X射线荧光光谱仪指标信息
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。X射线荧光光谱仪指标信息：1.发射源是Rh靶X光管，zui大电流125mA，电压60kV，zui大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度<13pascals 3.5块分析晶体，可以分析元素周期表F～U之间所有元素，含量范围是ppm～100% 4.分析软件既可作半定量，也可定量分析。精密度：在计算率N=1483870时，RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03%......阅读全文
X射线荧光光谱仪原理的简介
X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。 X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。 XRF工作
XRF(X射线荧光光谱仪)选择宝典
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 该方法建议对来料先便携式（手持式）ROHS检测仪检测，能通过的就算合
X射线荧光光谱仪的发展历史
X射线荧光光谱仪的发展历史，最早可以追溯到1895年，德国物理学家威廉·康拉德·伦琴于这一年11月发现并识别出了X射线，因此，X射线在许多国家也被称之为伦琴射线。 随后在1909年，英国物理学家查尔斯·格洛弗·巴克拉发现了从样本中辐射出来的X射线与样品原子量之间的联系；四年之后，也即在1913
X射线荧光光谱仪的分类介绍
根据X射线荧光的产生原理，一台X射线荧光光谱仪在结构上主要由激发源、色散系统、探测系统等3部分组成。按照色散方式的不同，X射线荧光光谱仪可以分为2类：波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）和能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）。下面主要介绍波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）的仪器结构
X射线荧光光谱仪的使用原理
采用X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪）测量，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。 X射线荧光分析被广泛应用于元素和化学分析
X射线荧光光谱仪测量元素范围
X射线荧光光谱仪可以对各种样品的元素组成进行定量分析，包括压片、融珠、粉末液体、甚至是庞大的样品。它使用一种高功率X射线管达到了检测限低和测量时间短的效果。轻元素的zui佳检测也通过优激发、检测和真空模式的结合而实现所以成本低。 X射线荧光分析仪测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（
X射线荧光光谱仪（XRF）基本结构
现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成;X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。
X射线荧光光谱仪的测试步骤
X射线荧光分析是一种物理分析方法， X射线荧光光谱仪分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 X射线荧光光谱仪是由物质中的组成元素产生的特征辐射，通过侧里和分析样品产生的的产生与特性当用高能电子束照射样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这
X射线荧光光谱仪的工作原理
X射线荧光分析技术作为一种快速分析手段，为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的，检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径；相对于其他分析方法。 样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。 X射线荧光光谱仪的工作
X射线荧光光谱仪特点及应用
1.优点: 设备相对简单。 可以在大气中工作，灵敏度高。 2.缺点: X射线入射深度较大，因而当薄膜厚度在微米级以下时，常规射线技术在测定薄膜结构和成分信息时没有优势。 如:实验使用Cu靶X射线的波长约为0.15 nm，其在固体中的穿透厚度一般在100~10000 m之间，然而一般薄膜
X射线荧光光谱仪分光晶体简介
分光晶体是光谱仪的重要元件，应用了X射线的衍射特性，将样品发射的各元素的特征X射线荧光，按波长分开以便测量每条谱线。不同的晶体和同一晶体的不同晶面具有不同的色散率和分辨率。 由上式可以看出，晶体角色散率和所用晶体的晶面间距2d、衍射角θ及衍射级有关，即2d间距越小，角色散率越大；衍射角越大，角
X射线荧光光谱仪荧光光谱的相关介绍
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的 半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁
x射线荧光光谱测厚仪的技术指标介绍
1、同时可以分析30种以上元素，五层镀层。 2、分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同） 3、任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。 4、多变量非线性回收程序 适应范围为15℃至30℃。 5、电源: 交流220V±5V, 建
