电子探针X射线显微分析仪的透射电子相关内容
当电子束入射到薄的样品上，如果样品厚度比入射电子的有效穿透深度小得多，会有一定的入射电子穿透样品，这部分电子称为透射电子。电子的穿透能力与加速电压有关，加速电压高则入射电子能量大，穿透能力强。透射电子数目与样品厚度成反比，与原子序数成正比。用途:可通过电子能量损失的方法。测定样品成分；可观察样品形貌；可进行电子衍射晶体结构分析。......阅读全文
透射电子显微术－TEM
分析原理：高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成衬度，显示出图象谱图的表示方法：质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象、和分子象提供的信息：晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等
1.3亿元项目中标结果公布，中科院24年集采尘埃落定
此前，中国科学院发布“2024 年仪器设备部门集中采购项目 ”招标公告，共分28包，预算1.3亿元，集中采购电子显微镜、激光共聚焦显微镜 、质谱、核磁共振波谱、原子层沉积系统、X射线衍射仪 等30台/套仪器设备。 近日，该项目中标结果尘埃落定，日本电子 、安捷伦、布鲁克、岛津、沃特世、徕卡、蔡
电子探针的原理
电子探针的原理如图1所示。图1（1）电子光学系统。电子束直径0.1～1μm，电子束穿透深度1～3μm。被激发原子发射特征X射线谱过程如下：围绕原子核运动的内层电子，被电子束的电子轰击后，其他外层电子为补充轰击出的电子而发生跃迁，在跃迁过程中释放出能量，即发射出X射线。（2）X射线谱仪。测量各种元素产
xrf和epma两种成分分析方法有何区别
xrf和epma两种成分分析方法有何区别基本原理电子显微探针是指用聚焦很细的电子束照射要检测的样品表面，用X射线分光谱仪测量其产生的特征X射线的波长和强度。由于电子束照射面积很小，因而相应的X射线特征谱线将反映出该微小区域内的元素种类及其含量。 利用特征X射线波长来确定元素的叫做波谱仪(WDS）
电子光学系统的结构及功能特点
该系统为电子探针分析提供具有足够高的入射能量，足够大的束流和在样品表面轰击殿处束斑直径近可能小的电子束，作为X射线的激发源。为此，一般也采用钨丝热发射电子枪和2-3个聚光镜的结构。 为了提高X射线的信号强度，电子探针必须采用较扫描电镜更高的入射电子束流（在10-9-10-7A范围），常用的加速电压为
金属和合金微观分析常用技术盘点
一种金属或合金的性能取决于其本身的两个属性：一个是它的化学成分，另一个是它内部的组织结构。所以，对金属材料的成分和组织结构进行精确表征是金属材料研究的基本要求，也是实现性能控制的前提。材料分析的内容主要包括形貌分析、物相分析、成分分析、热性能分析、电性能分析等。本文就金属材料的形貌分析、物相分析
电子探针仪与扫描电镜有何异同
透射电子显微镜 (transmission electron microscopy﹐简写为TEM)。 构造原理 ： 电子显微镜的构造原理与光学显微镜相似﹐主要由照明系统和成像系统构成(图1 光学显微镜与电子显微镜的对比 )。照明系统包括电子枪和聚光镜。钨丝在真空中加热并在电场的作用下发射出电
与x射线衍射相比，电子显微镜具有哪些优势
x射线是电磁波，波长约为1?，与晶体的原子间距相近，因此入射到晶体上会发生衍射。电子也有波动性，波长与其动量成反比，经过几十伏特加速电压加速的电子，波长与x光差不多，入射到晶体上也发生衍射，衍射图样与x光十分相似。电子的波动性最初就是这样得到实验证实的。电镜是利用电子的波动性，用电子代替光波设计的显
电子透射显微镜和电子扫描显微镜的区别
透射电子显微镜是用透过样品的电子束使其成像的电子显微镜，在一个高真空系统中，由电子枪发射电子束，穿过被研究的样品，经电子透镜聚焦放大，在荧光屏上显示出高度放大的物像，还可作摄片记录的一类最常见的电子显微镜电子扫描显微镜是用电子探针对样品表面扫描使其成像的电子显微镜。应用电子束在样品表面扫描激发二次电
电子透射显微镜和电子扫描显微镜的区别
