怎样分析XRD图？
XRD图中有很多信息，如组成（物相）和结构、粒度、应力、结晶度等，其分析方法各不相同。比如，若是做物相分析，样品是已知物质的，你只要将XRD图谱与标准图进行比对就可以大致判断，一般设备中都会提供已知物数据库，供调用比对，做到这一点，外行也可以很快入门，是最简单的分析了；当然杂相分析就需要一定的经验了，不是一两句话就能说清楚的。若是做的未知物（新物相），则必须做纯，再用相应软件如PowderX等来处理，也有一定的技巧。总之，XRD分析是一门专业性较强的技术，需要投入时间和精力才能学会的，不是通过这样的求助能解决的。......阅读全文
怎样分析XRD图？
XRD图中有很多信息，如组成（物相）和结构、粒度、应力、结晶度等，其分析方法各不相同。比如，若是做物相分析，样品是已知物质的，你只要将XRD图谱与标准图进行比对就可以大致判断，一般设备中都会提供已知物数据库，供调用比对，做到这一点，外行也可以很快入门，是最简单的分析了；当然杂相分析就需要一定的经验了
怎样分析XRD图
XRD图中有很多信息，如组成（物相）和结构、粒度、应力、结晶度等，其分析方法各不相同。比如，若是做物相分析，样品是已知物质的，你只要将XRD图谱与标准图进行比对就可以大致判断，一般设备中都会提供已知物数据库，供调用比对，做到这一点，外行也可以很快入门，是最简单的分析了；当然杂相分析就需要一定的经验了
XRD、EDX图坐标名称
XRD中横坐标是x射线的入射角度的两倍，纵坐标就是衍射后的强度；EDX中横坐标是能量（KeV），纵坐标X射线的强度。
XRD谱图峰窄宽代表什么意思
峰高：对多晶来说，峰高由同方向排列的晶面分布数量(texture)决定，即：若所有晶粒为同方向排列，则此时各个晶面的峰高要大于无规律排列的晶粒。而同一图谱中不同峰高则是由每个峰对应的晶面数量决定。峰宽：一般分析最多的数值是FWHM(半峰全宽). 峰宽受很多因素影响：从仪器角度说，因素为所用X射线的波
XRD谱图峰窄宽代表什么意思
峰高：对多晶来说，峰高由同方向排列的晶面分布数量(texture)决定，即：若所有晶粒为同方向排列，则此时各个晶面的峰高要大于无规律排列的晶粒。而同一图谱中不同峰高则是由每个峰对应的晶面数量决定。峰宽：一般分析最多的数值是FWHM(半峰全宽). 峰宽受很多因素影响：从仪器角度说，因素为所用X射线的波
XRD谱图峰窄宽代表什么意思
XRD图谱峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。峰窄说明晶粒大，可以用谢乐公式算晶粒尺寸。XRD图谱峰高如果是相对背地强度高，表示晶相含量高，跟面积表示晶相含量一致。XRD图谱峰高如果是A峰相对B峰高很多，两峰的高度比“A／C”相对标准粉末衍射图对应峰的高度比要大很多，那么这个材料是A方向择
XRD谱图峰窄宽代表什么意思
峰高：对多晶来说，峰高由同方向排列的晶面分布数量(texture)决定，即：若所有晶粒为同方向排列，则此时各个晶面的峰高要大于无规律排列的晶粒。而同一图谱中不同峰高则是由每个峰对应的晶面数量决定。峰宽：一般分析最多的数值是FWHM(半峰全宽). 峰宽受很多因素影响：从仪器角度说，因素为所用X射线的波
XRD谱图峰窄宽代表什么意思
峰高：对多晶来说，峰高由同方向排列的晶面分布数量(texture)决定，即：若所有晶粒为同方向排列，则此时各个晶面的峰高要大于无规律排列的晶粒。而同一图谱中不同峰高则是由每个峰对应的晶面数量决定。峰宽：一般分析最多的数值是FWHM(半峰全宽). 峰宽受很多因素影响：从仪器角度说，因素为所用X射线的波
XRD谱图无出峰，是什么原因
这个不能确定是不是非晶态。一方面要看你图像的分辨率。利用谢乐公式算一下现在这个峰对应晶粒的大小。另一方面你要看一下你的样品是不是对X射线有很强的吸收。如果都被吸收了，可能需要您再去侧一下吸收光谱。
XRD谱图峰窄宽代表什么意思
峰高：对多晶来说，峰高由同方向排列的晶面分布数量(texture)决定，即：若所有晶粒为同方向排列，则此时各个晶面的峰高要大于无规律排列的晶粒。而同一图谱中不同峰高则是由每个峰对应的晶面数量决定。峰宽：一般分析最多的数值是FWHM(半峰全宽). 峰宽受很多因素影响：从仪器角度说，因素为所用X射线的波
XRD谱图峰窄宽代表什么意思
XRD图谱峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。峰窄说明晶粒大，可以用谢乐公式算晶粒尺寸。XRD图谱峰高如果是相对背地强度高，表示晶相含量高，跟面积表示晶相含量一致。XRD图谱峰高如果是A峰相对B峰高很多，两峰的高度比“A／C”相对标准粉末衍射图对应峰的高度比要大很多，那么这个材料是A方向择