简述荧光光谱仪的指标信息
1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度
微－X－射线荧光－(µXRF)的基本信息介绍
微 X 射线荧光 (µXRF) 是一种元素分析技术，它允许检测非常小的样品区域。与传统的 XRF 仪器一样，微 X 射线荧光通过使用直接 X 射线激发来诱导来自样品的特性 X 射线荧光发射，以用于元素分析。与传统 XRF 不同（其典型空间分辨率的直径范围从几百微米到几毫米），µXRF 使用 X
X射线荧光探针仪的基本信息介绍
技术指标 微聚焦X光管最大功率40kV,1.0mA；试样上X光聚焦点直径300um,100um,40um；10x黑白，100x(200x)彩色CCD摄像头；样品室尺寸330x250x330mm；自动样品台行程100x100x100mm。 [1] 主要功能 探头指标高，性能好，寿命长。；全新
X射线荧光光谱仪的分析原理概括
X射线荧光光谱仪的分析原理概括X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元
波长色散型X射线荧光光谱仪简介
波长色散型X射线荧光光谱仪是一种用于化学、食品科学技术领域的分析仪器，于2008年12月23日启用。 1、技术指标 最大功率3.6KV；0～60KV间，1KV连续可调；高压发生器输出稳定度±0.0001％；12位自动进样器；下照式，六块晶体。 2、主要功能 能对样品中O～U之间的元素进行
X射线荧光光谱仪的广泛应用
X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手段之一，各种与X射线荧光光谱相关的分析技术，如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等，在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用。 X射线荧光光谱仪主要性能优势： 1.集合
X射线荧光光谱仪Epsilon－1_Panalytical
帕纳科Epsilon1是一台完全集成的台式XRF能谱仪，为多个行业量身定制解决方案，包含预校准的软件、验证样和样品杯等。现已发布下列五种解决方案：1. Epsilon1 - Surfur in fuels最便捷的燃油中硫的分析手段2. Epsilon1 - Additives in lubricat
分析X射线荧光光谱仪的产品特点
X射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
X射线荧光光谱仪的粒度效应介绍
在荧光强度的推导公式中，假设的样品都是均匀且表面光滑的。但是实际上只有液体样品或经过充分抛光的纯金属或某些合金样品才能满足这些条件。对于其他固体样品特别是粉末样品常常存在着样品不均匀及粒度效应和表面效应。 均匀样品，对于固体粉末样品来说是指粉末的粒度和化学组成完全相同的样品。实验表明这种样品在
浅谈X射线荧光光谱仪的物理原理
X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画
波长色散X射线荧光光谱仪相关介绍
X射线荧光光谱仪根据分光方式不同，可分为波长色散和能量色散X射线荧光光谱仪两大类；根据激发方式又可细分为偏振光、同位素源、同步辐射和粒子激发X射线荧光光谱仪；根据X射线的出射、入角还可有全反射、掠出入射X射线荧光光谱仪等。波长色散XRF光谱仪利用分光晶体的衍射来分离样品中的多色辐射，能量色散光谱仪则
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
X射线荧光光谱仪基本原理
XRF工作原理是X射线光管发出的初级X射线照射样品，样品中原子的内层电子被激发，当外层电子跃迁时产生特征X射线，通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X射线波长（或能量）和强度，可以获得样品中的元素组成与含量信息，达到定性定量分析的目的。 X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1
X射线荧光光谱仪的维护与保养
X射线荧光光谱仪属于大型分析测试仪器，对周围环境要求比较高。实验室内要保证恒温、恒湿，避免酸性气体存在；要保持清洁，避免震动；要保证电源稳定，并配有独立的地线。定期对X射线荧光光谱仪各组成部分，如高压X射线光管、检测晶体、探测器、真空系统等进行检查、维护和保养，保证仪器处于最佳的运行状态。
波长色散X射线荧光光谱仪的特点
它的工作原理是：试样受X射线照射后，元素的原子内壳层电子被激发，并产生壳层电子跃迁而发射出该元素的特征X射线，通过探测器测量元素特征X射线的波长（能量）的强度与浓度的比例关系，便可进行定量分析 波长色散X射线荧光光谱仪的特点是什么呢？ 1.可用于固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析 2
X射线荧光光谱仪分类的相关介绍
按照色散方式的不同，X射线荧光光谱仪可以分为2类：波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）和能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）。 能量色散型x射线光谱仪 现代应用X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手