SEM知识—元素分析的基础
元素分析的基础 X射线的产生 当电子射入物质后，从物质表面会发射出各种电子、光子及X射线等电磁波。如图49所示，由于入射电子的作用，内层电子处于激发态，外层电子向内跃迁填补有空位的轨道时，会产生等同于能量差的X射线，这就是特征X射线。 由于X射线具有元素特有的能量（波长），通过对X射线的检测，能够进行元素分析。K层的电子被激发释放出的特征X射线被称为K线系，L层、M层被分别称为L线系、M线系。越是重元素特征X射线的能量越大，这是因为激发时需要高能入射电子。另一方面，入射电子被原子核减速时产生的X射线被称为连续X射线或者轫致辐射X射线。 图片.png 图49 特征X射线的产生原理 X射线分光谱仪 ● EDS的分光原理 能谱仪（Energy Dispersive X-ray Spectrometer：EDS）是通过测试X射线的能量分析特征X射线谱的装置。如图50所示X......阅读全文
SEM知识—元素分析的基础
元素分析的基础 X射线的产生 当电子射入物质后，从物质表面会发射出各种电子、光子及X射线等电磁波。如图49所示，由于入射电子的作用，内层电子处于激发态，外层电子向内跃迁填补有空位的轨道时，会产生等同于能量差的X射线，这就是特征X射线。 由于X射线具有元素特有的能量（波长
SEM知识—元素分析的基础
元素分析的基础 X射线的产生当电子射入物质后，从物质表面会发射出各种电子、光子及X射线等电磁波。如图49所示，由于入射电子的作用，内层电子处于激发态，外层电子向内跃迁填补有空位的轨道时，会产生等同于能量差的X射线，这就是特征X射线。 由于X射线具有元素特有的能量（波长），通过对X射线的检测，能够进行
微量元素分析仪基础知识
一、关于扣空白 “空白”是指非样品内的待测物，常指试剂、水等引入的待测物，它不是样品中的含量，应予扣除。该仪器设有自动扣空白的功能，即把空白曲线（设为A线）做出来后，仪器将其自动保存，待仪器测定到样品和空白的共同曲线（设为B线）时，仪器会显示扣除空白后的曲线（设为C线），有：C=B-A
微量元素分析仪基础知识
一、关于扣空白 “空白”是指非样品内的待测物，常指试剂、水等引入的待测物，它不是样品中的含量，应予扣除。该仪器设有自动扣空白的功能，即把空白曲线（设为A线）做出来后，仪器将其自动保存，待仪器测定到样品和空白的共同曲线（设为B线）时，仪器会显示扣除空白后的曲线（设为C线），有：C=B-A因
滴定分析基础知识
1、滴定管应用硫酸重铬酸钾洗液洗涤，用自来水冲洗干净后，再用蒸馏水洗涤3次以上，以内壁不挂水珠为原则。使用前再用滴定标准溶液洗3次。（当滴定管是即洗即用，未经控干时，应增加标准溶液洗涤次数）。 2、酸式滴定管下端的玻璃活塞，洗净以后取出用滤纸将其擦干，涤上一层凡士林，（注意不要将小孔堵塞）再套
热分析基础知识
热的传递是由于物体内部或物体之间的温度不同而引起的。当无外功输入时，根据热力学第二定律，热总是自动地从温度较高的部分传给温度较低的部分，根据传热机理的不同，传热的基本方式有热传递、热对流和热辐射三种。一、热传导1）基本概念：当物体的内部或者两个直接接触的物体之间存在着温度差异时，物体各个部分之间不发
滴定分析基础知识
滴定分析基础知识1、滴定管应用硫酸重铬酸钾洗液洗涤，用自来水冲洗干净后，再用蒸馏水洗涤3次以上，以内壁不挂水珠为原则。使用前再用滴定标准溶液洗3次。（当滴定管是即洗即用，未经控干时，应增加标准溶液洗涤次数）。2、酸式滴定管下端的玻璃活塞，洗净以后取出用滤纸将其擦干，涤上一层凡士林，（注意不要将小孔堵
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12. 场发射电子枪所选用的阴极材料必需是高强度材料，以能承受高电场所加诸在阴极尖端的高机械应力，钨即因高强度而成为较佳的阴极材料。场发射枪通常以上下一组阳极来产生吸取电子、聚焦、及加速电子等功能。利用阳极的特殊外形所产生的静电场，能对电子产生聚焦效果，所以不再需要韦氏罩或栅极。第一(上)阳极主要
SEM扫描电镜必备知识
1. 光学显微镜以可见光为介质，电子显微镜以电子束为介质，由于电子束波长远较可见光小，故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率最高只有约1500倍，扫描式显微镜可放大到10000倍以上。 2. 根据de Broglie波动理论，电子的波长仅与加速电压有关：λe=h / mv= h /
SEM知识点扫盲八
