X射线荧光光谱仪的探测器应该如何选择
X射线荧光光谱是一种常用的光谱技术，既可用于材料的组成成分分析，又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。对于不同的应用用途，X射线荧光光谱仪体系中探测器的选择也不尽相同。对于定性分析往往需要用到硅漂移探测器。硅漂移探测器（SDDs）能够提高低能量敏感度，使得X射线荧光光谱技术可以对一些低原子序数元素进行检测分析，甚至是在空气气氛中也能进行检测，例如用于测量化学镀镍涂层中磷元素（原子序数Z=15）的含量。但是，大多数的低原子序数元素的检测分析依然还需要隔离空气气氛。近年来比较流行的是一种密封的、充气的正比计数器，正比计数器探测器较大的半宽高（FWHM）会导致相邻元素的检测谱图严重重叠，以至于利用峰值搜索算法和/或可见光谱观察法都无法探测出其中某种或者多种成分的存在。对于一些需要鉴别元素成分的工业制造品，其质量检验结果由于发生严重重叠，难以分辨，造成难以检测。虽然利用硅探测器也会发生谱图上的峰重叠现象，但在大多数的情况下，这些重叠峰能够......阅读全文
X射线荧光光谱仪的探测器应该如何选择
X射线荧光光谱是一种常用的光谱技术，既可用于材料的组成成分分析，又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。对于不同的应用用途，X射线荧光光谱仪体系中探测器的选择也不尽相同。对于定性分析往往需要用到硅漂移探测器。硅漂移探测器（SDDs）能够提高低能量敏感度，使得X射线荧光光谱技术可以对一些低原子序数元素进行
如何选择X射线荧光分析仪的探测器？
真正评估一款分析仪是否合适，是了解它可以为您想要检测的元素提供怎样的分析结果。首先要从探测器上进行选择： X射线荧光分析仪的探测器类型：PIN还是SDD 手持式XRF分析仪有两种类型的探测器：PIN和SDD。PIN探测器是一种较为落后的技术，与SDD(硅漂移探测器)相比，价格更便宜，不过，其
X射线荧光光谱仪探测器简介
X射线荧光光谱仪常用的探测器有流气正比计数器和闪烁计数器，流气正比计数器用于轻元素检测，闪烁计数器用于重元素检测。 流气正比计数器由金属圆筒（阴极）、金属丝（阳极）、窗口及探测气体（惰性气体）构成。阳极都制成均匀光滑的细丝线，一般由钨、钼、铂、金等稳定的金属丝制成。 流气正比计数器中一般选用
XRF(X射线荧光光谱仪)选择宝典
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 该方法建议对来料先便携式（手持式）ROHS检测仪检测，能通过的就算合
SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用
硅漂移探测器（SiliconDriftDetector，简称SDD）是半导体探测器的一种； 用来探测X射线，广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪（XRF）或者X射线能谱仪（EDS）上。 XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析数据的稳定性
SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用
硅漂移探测器（SiliconDriftDetector，简称SDD）是半导体探测器的一种； 用来探测X射线，广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪（XRF）或者X射线能谱仪（EDS）上。 XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析数据的稳定性
SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用
硅漂移探测器（SiliconDriftDetector，简称SDD）是半导体探测器的一种； 用来探测X射线，广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪（XRF）或者X射线能谱仪（EDS）上。 XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析数据的稳定性
如何选择X荧光光谱仪（XRF）
应选择历史悠久，技术过硬，故障率低，日常运行成本低，使用年限长，性价比高，品牌过硬的仪器。Niton公司成立超过20年，其便携式光谱仪在世界上处于ling先地位，在世界各地已安装超过12000台，可快捷测试元素周期表中从22号元素钛(Ti)至83号元素铋(Bi)中的23个标准合金成分元素，辅助氦
X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍
除光电吸收外，入射光子还可与原子碰撞，在各个方向上发生散射。散射作用分为两种，即相干散射和非相干散射。 相干散射：当X射线照射到样品上时，X射线便与样品中的原子相互作用，带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多，原子核的振动可忽略不计，主要是原
X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍
当X射线穿过物质时，一方面受散射作用偏离原来的传播方向，另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收，散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。 当一单色X射线穿过均匀物体时，其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix，X射线的衰减符合指数衰减定律： 式中，μ为质量衰减系数；ρ为样
概述X射线荧光光谱仪X射线的产生
根据经典电磁理论，运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的X射线源便是利用这一原理产生的：利用被高压加速的电子轰击金属靶，电子被金属靶所减速，便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线，也包括了特征谱线。 1、连续谱线 连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受
X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍
相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关，可用于研究物质的结构。 其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品，测量衍射线的角度与强度，从而推断样品的结构，这就是X射线衍射结构分析（XRD）。 另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体
X荧光光谱仪三种X射线探测器的比较及应用
X荧光光谱仪是测定材料发光性能的基本设备。主要包括光源、激发单色器、样品池、荧光单色器及探测器等主要部件。而探测器是很重要的一环，它的重要作用是接受和分辨信号，由于探测器性能的不同，在选用探测器时，就需要综合考虑多种因素。 好的探测器不仅需要具有高分辨率和高计数率，还需要有较宽的元素分析范围
X－射线荧光光谱仪
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。图
关于X－射线荧光仪探测器的介绍
流（充）气正比计数器和闪烁计数器用于探测不同的元素，其中充气正比计数器一般是填充 Ar、Kr 等惰性气体；一定要注意此类计数器头部玻璃很容易破碎，不能碰撞；长期使用后，充气正比计数器头部容易吸附灰尘影响计数，应该定期清理。流气正比计数器是让探测器气体流动，一般是用1 μm~6 μm 厚的聚丙烯
X射线荧光分析中，如何调整探测器显示的能量范围
你看一下半导体探测器上面有没有能量范围旋钮，有的话就可以直接在上面调节。没有就要调节软件，打开分析软件，找到energy range或energy region，调节至0——100Kev即可。
X射线荧光光谱仪在选购时应该注意什么细节？
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，
X射线荧光光谱仪在选购时应该注意什么细节
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分
X射线荧光光谱仪X射线光管结构
常规X射线光管主要采用端窗和侧窗两种设计。普通X射线光管一般由真空玻璃管、阴极灯丝、阳极靶、铍窗以及聚焦栅极组成，并利用高压电缆与高压发生器相接，同时高功率光管还需要配有冷却系统。侧窗和端窗X射线光管结构如图6和图7所示。 当电流流经X射线光管灯丝线圈时，引起阴极灯丝发热发光，并向四周发射电子
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
教你如何识别X射线荧光光谱仪缩略术语
X射线X射线(Xray)是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现，故又称伦琴射线。其特性通常用能量(keV)或波长(nm)描述。λ(nm)=1.24E(keV)X射线是原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发射的光辐射，其波长很短约介于0.001~2
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
x射线荧光和x射线衍射的区别在于前者是对材料进行成份分析的仪器，而后者则主要是对材料进行微观结构分析以便确定其物理性状的设备。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
x射线荧光和x射线衍射的区别在于前者是对材料进行成份分析的仪器，而后者则主要是对材料进行微观结构分析以便确定其物理性状的设备。
X射线荧光光谱仪中的X射线原理科普
X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。x射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应。X射线初用于医学成像诊断和X射线结晶学。X射线也是游离辐射等这一类对人体有危害的
X射线荧光光谱仪X射线防护系统的故障分析
为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否，主要检查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统，面板是最外层的射线防护装置，如果有一块面板不到位，仪器就有射线泄漏的可能。因此，每块面板上都有位置接触传感器，面板没有完全合
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。