电子探针仪的二次电子及二次电子像介绍
入射电子与样品相互作用后，使样品原子较外层电子(价带或导带电子)电离产生的电子，称二次电子。二次电子能量比较低，习惯上把能量小于50 eV电子统称为二次电子，仅在样品表面5 nm-10 nm的深度内才能逸出表面，这是二次电子分辨率高的重要原因之一。 当入射电子与样品相互作用时，入射电子与核外电子发生能量传递，一般几至几十个电子伏特。如果核外电子所获得的能量大于其临界电离能，则该电子可脱离原子成为自由电子，如果这些自由电子离样品表面很近，而且其能量大于相应的逸出能，则可能从样品表面逸出而成为二次电子。二次电子像是表面形貌衬度，它是利用对样品表面形貌变化敏感的物理信号作为调节信号得到的一种像衬度。因为二次电子信号主要来处样品表层5-10 nm的深度范围，它的强度与原子序数没有明确的关系，而对微区表面相对于入射电子束的方向却十分敏感，二次电子像分辨率比较高，所以适用于显示形貌衬度。......阅读全文
扫描电子显微镜工作原理
扫描电子显微镜透射电镜原理 目前，主流的透射电镜镜筒是电子枪室和由6～8 级成像透镜以及观察室等组成。阴极灯丝在灯丝加热电流作用下发射电子束，该电子束在阳极加速高压的加速下向下高速运动，经过*聚光镜和第二聚光镜的会聚作用使电子束聚焦在样品上，透过样品的电子束再经过物镜、*中间镜、第二中间镜和投影镜
扫描电镜SEM工作原理
透射电镜原理 目前，主流的透射电镜镜筒是电子枪室和由6～8 级成像透镜以及观察室等组成。阴极灯丝在灯丝加热电流作用下发射电子束，该电子束在阳极加速高压的加速下向下高速运动，经过*聚光镜和第二聚光镜的会聚作用使电子束聚焦在样品上，透过样品的电子束再经过物镜、*中间镜、第二中间镜和投影镜四级放大后在
电子探针显微镜之显微结构分析
电子探针是利用 0.5μm－1μm 的高能电子束激发待分析的样品，通过电子与样品的相 互作用产生的特征 X 射线、二次电子、吸收电子、 背散射电子及阴极荧光等信息来分析样 品的微区内(μm 范围内)成份、形貌和化学结合状态等特征。电子探针是几个μm 范围内的 微区分析， 微区分析是它的一个重要
扫描电子显微镜主要用于观察哪些物质？
扫描电子显微镜（SEM）是1965年发明的主要用于细胞生物学研究电子显微镜，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子。 二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起
场发射扫描电子显微镜的功－能介绍
场发射扫描电子显微镜（FESEM）是电子显微镜的一种。该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。该仪器利用二次电子成像原理，在镀膜或不镀膜的基础上，低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、细胞、微生物以及生物大分子等，获得忠实原貌的立体感极强的样品表面
场发射扫描电子显微镜
场发射扫描电子显微镜(FESEM)是电子显微镜的一种。 该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。该仪器利用二次电子成像原理，在镀膜或不镀膜的基础上，低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、细胞、微生物以及生物大分子等，获得忠实原貌的立体感极强的
场发射扫描电子显微镜的功能介绍
场发射扫描电子显微镜（FESEM）是电子显微镜的一种。该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。该仪器利用二次电子成像原理，在镀膜或不镀膜的基础上，低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、细胞、微生物以及生物大分子等，获得忠实原貌的立体感极强的样品表面
地学实验室及仪器扫盲（5）电子探针实验室
实验设备 名称：SX51型电子探针 型号：SX51 性能指标：法国CAMRCA公司生产 1994年10月安装使用 配备3道波谱仪（WDS） 、OXFORD公司LINK ISIS能谱仪（EDS）以及阴极发光（CL）探头。 空间分辨率7nm； 8块分光晶体，可分析Na-U间的元素。
