电子探针分析方法
利用电子探针分析方法可以探知材料样品的化学组成以及各元素的重量百分数。分析前要根据试验目的制备样品，样品表面要清洁。用波谱仪分析样品时要求样品平整，否则会降低测得的X射线强度。 1 点分析用于测定样品上某个指定点的化学成分。下图是用能谱仪得到的某钢定点分析结果。能谱仪中的多道分析器可使样品中所有元素的特征X射线信号同时检测和显示。不像波谱仪那样要做全部谱扫描，甚至还要更换分光晶体。2 线分析用于测定某种元素沿给定直线分布的情况。方法是将X射线谱仪（波谱仪或能谱仪）固定在所要测量的某元素特征X射线信号（波长或能量）的位置上，把电子束沿着指定的方向做直线轨迹扫描，便可得到该元素沿直线特征X射线强度的变化，从而反映了该元素沿直线的浓度分布情况。改变谱仪的位置，便可得到另一元素的X射线强度分布。下图为50CrNiMo钢中夹杂Al2O3的线分析像。可见，在Al2O3夹杂存在的地方，Al的X射线峰较强。3 面分析用于测定某种元素的面分布情况......阅读全文
七大材料结构分析方法七——探针和扫描显微分析
所谓探针，就是探测固体表面信息的针。探针射向或接近固体表面某微区，所激发的某些物理信号携带该微区的结构信息。 常用仪器：电子探针X射线显微分析仪（EPA），俄歇电子能谱（AES），X射线光电子能谱仪（XPS），扫描隧道显微镜，原子力显微镜，飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）等 应用实例
扫描电子显微镜的发展简史
1932年，Knoll 提出了SEM可成像放大的概念，并在1935年制成了极其原始的模型。 1938年，德国的阿登纳制成了第一台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。由于不能获得高分辨率的样品表面电子像，SEM一直得不到发展，只能在电子探针X射线微分析仪中作为一种辅助的成像装置。此后，在许多科学家
遗传性牙龈纤维瘤病牙周正畸联合治疗病例报告2
1.5.2牙周手术治疗 牙周基础治疗后1个月，增生的牙龈组织未见明显消退，上颌后牙及下颌行牙龈成形术，去除增生的牙龈组织及大量的肉芽组织。上、下颌牙龈成形术前软组织情况及术后8周恢复情况见图3。 牙龈成形术后3个月4321123牙龈增生，波及龈缘、龈乳头、附着龈，上唇系带附丽低。局麻下对432112
带电粒子活化分析的发展应用
①对氢、氦、锂、铍、硼、碳、氮、氧和氟等在生命科学、材料科学、环境科学和地学研究中具有重要意义的轻元素，带电粒子活化分析有较高的分析灵敏度，因此，带电粒子活化分析在上述领域中的应用将日趋广泛。 ②带电粒子活化分析的一个新的应用领域是γ射线天文学。其内容之一是通过测定行星、小行星和月球等地外物质
扫描电镜在材料研究中的应用
扫描电子显微镜（SEM）自诞生之日起，它结合不同附件其可以应用在不同领域范围中。扫描电镜常见的应用场景包括了断裂失效分析、产品缺陷原因分析、镀层结构和厚度分析、涂料层次与厚度分析、材料表面磨损和腐蚀分析、耐火材料的结构与蚀损分析等等,结合钢铁材料的研究粗略列举如下：(1) 机械零部件失效分析,可根据
扫描电镜主要用于观察什么
观察纳米材料 所谓纳米材料就是指组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内，在保 扫描电镜持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。纳米材料具有许多与晶体、非晶态不同的、独特的物理化学性质。纳米材料有着广阔的发展前景，将成为未来材料研究的重点方向。扫描电镜的一个重要特点就是具有很高的分辨
扫描电子显微镜的主要应用介绍
扫描电子显微镜是一种多功能的仪器，具有很多优越的性能，是用途最为广泛的一种仪器，它可以进行如下基本分析： (1)三维形貌的观察和分析；(2)在观察形貌的同时，进行微区的成分分析。①观察纳米材料。所谓纳米材料就是指组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1～100 nm范围内，在保持表面洁净的条件下加压成型而得
扫描电镜的主要应用主要有哪些？
扫描电镜是一种多功能的仪器、具有很多优越的性能、是用途最为广泛的一种仪器．它可以进行如下基本分析： ①观察纳米材料，所谓纳米材料就是指组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内，在保持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。纳米材料具有许多与晶体、非晶态不同的、独特的物理化学性质。纳米材料
