半导体参数仪
半导体参数仪是一种用于物理学领域的科学仪器，于2015年9月17日启用。 4200-SCS/F半导体特性分析系统主机，2个高分辨率中功率SMU 最大电流100mA，最大电压200V，最大功率2W 4200-SMU高分辨率中功率SMU（源测量单元） 最大电流100mA；最大电压200V；最大功能2W；配置有4200-PA，扩展电流分辨率至0.1fA 4200-CVU C-V测试单元，扫描频率范围1KHZ-10MHz。......阅读全文
半导体参数仪
半导体参数仪是一种用于物理学领域的科学仪器，于2015年9月17日启用。 4200-SCS/F半导体特性分析系统主机，2个高分辨率中功率SMU 最大电流100mA，最大电压200V，最大功率2W 4200-SMU高分辨率中功率SMU（源测量单元） 最大电流100mA；最大电压200V；最大功能
半导体参数测试仪
半导体参数测试仪是一种用于工程与技术科学基础学科领域的仪器，于2016年12月08日启用。 技术指标 1.小电流i-v ： 超低漏电流（fA），最 大电压200V，最大电流1A； 2.高电压I-V ： 最大电压1000V 3.通用I-V ： 适合于大多数参数测试 4.c-v单元： 能够在1M
什么是半导体参数分析仪
半导体参数分析仪（器件分析仪）是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器，可准确执行电流-电压（IV）和电容测量（CV（电容-电压）、C - f（电容-频率）以及 C – t（电容-时间）测量），并快速、轻松地对测量结果进行分析，完成半导体参数测试。半导体参数测试是确定半导体器件特征及其制造过程的一
半导体材料的特性参数
半导体材料虽然种类繁多但有一些固有的特性，称为半导体材料的特性参数。这些特性参数不仅能反映半导体材料与其他非半导体材料之间的差别，而且更重要的是能反映各种半导体材料之间甚至同一种材料在不同情况下特性上的量的差别。常用的半导体材料的特性参数有：禁带宽度、电阻率、载流子迁移率(载流子即半导体中参加导电的
Agilent－41501B半导体参数分析仪
该41501B PGUS可与新加坡管理大学的16440A /城管选择以执行写/擦除耐力快闪记忆体细胞和非挥发性记忆体测试其他类型的细胞。该41501B HPSMU可源出/吸入电流高达1 A和供应高达+ / -200的电压V。一般特征：*灵活的资源为4155C和4156C扩展单元*2个脉冲发电机组 (
B1500A－半导体器件参数分析仪
特点一台半导体参数分析仪抵得上多种测量仪器Keysight B1500A 半导体参数分析仪是一款一体化器件表征分析仪，能够测量 IV、CV、脉冲/动态 IV 等参数。 主机和插入式模块能够表征大多数电子器件、材料、半导体和有源/无源元器件。 B1500A 模块化体系结构可以根据需要灵活升级。可以在
HP－惠普4156B半导体参数分析仪
4156C精密半导体参数测试仪是Agilent下一代的精密半导体参数测试仪，4156C为器件表征提供了***参数分析的实验室平台。较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力，4156C还为以后和其他的测量仪器的扩展使用提供了坚实的基础。41501B扩展测量能力到1A/200V，并给4156C
Keysight－B1500A－半导体器件参数分析仪
Keysight B1500A 半导体器件参数分析仪该仪器是一款具有 10 插槽配置的模块化仪器，可支持 IV 和 CV 测量及快速高电压脉冲测量。它采用常见的 Microsoft ® Windows ® 用户界面，可支持 Agilent EasyEXPERT 软件。该软件为器件表征提供更直观的、面
半导体材料的特性和参数
