X荧光分析仪简介
EDX 60a X荧光仪是一种新型的采用纯物理分析方法的微机化台式仪器,用于水泥厂，能够30秒快速分析旋窑、机立窑、窑外分解旋窑厂家的白生料、全黑或半黑生料、熟料、水泥中 CaO、 Fe2O3的百分含量，为配料成分控制及时提供数据。由于它的分析速度快（30秒），因此可实时监控生产过程中成份变化的情况，便于及时调整原料配比，为生产合格熟料、水泥打下坚实的基础。同时可用于分析石灰石、粘土、铁粉、粉煤灰等混合材中CaO、 Fe2O3的百分含量，为进厂原材料提供质量数据。除建材工业外，亦可用于需要分析CaO、 Fe2O3百分含量的各种场合，例如：石灰厂、矿山。......阅读全文
X荧光分析仪简介
X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。
X荧光分析仪简介
EDX 60a X荧光仪是一种新型的采用纯物理分析方法的微机化台式仪器,用于水泥厂，能够30秒快速分析旋窑、机立窑、窑外分解旋窑厂家的白生料、全黑或半黑生料、熟料、水泥中 CaO、 Fe2O3的百分含量，为配料成分控制及时提供数据。由于它的分析速度快（30秒），因此可实时监控生产过程中成份变化的
X荧光分析仪的结构简介
1、多功能置样装置 A．样品种类：固体﹑液体﹑粉末﹑镀层。 B．样品托盘：可自动旋转的测量装置。 C．样品室的环境：可选择空气﹑真空﹑氦气。由软件自动控制，无需人工操作。 2、激发系统 激发系统采用独特的倒置直角光学结构设计。以50KV的低功率X射线发生器作为激发源，从X射线管产生的初
X荧光分析仪的特点简介
仪器机电一体微机化设计,大屏幕24bit色LCD,操作人机对话,简洁美观； 检测品种广,检测量程宽,分析速度快,标准样品用量少； 采用荧光强度比率分析方法, 温度、气压自动修正,碳氢比(C/H)亦可修正； 仪器的自动诊断功能,判断仪器的工作状态和电气参数； 采用一次性样品杯,可避免交叉污
简介X荧光钙铁分析仪的用途
1. 同时快速分析旋窑、机立窑、窑外分解旋窑厂家的白生料、全黑或半黑生料、熟料、水泥中的 CaO、 Fe2O3的百分含量，为配料成分控制及时提供数据。 2. 分析石灰石、粘土、铁粉、粉煤灰等混合材中CaO、 Fe2O3的百分含量，为进厂原材料提供质量数据。 3.分析水泥中的 CaO百分含量，
简介X荧光分析仪的技术指标
分析范围: 0.01%～100% 分析精度：标准偏差SSO3≤0.04%、SCaO≤0.10% 样品量: 2～3ml(相当样品深度3mm～4mm)； 分析宽度: CaO（SO3）: min~max≤15%,例如水泥中CaO :37%～52%，通过标定工作曲线选定。 测量时间: 60、12
同步辐射x荧光分析简介
同步辐射x荧光分析:（synchrotron-basedX-ray fluorescence）采用由加速器产生的同步辐射作光源进行x射线荧光分析的方法。 与常规x射线荧光分析相比，由于同步辐射光通量大、频谱宽、偏振性好等优点，因此分析灵敏度显著增高，此外取样量少，分析速度快，可作微区三维扫描分
X射线荧光分析技术简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。
X荧光分析仪工作原理
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填
X荧光硫元素分析仪
X荧光硫元素分析仪 型号：HY1000 概述 环境污染已引起世界各国政府和公众的密切关注,要求保护生态环境和大气环境的呼声日渐高涨。造成大气层破坏和污染的主要祸是CO2 和SO2的排放。CO2、SO2源自动力燃料的燃烧,车船飞机中使用汽油、柴油、重油等含硫量越低将会大大减少对大气的
X荧光分析仪的分类
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射 线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色
X荧光分析仪的光源是“荧光”吗？
强调“荧光”，许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源，只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器，都是X荧光分析仪。
X射线荧光分析的技术简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。 X射线是一种电磁辐射，按传统的说法，其波长介于紫外线和γ射线之间，但随着高能电子加速器的发展，电子轫致辐射所产生的X射线的
关于X射线荧光分析的简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。
X射线荧光分析法简介
X射线荧光分析法（X-ray fluorescence analysis），是对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据；谱线的强度是定量分析的依据。
X射线荧光分析方法的简介
X射线荧光分析方法是一种现代光学分析方法。X射线照射物质时，除发生散射现象和吸收现象外，还能产生次级X射线，即荧光X射线。荧光X射线的波长只取决于物质中原子的种类。因此，根据荧光X射线的波长就可确定物质的元素组分；再根据该荧光X射线的强度，还可定量分析所属元素的含量。20世纪50年代开始发展，6
