荧光硫测定仪LJLH1080型能量色散型X射线荧光光谱仪
技术参数分析量程：0.0007%-0.1%（7ppm-1000ppm）0.1%-50%（1000ppm-500000ppm）分析精度：高于国内同类产品，具体参数如下：样品浓度50ppm时，＜士10ppm样品浓度100ppm时，＜士8ppm样品浓度1000ppm时，＜士5%样品浓度1％时，＜士0.5%检出下限：20ppm测量时问：100秒、300秒、自动、手动设定（5-10000S，每步1S自由选择）样品消耗量：2-4毫升外部输出：USB2.0使用条件：环境温度：5-40℃;相对湿度：≤85%(30℃）;供电电源：220v士20v , 50Hz。仪器特点1、仪器运行于windows操作平台，人机对话，操作便捷。2、样品分析中不接触、不破坏、无需转化、无需高温操作，无需化学试剂，无需消耗隋性气体。高浓度样品无需稀释，仪器可直接检测，不会对仪器检测系统造成任何污染。3、检测范围广：使用于石油和各种石油产品中硫含量的测定。4、测量速度快......阅读全文
能量色散X射线荧光光谱技术简介
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
单波长能量色散X射线荧光分析技术
单波长能量色散X射线荧光分析技术(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)，就是依靠双曲面弯晶、二次靶或者多层膜弯晶等技术，将X射线管出射谱中的单一能量衍射聚焦到样品一点，激发样品中元素荧光，这样极大降
X－射线荧光光谱仪
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。图
能量色散X荧光光谱仪用途
能量色散X荧光光谱仪用途：1.荧光激发光谱和荧光发射光谱2.同步荧光波长和能量扫描光谱 3.3D 4.Time Base和CWA固定波长单点测量 5.荧光寿命测量，包括寿命分辨及时间分辨 6.计算机采集光谱数据和处理数据
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
能量色散X射线荧光光谱技术基本介绍
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
能量色散－X－射线荧光－(ED－XRF)的相关介绍
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 是用于元素分析应用的两种通用型 X 射线荧光技术之一。在 EDXRF 光谱仪中，样品中的所有元素都被同时激发，而能量色散检测仪与多通道分析仪相结合，用于同时收集从样品发射的荧光辐射，然后区分来自各个样品元素的特性辐射的不同能量。EDXRF 系统的分辨率取决
便携能量色散X射线荧光光谱检测土壤
能量色散X 荧光光谱仪至今还没有形成统一的国家检定规程。因此，根据仪器的实际检定要求，参考相关仪器的检定规程，对能量色散X 荧光光谱仪的检定方法进行了深入的研究和探讨，提出了能量色散X 射线荧光光谱仪的检定方法。 X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦
GB11140型X荧光硫检测仪原理
荧光硫测定仪采用“紫外荧光法”测定原理。当样品被引入高温裂解炉后，经氧化裂解，其中的硫定量地转化为二氧化硫，反应气经干燥脱水后进入荧光室。在荧光室中，部分二氧化硫受紫外光照后转化为激发态的二氧化硫（SO2*）,当SO2*跃迁到基态时发射出光子，光电子信号由光电倍增管接收放大。再经放大器放大，计算机数
能量色散X射线荧光光谱仪信号处理系统研究
近几十年来,X射线荧光光谱仪不断的发展和完善,并且X射线荧光分析技术的应用领域越来越广泛,不仅在地质、矿物、石油等领域被广泛应用,在化工、医疗等领域也大放异彩。现代能量色散X射线荧光(EDXRF)光谱仪的主要组成部分有:X射线发生器(X射线管、高压电源)、检测系统(准直器、探测器)、信号处理电路(放
X射线荧光光谱仪的全反射荧光
如果n1>n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1>α2，即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1
当波长色散型X射线荧光光谱仪探测器出现故障
ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理，广州仪德精密科学仪器股份有限公司工程师教你一招，自己也可以进行故障排除。 ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪探测器故障问题 故障现象： 进行P
当波长色散型X射线荧光光谱仪探测器出现故障
ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理，广州仪德精密科学仪器股份有限公司工程师教你一招，自己也可以进行故障排除。 ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪探测器故障问题 故障现象： 进行P
当波长色散型X射线荧光光谱仪探测器出现故障
ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理，广州仪德精密科学仪器股份有限公司工程师教你一招，自己也可以进行故障排除。 ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪探测器故障问题 故障现象： 进行P
天瑞X荧光光谱仪能量色散
目前本产品可用于稻米、小麦、谷物、烟草等作物中的重金元素镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限低可达0.03ppm。其2-3分钟能进行快速筛查，测试小于15分钟对样品的准确测量。射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-200
能量色散X荧光光谱仪分析原理
