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激光诱导击穿光谱仪有哪些特点?

·固体激光光源,多种波长可选,能量高、集中,操作调节方便,微损检测; ·样品处理方便,可直接检测固体、液体和气体样品; ·只需接通电源,无燃烧气,无需缓冲气(可选),对环境无特殊要求; ·全范围波长采集数据,分析检测速度快,典型分析1-20秒; ·数据库包含有超过7000条谱线数据,每个元素至少有5条最强谱线数据; ·分析软件兼容XP,操作简单方便,拥有强大的光谱数据库,可进行表面制图等。 Spectrolaser Target 型号扩展了Spectrolaser系列. ·装备有高分辨扫描,包括单轴,双轴或三轴模式。 ·Spectrolaser Target 可以表面元素制图,并且可以对被分析样品的任何位置进行精确检查。. ·每台 Target 型号都有一个带放大功能的轴向照相系统和十字激光定位系统,可以精确分析样品表面的每一点。. ·Target 系列包括所有Spectrolaser 产品系的分析功能,......阅读全文

激光诱导击穿光谱仪有哪些特点?

  ·固体激光光源,多种波长可选,能量高、集中,操作调节方便,微损检测;  ·样品处理方便,可直接检测固体、液体和气体样品;  ·只需接通电源,无燃烧气,无需缓冲气(可选),对环境无特殊要求;  ·全范围波长采集数据,分析检测速度快,典型分析1-20秒;  ·数据库包含有超过7000条谱线数据,每个

LIBS激光诱导击穿光谱有哪些特点

LIBS激光诱导击穿光谱测量系统,可以对固体、液体、气体中元素做快速定性定量分析。LIBS的光谱分析范围是200-1070 nm,光学分辨率0.1nm(FWHM),检测灵敏度达到ppm级。 特点: 宽光谱,高分辨率光谱分析(波长范围200-1050 nm,光学分辨率0.1 nm) 快

激光诱导击穿光谱技术有哪些应用

自从LIBS技术问世以来,该技术就被公认为是一种前景广阔的新技术,将为分析领域带来众多的创新应用。LIBS作为一种新的材料识别及定量分析技术,既可以用于实验室,也可以应用于工业现场的在线检测。其主要特点为:快速直接分析,几乎不需要样品制备可以检测几乎所有元素可以同时分析多种元素基体形态多样性 - 可

激光诱导击穿光谱仪的主要特点

  ·固体激光光源,多种波长可选,能量高、集中,操作调节方便,微损检测;  ·样品处理方便,可直接检测固体、液体和气体样品;  ·只需接通电源,无燃烧气,无需缓冲气(可选),对环境无特殊要求;  ·全范围波长采集数据,分析检测速度快,典型分析1-20秒;  ·数据库包含有超过7000条谱线数据,每个

激光诱导击穿光谱仪概述

  激光诱导击穿光谱仪是光谱分析领域一种崭新的分析手段,其基本原理是使用高能量激光光源,在分析材料表面形成高强度激光光斑(等离子体),使样品激发发光,这些光随后通过光谱系统和检测系统进行分析。这种技术对材料中的绝大部分无机元素非常敏感.。同时能分析低原子数元素例如:氢-钠的元素,这些元素用其他技术

激光诱导击穿光谱技术特点

激光诱导击穿光谱技术特点激光诱导击穿光谱技术系统在进行元素分析的时候,需要样品量极少,对样品的破坏性小;具有自清洁能力,几乎不需要样品制备;可以实现快速实时在线分析;具有遥测能力,可实现有毒、强辐射等恶劣环境中的远距离、非接触性测量;具有ppm量级探测灵敏度,可对痕量元素进行探测。

激光诱导击穿光谱分析技术有哪些优点

激光诱导击穿光谱(LIBS)是一种激光烧蚀光谱分析技术,激光聚焦在测试位点,当激光脉冲的能量密度大于击穿阈值时,即可产生等离子体。基于这种特殊的等离子体剥蚀技术,通常在原子发射光谱技术中分别独立的取样、原子化、激发三个步骤均可由脉冲激光激发源一次实现。等离子体能量衰退过程中产生连续的轫致辐射以及内部

手持式激光诱导击穿光谱仪的优点都有哪些

   手持式激光诱导击穿光谱仪该技术利用脉冲激光产生的等离子体烧蚀并激发样品(通常为固体)中的物质;    并通过光谱仪获取被等离子体激发的原子所发射的光谱,以此来识别样品中的元素组成成分,进而可以进行材料的识别、分类、定性以及定量分析。    自从手持式激光诱导击穿光谱仪问世以来,该

激光诱导击穿光谱仪的ODSS系统

一体化激光诱导击穿光谱仪中搭载了海洋自主知识产权的ODSS(Ocean Dynamoelectric Sampling Stage)系统,此系统由自动电动样品平台,气体保护内仓和成像模组共同组成,能够实现平台自动定位和气体控制。 电动平台 电动平台具有多重配置,并支持自由定制行程

激光诱导击穿光谱仪技术参数

元素测量范围原子序数Z>=1 (包括C, H, O等有机元素,以及N, Li, Be, B等轻元素,以及几乎所有金属、非金属元素)浓度范围10ppm至%级别(取决于元素及仪器配置)分析时间一般20s左右样品形态固体或粉末(粉末需要压片后测量)。直接测量,无需特别的样品制备样品放置及定位XYZ三轴可自