25. 色散像差(Chromatic aberration):因通过透镜电子束能量差异，使得电子束聚焦后并不在同一点上。 26. 电子束和样品作用体积(interaction volume)，作用体积约有数个微米(μm)深，其深度大过宽度而形状类似梨子。此形状乃源于弹性和非弹性碰撞的结果。低原子量
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41. SEM样品若为金属或导电性良好，则表面不需任何处理，可直接观察。若为非导体，则需镀上一层金属膜或碳膜协助样品导电，膜层应均匀无明显特征，以避免干扰样品表面。金属膜较碳膜容易镀，适用于SEM影像观察，通常为Au或Au-Pd合金或Pt。而碳膜较适于X光微区分析，主要是因为碳的原子序低，可以减少X
SEM知识点扫盲六
18. 由于对真空的要求较高，有些仪器在电子枪及磁透镜部份配备了3组离子泵(ion pump)，在样品室中，配置了2组扩散泵(diffusion pump)，在机体外，以1组机械泵负责粗抽，所以有6组大小不同的真空泵来达成超高真空的要求，另外在样品另有以液态氮冷却的冷阱(cold trap)，协助保
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9. 场发射式电子枪则比钨灯丝和六硼化镧灯丝的亮度又分别高出 10 - 100 倍，同时电子能量散布仅为 0.2 - 0.3 eV，所以目前市售的高分辨率扫描式电子显微镜都采用场发射式电子枪，其分辨率可高达 1nm 以下。 10. 场发射电子枪可细分成三种:冷场发射式(cold field emi
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31. 背向散射电子(Backscattered Electrons)：入射电子与样品子发生弹性碰撞，而逃离样品表面的高能量电子，其动能等于或略小于入射电子的能量。背向散射电子产生的数量，会因样品元素种类不同而有差异，样品中平均原子序越高的区域，释放出来的背向散射电子越多，背向散射电子影像也就越亮，
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1. 光学显微镜以可见光为介质，电子显微镜以电子束为介质，由于电子束波长远较可见光小，故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率最高只有约1500倍，扫描式显微镜可放大到10000倍以上。 2. 根据de Broglie波动理论，电子的波长仅与加速电压有关： λe=h / mv= h
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6. 热游离方式电子枪有钨(W)灯丝及六硼化镧(LaB6)灯丝两种，它是利用高温使电子具有足够的能量去克服电子枪材料的功函数(work function)能障而逃离。对发射电流密度有重大影响的变量是温度和功函数，但因操作电子枪时均希望能以最低的温度来操作，以减少材料的挥发，所以在操作温度不提高的状况
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44. 电子束与样品作用，当内层电子被击出后，外层电子掉入原子内层电子轨道而放出X光，不同原子序，不同能阶电子所产生的X光各不相同，称为特征X光，分析特征X光，可分析样品元素成份。 45. 分析特征X光的方式，可分析特征X光的能量分布，称为EDS，或分析特征X光的波长，称为WDS。X光能谱的分辨
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38. 如何做好SEM的影像，一般由样品的种类和所要的结果来决定观察条件，调整适当的加速电压、工作距离 (WD)、适当的样品倾斜，选择适当的侦测器、调整合适的电子束电流。 39. 一般来说，加速电压提高，电子束波长越短，理论上，只考虑电子束直径的大小，加速电压愈大，可得到愈小的聚焦电子束，因而提
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34. 阴极发光(Cathodoluminescence)：当电子束产生之电子-空位对再结合时，会放出各种波长电磁波，此为阴极发光(CL)，不同材料发出不同颜色之光。 35. 样品电流(Specimen Current)：电子束射到样品上时，一部份产生二次电子及背向散射电子，另一部份则留在样品里
