浅谈X射线荧光光谱仪的四个组成结构

X射线荧光光谱仪是一种比较新型的无损、快速、便捷的并且可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在被测物在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线。 下面来看看X射线荧光光谱仪的组成结构: 1、探测器 依分辨率高低档次由低至高常用的探测器有NaI晶体闪烁计数器,充气(He,Ne,Ar,Kr,Xe等)正比计数管器、HgI2晶体的探测器、半导体致冷SiPIN探测器、高纯硅晶体的探测器、高纯锗晶体的探测器、电致冷或着液氮致冷Si(Li)锂漂移硅晶体的探测器、Ge(Li)锂漂移锗探测器等。 目前常用的是电致冷或液氮致冷Si(Li)锂漂移硅晶体的探测器、SiPIN探测器、高纯的硅晶体探测器。探测器的性能主要体现在对荧光探测的检出限、分辨率、探测能量范围的大小等方面。所以你要仪器的检出限好你就要看它了。 2、X光管 X光管是仪器的易损耗材。大多数XRF厂商奉行拿来主义,做的就是组装贴个品牌的工作。其性能寿命和......阅读全文

浅谈X射线荧光光谱仪的四个组成结构

 X射线荧光光谱仪是一种比较新型的无损、快速、便捷的并且可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在被测物在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线。  下面来看看X射线荧光光谱仪的组成结构:  1、探测器  依分辨率高低档次由低至高常用的探测器有NaI晶体闪烁计数器,充气(He,

全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)组成结构

  反射X射线荧光光谱仪(TXRF)主要包括:X射线源、光路系统、进样系统、探测器、数据处理系统及其他附件,下文主要介绍前四部分。  一、X射线源:由高压发生器及射线管组成。提供初级X射线,对样品中待测元素进行激发得到X射线荧光,其强度正比于初级X射线的强度。通常,XRD或XRF发生器便可满足TXR

X射线荧光光谱仪X射线光管结构

  常规X射线光管主要采用端窗和侧窗两种设计。普通X射线光管一般由真空玻璃管、阴极灯丝、阳极靶、铍窗以及聚焦栅极组成,并利用高压电缆与高压发生器相接,同时高功率光管还需要配有冷却系统。侧窗和端窗X射线光管结构如图6和图7所示。  当电流流经X射线光管灯丝线圈时,引起阴极灯丝发热发光,并向四周发射电子

X射线荧光(XRF)仪的结构组成介绍

  一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。  然后,仪器

X射线荧光光谱仪结构

该系统由X射线发生器、光谱仪主体部分、电气部分及系统控制器、计算机部分组成。3.1 X射线发生器 X射线发生器由高压变压器及管流管压控制单元、X射线管、热交换器。 3.1.1高压变压器及管流管压控制单元 产生高稳定的高压加到X射线管上用以产生X射线。这里利用高电压加速的高速电子轰击X射线管金属靶面产

浅谈X射线荧光光谱仪的物理原理

  X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画

X射线衍射仪主要由以下四个结构组成

 X射线衍射仪分为单晶衍射仪和多晶衍射仪两种。单晶衍射仪的被测对象为单晶体试样,主要用于确定未知晶体材料的晶体结构。基本原理:在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线(如Cu的Kα辐射)射到一粒单晶体上会发生衍射,由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律,也即解出晶体的结构。  X

波长色散X射线荧光光谱仪的三大组成结构分析

1、X射线光管X射线光管由阴极灯丝和阳极靶组成,灯丝通电流后会放出热电子,在阴极灯丝和阳极靶之间加一个20~60kV的高压,电子在高压作用下加速撞击阳极靶。阳极靶由金属组成,常用的材料有Rh、Mo、Cr。加速电子撞击阳极靶,与靶金属中的电子相互作用并以X射线光子的形式释放部分能量,这些X射线光子就是

X射线荧光光谱仪的结构特点

X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器,可在不同的布拉

X射线荧光光谱仪的组成与维护使用

    X射线荧光分析技术(XRF)作为一种快速分析手段,为相关部门提供了一种可行的、低成本的并且及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。    相对于其他分析方法,XRF具有无需对样品进行特别的化学处理,快速、方便、测量成本低等明显优势,特别适合用于各类相关部门作为过程控制和检测使用。   

X射线荧光光谱仪的组成与维护使用

 X射线荧光分析技术(XRF)作为一种快速分析手段,为相关部门提供了一种可行的、低成本的并且及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。    相对于其他分析方法,XRF具有无需对样品进行特别的化学处理,快速、方便、测量成本低等明显优势,特别适合用于各类相关部门作为过程控制和检测使用。     X