半导体材料的导电性对某些微量杂质极敏感。纯度很高的半导体材料称为本征半导体，常温下其电阻率很高，是电的不良导体。在高纯半导体材料中掺入适当杂质后，由于杂质原子提供导电载流子，使材料的电阻率大为降低。这种掺杂半导体常称为杂质半导体。杂质半导体靠导带电子导电的称N型半导体，靠价带空穴导电的称P型半导体。
Agilent－B1500A－半导体器件参数分析仪/半导体表征系统主机
Agilent B1500A 半导体器件参数分析仪/半导体表征系统主机 15815566786=======================================深圳佳捷伦电子仪器有限公司联系人：陈娟/欧阳手机：15815566786/13510500080电话：0755-8951811
常用的半导体材料的特性参数
半导体材料虽然种类繁多但有一些固有的特性，称为半导体材料的特性参数。这些特性参数不仅能反映半导体材料与其他非半导体材料之间的差别，而且更重要的是能反映各种半导体材料之间甚至同一种材料在不同情况下特性上的量的差别。常用的半导体材料的特性参数有：禁带宽度、电阻率、载流子迁移率(载流子即半导体中参加导电的
半导体参数分析仪Keysight－B1500A－8*SMU共享
仪器名称：半导体参数分析仪-Keysight B1500A 8*SMU仪器编号：20028444产地：生产厂家：型号：出厂日期：购置日期：所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>高精尖放置地点：荷清大厦高精尖一层实验室固定电话：固定手机：13910754014固定email：xugao@tsinghu
半导体激光器的常用参数
半导体激光器的常用参数可分为：波长、阈值电流Ith 、工作电流Iop 、垂直发散角θ⊥、水平发散角θ∥、监控电流Im。（1）波长：即激光管工作波长，可作光电开关用的激光管波长有635nm、650nm、670nm、激光二极管690nm、780nm、810nm、860nm、980nm等。（2）阈值电流I
半导体参数分析系统EN6500A
仪器名称：半导体参数分析系统-EN-6500A仪器编号：22025211产地：中国生产厂家：西安易恩电气科技股份有限公司型号：EN-6500A出厂日期：购置日期：2022-11-17所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>高精尖放置地点：荷清大厦A座一层实验室固定电话：010-62799552-116
半导体特性测试仪
半导体特性测试仪是一种用于化学工程领域的物理性能测试仪器，于2016年05月01日启用。 技术指标 支持多达9个精密直流源测量单元，能够提供测量0.1fA到1A的电流或者1uV-210V的电压。 主要功能 参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度，同时继承了嵌入式Windows操作系统和
开关参数测试仪的产品参数
1、时间测量 同时可测量断口数：≤12个 测定过程整定时间：0～6秒 分辨率：0.1ms 2、开关开距、开关超行程、弹跳幅度测量 量程：＜1000mm 分辨率：1mm 3、测量误差 时间测量误差：±1% 行程测量误差：±1% 4、速度测量范围：0～20m/s
土壤三参数仪采集主机的参数
采集主机 速测仪尺寸：176*96*40 (mm) 屏 幕：液晶显示器50*65（mm） 记录间隔： 1分钟～24小时之间可调 重 量：记录仪240克 可接探头：土壤水分FDR原理 可存储数据：＞10万条 数据导出：USB接口，方便数据导出 上位机软件：免费赠送 供 电：5节5
多参数监护仪的全部参数
多参数监护仪主要技术指标ECG心电●导联选择：I、lJ、III、aVR、aVL、aVF、V1-6、MCLl●增益选择：×0．5、×1、×2、X4Fq档●导联漏电电流：
阳极极化仪参数
