WIKI资讯
WIKI资讯
所谓的标准半峰宽应该是指仪器本身的宽化因子,和实验时使用的狭缝条件关系最大,想得到它并不难。比如在相同的测量条件下,把 Si 标样放到仪器上测量 Si 的各个衍射峰的 Kα1 峰的半高宽,就是所谓的标准了。当你需要测量一系列非标样 Si 粉时,就把标样 Si 的 Kα1 峰的半宽作为标准半峰宽使用就可以了。但有很多时候合适的标准物质很难得到,你就用另外的标准物质(出峰位置很相近的标准物质)代替,也完全没有问题。也可以根据 Si 标样在整个扫描范围内的衍射峰的Kα1峰的半高宽作出仪器宽化因子-2θ关系曲线来得到任意进度的仪器宽化因子。因为谢乐方程的适用条件也就是几十到 200nm 之间,超出这个范围误差是很大的。只要你在进行相同的一系列计算时使用相同的一个参数就一般就可以满足研究工作的要求了。......阅读全文
所谓的标准半峰宽应该是指仪器本身的宽化因子,和实验时使用的狭缝条件关系最大,想得到它并不难。比如在相同的测量条件下,把 Si 标样放到仪器上测量 Si 的各个衍射峰的 Kα1 峰的半高宽,就是所谓的标准了。当你需要测量一系列非标样 Si 粉时,就把标样 Si 的 Kα1 峰的半宽作为标准半峰宽使用就
表征的是晶体的晶粒大小，晶粒越小，宽化越严重，反之晶粒越大，衍射峰越尖锐，有个谢乐公式可以根据半峰宽和d值计算晶粒大小，但这公式只能用于计算粒度小于100nm的晶粒。
XRD(X 射线衍射)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布,晶胞形状和大小等)最有力的方法。XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。因此,通过样品的 X
XRD数据改成txt文件之后编辑：只取数据部分，把数据放EXCEL中有两列取第二列——即y轴数据，复制到一个txt文件中。接下来操作如下：第1行：空第2行：10 0.02 10 80 3501（各参数说明：10-XRD扫描起始点，0.02-扫描步长，10-一分钟扫描长度，80-XRD扫描终点，350
XRD图谱峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。峰窄说明晶粒大，可以用谢乐公式算晶粒尺寸。XRD图谱峰高如果是相对背地强度高，表示晶相含量高，跟面积表示晶相含量一致。XRD图谱峰高如果是A峰相对B峰高很多，两峰的高度比“A／C”相对标准粉末衍射图对应峰的高度比要大很多，那么这个材料是A方向择
半峰宽就是色谱峰高一半处的峰宽度，又称半宽度。即通过峰高的中点作平行于峰底的直线，此直线与峰两侧相交两点之间的距离。单位为时间min 理论塔板数单位为个。保留时间为min 半峰宽minps：在给出记录纸速度的前提下。半峰宽可用cm表示。eg在柱长为2m的5%的阿皮松柱，柱温为1000C，记录纸速度为
光学仪器是由单个或多个光学器件组合构成。光学仪器主要分为两大类，一类是成实像的光学仪器，如幻灯机、照相机等；另一类是成虚像的光学仪器，如望远镜、显微镜、放大镜等。
haguruma材料内部存在的残余应力会导致衍射峰偏移，而晶粒细化，位错密度增加会造成衍射峰的宽化mygod8220XRD是晶面与反射角的关系XRD峰的偏移只可能与晶格指数的变化有关系引起晶格指数变化的因素可以有位错引起的滑移、攀移等溶质元素相互的置换，第三溶质进入间隙位置，等引起的晶格畸变pete
haguruma材料内部存在的残余应力会导致衍射峰偏移，而晶粒细化，位错密度增加会造成衍射峰的宽化mygod8220XRD是晶面与反射角的关系XRD峰的偏移只可能与晶格指数的变化有关系引起晶格指数变化的因素可以有位错引起的滑移、攀移等溶质元素相互的置换，第三溶质进入间隙位置，等引起的晶格畸变pete
研究X射线波长和一般晶体晶格参数发现，两者的尺寸是数值相当或比较接近，从而有科学家断言，晶体晶格是X射线发生衍射现象的天然栅栏！后来果然得到了验证。晶体是这样；非晶体的物质没有这种有规律的格子排列格局，当然就不能获得X射线衍射现象了。物质有没有固定的熔点、沸点，并没有验证是一个纯净物、包括晶体的独有