常见扫描电子显微镜图像的缺陷和解决方法
扫描电子显微镜最基本的像能是二次电子像。它反映样品表面的立形貌。由样品的低参差、凹凸不平，电子束照射到样品上，不同点的作用角不同，此造激发的二次电子数不同；再由入射方向的不同，二次电子向空间散射的角度和方向也不同，此在样品凸出部分和面向检测器方向的二次电子就多些，而样品凹处和背向检测器方向的二次
扫描电镜技术及其在碳材料表征中的应用
摘要：电子显微技术是材料表征的重要技术手段之一，其中扫描电子显微镜（简称SEM）由于具有应用范围广、样品制备简单、图像景深大等优点，因而在碳材料表征中发挥着越来越重要的作用。本文在介绍扫描电镜的结构、工作原理及样品制备的基础上，简要概述了扫描电镜在材料表征中的应用，并以碳纳米管为例对图谱进行了分析。
扫描电子显微镜的工作原理及主要结构
一、扫描电子显微镜SEM工作原理扫描电子显微镜SEM是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是最主要的成像信号。由电子枪发射的能量为5-35KeV的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定
扫描电镜的两只眼睛背散射模式和二次电子模式
飞纳电镜为客户配备了二次电子成像模式，使得对样品立体外观形貌的观察又上了一个台阶。飞纳电镜拥有了两只观测样品的“眼睛”——背散射探测器（BSD）和二次电子探测器（SED），不管您有什么观测需求，这两只“眼睛”都可以满足您绝大部分的要求。 二次电子模式 飞纳台式扫描电镜内部可配备二次电子探头，收集从样
金相图与SEM图的区别
金相观察是依赖可见光的反射,其原理是被腐蚀的晶界处发生漫反射,在照片上是暗的;未被腐蚀的晶粒内部发生的是镜面反射,在照片上是亮的.SEM分二次电子像和背散射电子像:二次电子像必须腐蚀样品,不腐蚀的话什么都看不到.照完金相的样品可以直接照二次电子,但照片的情况有所不同,
电子显微镜的性能及应用
一、 扫描电子显微镜的工作原理扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是zui主要的成像信号。由电子枪发射的能量为5-35keV的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和
影响透射电镜放大倍数的因素
A. 入射电子束束斑直径：为扫描电镜分辨本领的极限。一般，热阴极电子枪的最小束斑直径可缩小到6nm，场发射电子枪可使束斑直径小于3nm。 B. 入射电子束在样品中的扩展效应：扩散程度取决于入射束电子能量和样品原子序数的高低。入射束能量越高，样品原子序数越小，则电子束作用体积越大，产生信号的区域
影响透射电镜放大倍数的因素
A. 入射电子束束斑直径：为扫描电镜分辨本领的极限。一般，热阴极电子枪的最小束斑直径可缩小到6nm，场发射电子枪可使束斑直径小于3nm。 B. 入射电子束在样品中的扩展效应：扩散程度取决于入射束电子能量和样品原子序数的高低。入射束能量越高，样品原子序数越小，则电子束作用体积越大，产生信号的区域
影响扫描电镜的因素有哪些
A. 入射电子束束斑直径:为扫描电镜分辨本领的极限.一般,热阴极电子枪的最小束斑直径可缩小到6nm,场发射电子枪可使束斑直径小于3nm.B. 入射电子束在样品中的扩展效应:扩散程度取决于入射束电子能量和样品原子序数的高低.入射束能量越高,样品原子序数越小,则电子束作用体积越大,产生信号的区域随电子束
影响透射电镜放大倍数的因素
A. 入射电子束束斑直径：为扫描电镜分辨本领的极限。一般，热阴极电子枪的最小束斑直径可缩小到6nm，场发射电子枪可使束斑直径小于3nm。 B. 入射电子束在样品中的扩展效应：扩散程度取决于入射束电子能量和样品原子序数的高低。入射束能量越高，样品原子序数越小，则电子束作用体积越大，产生信号的区域
影响扫描电镜的因素有哪些
A. 入射电子束束斑直径:为扫描电镜分辨本领的极限.一般,热阴极电子枪的最小束斑直径可缩小到6nm,场发射电子枪可使束斑直径小于3nm.B. 入射电子束在样品中的扩展效应:扩散程度取决于入射束电子能量和样品原子序数的高低.入射束能量越高,样品原子序数越小,则电子束作用体积越大,产生信号的区域随电子束