简述X射线荧光光谱仪的组成和用途

  X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。  组成:X

X-射线荧光光谱仪的组成部分介绍

  (1)X射线系统(X射线光管、高压变压器、管压管流控制单元);  (2)水循环冷却系统(内外部冷却水单元、温度、电导率控制监测单元);  (3)真空系统(真空泵、样品室);  (4)检测系统(光谱室、分光晶体、衰减器、狭缝、测角仪、晶体交换器等);  (5)检测记录系统(流〈充〉气正比计数器和闪

X射线荧光光谱仪(XRF)基本结构

  现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成;X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统(分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统(脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。

X射线荧光光谱仪(XRF)基本结构

现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成;X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统(分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统(脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。

X射线荧光光谱仪的主要组成部分介绍

X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器,可在不同的布拉

X射线荧光光谱仪的四大组成系统

  目前有很多方法可以实现X射线荧光光谱分析,因此,为了避免混淆,我们以能量色散X射线荧光光谱分析技术(EDXRF)为例,专注于XRF的细节部分。X射线荧光光谱仪主要包括组成一条信号链的四大子系统:  1、X射线管;  2、X射线探测器;  3、多通道分析器;  4、计算机。

X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍

  除光电吸收外,入射光子还可与原子碰撞,在各个方向上发生散射。散射作用分为两种,即相干散射和非相干散射。  相干散射:当X射线照射到样品上时,X射线便与样品中的原子相互作用,带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多,原子核的振动可忽略不计,主要是原

X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍

  相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关,可用于研究物质的结构。  其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品,测量衍射线的角度与强度,从而推断样品的结构,这就是X射线衍射结构分析(XRD)。  另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体

X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍

  当X射线穿过物质时,一方面受散射作用偏离原来的传播方向,另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收,散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。  当一单色X射线穿过均匀物体时,其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix,X射线的衰减符合指数衰减定律:  式中,μ为质量衰减系数;ρ为样

概述X射线荧光光谱仪X射线的产生

  根据经典电磁理论,运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的X射线源便是利用这一原理产生的:利用被高压加速的电子轰击金属靶,电子被金属靶所减速,便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线,也包括了特征谱线。  1、连续谱线  连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受

X 射线荧光制样方法浅谈(一)

导言: 第13期的论坛线上讲座还未结束,第14期的线上讲座又接踵而至,本期讲座我们邀请了XRF版面的专家ljzllj先生就 XRF制样的方法与大家一起交流切磋。ljzllj先生一直从事XRF仪器的应用等各方面的研究工作。对XRF的仪器比较熟悉。欢迎大家就X 射线荧光制样方法的问题前来提问,也欢迎XR

X 射线荧光制样方法浅谈(二)

一、概论 X 射线荧光光谱法是一个相对分析方法,任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性;用于制作校准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过 程。X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法,激发只发生在试样的浅表面,必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外,样品的平均粒度和粒度分布

简述X射线管的结构组成

  固定阳极X射线管是常用X射线管中最简单的一种,其结构由阳极、阴极和固定两极并保持玻璃管内高真空的玻璃壳等三部分组成。  阳极由阳极头、阳极帽、玻璃圈和阳极柄构成。阳极的主要作用使由阳极头的靶面(一般选用钨靶)阻挡高速运动的电子流而产生X射线,并将由此产生的热量辐射或者通过阳极柄传导出去,同时也吸

X-射线荧光光谱仪

用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。图

X射线荧光光谱仪的组成系统相关内容

  目前有很多方法可以实现X射线荧光光谱分析,因此,为了避免混淆,我们以能量色散X射线荧光光谱分析技术(EDXRF)为例,专注于XRF的细节部分。X射线荧光光谱仪主要包括组成一条信号链的四大子系统:  1、X射线管;  2、X射线探测器;  3、多通道分析器;  4、计算机。  如上所述,X射线管也

X射线荧光光谱仪的原理和组成部分介绍

X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱仪主要由以下几部分组成: (1)X射线系统(X射线光管、高压变压器、管压管流控制单元);(2)水循环冷却系统(内外部冷却水单元

X射线荧光光谱仪的原理和组成部分介绍

 X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱仪主要由以下几部分组成: (1)X射线系统(X射线光管、高压变压器、管压管流控制单元);(2)水循环冷却系统(内外部冷却水单

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高,对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2~3数量级,灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。

X射线激光器的结构组成

X射线激光器和普通激光器类似,可由驱动源、工作物质和谐振腔三部分组成。驱动源是高功率激光器、高压放电装置甚至核装置等能向工作物质馈送能量的激励装置,普遍采用的是高功率激光器。工作物质是驱动源产生的等离子体,所以这种激光也称为等离子体X射线激光。软X射线激光的光腔由多层膜X射线反射镜、多层膜输出耦合(