荧光分析仪简介
荧光分析仪，它是针对生产过程中以及原材料中可能含有铅、镉、汞、六价铬、多溴二苯醚、多溴联苯六种有害物质的电气电子产品。主要包括：白家电，如电冰箱、洗衣机、微波炉、空调、吸尘器、热水器等；黑家电，如音频、视频产品、DVD、CD、电视接收机、IT产品、数码产品、通信产品等；电动工具，电动电子玩具、医
X射线荧光光谱分析仪（XFR）的应用简介
X射线荧光光谱分析仪检测过程制样简单无需复杂的化学预处理方式，是最基本的制样方法，检测方法快速简便,经济且不会造成其他污染，仪器检测的优势得到了充分的发挥和展现，除了矿石检测，XRF在在土壤和环境样品分析中的应用也愈发重要，还应用于钢铁、冶金、水泥、商检等各个领域，而且还在向更细化的研究领域逐步
X荧光分析仪的历程介绍
自1895 年德国物理学家伦琴（Renten W C)发现了 X 射线。1896年法国物理学家乔治(G eorgs S)发现了X 射线荧光，1948年弗利德曼(Friedm an H )和伯克斯(]3irks L S)首先研制了第一台商品性的波长色散 X 射线荧光光谱仪以来，X 射线荧光光谱分析
X射线荧光分析仪的优点
对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测，而不毁坏样品。 测试速率高，可以在较少时间内进行大量样品测试，分析结果可以通过计算机直接连网输出。 分析速度较快。 对于纯金属可采用无标样分析，精度能达分析要求。 不需要专业实验室与操作人员，不引入其它对环境有害的物质。
X荧光钙铁分析仪概述
X荧光钙铁分析仪是一种微机化的新型台式分析仪器，主要用于水泥生料，煤矸石，砖坯料中CaO、 Fe2O3百分含量的快速（30秒）定量分析。它根据元素特征射线的X荧光能量色散原理，采用低能小功率X光管激发（不用放射源）、正比计数管探测、核电子学及微机等组成，采用先进的物理测量方法，符合节能、环保、安
X射线荧光分析仪的缺点
关于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到精确检测。在用基本参数法测试时，如果测试样品里含有C、H、O等元素，会出现误差。 不能作为仲裁分析方法，检测结果不能作为国家认证根据，不能区分元素价态。 对于钢铁等含有非金属元素的合金，需要代表性样品进行标准曲线绘制，分析结果的精确性是建立在标样
X射线荧光分析仪的优点
对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测，而不毁坏样品。 测试速率高，可以在较少时间内进行大量样品测试，分析结果可以通过计算机直接连网输出。 分析速度较快。 对于纯金属可采用无标样分析，精度能达分析要求。 不需要专业实验室与操作人员，不引入其它对环境有害的物质。
X射线荧光分析仪的缺点
关于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到精确检测。在用基本参数法测试时，如果测试样品里含有C、H、O等元素，会出现误差。 不能作为仲裁分析方法，检测结果不能作为国家认证根据，不能区分元素价态。 对于钢铁等含有非金属元素的合金，需要代表性样品进行标准曲线绘制，分析结果的精确性是建立在标样
X荧光分析仪的特点介绍
原装进口电制冷探测器，可以快速分析从11Na到92U之间的全部元素，精度高、测量时间短，它可以广泛用于有色矿山、钢铁、水泥、耐火材料、不锈钢、合金等领域 特点： 1、同时分析元素周期表中由钠（Na）到铀（U）之间的全部元素； 2、可检测固体﹑液体﹑粉末，不需要复杂的制样过程； 3、分析测
X射线荧光分析仪的介绍
X射线荧光分析仪主要由激发、色散（波长和能量色散）、探测、记录和测量以及数据处理等部分组成。X射线光谱仪与X射线能谱仪两类分析仪器有其相似之处，但在色散和探测方法上却完全不同。在激发源和测量装置的要求上，两类仪器也有显著的区别。X射线荧光分析仪按其性能和应用范围，可分为实验室用的X射线荧光光谱仪
X射线荧光光谱仪简介
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
全反射X射线荧光(TXRF)应用简介
全反射X射线荧光(TXRF)具有优异的检出限（低至ppt或pg），与其它具有类似元素检出限的检测手段相比，具有基体效应小、样品需求量小、操作相对简单、运行成本低等优势。 TXRF一次可以对70多种元素进行同时分析，这是原子吸收ETAAS和FAAS方法难以完成的。与质谱仪中的ICP-MS和GDM
x射线荧光光谱仪简介
x射线荧光光谱仪提供了一种最简单，最准确，最经济的分析方法，可用于确定多种类型材料的化学成分。它是无损且可靠的，不需要或只需很少的样品制备，适用于固体，液体和粉末状样品。它可以用于从钠到铀的多种元素，并提供亚ppm级以下的检测限；它也可以轻松，同时地测量高达100％的浓度。
质子激发X射线荧光分析的简介
利用原子受质子激发后产生的特征 X射线的能量和强度来进行物质定性和定量分析的方法。简称质子 X射线荧光分析，英文缩写为PIXE。质子X 射线荧光分析是20 世纪70 年代发展起来的一种多元素微量分析技术，其分析灵敏度可达10-16 克，相对灵敏度可达10-6～10-7 克/克。原则上可分析原子序