X射线管产生的初级X射线照射到平整均匀的颗粒物表面时,样品所含待测元素原子受到激发后发射出特征X射线,经探测器接收后,将其光信号转变为模拟电信号,经过模数变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理,通过专用软件获取元素特征X射线强度,根据元素特征谱峰强度与含量的相应数学模型计算待测元素含量
天瑞X荧光光谱仪能量色散
目前本产品可用于稻米、小麦、谷物、烟草等作物中的重金元素镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限低可达0.03ppm。其2-3分钟能进行快速筛查，测试小于15分钟对样品的准确测量。射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》
能量色散X荧光光谱仪性能特点
超薄窗X光管,指标达到先进水平采用数字多道技术,可以达到超高计数率,提高测试效率和精度SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率、峰背比和能谱特性低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证仪器工作的一致性高信噪比的电子线
X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍
当X射线穿过物质时，一方面受散射作用偏离原来的传播方向，另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收，散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。 当一单色X射线穿过均匀物体时，其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix，X射线的衰减符合指数衰减定律： 式中，μ为质量衰减系数；ρ为样
X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍
相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关，可用于研究物质的结构。 其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品，测量衍射线的角度与强度，从而推断样品的结构，这就是X射线衍射结构分析（XRD）。 另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体
X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍
除光电吸收外，入射光子还可与原子碰撞，在各个方向上发生散射。散射作用分为两种，即相干散射和非相干散射。 相干散射：当X射线照射到样品上时，X射线便与样品中的原子相互作用，带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多，原子核的振动可忽略不计，主要是原
X射线荧光光谱仪X射线光管结构
常规X射线光管主要采用端窗和侧窗两种设计。普通X射线光管一般由真空玻璃管、阴极灯丝、阳极靶、铍窗以及聚焦栅极组成，并利用高压电缆与高压发生器相接，同时高功率光管还需要配有冷却系统。侧窗和端窗X射线光管结构如图6和图7所示。 当电流流经X射线光管灯丝线圈时，引起阴极灯丝发热发光，并向四周发射电子
概述X射线荧光光谱仪X射线的产生
根据经典电磁理论，运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的X射线源便是利用这一原理产生的：利用被高压加速的电子轰击金属靶，电子被金属靶所减速，便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线，也包括了特征谱线。 1、连续谱线 连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受
X射线荧光光谱仪简介
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
X射线荧光光谱仪结构
该系统由X射线发生器、光谱仪主体部分、电气部分及系统控制器、计算机部分组成。3.1 X射线发生器 X射线发生器由高压变压器及管流管压控制单元、X射线管、热交换器。 3.1.1高压变压器及管流管压控制单元 产生高稳定的高压加到X射线管上用以产生X射线。这里利用高电压加速的高速电子轰击X射线管金属靶面产
X射线荧光光谱仪概述
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
x射线荧光光谱仪简介
x射线荧光光谱仪提供了一种最简单，最准确，最经济的分析方法，可用于确定多种类型材料的化学成分。它是无损且可靠的，不需要或只需很少的样品制备，适用于固体，液体和粉末状样品。它可以用于从钠到铀的多种元素，并提供亚ppm级以下的检测限；它也可以轻松，同时地测量高达100％的浓度。
X射线荧光光谱仪优点
X射线荧光光谱仪优点：1)可在一台仪器上可实现扫描式X射线波长色散分析、X射线能量色散分析、X-射线聚焦微小区域分析、游离氧化钙X射线衍射分析。2)波长色散通道（波谱核）和能量色散通道（能谱核）可同时分别得到Be- Am 和Na-Am 所有元素的光谱数据和定量分析结果。3)软件可以得到上述各种分析技
X射线荧光光谱仪原理
X射线荧光光谱仪原理 X射线荧光光谱仪主要由激发源（X射线管）和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线（又叫X荧光），并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这
X射线荧光光谱仪(XRF)
原理：用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射二次特征X射线，也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类，根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种，前者测量精密度好