叫光谱分析。其优点是灵敏，迅速。历史上曾通过光谱分析发现了许多新元素，如铷，铯，氦等。根据分析原理光谱分析可分为发射光谱分析与吸收光谱分析二种；根据被测成分的形态可分为原子光谱分析与分子光谱分析。光谱分析的被测成分是原子的称为原子光谱，被
海洋光学的Maya－LSL光谱仪
海洋光学的Maya LSL光谱仪采用低杂散光路设计，以及高灵敏面阵检测器，是理想的高性能光谱测量产品。MayaLSL光谱仪得益于更阔的线性工作范围，尤其适合透过与吸光度检测。低杂散光和高灵敏度的结合也使得精确的颜色测量更加快速。快速准确的颜色测量Maya LSL具有快速准确的进行颜色测量的特点。与其
海洋光学新推出NIRQuest光谱仪
多功能InGaAs阵列光谱仪广泛应用于900-2500nm 海洋光学最近推出的NIRQuest光谱仪采用高性能的光学平台，具有较低的电子噪音和多种波长范围选择，可以应用于水分检测、化学分析、高分辨率的激光检测和光纤特征研究等领域。此款强大的即插即用光谱仪可提供900-1700nm, 900
AvaSpec系列光谱仪的光学平台
AvaSpec系列光谱仪的光学平台和电路板都可以作为单独的产品，提供给OEM客户。AvaBench-45、AvaBench-50 (TEC)、AvaBench-75-ULS (TEC)系列光学平台均采用对称式Czerny-Turner光路设计，带有光纤接头（标准 SMA接头，也可选其它类型接
海洋光学光纤光谱仪飞往火星
三种海洋光学仪器已经开始了它们前往火星的八个月的旅程。美国国家航空和航天管理局(NASA)火星科学实验室于2011年11月26日在佛罗里达州卡纳维尔角发射了“好奇号火星探测车”，定制的HR2000光谱仪是该探测车上的ChemCam仪器的一部分。 海洋光学提供了三套标准的HR20
能量色散型X荧光光谱仪
能量色散型X荧光光谱仪是一种用于材料科学领域的分析仪器，于2000年11月14日启用。 1、技术指标 元素范围：Na-U； 浓度：亚ppm-100%； X射线管：50w； 阳极：铑靶； 最大电压：60KV； 最大电流：2mA。 准直器：直径1.0mm 3.5mm 7.0mm； 检测器：电致冷
能量色散X射线荧光光谱仪
在20世纪80年代初，EDXRF谱仪主要有:①液氮冷却的Si(Li)半导体探测器与X射线管及高压电源组成的谱仪; ②非色散型可携式谱仪，它主要由封闭式正比计数器和放射性核素源组成，通常一次仅能测定1～2个元素。EDXRF谱仪由于仪器性能的改善现在测定元素已由Na扩展到F，甚至可检出C; 可携式XRF
能量色散X射线荧光光谱仪
(1)现场和原位EDXRF。现场和原位EDXRF分为两种: ①移动式谱仪，系指可以随身携带的谱仪，用于现场分析; ②手持式谱仪， 要求整机质量小于1.5 kg，可实施原位分析。现场EDXRF谱仪依据所用的激发源、探测器和电子学线路、谱仪的技术指标可划分为四代。第一代约在 20世纪60年代中期，由英、
能量色散X荧光光谱仪用途
能量色散X荧光光谱仪用途：1.荧光激发光谱和荧光发射光谱2.同步荧光波长和能量扫描光谱 3.3D 4.Time Base和CWA固定波长单点测量 5.荧光寿命测量，包括寿命分辨及时间分辨 6.计算机采集光谱数据和处理数据
关于全光谱地物光谱仪的特征，这几点不能不说
全光谱地物光谱仪又称分光仪，采用的原理是用电弧的高温使样品中各元素从固态直接气化并被激发而发射出各元素的特征波长，用光栅分光后，成为按波长排列的“光谱”，这些元素的特征光谱线通过出射狭缝，射入各自的光电倍增管，光信号变成电信号，经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换，然后由计算机处理，并打
覆层的厚度测量
涂层测厚仪的无损检测方法与原理：涂层测厚仪在现实测量中是一门理论上综合性较强，又非常重视实践环节的很有发展前途的学科。它涉及到材料的物理性质，产品设计，制造工艺，断裂力学以及有限元计算等诸多方面。 在化工，电子，电力，金属等行业中，为了实现对各类材料的保护或装饰作用，通常采用喷涂有色金属覆盖以及磷
涡轮叶片厚度测量
景：用于航空发动机和其他高性能系统的许多涡轮叶片都是中空的，从而允许散热剂在叶片中流通。铸造过程中的偏芯，机器有问题或者运转过程中的正常磨损都可能导致叶片的壁厚低于可接受的下限值。如果采用机械的方法测量叶片壁厚，不破坏叶片通常是不可能完成的。但是，使用合适的探头以及仪器，采用超声的方法，无需破坏叶片