卢瑟福背散射谱法的简介
中文名称卢瑟福背散射谱法英文名称Rutherford back scattering spectroscopy定 义以兆电子伏特级的高能氢元素离子通过针形电极(探针)以掠射方式射入试样，大部分离子由于试样原子核的库仑作用产生卢瑟福散射，改变了运动方向而形成背散射。测量背散射离子的能量、数量，分析试样所含有元素、含量和晶格的方法。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学科）......阅读全文
卢瑟福背散射谱法的简介
中文名称卢瑟福背散射谱法英文名称Rutherford back scattering spectroscopy定 义以兆电子伏特级的高能氢元素离子通过针形电极(探针)以掠射方式射入试样，大部分离子由于试样原子核的库仑作用产生卢瑟福散射，改变了运动方向而形成背散射。测量背散射离子的能量、数量，分析试
能谱法的简介
中文名称能谱法英文名称spectroscopy定 义用具有一定能量的粒子束轰击试样物质，根据被激发的粒子能量(或被试样物质反射的粒子能量和强度)与入射粒子束强度的关系图（称为能谱）实现试样的非破坏性元素分析、结构分析和表面物化特性分析的方法。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱
脉冲极谱法的简介
脉冲极谱法是一种极谱法。在滴汞电极每一汞滴成长后期的某一时刻,于线性变化的直流电压上叠加一个方波电压,并在方波电压单周期的后期记录电解电流的方法。它是所有极谱方法中灵敏度高的方法之一。所用支持电解质浓度可以很稀,若用三电极装置,还能在没有支持电解质的溶液中进行测定。
电子能谱法的简介
中文名称电子能谱法英文名称electron spectroscopy定 义记录试样物质被激发的电子能谱的分析方法。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学科）
离子中和谱法的简介
中文名称离子中和谱法英文名称ion neutralizing spectrum定 义用单能惰性气体离子束轰击试样表面，当入射的离子从试样的表面的原子中获取一个电子而被中和时，能激发出俄歇电子，通过测量该俄歇电子的能谱，分析试样表面电子状态、吸附状态、成分和能带的电子能谱法。应用学科机械工程（一级学
离子散射谱法的简介
中文名称离子散射谱法英文名称ion-scattering spectroscopy定 义使离子束倾斜入射，在一定角度上测量散射离子能谱，除氢、氦外可分析全部元素和同位素。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学科）
出现电势谱法的简介
中文名称出现电势谱法英文名称appearance potential spectroscopy定 义通过逐渐增强入射电子束的能量，测量试样被激发的Ｘ射线或俄歇电子能量的变化以分析试样表面成分，元素电子束缚能表面电子结构的电子能谱法。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析
角分辨电子谱法的简介
中文名称角分辨电子谱法英文名称angle resolved electron spectroscopy定 义通过检测器在分析时的转动来实现测量电子的能谱和电子能量角分布的电子能谱法。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学科）
关于交流极谱法的简介
将一个小振幅（几到几十毫伏）的低频正弦电压叠加在直流极谱的直流电压上面，通过测量电解池的支流电流得到交流极谱波 ，峰电位等于直流极谱的半波电位E1/2，峰电流 ip与被测物质浓度成正比。该法的特点是： ①交流极谱波呈峰形 ，灵敏度比直流极谱高 ，检测下限可达到10-7mol/L。 ②分辨率高
俄歇电子能谱法的简介
中文名称俄歇电子能谱法英文名称Auger electron spectroscopy定 义测量和分析试样产生的俄歇电子的能谱的电子能谱法。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学科）
关于电子能量损失谱法的简介
电子能量损失谱 (EELS) 是测量电子在与样品相互作用后的动能变化的一系列技术。该技术用于确定样品的原子结构和化学特性，包括：元素的种类及数量、元素的化学状态以及元素与近邻原子的集体相互作用。部分技术包括：光谱、能量过滤透射电子显微术 (EFTEM) 和DualEELS
关于示波极谱法的简介
示波极谱法是一种快速加入电解电压的极谱法。常在滴汞电极每一汞滴成长后期，在电解池的两极上，迅速加入一锯齿形脉冲电压，在几秒钟内得出一次极谱图，为了快速记录极谱图，通常用示波管的荧光屏作显示工具，因此称为示波极谱法。
离子化损失谱法的简介
中文名称离子化损失谱法英文名称ionization lose spectroscopy定 义基于原子电离时，其电子必须克服束缚能的原理，利用具有能量E的电子束激发试样原子并使之电离时，对应入射电子的剩余能量(Ea-Eb)将有相应的能谱峰，对试样的原子和结构进行定性定量分析的电子能谱法。应用学科机械
关于方波极谱法的简介
在通常的、缓慢改变的直流电压上面，叠加上一个低频率、小振幅（≤50毫伏）的方形波电压，并在方波电压改变方向前的一瞬间记录通过电解池的交流电流成分的极谱法和伏安法，是电化学分析法之一，也是极谱法中灵敏度较高者。在合适的情况下，测定的最低浓度可达10-7Μ，个别离子的检出限可达10-3Μ。 195
