X射线管常见故障分析
故障一 ：旋转阳极转子的故障 （1）现象 ① 电路正常，但转速明显下降；静转时间短；曝光时阳极不转动 ；② 曝光时，管电流剧增，电源保险丝熔断 ；阳极靶面某点被熔化。 （2）分析 长期工作后导致轴承磨损变形及间隙改变，固体润滑剂分子结构也会改变。 故障二 ：X 射线管阳极靶面损坏 （1）现象 ① X 射线输出量显著下降，X 射线胶片感光度不足 ；② 由于阳极金属被高温蒸发，可见玻璃壁镀有薄薄的金属层 ；③ 通过放大镜，可见靶面有龟裂、裂纹及熔蚀等现象 ；④ 焦点严重熔化时溅落的金属钨可能使 X 射线管爆裂损坏。 （2）分析 ① 过负荷使用。有两种可能 ：一种是过载保护电路失灵使一次曝光过载 ；另一种是多次曝光，造成累积性过载而熔化蒸发 ；② 旋转阳极 X 射线管转子卡死或启动保护电路出现故障，在阳极不转动或转速过低的情况下曝光，导致阳极靶面瞬间熔化蒸发 ；③ 散热不良。如散热体与阳极铜体接触不够紧密或油垢过......阅读全文
关于XFR的X射线管的基本介绍
利用高速电子撞击金属靶面产生 X射线的真空电子器件。按照产生电子的方式,X射线管可分为充气管和真空管两类。 充气X射线管是早期的X射线管。1895年，W.C.伦琴在进行克鲁克斯管实验时发现了 X射线。克鲁克斯管就是最早的充气X射线管。这种管接通高压后,管内气体电离，在正离子轰击下，电子从阴极逸
关于X射线管的基本信息介绍
利用高速电子撞击金属靶面产生 X射线的真空电子器件。按照产生电子的方式,X射线管可分为充气管和真空管两类。 充气X射线管是早期的X射线管。1895年，W.C.伦琴在进行克鲁克斯管实验时发现了 X射线。克鲁克斯管就是最早的充气X射线管。这种管接通高压后,管内气体电离，在正离子轰击下，电子从阴极逸
如果改变x射线管的电压和电流
X射线谱2113，波长大致介于700～0.1埃范围内的电磁辐射，X射线谱由连续谱和标识谱两部分组成，标识谱重叠在连续谱背景上5261，连续谱是由于高速电子受靶极阻挡而产生的轫致辐射，其短波极限λ由加速电压V决定：λ 0 = hc /( ev )为普朗克常数，e为电子电量，c为真空中的光速。标识谱是由
关于X射线管的基本分类介绍
按照产生电子的方式 ,X 射线管可分为充气管和真空管两类。 根据密封材质不同，可分为玻璃管、陶瓷管和金属陶瓷管。 根据用途不同，可分为医疗 X 射线管和工业 X 射线管。 根据密封方式不同，可分为开放式 X 射线管和密闭式 X 射线管。开放式 X 射线管在使用过程中需要不断抽真空。密闭式
简述X射线管的基本原理
X 射线管包含有阳极和阴极两个电极，分别用于用于接受电子轰击的靶材和发射电子的灯丝。两极均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。X 射线管供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。当钨丝通过足够的电流使其产生电子云，且有足够的电压（千伏等级）加在阳极和阴极间，使得
X射线管激发X荧光光谱连续本底扣除方法研究
X射线管是目前X射线荧光光谱分析中最常采用的激发源,它所产生的原级谱成为了X荧光光谱中本底成分的主要来源,在对这种光谱进行进一步的分析处理之前需要对其本底进行扣除,对本底估计的准确性直接影响后续处理步骤的效果。对射线管激发X荧光光谱的成分进行了分析,针对其本底特点构造了一种本底强度的估计方法,并根据
影响X射线管寿命的因素与保养方法
温度因素： 温度是影响X射线管寿命的重要因素。X射线管在使用过程中会产生大量的热量。为使产品稳定工作，阳极应加散热装置，确保阳极温度不超过55℃，必要时可采用风冷冷却。建议客户使用温度传感器控制温度。 环境因素： 环境温度5-30℃，空气相对湿度小于80%。 保管与存放： 产品存放环境
X射线管结构和各部分作用
X射线管构成：阴极：灯丝：发射电子。阴极头：灯丝支座，聚焦电子。阳极：靶，遏制电子，发出X射线。阳极体：支承靶，传递靶热量。按照产生电子的方式，X射线管可分为充气管和真空管两类。根据密封材质不同，可分为玻璃管、陶瓷管和金属陶瓷管。根据用途不同，可分为医疗X射线管和工业X射线管。根据密封方式不同，可分
