一文告诉你选择日本理学波长色散型荧光光谱仪4大原因

能量色散型荧光光谱仪(DE-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室和检测系统等组成,与波长色散型荧光光仪的区别在于它不用分光晶体。由于这一特点,使能量色散型荧光光仪具有如下的优点: 1、仪器结构简单,省略了晶体的精密运动装置。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X射线管功率低,一般在100W以下,不需要昂贵的高压发生器和冷却系统,空气冷却即可,节省电力。 2、能量色散形荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近,X射线的利用率很高,不需光学聚集,在累积整个光谱时,对样品位置变化不象波长色散型荧光光仪那样敏感,对样品形状也无特殊要求。 3、在能量色散谱仪中,样品发出的全部特征X射线光子同时进入检测器,这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱(包括背景)的基础,也能清楚地表明背景和干扰线。因此,半导体检测器X射线光谱仪能比晶体X射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。 4......阅读全文

一文告诉你选择日本理学波长色散型荧光光谱仪4大原因

能量色散型荧光光谱仪(DE-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室和检测系统等组成,与波长色散型荧光光仪的区别在于它不用分光晶体。由于这一特点,使能量色散型荧光光仪具有如下的优点: 1、仪器结构简单,省略了晶体的精密运动装置。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X射线管功率低,一般在10

一文告诉你选择日本理学波长色散型荧光光谱仪4大原因

  日本理学波长色散型x射线荧光光谱仪(WD-XRF,简称理学波谱)一般由光源(X-射线管)、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体系安装在-一个精密的测角仪上,还需要庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,要求作为光源的X射线管的功

波长色散型X射线荧光光谱仪简介

  波长色散型X射线荧光光谱仪是一种用于化学、食品科学技术领域的分析仪器,于2008年12月23日启用。  1、技术指标  最大功率3.6KV;0~60KV间,1KV连续可调;高压发生器输出稳定度±0.0001%;12位自动进样器;下照式,六块晶体。  2、主要功能  能对样品中O~U之间的元素进行

波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的区别

  多数人到现在还不清楚如何的区分波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的之间的区别到底有哪一些不一样的,本文中使用表格的形式简单的介绍两者之间的原理结构,一分钟快速掌握其中的奥秘。   日本理学大功率台式波长色散X射线荧光光谱仪   新型Supermini200拥有改良的软件功能和更

波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的区别

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波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的区别

  多数人到现在还不清楚如何的区分波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的之间的区别到底有哪一些不一样的,本文中使用表格的形式简单的介绍两者之间的原理结构,一分钟快速掌握其中的奥秘。   日本理学大功率台式波长色散X射线荧光光谱仪   新型Supermini200拥有改良的软件功能和更

什么是波长色散型X射线荧光光谱仪

波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪,有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品,分析速度快,适用于测定原子序数4以上的所有化学元素,分析精度高,样品制备简单。 X射线或其

波长色散荧光光谱仪简介

  此种仪器的灵敏度比能量色散的高一个数量级,也就是说,所测的数据并不存在“灰色地域”,不存在测定后还需拿到检测机构复检。但仪器的价格比能量色散的贵很多,特别是进口的都在百万元以上,所以没有外国公司建议用。仪器操作和能量色散一样,不需要专业人员。 波长型最大优点是用在原材料厂上,其测定的数据准确,给

波长色散X射线荧光光谱仪

我国学者对不同时期WDXRF的进展曾予以评述。WDXRF谱仪从仪器光路结构来看,依然是建立在布拉格定律基础之上,但仪器面目全新。纵观30年来的发展轨迹,可总结出如下特点 。(1) 现代控制技术的应用使仪器精度大幅度提升。WDXRF谱仪在制造过程中,从20世纪80年代起,一些机械部件为电子线路所取代,

单波长色散型X荧光光谱仪原理及优缺点

  单波长色散X射线荧光光谱仪应该称作单波长激发—波长色散X射线荧光光谱仪。     单波长色散型X荧光光谱仪原理:     用全聚焦型双曲面弯晶将微焦斑X线管(可看作点光源)发射的原级X射线的某个波长(通常选取出射谱中的特征X射线)的X射线单色化并聚焦于样品测试表面,激发样品中元素的荧光X射线。由

一文告诉你X射线荧光光谱仪的​优点

  X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法,X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。   X射线荧光光谱仪的优点   a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元   b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而

波长色散荧光光谱仪的相关介绍

  波长法是因其激发出的荧光足够强,进到仪器中用来分析的光谱是单一元素(“过滤”了不需测的元素),不含其它元素的光谱,所以测量数据很准确。这种仪器的灵敏度比能量色散型高一个数量级,也就是说,所测的数据并不存在“灰色地域”,不存在测定后还需拿到检测机构复检。缺点是,波长法需将被测材料粉碎压制成样本后测

波长色散X射线荧光光谱仪简介

  波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线),从而进行物质成分分析的仪器。  优点:  不破坏样品,分析速度快,适用于测定原子序数4以上的所有化学元素,分析精度高,样品制备简单。

