X射线荧光光谱仪可以测哪些元素

一般从钠(11)~铀(92)之间的元素都可以测试(元素周期表上11~19号元素)......阅读全文

X射线荧光光谱仪可以测哪些元素

一般从钠(11)~铀(92)之间的元素都可以测试(元素周期表上11~19号元素)

X射线荧光光谱仪可以测哪些元素

一般从钠(11)~铀(92)之间的元素都可以测试(元素周期表上11~19号元素)

X射线荧光光谱仪测量元素范围

  X射线荧光光谱仪可以对各种样品的元素组成进行定量分析,包括压片、融珠、粉末液体、甚至是庞大的样品。它使用一种高功率X射线管达到了检测限低和测量时间短的效果。轻元素的zui佳检测也通过优激发、检测和真空模式的结合而实现所以成本低。  X射线荧光分析仪测量元素范围:原子序数为9~92[氟(F)到铀(

X射线荧光光谱仪用来测什么的?

  X荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。其原理就是:X射线管通过产生入射X射线(一次X射线),来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光),并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或

X射线荧光光谱仪X射线防护系统出现故障可以怎么样解决

 X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱仪产品,可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分

ICP做元素分析,可以测哪些元素

ICP根据检测器的不同分为ICP-OES(电感耦合等离子发射光谱仪,古代人也称ICP-AES)和ICP-MS(电感耦合等离子质谱仪)。两者能测元素周期表中的绝大部分元素,两者之间能测得元素稍有差异,检出能力上后者要比前者高,当然价格上也贵很多,不过一般来说ICP-OES也就够用了。ICP测试一般要对

ICP做元素分析,可以测哪些元素

ICP元素测试:电感耦合等离子发射光谱仪(ICP) 是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的仪器。ICP主要应用于 无机元素的定性及定量分析 。 ICP-OES可同时测定元素周期表中多数元素(金属元素及磷、硅、砷、硼等非金属元素),且均有较好的检出限。检测器线性范围

ICP做元素分析,可以测哪些元素

ICP根据检测器的不同分为ICP-OES(电感耦合等离子发射光谱仪,古代人也称ICP-AES)和ICP-MS(电感耦合等离子质谱仪)。两者能测元素周期表中的绝大部分元素,两者之间能测得元素稍有差异,检出能力上后者要比前者高,当然价格上也贵很多,不过一般来说ICP-OES也就够用了。ICP测试一般要对

ICP做元素分析,可以测哪些元素

ICP根据检测器的不同分为ICP-OES(电感耦合等离子发射光谱仪,古代人也称ICP-AES)和ICP-MS(电感耦合等离子质谱仪)。两者能测元素周期表中的绝大部分元素,两者之间能测得元素稍有差异,检出能力上后者要比前者高,当然价格上也贵很多,不过一般来说ICP-OES也就够用了。ICP测试一般要对

ICP做元素分析,可以测哪些元素

ICP元素测试:电感耦合等离子发射光谱仪(ICP) 是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的仪器。ICP主要应用于 无机元素的定性及定量分析 。 ICP-OES可同时测定元素周期表中多数元素(金属元素及磷、硅、砷、硼等非金属元素),且均有较好的检出限。检测器线性范围

ICP做元素分析,可以测哪些元素

ICP元素测试:电感耦合等离子发射光谱仪(ICP) 是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的仪器。ICP主要应用于 无机元素的定性及定量分析 。 ICP-OES可同时测定元素周期表中多数元素(金属元素及磷、硅、砷、硼等非金属元素),且均有较好的检出限。检测器线性范围

ICP做元素分析,可以测哪些元素

ICP元素测试:电感耦合等离子发射光谱仪(ICP) 是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的仪器。ICP主要应用于 无机元素的定性及定量分析 。 ICP-OES可同时测定元素周期表中多数元素(金属元素及磷、硅、砷、硼等非金属元素),且均有较好的检出限。检测器线性范围

X射线荧光光谱仪检测金属元素的介绍

  当使用X射线光照样品时,样品可以被激发出各种波长的荧光X射线,把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,就可以进行定性和定量分析,为此使用的仪器为X射线荧光光谱仪(以下简称XRF)。  实验室如何利用XRF这种较为成熟的分析技术检测固体样品中的金属元素?微源实

