SEM与TEM带的EDAX的分辨率是多少
1.做TEM测试时样品的厚度最厚是多少 ?TEM的样品厚度最好小于100nm，太厚了电子束不易透过，分析效果不好。2.请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在SEM图片上有各有什么明显的特征？在SEM图片中，沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展开，且晶粒晶界明显；穿晶断裂则是裂纹在晶粒中展开，晶粒晶界都较模糊。3.做TEM测试时样品有什么要求？很简单，只要不含水分就行。如果样品为溶液，则样品需要滴在一定的基板上（如玻璃），然后干燥，再喷碳就可以了。如果样品本身导电就无需喷碳。4.水溶液中的纳米粒子如何做TEM？透射电镜样品必须在高真空中下检测，水溶液中的纳米粒子不能直接测。一般用一个微栅或铜网，把样品捞起来，然后放在样品预抽器中，烘干即可放入电镜里面测试。如果样品的尺寸很小，只有几个纳米，选用无孔的碳膜来捞样品即可。5.粉末状样品怎么做TEM？扫描电镜测试中粉末样品的制备多采用双面胶干法制样，和选用合适的溶液超声波湿法制样。分散剂在扫......阅读全文
EDS，EDX，EDAX，各是什么东西
EDX:Energy Dispersive X-Ray Fluoresence Spectrometer（能量色散X射线荧光光谱仪）;EDS:Energy Dispersive Spectrometer（能量色散谱仪）;EDAX:美国一家生产EDX和EDS的厂家，目前归Ametek所有。
EDS，EDX，EDAX，各是什么东西
EDX:Energy Dispersive X-Ray Fluoresence Spectrometer（能量色散X射线荧光光谱仪）;EDS:Energy Dispersive Spectrometer（能量色散谱仪）;EDAX:美国一家生产EDX和EDS的厂家，目前归Ametek所有。
美国EDAX上海4月EBSD培训班圆满结束
美国EDAX公司是国际知名的微观分析产品生产商，在能量色散X-射线能谱分析(EDS)、电子背散射衍射(EBSD)和微束X-射线荧光分析(μ- XRF)领域拥有全球领先的技术，一直为半导体、金属、地质、医药、生物、材料和陶瓷等市场的一流企业提供产品和服务。 2012年4月10日至13日，
SEM与TEM带的EDAX的分辨率是多少
1.做TEM测试时样品的厚度最厚是多少 ?TEM的样品厚度最好小于100nm，太厚了电子束不易透过，分析效果不好。2.请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在SEM图片上有各有什么明显的特征？在SEM图片中，沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展开，且晶粒晶界明显；穿晶断裂则是裂纹在晶粒中展开，晶粒晶界都较
SEM与TEM带的EDAX的分辨率是多少
1.做TEM测试时样品的厚度最厚是多少 ?TEM的样品厚度最好小于100nm，太厚了电子束不易透过，分析效果不好。2.请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在SEM图片上有各有什么明显的特征？在SEM图片中，沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展开，且晶粒晶界明显；穿晶断裂则是裂纹在晶粒中展开，晶粒晶界都较
SEM与TEM带的EDAX的分辨率是多少
1.做TEM测试时样品的厚度最厚是多少 ?TEM的样品厚度最好小于100nm，太厚了电子束不易透过，分析效果不好。2.请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在SEM图片上有各有什么明显的特征？在SEM图片中，沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展开，且晶粒晶界明显；穿晶断裂则是裂纹在晶粒中展开，晶粒晶界都较
X射线能谱(EDAX)分析无碱玻璃表面侵蚀层的实验条件
用EDAX结合扫描电镜（SEM）分析了无碱MgO-ZnO-Al2O3-ZrO2-SiO2玻璃碱侵蚀过程中表面层成分的变化,研究了各种实验条件（如激发电压、计数时间,配合指数等）的影响,并测定了侵蚀层厚度。结果表明激发电压时分析结果有重大影响,而计数时间与配合指数与分析结果关系不大。在低的激发电压下取
