X射线显微镜成像与构造介绍

X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的,遵从几何光学原理,其关键部件是成像和放大作用的光学元件,在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短,在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1,故其成像放大元件不能用玻璃透镜,一般用波带片。此外,它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像,同样要求有强光源及像探测器。对光学显微镜,一般用肉眼观察,故常加一目镜起进一步放大的作用。在X 射线显微镜中当然不能用眼晴直接观察,可用CCD 等面探测器探测。显微镜的重要性能指标两者是相似的,有放大倍数、分辨力、像差等几个。X 射线显微镜的一般构造:从强光源来的光束先经聚焦元件( 在此为毛细管透镜聚焦) 使光斑尺寸变小、亮度加大,然后射到样品上,透过样品的光,再经成像放大元件( 在此为波带片) 而到达探测器( 在此为闪烁体加CCD)。成像波带片和探测器之间有一个Au 位相补偿环,在相衬成像时用。如吸收衬度成像,可移走 。聚焦放大元件常用的聚......阅读全文

X-射线显微镜成像与构造介绍

X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的,遵从几何光学原理,其关键部件是成像和放大作用的光学元件,在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短,在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1,故其成像放大元件不能用玻璃透镜,一般用波带片。此外,它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像,同样要求有强光源及

X射线显微镜的成像与构造

  X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的,遵从几何光学原理,其关键部件是成像和放大作用的光学元件,在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短,在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1,故其成像放大元件不能用玻璃透镜,一般用波带片。  此外,它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像,同样要求有

概述X射线显微镜的成像与构造

  X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的,遵从几何光学原理,其关键部件是成像和放大作用的光学元件,在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短,在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1,故其成像放大元件不能用玻璃透镜,一般用波带片。  此外,它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像,同样要求有

X-射线显微镜的基本构造

聚焦放大元件常用的聚焦镜是多层膜反射聚焦镜和波带片,成像放大元件是波带片。1 多层膜反射聚焦镜多层膜是在基板上重复涂上两种不同的材料制成的人造一维晶体。通常,一种材料是高原子序数的重金属(H),另一种是低原子序数的非金属(L)。这两个层的厚度之和dH + dL构成这多层膜的重复周期d。dH 和dL

X-射线显微镜的成像原理

X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的,遵从几何光学原理,其关键部件是成像和放大作用的光学元件,在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短,在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1,故其成像放大元件不能用玻璃透镜,一般用波带片。此外,它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像,同样要求有强光源及

X-射线显微镜的成像原理

X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的,遵从几何光学原理,其关键部件是成像和放大作用的光学元件,在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短,在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1,故其成像放大元件不能用玻璃透镜,一般用波带片。此外,它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像,同样要求有强光源及

X射线衍射仪构造

X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。  (1)高稳定度X射线源  提供测量所需的X射线,改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长,调节阳极电压可控制X射线源的强度。  (2)样品及样品位置取向的调整机构系统  样品须是单晶、粉

X射线衍射仪的基本构造介绍

  X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。  (1) 高稳定度X射线源  提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。  (2) 样品及样品位置取向的调整机构系统  样品

X射线机原理及构造

  X射线机原理及构造、X射线的发现1895年德国物理学家伦琴(W.C.RÖntgen)在研究阴极射线管中气体放电现象时,用一只嵌有两个金属电极(一个叫做阳极,一个叫做阴极)的密封玻璃管,在电极两端加上几万伏的高压电,用抽气机从玻璃管内抽出空气。为了遮住高压放电时的光线(一种弧光)外泄,在玻璃管外面

X射线衍射仪基本构造

X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。(1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。(2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、

X射线与γ射线的相关介绍

  X射线是带电粒子与物质交互作用产生的高能光量子。  X射线与γ射线有许多类似的特性,但它们起源不同。  X射线由原子外部引起,而γ射线由原子内部引起。X射线比γ射线能量低,因此穿透力小于γ射线。成千上万台X射线机在日常中被运用于医学和工业上。X射线也被用于癌症治疗中破坏癌变细胞,由于它的广泛运用

X射线衍射仪的基本构造

X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。(1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。(2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、

x射线衍射仪的基本构造

  X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。  (1) 高稳定度X射线源  提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。  (2) 样品及样品位置取向的调整机构系统  样品

x射线衍射仪的基本构造

  X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。  (1) 高稳定度X射线源  提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。  (2) 样品及样品位置取向的调整机构系统  样品