浅谈扫描电子显微镜的特点与结构
扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是zui主要的成像信号。由电子枪发射的能量为5～35keV 的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描
浅谈扫描电子显微镜的特点与结构
扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是zui主要的成像信号。由电子枪发射的能量为5～35keV 的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描
扫描电子显微镜基础知识
扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是zui主要的成像信号。由电子枪发射的能量为 5 ～ 35keV 的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度 和束斑直径的微细电子束
日本电子发布新一代FEEPMA
分析测试百科网讯 近日，日本电子株式会社发布了肖特基式场发射电子探针显微分析仪(EPMA)JXA-8530F Plus。JXA-8530FPlus 产品研发背景 日本电子在2003年推出了世界上第一台商业化的FE-EPMA，JXA-8500F。一直被高度重视的FE-EPMA被应用于金属、材料
扫描电子显微镜的发展简史及类型
发展简史 1932年，Knoll 提出了SEM可成像放大的概念，并在1935年制成了极其原始的模型。 1938年，德国的阿登纳制成了第一台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。由于不能获得高分辨率的样品表面电子像，SEM一直得不到发展，只能在电子探针X射线微分析仪中作为一种辅助的成像装置。此后，
关于分析电子显微镜的基本信息介绍
分析电子显微镜是由透射电子显微镜、扫描电子显微镜和电子探针组合而成的多功能的新型仪器。 是由透射电子显微镜、扫描电子显微镜和电子探针组合而成的多功能的新型仪器。其功能有：可获得透射电子图像、扫描透射电子图像、二次电子图像、背散射电子图像和X射线图像，可用X射线能谱和电子能谱进行微-微区成分分析
X荧光光谱仪分析模式及优点
X荧光光谱仪可以应用于水泥、钢铁、建材、石化、有色、硅酸盐、煤炭、高岭土、耐火材料、科研、环保等行业，是一种中型、经济、高性能的光谱仪。采用固定通道，减少测量时间；固定通道尤其适用于荧光产额较低的轻元素和微量元素的测定，以提高分析精度和灵敏度。X荧光光谱仪采用操作方便，用户习惯的智能化软件，提供全自
影响透射电子显微镜分辨率的因素有哪些
影响扫描电镜的分辨本领的主要因素有：A. 入射电子束束斑直径：为扫描电镜分辨本领的极限。一般，热阴极电子枪的最小束斑直径可缩小到6nm，场发射电子枪可使束斑直径小于3nm。B. 入射电子束在样品中的扩展效应：扩散程度取决于入射束电子能量和样品原子序数的高低。入射束能量越高，样品原子序数越小，则电子束
影响扫描电镜的分辨本领的主要因素
影响扫描电镜的分辨本领的主要因素有：A. 入射电子束束斑直径：为扫描电镜分辨本领的极限。一般，热阴极电子枪的最小束斑直径可缩小到6nm，场发射电子枪可使束斑直径小于3nm。B. 入射电子束在样品中的扩展效应：扩散程度取决于入射束电子能量和样品原子序数的高低。入射束能量越高，样品原子序数越小，则电子束
影响透射电子显微镜分辨率的因素有哪些
影响扫描电镜的分辨本领的主要因素有：A. 入射电子束束斑直径：为扫描电镜分辨本领的极限。一般，热阴极电子枪的最小束斑直径可缩小到6nm，场发射电子枪可使束斑直径小于3nm。B. 入射电子束在样品中的扩展效应：扩散程度取决于入射束电子能量和样品原子序数的高低。入射束能量越高，样品原子序数越小，则电子束
影响透射电子显微镜分辨率的因素有哪些
影响扫描电镜的分辨本领的主要因素有：A. 入射电子束束斑直径：为扫描电镜分辨本领的极限。一般，热阴极电子枪的最小束斑直径可缩小到6nm，场发射电子枪可使束斑直径小于3nm。B. 入射电子束在样品中的扩展效应：扩散程度取决于入射束电子能量和样品原子序数的高低。入射束能量越高，样品原子序数越小，则电子束