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原子力显微镜/AFM的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动.利用光学检测法或隧道电流检测法,可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化,从而可以获得样品表面形貌的信息.......阅读全文
一、原子力显微镜的概述 原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括导体、半导体和绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它的横向分辨率可达0.15m，而纵向分辨率可达0.05m，AFM最大的特点是可以测量表面原子之间的力，AFM可测量的最小
原子力显微镜：是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术.它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时，其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲，偏离原来的位置.根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像.就能间接获得样品表
原子力显微镜(AFM)用一个微小的探针来“摸索”微观世界，它超越了光和电子波长对显微镜分辨率的限制，在立体三维上观察物质的形貌，并能获得探针与样品相互作用的信息。原子力显微镜具有分辨率高、操作容易、样品准备简单、操作环境不受限制、分辨率高等优点。因此，原子力
眼睛是人类认识世界的重要工具，然而对于小到只有几个或者几十个微米（1微米是1米的百万分之一）的物体，像构成我们身体的细胞、导致我们生病的细菌等，人眼就无法分辨了，需要求助于光学显微镜。光学显微镜的问世使得我们能够观察到微米尺度的各种物体，这给我们的生活带来了许多革命性的变化，例如细菌的发现颠覆了
原子力显微镜：是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术.它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时，其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲，偏离原来的位置.根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像.就能间接获得样品表
由于STM侷限于试片的导电性质，使得应用范围大大的减少，为了能有更广泛的应用科用，故改用力场作回馈而发展出原子显微仪（atomic force microscope, AFM），而因为对导体及绝缘体均有三维空间的显影能力，所以成为运用最广泛的扫描探针显微仪。图4-1为原子力显微镜的简单示意图。 图4
大多数测量仪器都受制于测量精度和测量速度之间的权衡，因为测量越精确，所需的时间就越长。可是，纳米尺度上出现的许多现象既快又小，因此，针对它们的测量系统必须能够在时间和空间上捕捉到它们的精确细节。上图为与光学谐振器集成的纳米级原子力显微镜(AFM)探针的彩色电子显微照片，这种盘式光学谐振器扩展了A
导读：复合资料是指由两种或两种以上不同物质以不同方式组合而成的资料, 它能够发挥出各种资料的优点, 克制单一资料的缺陷, 扩展资料的应用范围。它具有重量轻、强度高、加工成型便当、弹性优秀、耐化学腐蚀和耐候性好等优秀性能，为了将这些优秀的性能用数据表达出来或者更好的监控制备过程，必需有测试设备的协
原子力显微镜（Atomic Force Microscopy, AFM）是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscopy, STM）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测。本标准文本将概述纳
第一台在纳米测量中,在中等测量范围内,具有微型光纤传导激光干涉三维测量系统、可自校准和进行绝对测量的计量型原子力显微镜。它的诞生,可使目前用于纳米技术研究的扫描隧道显微镜定量化,并将其所测量的纳米量值直接与米定义相衔接。使人们更加准确地了解纳米范围内的各种物理
原子力显微镜（atomic force microscope，简称AFM），也称扫描力显微镜（scanning force microscope，SFM）是一种纳米级高分辨的扫描探针显微镜，优于光学衍射极限1000倍。原子力显微镜的前身是扫描隧道显微镜，是由IBM苏黎士研究实验室的海因里希·罗雷
一. 原子力显微镜(AFM)简介二. AFM探针分类三．AFM探针生产、销售资讯四．展望 一. 原子力显微镜(AFM)简介 原子力显微镜(atomic force microscope, A
目前，已经成功研制出的扫描电镜包括了：典型的扫描电镜、扫描透射电镜（STEM）､场发射扫描电镜（FESEM）、冷冻扫描电镜（Cryo-SEM），低压扫描电镜( LVSEM)、环境扫描电镜( ESEM）、扫描隧道显微镜（STM )、扫描探针显微镜( SPM )，原子力显微镜（AFM）等，以下介绍几
目前，已经成功研制出的扫描电镜包括：典型的扫描电镜、扫描透射电镜（STEM）､场发射扫描电镜（FESEM）、冷冻扫描电镜（Cryo-SEM），低压扫描电镜( LVSEM)、环境扫描电镜( ESEM）、扫描隧道显微镜（STM )、扫描探针显微镜( SPM )，原子力显微镜（AFM）等，以下介绍几种