EDS和EBSD一体化产品：TEAM－PEGASUS系统
国际微观分析仪器领导厂商EDAX公司，于2012年3月发布了最新的微观分析产品TEAMTM PEGASUS系统。该产品集成了EDAX公司世界一流的能谱仪(EDS)和电子背散射衍射(EBSD)的硬件系统和EDAX公司广受欢迎的最先进的TEAMTM 软件系统，是EDAX公司下一代智
识别X射线能谱重叠峰的一种方法
本文提出了一种利用EDAX PV9900能谱仪半定量分析（SUPQ）中的峰背拟合（INTE）功能来正确识别X射线能谱重叠峰的可行方法,并以Ag-SnO2-In2O3合金材料为试样给出了几则应用实例和相应的实验结果。初步研究表明,该方法结合定性分析（EDAX）中的谱线识别（ID）功能可正确识别两峰能量
EDX是什么仪器
EDX:Energy Dispersive X-Ray Fluoresence Spectrometer（能量色散X射线荧光光谱仪）;EDS:Energy Dispersive Spectrometer（能量色散谱仪）;EDAX:美国一家生产EDX和EDS的厂家，目前归Ametek所有。
正确识别射线能谱重叠峰的一种方法
本文提出了一种用EDAX PV9900能谱仪半定量分析(SUPQ)中的峰背拟合(INTE)功能来正确识别X射线能谱重叠峰的新方法。文章重点总介绍了该方法的基本原理和应用实例分析,给出了相应的实验结果。
用扫描电镜和x射线能谱研究大气中气溶胶颗粒的特性
气溶胶是大气环境的重要组成部分,其成分比较复杂,并随来源的不同而异,而对人体健康的影响则决定于其粒度,结构和组成。本文提供了一种以玻璃态石墨为衬底,对气溶胶颗粒直接进行扫描电镜观察(JSM—35C型)和X射线能谱分析(EDAX—9100型)的方法。通过对承德地区气溶胶颗粒的观察和分析,发现小于1μm
给水管道腐蚀管垢的特征分析
使用扫描电镜（SEM）、X射线能谱分析（EDAX）和X射线衍射分析（XRD）对给水管网中灰口铸铁管和焊接钢管上的管内壁腐蚀管垢进行外观特征、微观形态、化学元素组成和化合物构成等物理化学特征分析。发现管垢外部平滑而致密,内部为疏松多孔结构。铁是管垢最重要的化学组成,管垢基本上由各种含铁的化合物组成。焊
清华大学仪器共享平台FEI－场发射扫描电镜
仪器名称：场发射扫描电镜仪器编号：05002783产地：荷兰生产厂家：FEI型号：Sirion200出厂日期：200403购置日期：200502所属单位：物理系>纳米中心>纳米中心测试平台放置地点：纳米楼电镜室固定电话：固定手机：固定email：联系人：顾小华（010-62792435,136830
清华大学仪器共享平台FEI－透射电子显微镜
仪器名称：透射电子显微镜仪器编号：05002782产地：荷兰生产厂家：FEI型号：TecnaiTF20出厂日期：200403购置日期：200502所属单位：物理系>纳米中心>纳米中心测试平台放置地点：纳米楼电镜室固定电话：固定手机：固定email：联系人：顾小华（010-62792435,13683
Grabner仪器公司参展第十四届BCEIA2011
亲爱的用户： 第十四届北京分析测试学术报告会既展览会(BCEIA 2011)即将于10月12-15日在北京召开。美国阿美特克旗下子公司Grabner Instruments，Spectro Instruments，CAMECA，EDAX，Solartron Instruments将携手
X射线能谱数据处理
本文提出运用FFT,对双路实测能谱信息在变换域中加以滤波修正,同时完成平滑及背底扣除。文中剖析了EDAX-7EMZL程序,并与诸元素特征峰及背底的谱分析相比较,获取滤波修正频窗。文中编制了双路能谱同时作滤波修正程序。试验表明:此法实现了数据压缩及零相位校正,增快了滤波速度,减小了相位滞移量,提高了分
MgOZnOAl2O3ZrO2SiO2玻璃碱侵蚀过程的X射线能谱
用扫描电镜（SEM）和X射线能谱（EDAX）研究了MgO-ZnO-Al2O3-ZrO2-SiO2玻璃在5%NaOH溶液中的侵蚀过程。分析了表面侵蚀层的成分,观察了不同阶段的侵蚀层形貌,并测量了侵蚀层厚度的变化。结果表明,玻璃的碱侵蚀以各组分（SiO2、ZnO、MgO）选择性地溶解交替的方式进行,Zr
簿膜X射线能谱定量分析准确度的探讨