透射电子显微镜是用透过样品的电子束使其成像的电子显微镜，在一个高真空系统中，由电子枪发射电子束，穿过被研究的样品，经电子透镜聚焦放大，在荧光屏上显示出高度放大的物像，还可作摄片记录的一类最常见的电子显微镜电子扫描显微镜是用电子探针对样品表面扫描使其成像的电子显微镜。应用电子束在样品表面扫描激发二次电
电子透射显微镜和电子扫描显微镜的区别
透射电子显微镜是用透过样品的电子束使其成像的电子显微镜，在一个高真空系统中，由电子枪发射电子束，穿过被研究的样品，经电子透镜聚焦放大，在荧光屏上显示出高度放大的物像，还可作摄片记录的一类最常见的电子显微镜电子扫描显微镜是用电子探针对样品表面扫描使其成像的电子显微镜。应用电子束在样品表面扫描激发二次电
电子透射显微镜和电子扫描显微镜的区别
透射电子显微镜是用透过样品的电子束使其成像的电子显微镜，在一个高真空系统中，由电子枪发射电子束，穿过被研究的样品，经电子透镜聚焦放大，在荧光屏上显示出高度放大的物像，还可作摄片记录的一类最常见的电子显微镜电子扫描显微镜是用电子探针对样品表面扫描使其成像的电子显微镜。应用电子束在样品表面扫描激发二次电
电子透射显微镜和电子扫描显微镜的区别
透射电子显微镜是用透过样品的电子束使其成像的电子显微镜，在一个高真空系统中，由电子枪发射电子束，穿过被研究的样品，经电子透镜聚焦放大，在荧光屏上显示出高度放大的物像，还可作摄片记录的一类最常见的电子显微镜电子扫描显微镜是用电子探针对样品表面扫描使其成像的电子显微镜。应用电子束在样品表面扫描激发二次电
X射线荧光分析仪的介绍
X射线荧光分析仪主要由激发、色散（波长和能量色散）、探测、记录和测量以及数据处理等部分组成。X射线光谱仪与X射线能谱仪两类分析仪器有其相似之处，但在色散和探测方法上却完全不同。在激发源和测量装置的要求上，两类仪器也有显著的区别。X射线荧光分析仪按其性能和应用范围，可分为实验室用的X射线荧光光谱仪
X射线荧光分析仪的优点
对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测，而不毁坏样品。 测试速率高，可以在较少时间内进行大量样品测试，分析结果可以通过计算机直接连网输出。 分析速度较快。 对于纯金属可采用无标样分析，精度能达分析要求。 不需要专业实验室与操作人员，不引入其它对环境有害的物质。
X射线荧光分析仪的优点
对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测，而不毁坏样品。 测试速率高，可以在较少时间内进行大量样品测试，分析结果可以通过计算机直接连网输出。 分析速度较快。 对于纯金属可采用无标样分析，精度能达分析要求。 不需要专业实验室与操作人员，不引入其它对环境有害的物质。
X射线荧光分析仪的缺点
关于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到精确检测。在用基本参数法测试时，如果测试样品里含有C、H、O等元素，会出现误差。 不能作为仲裁分析方法，检测结果不能作为国家认证根据，不能区分元素价态。 对于钢铁等含有非金属元素的合金，需要代表性样品进行标准曲线绘制，分析结果的精确性是建立在标样
X射线荧光分析仪的缺点
关于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到精确检测。在用基本参数法测试时，如果测试样品里含有C、H、O等元素，会出现误差。 不能作为仲裁分析方法，检测结果不能作为国家认证根据，不能区分元素价态。 对于钢铁等含有非金属元素的合金，需要代表性样品进行标准曲线绘制，分析结果的精确性是建立在标样
扫描电子显微镜（SEM）和电子探针显微分析装置（EPMA）
扫描电子显微镜和电子探针显微分析仪基本原理相同，但很多人分不清其差异，实际上需要使用电子探针领域比较少，而扫描电镜相对普遍。扫描电子显微镜（SEM），主要用于固体物质表面电子显微高分辨成像，接配电子显微分析附件，可做相应的特征信号分析。 最常用的分析信号是聚焦电子束和样品相互作用区发射出的元素特征X
X射线显微镜的光源的介绍