怎么用origin得知XRD图的半峰宽
XRD数据改成txt文件之后编辑：只取数据部分，把数据放EXCEL中有两列取第二列——即y轴数据，复制到一个txt文件中。接下来操作如下：第1行：空第2行：10 0.02 10 80 3501（各参数说明：10-XRD扫描起始点，0.02-扫描步长，10-一分钟扫描长度，80-XRD扫描终点，350
XRD谱图峰窄宽代表什么意思
峰高：对多晶来说，峰高由同方向排列的晶面分布数量(texture)决定，即：若所有晶粒为同方向排列，则此时各个晶面的峰高要大于无规律排列的晶粒。而同一图谱中不同峰高则是由每个峰对应的晶面数量决定。峰宽：一般分析最多的数值是FWHM(半峰全宽). 峰宽受很多因素影响：从仪器角度说，因素为所用X射线的波
XRD谱图峰窄宽代表什么意思
峰高：对多晶来说，峰高由同方向排列的晶面分布数量(texture)决定，即：若所有晶粒为同方向排列，则此时各个晶面的峰高要大于无规律排列的晶粒。而同一图谱中不同峰高则是由每个峰对应的晶面数量决定。峰宽：一般分析最多的数值是FWHM(半峰全宽). 峰宽受很多因素影响：从仪器角度说，因素为所用X射线的波
怎么分析通过XRD测结晶度的谱图
分析方法：已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。当X
怎么分析通过XRD测结晶度的谱图
分析方法：已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。当X
怎么分析通过XRD测结晶度的谱图
分析方法：已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。当X
怎么分析通过XRD测结晶度的谱图
分析方法：已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。当X
怎么分析通过XRD测结晶度的谱图
分析方法：已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。当X
怎么分析通过XRD测结晶度的谱图
分析方法：已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。当X
怎么分析通过XRD测结晶度的谱图
分析方法：已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。当X
怎么分析通过XRD测结晶度的谱图
分析方法：已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。当X
广角XRD和小角XRD的区别
XRD是X射线衍射仪的简称。其基本原理是:当X射线照射所测物质（晶体），相应晶面会产生衍射强度。随着发射X射线的转轴移动，不同角度的不同晶面会被完全扫描出来。从而根据布拉格方程2d sinθ=nλ，呈现出图谱。广角XRD一般指3°~80°，甚至是更高的度数，一般用来判断某种材料的物相，即是什么物质。
二氧化硅的红外光谱和XRD谱图的解析
波数：3441.90 cm-1处出现的较宽的吸收峰，对应于-OH基的反对称伸缩振动和对称伸缩振动。1629.68(HOH).1103.05(SiO) cm-1处出现的强吸收谱带归属于Si-O-Si的反对称伸缩振动吸收。970.27(??????), 因为此区域处于指纹区，此峰不必归属；何况还可能存在
xrd原理
XRD的基本原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。需知：1、晶态
XRD原理
X射线荧光衍射：利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空
XRD－原理
X射线荧光衍射：利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空
xrd原理
XRD的基本原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
XRD原理
X射线荧光衍射：利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空
XRD－原理
X射线荧光衍射：利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空