本文通过在EM400T透射电镜上用一些标准成分的样品进行薄膜无标样成份分析实验,检验了EDAX9100能谱仪的分析准确度。在本试验所用的样品范围内,其准确度为:近邻元素同一X光线系分析相对误差为5～10％,非近邻元素不同线系分析相时误差较大,可达20～50％。试验证明在分析元素的质量吸收系数之差Δμ
用X射线能谱(TEM)分析晶界偏析的方法
本文利用EM400T透射电子显微镜和EDAX9100能谱仪研究微量元素在晶界的偏聚。通过本文采用的电子束直径小到40A的微探针,低背底样品台,沿晶界拉长束斑,分段积分等措施,明显地提高了分析灵敏度。用这种方法测量了含磷820ppm的Si-Mn高强度钢和含镁94ppm的GH169高温合金中P和Mg的晶
在美国分析化学仪器展览会上的X射线能谱仪
1984年3月5日至9日在美国大西洋城(Atlantic City)召开了有关分析化学的匹兹堡会议和展览会(Pittsburgh Conference and Exposition)。当时笔者正在美国,有机会参观了该展览会,着重观看了和电子显微镜配接的X射线能谱仪。会上展出了TN 5500、KEVE
2013年度北京市电子显微学年会隆重召开
2013年12月24日， 2013年度北京市电子显微学年会（电镜年会）在北京天文馆隆重召开，年会由北京市电镜学会和北京理化分析测试技术学会主办。本次会议以推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、
第九届纳博会新设分析检测应用论坛来的都是全球TOP公司
2018第九届中国纳博会将于10月24-26日在苏州工业园区盛大召开，“分析与检测”是其重要的展览范围，同期还将举办“分析检测应用论坛”。 据了解，此次“分析检测应用论坛”由中科院苏州纳米所测试分析平台和胜科纳米（苏州）有限公司联合主办，旨在促进高精尖仪器在纳米技术和芯片领域分析检测的应用，解
清华大学仪器共享平台日本高科－透射电子显微镜
仪器名称：透射电子显微镜仪器编号：12027384产地：日本生产厂家：日本高科型号：HT7700出厂日期：201205购置日期：201212所属单位：化学系>分析中心>北京电子能谱中心放置地点：理科楼D120固定电话：固定手机：固定email：联系人：郭冲（010-62783586,18210032
清华大学仪器共享平台透射电子显微镜
仪器名称：透射电子显微镜仪器编号：12027384产地：日本生产厂家：日本高科型号：HT7700出厂日期：201205购置日期：201212所属单位：化学系>分析中心>北京电子能谱中心放置地点：理科楼D120固定电话：固定手机：固定email：联系人：郭冲（010-62783586,18210032
透射电镜的相关知识
透射电镜的相关知识 19世纪电磁学得到了空前的发展，与此同时，电气照明引起了人们浓厚的兴趣。在低压气体放电方面，人们发现其放电时出现一种奇特的现象-阴极射线，在人们围绕其波动还是粒子本性争论时，1898年，J.J. Thomason 用磁场偏转法等一系列实验证明其是带电的粒子，这标志着电子的
能谱分析
主要包括X射线光电子能谱XPS和俄歇电子能谱法AES（1）X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射线光电子能谱(XPS )就是用X射线照射样品表面，使其原子或分子的电子受激而发射出来，测量这些光电子的能量分布，从而获得所需的信息。随着微电子技
材料能谱分析
主要包括X射线光电子能谱XPS和俄歇电子能谱法AES（1）X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射线光电子能谱(XPS )就是用X射线照射样品表面，使其原子或分子的电子受激而发射出来，测量这些光电子的能量分布，从而获得所需的信息。随着
纳博会检测、分析、研讨，－－怎么能少的了您的身影？
纳博会检测、分析、研讨，怎么能少的了您的身影？ 遥想纳博当年，大会初办了，群情激昂！小纳清晰的记得，2018年第九届纳博会，同期举办的第一届“纳博会分析测试应用研讨会”，得到了Thermo fisher、Bruker、牛津仪器、leical、日立、Zeiss、Tescan、PHI、EDAX等众多知名
2010年北京电镜年会日程安排公布
为推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流，一年一度的新老朋友相互聚会的“2010年度北京市电子显微学年会” 将于2011年1月17日(星期一)，在北京西直门外大街138号，北京天文馆B楼二层4D科普剧场(北京动物园斜对面