扫描电镜主要用于观察什么
观察纳米材料 所谓纳米材料就是指组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内,在保 扫描电镜持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料.纳米材料具有许多与晶体、非晶态不同的、独特的物理化学性质.纳米材料有着广阔的发展前景,将成为未来材料研究的重点方向.扫描电镜的一个重要特点就是具有很高
扫描电子显微镜的应用特点
扫描电子显微镜是一种多功能的仪器，具有很多优越的性能，是用途最为广泛的一种仪器，它可以进行如下基本分析： (1)三维形貌的观察和分析；(2)在观察形貌的同时，进行微区的成分分析。 ①观察纳米材料。所谓纳米材料就是指组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1～100 nm范围内，在保持表面洁净的条件下加压成型
大家做SEM扫描电镜用于哪些方面
扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到
扫描电镜主要用于观察
观察纳米材料 所谓纳米材料就是指组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内，在保 扫描电镜持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。纳米材料具有许多与晶体、非晶态不同的、独特的物理化学性质。纳米材料有着广阔的发展前景，将成为未来材料研究的重点方向。扫描电镜的一个重要特点就是具有很高的分辨
扫描电镜主要用于观察什么
观察纳米材料 所谓纳米材料就是指组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内，在保 扫描电镜持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。纳米材料具有许多与晶体、非晶态不同的、独特的物理化学性质。纳米材料有着广阔的发展前景，将成为未来材料研究的重点方向。扫描电镜的一个重要特点就是具有很高的分辨
扫描电镜具体能做什么？
扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是： ①有较高的放大倍数，20-200000倍之间连续可调； ②有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构； ③试样制备简
扫描电镜主要用于观察什么
观察纳米材料 所谓纳米材料就是指组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内，在保 扫描电镜持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。纳米材料具有许多与晶体、非晶态不同的、独特的物理化学性质。纳米材料有着广阔的发展前景，将成为未来材料研究的重点方向。扫描电镜的一个重要特点就是具有很高的分辨
扫描电镜主要用于观察什么
观察纳米材料 所谓纳米材料就是指组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内，在保 扫描电镜持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。纳米材料具有许多与晶体、非晶态不同的、独特的物理化学性质。纳米材料有着广阔的发展前景，将成为未来材料研究的重点方向。扫描电镜的一个重要特点就是具有很高的分辨
波谱仪相关
波谱仪是一种用于地球科学、材料科学、考古学领域的分析仪器，于2010年12月29日启用。 技术指标 分析范围：原子数(Z): 5-92；定量分析精度:主要元素>2%, 次要元素大于5%；加速电压0.2-30kv；二次电子成像分辨率1-5um；放大倍数50-300000,；电子束流：10-12
波长分散谱仪的简介和特点
简介 在电子探针中，X射线是由样品表面以下 m数量级的作用体积中激发出来的，如果这个体积中的样品是由多种元素组成，则可激发出各个相应元素的特征X射线。 被激发的特征X射线照射到连续转动的分光晶体上实现分光（色散），即不同波长的X射线将在各自满足布拉格方程的2 方向上被（与分光晶体以2:1的角
成分分析
成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方法；其中前三种分析方
扫描电子显微镜的研究与发展