波长色散X射线荧光光谱仪快速定量元素分析

低原子序数性能、Mapping分析和多点分析 提供的性能和灵活性用来分析复杂样品,结合了较为先进的Mapping分析包来检测均质性和夹杂物,ZSX Primus中具有一个30μm的X射线管(工业中薄端窗的X射线管),用于特殊轻元素(低原子序数)检出限。ZSX Primus简单地提供了其他分析方法无法

X-射线荧光光谱仪

用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。图

X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍

  当X射线穿过物质时,一方面受散射作用偏离原来的传播方向,另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收,散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。  当一单色X射线穿过均匀物体时,其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix,X射线的衰减符合指数衰减定律:  式中,μ为质量衰减系数;ρ为样

X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍

  相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关,可用于研究物质的结构。  其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品,测量衍射线的角度与强度,从而推断样品的结构,这就是X射线衍射结构分析(XRD)。  另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体

X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍

  除光电吸收外,入射光子还可与原子碰撞,在各个方向上发生散射。散射作用分为两种,即相干散射和非相干散射。  相干散射:当X射线照射到样品上时,X射线便与样品中的原子相互作用,带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多,原子核的振动可忽略不计,主要是原

X射线荧光光谱仪X射线光管结构

  常规X射线光管主要采用端窗和侧窗两种设计。普通X射线光管一般由真空玻璃管、阴极灯丝、阳极靶、铍窗以及聚焦栅极组成,并利用高压电缆与高压发生器相接,同时高功率光管还需要配有冷却系统。侧窗和端窗X射线光管结构如图6和图7所示。  当电流流经X射线光管灯丝线圈时,引起阴极灯丝发热发光,并向四周发射电子

概述X射线荧光光谱仪X射线的产生

  根据经典电磁理论,运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的X射线源便是利用这一原理产生的:利用被高压加速的电子轰击金属靶,电子被金属靶所减速,便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线,也包括了特征谱线。  1、连续谱线  连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受

基于X射线荧光的指纹元素成像

中国科学院高能物理研究所王萌研究员  中国科学院高能物理研究所王萌研究员发表主题为“基于X射线荧光的指纹元素成像”的精彩报告。指纹中化学元素可为科学研究和应用提供丰富信息。应用同步辐射X射线荧光仪可分析指纹元素,生成元素成像图。课题组分析了在不同基底上的防晒霜指纹,得到了钛和锌的指纹成像图以及元素比

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高,对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2~3数量级,灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。

X射线荧光光谱仪的产品原理有哪些?

X射线荧光光谱仪的产品原理有哪些?X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被

X射线荧光光谱仪简介

  X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水

X射线荧光光谱仪结构

该系统由X射线发生器、光谱仪主体部分、电气部分及系统控制器、计算机部分组成。3.1 X射线发生器 X射线发生器由高压变压器及管流管压控制单元、X射线管、热交换器。 3.1.1高压变压器及管流管压控制单元 产生高稳定的高压加到X射线管上用以产生X射线。这里利用高电压加速的高速电子轰击X射线管金属靶面产

X射线荧光光谱仪概述

  X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水

x射线荧光光谱仪简介

  x射线荧光光谱仪提供了一种最简单,最准确,最经济的分析方法,可用于确定多种类型材料的化学成分。它是无损且可靠的,不需要或只需很少的样品制备,适用于固体,液体和粉末状样品。它可以用于从钠到铀的多种元素,并提供亚ppm级以下的检测限;它也可以轻松,同时地测量高达100%的浓度。

X射线荧光光谱仪优点

X射线荧光光谱仪优点:1)可在一台仪器上可实现扫描式X射线波长色散分析、X射线能量色散分析、X-射线聚焦微小区域分析、游离氧化钙X射线衍射分析。2)波长色散通道(波谱核)和能量色散通道(能谱核)可同时分别得到Be- Am 和Na-Am 所有元素的光谱数据和定量分析结果。3)软件可以得到上述各种分析技

X射线荧光光谱仪(XRF)

原理:用一束X射线或低能光线照射样品材料,致使样品发射二次特征X射线,也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的,样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类,根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种,前者测量精密度好

X射线荧光光谱仪(XRF)

  自1895年伦琴发现X射线以来,X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中,1910年特征X射线光谱的发现,为X射线光谱学的建立奠定了基础;20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世,使得X射线光谱学技术进入了实用阶段;60年代能量色散型X射线光谱仪的出现,促进了X射线光谱学仪器的迅