掠射X射线望远镜的简介
一种使天体X辐射成像的仪器。X射线很易被介质吸收﹐且在介质中其折射率近于1。这表明﹐折射系统不可能用在X射线波段﹐而X射线在非常倾斜的掠射角下将产生全反射。掠射 X射线望远镜就是利用这种全反射原理设计而成的。1952年﹐沃尔特首先建议利用X射线掠射的全反射现象来进行光学聚焦﹐使用两个同轴共焦旋转
掠射X射线望远镜的分类
X射线望远镜光学系统一般采用沃尔特Ⅰ型──抛物面焦点与双曲面的后焦点重合的同轴光学系统。其焦平面通过双曲面的前焦点。按照制作工艺来划分,X射线望远镜的研制已经历三代。第一代镜面是铝制的,效率为1％，1963年用这种望远镜拍摄到分辨率为几角分的照片,可看出太阳上存在着X射线发射区。第二代镜面是在光
单波长能量色散X射线荧光分析技术
单波长能量色散X射线荧光分析技术(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)，就是依靠双曲面弯晶、二次靶或者多层膜弯晶等技术，将X射线管出射谱中的单一能量衍射聚焦到样品一点，激发样品中元素荧光，这样极大降
X射线荧光光谱仪常见故障分析
1、故障现象：X射线发生器的高压开不起来。 故障分析： 这是X射线荧光光谱仪较常见的故障，一般发生在开机时，偶尔也发生在仪器运行中。故障的产生原因可以从三个方面去分析：1、X射线防护系统;2、内部水循环冷却系统;3、高压发生器及X射线光管。2、故障现象：光谱室和样品室的真空抽不到规定值。
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
单波长X射线荧光光谱仪原理与应用
一、 概述 单波长X射线荧光光谱仪（Monochromatic Excitation X-ray Fluorescence Spectrometer: ME XRF），也可称为单色化激发X射线荧光光谱仪，其通过单色化光学器件将X射线管出射谱某单一波长（对应单一能量）衍射取出并照射样品，由于消除
X射线管的维护对X荧光光谱仪的使用有重要意义
X荧光光谱仪中X射线管灯丝烧断原因有：灯丝本身损耗、X射线管的高压真空破坏、铍窗漏气。使用与维护中注意，超过lh不用仪器时，将X射线管设置为待机状态；超过两星期不用仪器时，将X射线管高压关闭；超过十星期不用仪器时，将X射线管拆下，千万不要通过关闭冷却水去关闭X射线管高压。探讨延长X射线管使用
X射单晶末衍射仪对检测样品的要求
送检样品必须为单晶，选择晶体时要注意所选晶体表面光洁、颜色和透明度一致。 不附着小晶体，没有缺损重叠、解理破坏、裂缝等缺陷。 晶体长、宽、高的尺寸均为0.1~0.4mm ，即晶体对角线长度不超过0.5mm(大晶体可用切割方法取样，小晶体则要考虑其衍射能力)。
多晶体衍射仪的X射线发生器相关介绍
X射线发生器由X射线管、高压发生器、管压和管流稳定电路以及各种保护电路等部分组成。 现代衍射用的X射线管都属于热电子管，有密封式和转靶式两种。前者最大的功率在2.5KW以内，视靶材料的不同而异；后者是为获得高强度X射线而设计的，一般功率在10KW以上，目前常用的有9KW、12KW和18KW几种
X射线衍射仪主要由以下四个结构组成
X射线衍射仪分为单晶衍射仪和多晶衍射仪两种。单晶衍射仪的被测对象为单晶体试样，主要用于确定未知晶体材料的晶体结构。基本原理：在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线（如Cu的Kα辐射）射到一粒单晶体上会发生衍射，由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律，也即解出晶体的结构。 X
X射线衍射仪的基本原理和构造