1932年，Knoll 提出了SEM可成像放大的概念，并在1935年制成了极其原始的模型。1938年，德国的阿登纳制成了第一台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。由于不能获得高分辨率的样品表面电子像，SEM一直得不到发展，只能在电子探针X射线微分析仪中作为一种辅助的成像装置。此后，在许多科学家的努力下
扫描电子显微镜的研发历史
1932年，Knoll 提出了SEM可成像放大的概念，并在1935年制成了极其原始的模型。1938年，德国的阿登纳制成了第一台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。由于不能获得高分辨率的样品表面电子像，SEM一直得不到发展，只能在电子探针X射线微分析仪中作为一种辅助的成像装置。此后，在许多科学家的努力下
成分分析
成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方法；其中前三种分析
扫描电镜的发展简史的介绍
1932年，Knoll 提出了SEM可成像放大的概念，并在1935年制成了极其原始的模型。 1938年，德国的阿登纳制成了第一台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。由于不能获得高分辨率的样品表面电子像，SEM一直得不到发展，只能在电子探针X射线微分析仪中作为一种辅助的成像装置。此后，在许多科学家
关于扫描电子显微镜的发展简史
1932年，Knoll 提出了SEM可成像放大的概念，并在1935年制成了极其原始的模型。 1938年，德国的阿登纳制成了第一台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。由于不能获得高分辨率的样品表面电子像，SEM一直得不到发展，只能在电子探针X射线微分析仪中作为一种辅助的成像装置。此后，在许多科学家
扫描电子显微镜的发展简史
1932年，Knoll 提出了SEM可成像放大的概念，并在1935年制成了极其原始的模型。1938年，德国的阿登纳制成了第一台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。由于不能获得高分辨率的样品表面电子像，SEM一直得不到发展，只能在电子探针X射线微分析仪中作为一种辅助的成像装置。此后，在许多科学家的努力下
高分子领域常用的表征方法之电子显微镜（SEM）
电子显微镜是一种电子光学微观分析仪器，是将聚焦到很细的电子束打到试样上待测定的一个微小区域，产生不同的信息，加以收集、整理和分析，得出材料的微观形貌、结构和化学成分等有用的信息，如透射电镜（TEM）、扫描电镜（SEM）和电子探针分析（EPA）等。电子显微镜在分析研究高聚物时有以下应用：a.电镜可观察
扫描电子显微镜发展简史
1932年，Knoll 提出了SEM可成像放大的概念，并在1935年制成了极其原始的模型。1938年，德国的阿登纳制成了第一台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。由于不能获得高分辨率的样品表面电子像，SEM一直得不到发展，只能在电子探针X射线微分析仪中作为一种辅助的成像装置。此后，在许多科学家的努力下
扫描电子显微镜的发展历史
1932年，Knoll 提出了SEM可成像放大的概念，并在1935年制成了极其原始的模型。1938年，德国的阿登纳制成了第一台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。由于不能获得高分辨率的样品表面电子像，SEM一直得不到发展，只能在电子探针X射线微分析仪中作为一种辅助的成像装置。此后，在许多科学家的努力下
宁夏大学设备更新中标结果揭晓－3344万订单花落谁家？
宁夏大学教学科研仪器设备更新项目日前公布两项中标结果。在中标的设备中，包括了多种高端科研仪器，如核磁共振波谱仪、X射线精细结构谱仪、场发射电子探针显微镜、傅里叶变换红外光谱仪等，中标总金额为3344万元。具体中标情况：项目编号： NXSTZC-24111采购计划编号： 2024NCZ004956项目
定量分析中实验条件的选择
为了激发某元素的某一线系的特征X射线，入射电子的能量必须大于该元素此线系临界激发能。同时，为了能得到足够的X射线强度，入射电子束也要有足够的强度。一般应按如下几个基本考虑来选择实验条件。1)试样中产生X射线的区域应尽可能地小，以减小被分析区域内外部干扰，更好地发挥电子探针分析的微区化优势。2)为减小