阳极极化仪参数： ◆输出电位测量范围： -1999mV~+1999mV。 ◆电位测量误差： ≤1%，加减末位1个字 ≤1%，加减末位1个字 。 ◆电流测量误差： ≤1%，加减末位1个字 ≤1%，加减末位1个字 。 ◆输出槽压：±10V ±15V 。 ◆输入阻抗：≥1
偏振仪的参数
测试功能：荧光偏振，荧光，时间分辨荧光，生物发光，化学发光，吸收 板的格式：6-384 孔板 1536 (荧光，时间分辨荧光) Terasaki plates PCR Plates 读板时间：15 秒 96孔板 30 秒：384孔板 60秒：1536孔板 光的来源：氙闪灯 波长选择：2个
自动划痕仪参数
自动划痕仪参数：■电机：60W 220V 50HZ。■砝码重量：50g-2000g。■划针钢球直径：1mm。■外形尺寸：380*300*180mm（长*宽*高）。■仪器净重：25kg。单卧轴混凝土搅拌机 www.chem17.com/st255513/product_12678151.html自动划
自动划痕仪参数
电机：60W 220V 50HZ。■砝码重量：50g-2000g。■划针钢球直径：1mm。■外形尺寸：380*300*180mm（长*宽*高）。■仪器净重：25kg。
自动划痕仪参数
▲电机：60W 220V 50HZ。▲砝码重量：50g-2000g。▲划针钢球直径：1mm。▲外形尺寸：380*300*180mm（长*宽*高）。▲仪器净重：25kg
自动划痕仪参数
使用方法：■漆膜厚度的测定将试片放置在有做够硬度的平板上，用记号笔在待试表面划一标记线，调好所用的刀具，将刀及支撑柱垂直于试片平面，通过标记线向支撑柱方向做一横向V形切口，穿透涂层，施加以刀的压力达到底材为准。将仪器向右旋转90度，（显微镜为竖直状态）置于被割划的标记旁，按下按钮开关，使光点对正V形
自动划痕仪参数
自动划痕仪参数：■电机：60W 220V 50HZ。■砝码重量：50g-2000g。■划针钢球直径：1mm。■外形尺寸：380*300*180mm（长*宽*高）。■仪器净重：25kg。单卧轴混凝土搅拌机 www.chem17.com/st255513/product_12678151.html自动划
瓦斯突出参数仪
瓦斯突出参数仪是一种用于测定煤矿井下煤与瓦斯突出预测预报参数的便携式矿用本质安全型仪器，防爆标志为ExibI。仪器测定的所有数据都可存储、显示、打印并可与地面计算机通讯。仪器具有功能强、体积小、重量轻、操作简单、性能可靠、防潮防尘性能好等优点，是煤矿防止煤与瓦斯突出灾害不可缺少的一种先进设备。
重型回弹仪参数
●标称冲击动能：29.43J（3Kgf.m）。 ●弹击拉簧刚度：1.6kg/cm。 ●弹击杆球面曲率半径SR：53mm±1mm。 ●回弹仪在钢砧上率定平均回弹值Rm：63±2。 ●外形尺寸：105*320*680mm。 ●重量：8Kg。
四参数叶绿素测定仪技术参数
1．快速无损植物活体检测，不影响植物的成长。 2．多参数快速一次测定：一次操作同时测定植物的叶绿素、氮素、叶温，叶面湿度，实时显示。 3. 各种参数同一屏幕同时显示，同时储存。 4．测量数据可连接计算机将测量数据导出，便于植物养分管理和分析。 5．意外断电后已保存在主机里的数据不丢失。
多参数水质分析仪技术参数
1、自动进样，自动进行定性和定量分析，多参数分析。 2、实时在线监测和实验室检测任意选择。 3、大屏幕中文显示，人机交互式操作。 4、USB接口方便仪器测量软件升级和数据传输，或与计算机通讯。 5、仪器采用快拆式电极法测量，维护方便和快捷。 6、仪器采用自动两点定标，斜率、截距双参数校
年度创新：Ion－PGM半导体测序仪
【导读】Rothberg博士的梦想是打造测序领域的“数码相机”，既实惠又易用，还能快速得到结果。他确实做到了。与其他测序平台相比，Ion PGM™ 测序仪快速、简捷，扩展性好，更关键的一点是，价格实惠。它让测序平民化，让每个实验室都触手可及。 半导体技术已经改变了它所触及的每一个行业，从计算到摄影