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由于受电镜高压限制，透射电子束一般只能穿透厚度为几十纳米以下的薄层样品。 除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外，其它样品的制备方法主要有物理减薄(离子和双喷减薄等)和超薄切片法。 一般情况下，需要采用物理减薄法的样品制备过程，须由用户自己完成(不具备此制样条件的院系，可租用本室的相关设备)。 超薄切片样品的制备，需经样品前处理、包埋、切片等复杂工序，周期较长(约一周左右) 由于该仪器是高分辨型电镜，为确保仪器性能和发挥其高分辨象观察特点，目前主要接受材料领域的样品。......阅读全文
由于受电镜高压限制，透射电子束一般只能穿透厚度为几十纳米以下的薄层样品。 除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外，其它样品的制备方法主要有物理减薄(离子和双喷减薄等)和超薄切片法。 一般情况下，需要采用物理减薄法的样品制备过程，须由用户自己完成(不具备此制样条件的院系，可租用本室的相关
1、样品中不得含有水、有机小分子等易挥发、易分解成分。 2、样品尽量小，最大尺寸：高15mm，直径30mm。 3、多孔或易潮解样品，需提前真空干燥处理。 4、粉末样品中不能含有铁、钴、镍等具有磁性成分，且不易被磁化。超声分散，滴在铝箔上，干燥后送样。 5、需观察样品断面时，断面自己制备。
1．粉末样品基本要求 （1）单颗粉末尺寸最好小于1μm； （2）无磁性； （3）以无机成分为主，否则会造成电镜严重的污染，高压跳掉，甚至击坏高压枪； 2．块状样品基本要求 （1）需要电解减薄或离子减薄，获得几十纳米的薄区才能观察； （2）如晶粒尺寸小于1μm，也可用破碎等机械方法制成
1.最重要的是不要有挥发性，烘干的，不然水分会毁坏灯丝。多孔物质抽真空会很难，真空度达不到。2.表面导电，不然会电荷积聚。绝缘的要喷金。 3.还有就是不要有磁性，会影响电子束
样品室处在聚光镜之下，内有载放样品的样品台。样品台必须能做水平面上X、Y方向的移动，以选择、移动观察视野，相对应地配备了2个操纵杆或者旋转手轮，这是一个精密的调节机构，每一个操纵杆旋转10圈时，样品台才能沿着某个方向移动3mm左右。现代高档电镜可配有由计算机控制的马达驱动的样品台，力求样品在移
对样品的要求1、不会被电子束分解2、在电子束扫描下热稳定性要好3、能提供导电和导热通道4、大小与厚度要适于样品台的安装5、观察面应该清洁，无污染物6、进行微区成分分析的表面应平整7、磁性试样要预先去磁，以免观察时电子束受到磁场的影响
对样品的要求1. 样品一般应为厚度小于100nm的固体。2. 感兴趣的区域与其它区域有反差。3. 样品在高真空中能保持稳定。4. 不含有水分或其它易挥发物，含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干除去。5. 对磁性试样要预先去磁，以免观察时电子束受到磁场的影响。TEM样品常放置在直径为3mm的200目样
电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、
应用范围： 1、 对各种材料内部微结构进行观察； 2、 粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察； 3、 选区电子衍射和晶体结构分析； 4、 金属、陶瓷、半导体等显微结构分析； 5、 配合EDS 能谱仪可以对各种元素进行定性和半定量微区分析。 送样要求： 1、透射电镜不能做磁性样品； 2、
电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、