X射线衍射仪的基本构造

X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。(1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。(2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、

x射线衍射仪的基本构造

  X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。  (1) 高稳定度X射线源  提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。  (2) 样品及样品位置取向的调整机构系统  样品

复杂X射线能谱构造方法研究

本文提出了基于最小二乘法的复杂X射线能谱构造方法,介绍了其构造原理,设计了由35~100kV加速电压条件下的14个X射线过滤谱组成的构造子谱组。目标能谱模拟构造结果表明,构造能谱与目标能谱总体的相对偏差基本控制在10%以内;影响其偏差的主要因素包括构造子谱数量与形态,目标能谱的非连续可微以及射线源特

x射线衍射仪的原理及构造

  原理  x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波互相干涉,结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析衍射结果,便可获得晶体结构。以上是19

多晶X射线衍射仪的基本构造

多晶X射线衍射仪,也称粉末衍射仪,通常用于测量粉末、多晶体金属或者高聚物块体材料等。主要由四个部分构成:1) X 射线发生器(产生X射线的装置);2) 测角仪(测量角度2θ的装置); 3) X射线探测器(测量X射线强度的计数装置); 4) X射线系统控制装置(数据采集系统和各种电气系统、保护系统等)

精简解析X射线衍射仪的​基本构造

  X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析。下面本文就给大家介绍下X射线衍射仪的基本构造!   X射线衍射仪的基本构造:   X射线衍射仪的形式多种多样, 用途各异, 但其基本构成很相似, 图4为X射线衍射仪的基本构造原理图, 主要

多晶X射线衍射仪(XRD)的基本构造

多晶X射线衍射仪,也称粉末衍射仪,通常用于测量粉末、多晶体金属或者高聚物块体材料等。主要由四个部分构成:1) X 射线发生器(产生X射线的装置);2) 测角仪(测量角度2θ的装置); 3) X射线探测器(测量X射线强度的计数装置); 4) X射线系统控制装置(数据采集系统和各种电气系统、保护系统等)

磁X射线显微镜的相关介绍

  同步辐射中所含的辐射均是偏振光,可以是线偏振光,也可以是椭圆或圆偏振光,X 射线也不例外。如果待测物质具有磁性,则具有不成对电子,具有电子自旋磁矩和轨道磁矩。磁矩与不同方向的偏振光的作用是不同的,如用不同方向的圆( 线) 偏振光照射磁性材料,可以得到不同的吸收谱,该性质称圆( 线) 二色性。  

X射线显微镜的光源的介绍

  三类X 射线光源:实验室X 射线光源(X 射线管)、直线加速器和同步辐射装置。同步辐射是既近平行又高强度,且波长可调而成为最理想的光源。未见有将直线加速器用于X 射线显微镜,实验室光源有使用的,但不能用焦点在10 mm×1 mm 左右的封闭X 射线管,可以用高功率的旋转阳极X 射线管。另外,可用

X射线显微镜原理

  X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出

软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量

本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Z箍缩X射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲X射线能量进行了测量并讨论了其结果。

Nature:X射线新技术成像活体胚胎

  生物学家一直希望在活体内,以亚细胞的分辨率观察胚胎结构的变化,以分析细胞在发育过程中的行为。重要的形态发生运动贯穿着整个胚胎发育阶段,特别是当原肠胚形成时,发生了一系列剧烈而协调的细胞运动,驱动胚胎形成复杂的多层结构。   此前,人们已经通过荧光显微镜、核磁共振成像等技术,对非洲爪蟾和斑马鱼胚

基于X射线荧光的指纹元素成像

中国科学院高能物理研究所王萌研究员  中国科学院高能物理研究所王萌研究员发表主题为“基于X射线荧光的指纹元素成像”的精彩报告。指纹中化学元素可为科学研究和应用提供丰富信息。应用同步辐射X射线荧光仪可分析指纹元素,生成元素成像图。课题组分析了在不同基底上的防晒霜指纹,得到了钛和锌的指纹成像图以及元素比

X射线测厚仪与γ射线测厚仪比较

 X射线测厚仪与γ射线测厚仪比较  (1)物理特性  X射线束能缩减为很小的一点,其结构几何形状不受限制,而γ射线则不能做到,因此光子强度会急骤减少以致噪音大幅度增加。  (2)信号/噪音比  X射线测厚仪:X射线的高光子输出,能带来比γ射线在相同时间常数下约好10倍的噪音系数。  (3)反应时间 

X射线显微镜的简介

  X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出

X-射线显微镜的概念

X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的