波长色散X射线荧光光谱仪简介

  波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪,有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品,分析速度快,适用于测定原子序数4以上的所有化学元素,分析精度高,样品制备简单。

能量色散和波长色散X荧光光谱仪的区别

扫描电镜束流小,电子探针能谱分析结果比扫描电镜能谱精确一个数量级,电子探针元素面扫描可以用能谱,也可以用波谱,一般对轻元素(C以下),波谱较准确,相对来说波谱扫描时间较长,一般定性及半定量基本用能谱。

波长色散X射线荧光光谱仪相关介绍

X射线荧光光谱仪根据分光方式不同,可分为波长色散和能量色散X射线荧光光谱仪两大类;根据激发方式又可细分为偏振光、同位素源、同步辐射和粒子激发X射线荧光光谱仪;根据X射线的出射、入角还可有全反射、掠出入射X射线荧光光谱仪等。波长色散XRF光谱仪利用分光晶体的衍射来分离样品中的多色辐射,能量色散光谱仪则

波长色散X射线荧光光谱仪的特点

它的工作原理是:试样受X射线照射后,元素的原子内壳层电子被激发,并产生壳层电子跃迁而发射出该元素的特征X射线,通过探测器测量元素特征X射线的波长(能量)的强度与浓度的比例关系,便可进行定量分析   波长色散X射线荧光光谱仪的特点是什么呢?   1.可用于固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析   2

当波长色散型X射线荧光光谱仪探测器出现故障

  ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理,广州仪德精密科学仪器股份有限公司工程师教你一招,自己也可以进行故障排除。   ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪探测器故障问题   故障现象:   进行P

当波长色散型X射线荧光光谱仪探测器出现故障

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波长色散型X荧光光谱仪的技术指标和功能

  波长色散型X-荧光光谱仪是一种用于地球科学、工程与技术科学基础学科、能源科学技术领域的分析仪器,于2006年06月09日启用。  1、技术指标  RSD=0.09% 计数率按仪器技术规定的测试条件, Cu-Kα为808Kcps; P-Kα为259 Kcps; Al-Kα在PET晶体下为452 K

当波长色散型X射线荧光光谱仪探测器出现故障

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能量色散和波长色散X荧光光谱仪比较和说明

1、测量精度:波长色散类X荧光光谱仪有其固有的高分辨率和高精度,能提供极高的稳定性和优良的分析精度,但对样品的形状和制备方法有所要求;能量色散X荧光光谱仪如果经过精心的设计和方法优化,也可提供行业接受的测量结果,它的一个优点是可以在不对样品进行处理的情况下给出可供参考的数据。目前波长色散类仪器也已经

波长色散X射线荧光光谱仪利用原级

  X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪,有色散型和非色散型两种。色散型又分为波长色散型和能量色散型。波长色散型XRF光谱仪由X射线管激发源,分光系统,探测器系统,真空系统和气流系统等部分组成。根据分析晶体的

波长色散X射线荧光光谱仪应用领域

理学波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪,有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品,分析速度快,适用于测定原子序数4以上的所有化学元素,分析精度高,样品制备简单。应用领域

波长色散X射线荧光光谱仪的优点阐述

波长色散X射线荧光光谱仪的优点阐述波长色散X射线荧光光谱仪,采用了新技术设计的固态发生器、新技术设计的高电流低温X射线光管、当前电子技术新设计的电路板、新开发的高强度晶体等,使X射线荧光光谱仪对元素的分析产生了突破,在灵敏度、准确度、精密度、安全性、操作简便性、可靠性、分析速度、功能完备的分析软件等

波长色散式X射线荧光光谱仪的简介

  布拉格角范围:13到98度28波 分析晶体:氟化锂200,可选其他晶体 元素范围:Kα 22-48(钛到银) 元素范围:Lα 56-92(钡到铀) 准直器: 20千分之一发散 (探源) 检测器:10千分之一接收 X-射线探源:X-射线管、钨电极、铍窗 X-射线管电压:30KV连续电压 X-射线管

波长色散X射线荧光光谱仪的样品要求

 波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线),从而进行物质成分分析的仪器。   X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪,有色散型和非色散型两种。   特点及应用:   波长色散X射线荧光光谱仪优点多,不破坏样品,分析速度快,适用于测定原子序数4以上

能量色散型与波长色散型X-射线荧光分析仪的特点与差异

  X 射线荧光分析技术(XRF)作为一种快速分析手段,为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的,检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径;相对于其他分析方法(例如:发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等),XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显

能量色散型X荧光光谱仪

  能量色散型X荧光光谱仪是一种用于材料科学领域的分析仪器,于2000年11月14日启用。  1、技术指标  元素范围:Na-U; 浓度:亚ppm-100%; X射线管:50w; 阳极:铑靶; 最大电压:60KV; 最大电流:2mA。 准直器:直径1.0mm 3.5mm 7.0mm; 检测器:电致冷

波长色散型和能量色散型XRF的相关介绍

  不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同,因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射  线强度跟这元素在样品中的含量有关,因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。  因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:  波长色