目前，已经成功研制出的扫描电镜包括：典型的扫描电镜、扫描透射电镜（STEM）､场发射扫描电镜（FESEM）、冷冻扫描电镜（Cryo-SEM），低压扫描电镜( LVSEM)、环境扫描电镜( ESEM）、扫描隧道显微镜（STM )、扫描探针显微镜( SPM )，原子力显微镜（AFM）等，以下介绍几种
1 STM 1.1 STM工作原理 扫描隧道显微镜的基本原理是将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极，当样品与针尖的距离非常接近(通常小于1nm)时，在外加电场的作用下，电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。 尖锐金属探针在样品表面扫描，利用针尖-样品间纳米间隙的量子隧道效
其他模式 除了三种常见的三种工作模式外，原子力显微镜还可以进行下面的工作： 1、横向力显微镜（LFM） 横向力显微镜（LF
扫描探针显微镜不是简单成像的显微镜，而是可以用于在原子、分子尺度进行加工和操作的工具。扫描探针显微镜的应用领域是宽广的，无论是物理、化学、生物、医学等基础学科，还是材料、微电子等应用学科都有用武之地。扫描探针显微镜的种类 扫描探针显微镜主要可分为扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)、
1.1 STM工作原理扫描隧道显微镜的基本原理是将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极，当样品与针尖的距离非常接近(通常小于1nm)时，在外加电场的作用下，电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。尖锐金属探针在样品表面扫描，利用针尖-样品间纳米间隙的量子隧道效应引起隧道电流与间隙大小呈
扫描探针显微镜是一种新型的探针显微镜，是从扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜（原子力显微镜，静电力显微镜，磁力显微镜，扫描离子电导显微镜，扫描电化学显微镜等）的统称。它是近年来世界上迅速发展起来的一种表面分析仪器。扫描探针显微镜原理及结构：扫描探针显微镜的基本工作原理是利用探针与样品
在科研中常见的几种科研型显微镜主要有扫描探针显微镜，扫描隧道显微镜和原子力显微镜几种，下面对这几种显微镜逐一做以介绍：扫描探针显微镜 扫描探针显微镜（ScanningProbeMicroscop
原子力显微镜/AFM的基本原理原子力显微镜/AFM的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样
扫描探针显微镜是在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜，静电力显微镜，磁力显微镜，扫描离子电导显微镜，扫描电化学显微镜等)的统称，是国际上近年发展起来的表面分析仪器。扫描探针显微镜原理及结构
样品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三个方面。物相分析一般使用 X－射线粉末衍射仪（XRD）和电子显微镜。形貌和粒度可通过扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）直接观测到粒子的大小和形状。但由于电镜只能观测局部区域，可能产生较大的统计误差。晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念，在多数情况下
微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成，而这些规格的选择是依照样品的特性，将信号经由激光检测器取入之后，以供SPM控制器作信号处理，所要检测的力是原子与原子之间的范德华力：长度，以保持样品与针尖保持一定的作用力。在整个系统中
AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、一、名称不同1、AES，英文全称：Auger Electron Spectroscopy，中文称：俄歇电子能谱2、STM，英文全称： Scanning Tunneling Microscope，中文称：扫描隧道显微镜3、AFM，英文
晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念，在多数情况下纳米粒子是由多个完美排列的晶粒组成的）的晶相和大小，虽然也可通过更强的场发射透镜（HRTEM）得到，但是机器昂贵、操作复杂，所以实验室一般使用X射线粉末衍射仪。 XRD、TEM、AFM在表征粒径大小方面各有优势，我们将分别从原理和应用来
原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)是由IBM 公司的Binnig与史丹佛大学的Quate 于一九八五年所发明的，其目的是为了使非导体也可以采用扫描探针显微镜(SPM)进行观测。 原子力显微镜的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另
原子力显微镜提供原子或近原子解析度的表面形貌图像，能够定量样品的表面粗糙度到＂Å＂等级。除了提供表面图像之外，AFM也可以提供形态的定量测量，如高度差和其他尺寸。可提供三维表面形态影像，包括表面粗糙度、粒径大小、高度差和间距，其他样品特性的成像，包括磁场、电容
原子力显微镜提供原子或近原子解析度的表面形貌图像，能够定量样品的表面粗糙度到＂Å＂等级。除了提供表面图像之外，AFM也可以提供形态的定量测量，如高度差和其他尺寸。可提供三维表面形态影像，包括表面粗糙度、粒径大小、高度差和间距，其他样品特性的成像，包括磁场、电容、摩擦力和相位。