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21. 在电子显微镜中须考虑到的像差(aberration)包括:衍射像差(diffraction aberration)、球面像差(spherical aberration)、散光像差(astigmatism)及波长散布像差(即色散像差，chromatic aberration)。 22. 面像
SEM知识点扫盲九
28. 电子束能量越大，弹性碰撞截面积越小，电子行走路径倾向直线而可深入样品，作用体积变大。 29. 电子束和样品的作用有两类，一为弹性碰撞，几乎没有损失能量，另一为非弹性碰撞，入射电子束会将部份能量传给样品，而产生二次电子、背向散射电子、俄歇电子、X光、长波电磁放射、电子-空位对等。这些信号
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15. 热场发式电子枪是在1800K温度下操作，避免了大部份的气体分子吸附在针尖表面，所以免除了针尖flashing的需要。热式能维持较佳的发射电流稳定度，并能在较差的真空度下(10-9 torr)操作。虽然亮度与冷式相类似，但其电子能量散布却比冷式大3~5倍，影像分辨率较差，通常较不常使用。 1
烟气分析仪基础知识
问题1、固体燃料、液体燃料、气体燃料都有哪些? 解答、固体燃料有煤、泥炭、木材、麦杆,基本上含碳(C)、氢(H)、氧(O)以及少量的硫(S)、氮(N)和水(H2O)。液体燃料有特轻油、轻油、中油以及重油,主要由石油加工而成。气体燃料是由可燃气体(CO、H2及碳氢化合物)及不可燃气体混和而成,当
简述滴定分析操作基础知识
1、滴定管应用硫酸重铬酸钾洗液洗涤，用自来水冲洗干净后，再用蒸馏水洗涤3次以上，以内壁不挂水珠为原则。使用前再用滴定标准溶液洗3次。(当滴定管是即洗即用，未经控干时，应增加标准溶液洗涤次数)。 2、酸式滴定管下端的玻璃活塞，洗净以后取出用滤纸将其擦干，涤上一层凡士林，(注意不要将小孔堵塞)
SEM扫描电镜知识点
1. 光学显微镜以可见光为介质，电子显微镜以电子束为介质，由于电子束波长远较可见光小，故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率最高只有约1500倍，扫描式显微镜可放大到10000倍以上。 2. 根据de Broglie波动理论，电子的波长仅与加速电压有关： λe=h / mv= h
逻辑分析仪基础知识（九）
If ADDR = 1000 occurs 5 times then Trigger全局计数器类似于整数变量。全局计数器比发生计数器更灵活，因为它们可用于为复杂事件（例如一个时钟沿后跟另一时钟沿的事件）计数。可以增加、测试和重新设置全局计数器。默认情况下，全局计数器以零开头并且不需要重新设置，除非
逻辑分析仪基础知识（十一）
图25 阻尼电阻探测方式阻尼电阻阻值大小的一般规则：目标阻抗的2.5倍。如果探测环境需要更长的连线，这时候可考虑电阻匹配探测，即在探头尖处附加一个匹配电阻，消除连线的反射。匹配电阻的阻值与连线传输线的阻抗一样即可，但需要考虑信号的衰减。图26 电阻匹配探测方式逻辑分析仪的探头主要有3种类型：提前
逻辑分析仪基础知识（三）
状态分析状态分析仪需要来自被测设备的采样时钟信号。这种类型的时钟计时可使逻辑分析仪中的数据采样与被测设备中的计时事件同步。具体来讲：状态分析仪适用于显示“有效时钟或控制信号”期间的信号活动是“什么”。状态分析仪侧重于查看指定执行时间内的信号活动，而不是与时序无关的信号活动。这就是为什么状态分析仪需要
逻辑分析仪基础知识（七）
支持差分信号的逻辑分析仪中的眼图扫描Eye Scan：支持差分信号的逻辑分析仪（如16962A 逻辑分析仪模块）针对输入使用真值差分接收器：可编程参考电压将计入负输入。这是分析仪采用单端探头时的阈电压。对于差分探测的相关操作，通常将参考电压编写为 0V：随后将接收器的输出与 0V 进行比较，从差分输
逻辑分析仪基础知识（五）
由于与总线时钟有关的数据有效窗口的位置根据总线类型的不同而有所变化，因此逻辑分析仪的建立/保持窗口的位置在数据有效窗口中必须是可调整的（相对于采样时钟，且具有较高分辨率）。例如： 图13 调整采样位置 为了将建立/保持窗口（采样位置）放置在数据有效窗口内，逻辑分析仪可在每次采样输入时调整延迟（以定