三类X 射线光源：实验室X 射线光源(X 射线管)、直线加速器和同步辐射装置。同步辐射是既近平行又高强度，且波长可调而成为最理想的光源。未见有将直线加速器用于X 射线显微镜，实验室光源有使用的，但不能用焦点在10 mm×1 mm 左右的封闭X 射线管，可以用高功率的旋转阳极X 射线管。另外，可用
电子探针显微分析的两种扫描方式
电子探针分析有两种扫描方式：线扫描分析和面扫描分析。 （1）线扫面分析 使聚焦电子束在试样观察区内沿一选定直线（穿越粒子或界面）进行慢扫描。 X射线谱仪处于探测某已知元素特征X射线状态，得出反映该元素含量变化的特征X射线强度沿试样扫描线的分布。 X射线谱仪处于探测未知元素状态，得出沿扫描
电子探针显微镜之元素分析范围广
电子探针所分析的元素范围从硼(B)——铀(Ｕ)，因为电子探针成份分析是利用元素的特 征 X 射线，而氢和氦原子只有 K 层电子，不能产生特征 X 射线， 所以无法进行电子探针 成分分析。锂(Li)和铍(Be)虽然能产生 X 射线，但产生的特征 X 射线波长太长，通常无法进 行检测，少数电子探针
电子探针显微镜之不损坏试样探测
现在电子探针均与计算机联机，可以连续自动进行多种方法分析，并自动进行数据处理 和数据分析，对含 10 个元素以下的样品定性、定量分析，新型电子探针在 30min 左右可以 完成，如果用 EDS 进行定性、定量分析，几 min 即可完成。对表面不平的大样品进行元素 面分析时，现在可以自动聚焦分析
扫描电镜试样制备技术
试样制备技术在电子显微术中占有重要的地位，它直接关系到电子显微图像的观察效果和对图像的正确解释。如果制备不出适合电镜特定观察条件的试样，即使仪器性能再好也不会得到好的观察效果。 和透射电镜相比，扫描电镜试样制备比较简单。在保持材料原始形状情况下，直接观察和研究试样表面形貌及其它物理效应（
2011年度北京市电子显微学研讨会通知
2011年度北京市电子显微学研讨会暨第八届全国实验室科学管理交流会通知 为推动电子显微技术的进步和发展，提高广大电子显微技术工作者的学术及技术水平，促进电镜分析技术在国内生命科学、材料科学、地学等领域中的应用和发展，北京理化分析测试技术学会、北京市电镜学会计划于2011年7月15日—20日(星
七大材料结构分析方法七——探针和扫描显微分析
所谓探针，就是探测固体表面信息的针。探针射向或接近固体表面某微区，所激发的某些物理信号携带该微区的结构信息。 常用仪器：电子探针X射线显微分析仪（EPA），俄歇电子能谱（AES），X射线光电子能谱仪（XPS），扫描隧道显微镜，原子力显微镜，飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）等 应用实例
扫描电子显微镜的仪器特点
在扫描电镜中, 入射电子束在样品上的扫描和显像管中电子束在荧光屏上的扫描是用一个共同的扫描发生器控制的。这样就保证了入射电子束的扫描和显像管中电子束的扫描完全同步, 保证了样品上的“物点”与荧光屏上的“象点”在时间和空间上一一对应, 称其为“同步扫描”。一般扫描图象是由近100万个与物点一一对应的图
扫描电子显微镜的仪器特点
在扫描电镜中, 入射电子束在样品上的扫描和显像管中电子束在荧光屏上的扫描是用一个共同的扫描发生器控制的。这样就保证了入射电子束的扫描和显像管中电子束的扫描完全同步, 保证了样品上的“物点”与荧光屏上的“象点”在时间和空间上一一对应, 称其为“同步扫描”。一般扫描图象是由近100万个与物点一一对应的图
日本电子发布新一代FEEPMA
分析测试百科网讯 近日，日本电子株式会社发布了肖特基式场发射电子探针显微分析仪(EPMA)JXA-8530F Plus。JXA-8530FPlus 产品研发背景 日本电子在2003年推出了世界上第一台商业化的FE-EPMA，JXA-8500F。一直被高度重视的FE-EPMA被应用于金属、材料
8830万！中国药科大学发布2022年11月仪器采购清单
近日，中国药科大学发布了2022年11月政府采购意向，计划以8830万元预算采购流式细胞仪、液相色谱串联四级杆静电场轨道阱质谱仪、场发射电子探针显微分析仪等。详情如下：序号采购单位采购项目名称采购品目预算金额(万元)预计采购日期1中国药科大学中国药科大学质谱流式细胞仪项目A02100407 质谱仪8