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简述x光机的原理及构造

X-ray 是由德国仑琴教授在1895年所发现。这种由真空管发出能穿透物体的辐射线,在电磁光谱上能量较可见光强,波长较短,频率较高,相类似之辐射线有宇宙射线,X-ray等。 产生X-Ray必须要有X光球管,而X光球管基本构造必须拥有: 阴极灯丝 (Cathod) 阳极靶 (Anode) 真空玻璃管 (Evacuated glass envelope) 当然还要有电源能量供应 X线是一种波长很短的电磁波。波长范围为0.0006~50nm。X线安检中常用的X线波长范围为0.008~0.031nm(相当于40~150kV时)。在电磁辐射谱中,居γ射线与紫外线之间,比可见光的波长要短得多,肉眼不可见。 射线成像主要利用射线的穿透性,荧光效应和摄影效应 X射线与物体相互作用 1.光电效应 2.康普敦散射(非相干散射) 3.瑞利散射(相干散射) 4.电子偶效应 X线的发生程序是首先接通电源,经过降压变压器,供X......阅读全文

简述x光机的原理及构造

  X-ray 是由德国仑琴教授在1895年所发现。这种由真空管发出能穿透物体的辐射线,在电磁光谱上能量较可见光强,波长较短,频率较高,相类似之辐射线有宇宙射线,X-ray等。  产生X-Ray必须要有X光球管,而X光球管基本构造必须拥有:  阴极灯丝 (Cathod)  阳极靶 (Anode)  

X射线机原理及构造

  X射线机原理及构造、X射线的发现1895年德国物理学家伦琴(W.C.RÖntgen)在研究阴极射线管中气体放电现象时,用一只嵌有两个金属电极(一个叫做阳极,一个叫做阴极)的密封玻璃管,在电极两端加上几万伏的高压电,用抽气机从玻璃管内抽出空气。为了遮住高压放电时的光线(一种弧光)外泄,在玻璃管外面

x射线衍射仪的原理及构造

  原理  x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波互相干涉,结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析衍射结果,便可获得晶体结构。以上是19

便携X光机的工作原理

  主要是影像增强器是运用(MCP)微通道板具有电子倍增作用,实现将电子图像信号成倍放大的作用.在手提式X光机产品上的作用:以极低的X射线电子流透射过患者受伤部位,成像电子打在影像增强器接收靶上,通过MCP微通道板增强信号,将微弱的信号成数十倍的放大成强信号,在通过光栅将X光转化为可见光,形成人眼可

x光机透视仪的原理简介

  射线是一种不可见光,原理上,他与红外线、紫外线、微波等同属于光谱内的色散,他们的长度不同,统称为光学频谱。是通过棱镜散开颜色得到的不同频率的光。光也可以分为可见光和不可见光。可见光就是我们日常生活中见到的各种颜色的光,不可见光例如电视遥控器的红外线,太阳光下的紫外线,微波炉中的微波,X光机拍片使

旋光仪的构造原理及使用维护方法

一、旋光仪结构部件:1.光源2.毛玻璃3.聚光镜4.滤色镜5.起偏镜6.半波片7.试管8.检偏镜9.物、目镜组10.调焦手轮11.读数放大镜12.度盘及游标13.度盘转动手轮。旋光仪工作原理:当检测池中放进存有被测溶液的试管后,由于溶液具有旋光性,使平面偏振光旋转了一个角度,零度视场便发生了变化,转

旋光仪的构造原理及使用维护方法

一、旋光仪结构部件:1.光源2.毛玻璃3.聚光镜4.滤色镜5.起偏镜6.半波片7.试管8.检偏镜9.物、目镜组10.调焦手轮11.读数放大镜12.度盘及游标13.度盘转动手轮。旋光仪工作原理:当检测池中放进存有被测溶液的试管后,由于溶液具有旋光性,使平面偏振光旋转了一个角度,零度视场便发生了变化,转

气流干燥机的原理及构造

  机械分类  湿物料经输送机与加热后的自然空气同时进入干燥器,二者充分混和,由于热质交换面积大,从而在很短的时间内达到蒸发干燥的目的。  干燥后的成品从旋风分离器排出,一小部分飞粉由旋风除尘器或布袋除尘器得到回收利用。Q型气流干燥器是负压操作,物料不经过风机;QG型气流干燥器是正压操作;物料经过风

三种x光机x光的产生方式

  三种方式可产生X光:轫致辐射(Bremsstrahlung)、电子俘获、内转换,x光机产生X光的机理属于轫致辐射。  电子俘获:  β衰变包括3种方式:β-衰变、β+衰变和电子俘获(EC).其中电子俘获(EC)这种衰变可以表示为即母核俘获1个核外轨道电子使核内1个质子转变为中子,并放出1个中微子

X荧光光谱仪分析原理及构造的介绍

  X射线荧光(XRF)能用于测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料,其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。凡是能和X射线发生激烈作用的样品都不能分析,而要分析的样品必须经受在真空(4~5Pa)环境下测定,与其他分析技