关于单扫描极谱法的简介
单扫描极谱法又称线性变位示波极谱法。是一种控制电位的极谱法 ，在含有被测物质的电解池中，插进两个电极，一个是滴汞电极，一个是参比电极（如甘汞电极），加上一个随时间而线性变化的直流电压，通过电解池的极谱电流在电阻R上产生电压降iR，经放大后加到示波管的垂直偏向板上，将电解池的两个电极连接在水平偏向
关于方波极谱法的简介
在通常的、缓慢改变的直流电压上面、叠加一个低频率、小振幅（≤50毫伏）的方形波电压，并在方波电压改变方向前的一瞬间记录通过电解池的交流电流的极谱方法称为方波极谱法。它是极谱法的一种，也是极谱法中灵敏度比较高的方法之一。在合适的情况下，测定的最低浓度可达10-7mol/dm3，个别离子的检出下限达
光电子能谱法的简介
中文名称光电子能谱法英文名称photoelectron spectroscopy定 义以光作激发源的电子能谱分析方法。常用激发源有X射线和紫外光。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学科）
卢瑟福粒子散射实验现象及意义
实验现象：绝大多数α粒子穿过金箔后仍沿原来的方向前进，但有少数α粒子发生了较大的偏转，并有极少数α粒子的偏转超过90°，有的甚至几乎达到180°而被反弹回来，这就是α粒子的散射现象。实验结论：正电荷集中在原子中心。大多数α粒子穿透金箔：原子内有较大空间，而且电子质量很小。一小部分α粒子改变路径：原子
背散射分析的特点
背散射分析具有许多优点：快速、定量、无损，有时还能多元素同时分析。这个方法可以作定量分析而不需要“标样”；可以得到元素的深度分布，而不需要对样品进行剥层处理（如离子溅射、化学腐蚀、机械研磨等）。因此利用背散射技术分析物质表面下组成的变化或杂质的深度分布特别合适。如果用背散射技术分析单晶样品，则可以同
背散射分析的特点
背散射分析具有许多优点：快速、定量、无损，有时还能多元素同时分析。这个方法可以作定量分析而不需要“标样”；可以得到元素的深度分布，而不需要对样品进行剥层处理（如离子溅射、化学腐蚀、机械研磨等）。因此利用背散射技术分析物质表面下组成的变化或杂质的深度分布特别合适。如果用背散射技术分析单晶样品，则可以同
背散射分析的原理
背散射分析中，入射离子同靶原子核发生的是弹性碰撞过程，利用能量守恒定律和动量守恒定律即可导出背散射离子能量E1,式中m、M分别为入射离子和靶原子的质量；E为入射离子在碰撞前的瞬时能量，若碰撞发生在靶表面,则E就是入射离子的初始能量 E0；θ为实验室坐标系中的散射角（图1）。k常称为背散射运动学因子
电子背散射衍射
20世纪90年代以来，装配在SEM上的电子背散射花样(Electron Back-scattering Patterns，简称EBSP)晶体微区取向和晶体结构的分析技术取得了较大的发展，并已在材料微观组织结构及微织构表征中广泛应用。该技术也被称为电子背散射衍射(Electron Backscatte
卢瑟福的a粒子散射实验证明了什么
卢瑟福的a粒子散射实验证明了：原子的全部正电荷和几乎全部的质量都集中在一个很小的核上。卢瑟福α粒子散射实验的结果证明了原子具有核式结构，原子的全部正电荷和几乎全部的质量都集中在一个很小的核上。实验目的卢瑟福从1909年起做了著名的α粒子散射实验，实验的目的是想证实汤姆孙原子模型的正确性，实验结果却成
紫外光电子能谱法的简介
中文名称紫外光电子能谱法英文名称ultraviolet photoelectron spectroscopy定 义用紫外光激发试样的光电子能谱法。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学科）
X射线光电子能谱法的简介
中文名称X射线光电子能谱法英文名称X-ray photoelectron spectroscopy，XPS定 义以单色X射线为光源，测量并研究光电离过程发射出的光电子能量及相关特征的方法。能够给出原子内壳层及价带中各占据轨道电子结合能和电离能的精确数值。应用学科材料科学技术（一级学科），材料科学技
常用无机材料分析方法
Elemental Analysis 元素分析Atomic absorption spectroscopy 原子吸收光谱Auger electron spectroscopy (AES) 俄歇电子能谱Electron probe microanalysis (EPMA) 电子探针微分析Electro
背散射能解释什么
入射电子在样品中受到大角度散射后反向射出背散射电子，这些背散射电子随后入射到一定的晶面，当满足布拉格衍射条件时，得到Bragg衍射花样。当电子束在样品表面做不同角度扫描时,电子束相对于某晶面的入射角在不断改变，同时由于晶面取向和其Bragg角的值都不同，因此可以获得一系列衍射信息图像。对所得背散射电
简介氦质谱检漏仪的正压法检漏方法
正压法检漏与负压法检漏相反，吸枪接在检漏仪的检测口，而被检件充入规定压力的示踪气体，漏孔泄漏出来氦气被吸枪吸入检漏仪被检测。大型容器或内部放气管量很大的容器做负压检漏很不经济，而且检漏速度慢，一般采取正压检漏。 这种正压检漏法应注意事项：第一必须校准仪器的吸枪灵敏度，再向容器内充入比一个大气压
背散射电子像的用途
可以被应用于扫描电子显微镜中，由于在扫描电子显微镜中，样品会反射部分的电子，从而能显示待检测样品表面的一些状况。
背散射电子像的用途
可以被应用于扫描电子显微镜中，由于在扫描电子显微镜中，样品会反射部分的电子，从而能显示待检测样品表面的一些状况。