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ICP-MS中的干扰可分为两大类：“ 质谱干扰”和“非质谱于扰”或称为“基体效应”。质谱干扰是 ICP-MS中见到的最严重的干扰类型，通常对分析物离子流测量结果产生正误差。可进一步分为：同量异位素重叠干扰；多原子离子干扰；难熔氧化物干扰；双电荷离子干扰。第二种类型的干扰大体可分为：抑制和增强效应；由高盐含量引起的物理效应。 一、质谱干扰1）多原子离子干扰多原子离子干扰是最常见的质谱干扰类型。这些离子，顾名思义是由两个或更多的原子结合而成的短寿命的复合离子，其干扰来源为：等离子体/雾化所使用的气体、溶剂/样品的基体组分、样品中其他元素离子或者是来自周围环境氧气/氮气。例如：氩气等离子体中，氩气离子及氩气离子与其他离子形成的复合离子是造成质谱干扰的常见形式。丰度最大的40Ar+对40Ca产生强烈干扰；而40Ar+与氧结合形成40Ar16O+，则明显干扰56Fe。 尽管目前有多重样品引入技术，但目前大多数 ICP-......阅读全文
ICP-MS中的干扰可分为两大类：“ 质谱干扰”和“非质谱于扰”或称为“基体效应”。质谱干扰是 ICP-MS中见到的最严重的干扰类型，通常对分析物离子流测量结果产生正误差。可进一步分为：同量异位素重叠干扰；多原子离子干扰；难熔氧化物干扰；双电荷离子干扰。第二种类型的干扰大体可分为：抑制和增强效应；由
一、抑制或增强型干扰空间电荷效应是 ICP-MS中的基体干扰干扰主要原因。通常表现为分析信号的受到抑制或增强。 在等离子体和超声射流中，离子电流被相等的电子流所平衡，因此，整个离子束基本上呈现出电中性。而当离子束离开截取锥后，由透镜建立起的电场将收集离子而排斥电子。以使离子被束缚在一个很窄的离子束中
关键词：电感耦合等离子体发射光谱法；等离子体发射光光谱仪；应用及领域；化学分析；线性范围； 1 概述电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP
原理：ICP-MS是一个以质谱仪作为检测器的等离子体，它的进样部分及等离子体与ICP-OES的是及其相似的。ICP-OES测量的是光学光谱，ICP-MS测量的是离子质谱，ICP-MS除了元素含量测定外，还可测量同位素。 元素分析范围：3号锂(Li)-92号铀(U) 分析特点：可以分
高频振荡器发生的高频电流，经过耦合系统连接在位于等离子体发生管上端，铜制内部用水冷却的管状线圈上。石英制成的等离子体发生管内有三个同轴氩气流经通道。冷却气(Ar)通过外部及中间的通道，环绕等离子体起稳定等离子体炬及冷却石英管壁，防止管壁受热熔化的作用。工作气体(Ar)则由中部的石英管道引入，开始工作
为促进西部地区分析测试科学技术的进步，提高西部地区分析测试技术人员的专业技能，2015年7月13日-14日，由中国分析测试协会委托中国分析测试协会青年学术委员会主办，宁夏分析测试中心承办，宁夏回族自治区地质矿产中心实验室协办的中国分析测试协会第六届青年学术委员会全体学术委员会议暨学术交流会议
在TOF-ICP-MS中，根据离子飞行时间进行分离，不同于扫描型质谱根据离子质荷比进行分离。离子从等离子体采样后，加速至相同的动能，使特定质荷比的离子达到检测器的时间固定。受加速过程的影响，不同质荷比的电子在自由漂移区获得的速率不同（较轻的离子获得速率大），因此飞行时间不同。利用离子响应强度及到达检
定性分析是确定样品中是否存在某个元素或一组元素。仪器能否进行完全定量分析直接与分析方法及仪器检测能力有关。理想状态下，希望只用一个样品溶液同时测定主量、微量、痕量及超痕量元素含量。这就要求仪器对不同元素同位素具有宽的动态响应范围。实际使用过程中，通常难以在一个样品溶液同时测定主量元素(响应强度高)及
电感耦合等离子体质谱是实验室的一位大神级别的仪器，日常维护保养不容懈怠，今天就看看咱们的维护保养做的到位吗？ 一、进样系统 1、蠕动泵 进样蠕动泵管的好坏直接影响信号的稳定性,所以应经常检查,定期更换。排废液管使用期限可以长一些。但也必须经常检查,以防排废不畅,引起雾室内废液聚集
定量分析用于测定样品中组分的精确浓度，准确度高。 ICP-MS在多元素测定中具有很髙灵敏度，能够测得高质量数据。此外， ICP-MS能够进行稳定同位素测试，无需高质量标准物质即可进行准确定量。为使测试结果准确，需排除可能的干扰或采用合适的方法进行校正。因此，定量分析过程必须采用合适方法排除干扰或进行