X射线衍射仪分为单晶衍射仪和多晶衍射仪两种。单晶衍射仪的被测对象为单晶体试样，主要用于确定未知晶体材料的晶体结构。基本原理：在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线(如Cu的Kα辐射)射到一粒单晶体上会发生衍射，由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律，也即解出晶体的结构。
实验室光学仪器X射线荧光光谱仪常用的荧光激发方法
一、用放射性同位素源激发源激发是将少量的放射性同位素,如55Fe(铁)、109Cd(镉)等物质固封在密封的留有小孔的铅罐中,连续发射出低能γ射线,经准直后照射到被测物质上产生X荧光。同位素源发出的X射线强度是非常稳定的,但是X射线强度小,能力分布不可调。优点:单色性好、信噪比高、体积小、重量轻。适
什么是全反射X射线荧光光谱仪技术？
全反射现象由Compton于1923年发现，1971年Yoneda等首次提出利用全反射现象来激发被测元素的特征谱线。这是一种超衡量检测XRF技术。 XRF于1981年在德国问世,实质上是EDXRF的拓展,与常规EDXRF所具有的关键区别就在于其反射系统：TXRF通常有一级、二级或三级反射系统
单波长色散型X荧光光谱仪原理及优缺点
单波长色散X射线荧光光谱仪应该称作单波长激发—波长色散X射线荧光光谱仪。 单波长色散型X荧光光谱仪原理： 用全聚焦型双曲面弯晶将微焦斑X线管(可看作点光源)发射的原级X射线的某个波长(通常选取出射谱中的特征X射线)的X射线单色化并聚焦于样品测试表面，激发样品中元素的荧光X射线。由
成分分析的四大神器—XRF、ICP、EDX和WDX
X射线荧光光谱仪(XRF) XRF指的是X射线荧光光谱仪，可以快速同时对多元素进行测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。从不同的角度来观察描述X射线，可将XRF分为能量散射型X射线荧光光谱仪，缩写为EDXRF或EDX和波长散射型X射线荧光光
X荧光光谱仪的工作原理（一）
X荧光光谱仪(XRF)是一种较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X荧光光谱仪(WD-XRF)是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信
X荧光光谱仪工作原理
X荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线(一次X射线)，来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光)，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或
X射线荧光光谱仪的测试步骤
X射线荧光分析是一种物理分析方法， X射线荧光光谱仪分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 X射线荧光光谱仪是由物质中的组成元素产生的特征辐射，通过侧里和分析样品产生的的产生与特性当用高能电子束照射样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这
“好奇”号激光射岩石分析人类是否宜居火星
美国“好奇号”火星车发射激光示意图 据美联社8月20日报道，美国“好奇号”火星车于当地时间19日向火星表面一火星岩石发射激光，通过分析岩石上迸出的火花来判断岩石是由何种元素构成以及人类是否适宜在火星居住。 报道称，“好奇号”火星车在10秒钟的时间内对一块拳头大小的岩
免疫浊度分析中为什么要射调零孔
调零孔加培养基、MTT、二甲基亚砜，是看除试验因素外的影响，当然不可能次次结果都是0。有的文献称为空白孔，计算时都要减去空白的OD值的。比如药物对细胞的抑制率＝[(对照-空白)-(给药-空白)]/(对照-空白)X100%.如果你设定为空白孔，酶标仪自动把所有孔的OD值减去该孔的OD值后进行计算，而该
X－射线荧光光谱仪
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。图