透射电镜和扫描电镜的特点及应用

1、透射电子显微镜电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量,必须制备更薄的超薄切片,通常为50~100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。常用的方法有:超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品,通常是挂预处理过的铜网上进行观察。2、扫描电镜的特点:有较高的放大倍数,2-20万倍之间连续可调;有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;试样制备简单。生物:种子、花粉、细菌;医学:血球、病毒;动物:大肠、绒毛、细胞、纤维;材料:陶瓷、高分子、粉末、金属、金属夹杂物、环氧树脂;化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥(杆菌)、机械、电机及导电性样品,如半导体(IC、线......阅读全文

透射电镜象衬度简介

  象衬度是图象上不同区域间明暗程度的差别。由于图像上不同区域间存在明暗程度的差别即衬度的存在,才使得我们能观察到各种具体的图像。只有了解像衬度的形成机理,才能对各种具体的图像给予正确解释,这是进行材料电子显微分析的前提。  非晶样品的象衬度  非晶样品透射电子显微图象衬度是由于样品不同微区间存在的

球差色差校正透射电镜

球差色差校正透射电镜:球差校正器经过多年的发展,在最新的五重球差校正器的帮助下,人类成功地将球差对分辨率的影响校正到小于色差。只有校正色差才能进一步提高分辨率,于是球差色差校正透射电镜就诞生了。我们欣赏一下放置在德国Ernst Ruska-Centre的Titan G3 50-300 PICO双球差

透射电镜的制样流程

  透射电镜目前有两种制样技术:  一.负染色技术  负染色技术简单快速,可以显示生物大分子、细菌、分离的细胞器以及蛋白晶体等样品的形态、结构、大小以及表面结构的特征。尤其在病毒学中,负染色技术有着广泛的应用。  样品要求:  ①样品悬液的纯度不要求很纯,但是如果杂质太多,如大量的细胞碎片,培养基残

细菌透射电镜样品制备实验

实验方法原理 由于生物样品主要由碳、氢、氧、氮等元素组成,散射电子的能力很低,在电镜下反差小。所以在进行电镜的生物样品制备时通常还须采用重金属盐染色或金属喷镀等方法来增加样品的反差,提高观察效果。负染色法就是用电子密度高,本身不显示结构且与样品几乎不反应的物质(如磷钨酸钠或磷钨酸钾)来对样品进行「染

高分辨透射电镜的原理

一、基本原理和特点   透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上(片状< 100 nm,颗粒< 2 um),电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体

球差校正透射电镜简介

1,前言球差校正透射电镜(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)随着纳米材料的兴起而进入普通研究者的视野。超高的分辨率配合诸多的分析组件使ACTEM成为深入研究纳米世界不可或缺的利器。这里将给大家

透射电镜江湖纷争(二):FEI

  上一篇文章主要介绍了日本电子,今天,我们就一起来看看JEOL在透射电镜领域最有力的竞争者——FEI。  FEI是一家美国的高科技公司,是为全球纳米技术团体提供解决方案的创新者和领先供应商, “TOOLS FOR NANOTECH”,生产的产品主要面向半导体、数据存储、结构生物学、材料和工业领域。

扫描透射电镜(STEM)有哪些特点

扫描透射电镜(STEM)的特点:(1)STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。(2)加速电压低,可显著减少电子束对样品的损伤,而且可大大提高图像的衬度,特别适合于有机高分子、生物等软材料样品的透射分析。(3)可以观察较厚的试样和低衬度的试样。(4)扫描透射模式

普通透射电镜包括哪些结构

  透射电子显微镜(Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜 ,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后

透射电镜样品制备方法是什么

用于透射电镜下观察的试样厚度要求在50-200nm 之间,试样的制备过程大致可以分为以下三个步骤:第一步 从实物或大块样品上切割厚度为0.3-0.5mm 厚的薄片。电火花线切割法是目前用得最广泛的方法,它是用一根往返运动的金属丝作切割工具,以被切割的样品作阳极、金属丝作阴极,两极间保持一个微小的距离

透射电镜对样品有什么要求

固体,干燥,无油,电子穿透率达到80%以上。-- 金属、矿物组织,减薄到100nm以下,-- 生物组织,微米超薄切片-- 含水样品,液氮冷冻

TEM透射电镜衍射斑点怎么标定

这是一个大问题,可以先从宏观上对这个问题进行把握。打一个简单的比方,警察要查找犯罪嫌疑人是谁,在犯罪现场找到了作案者的小拇指指纹,要查到此人的信息就需要将该小拇指指纹拿到公安局的数据库中进行比对,一旦该小拇指与其中一个人的小拇指指纹对上了,很可能就是这个人作案。衍射斑点标定的过程与此相同,也是利用物

比较透射电镜和扫描电镜

1、结构差异:主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。透射电镜的样品在电子束中间,电子源在样品上方发射电子,经过聚光镜,然后穿透样品后,有后续的电磁透镜继续放大电子光束,最后投影在荧光屏幕上;扫描电镜的样品在电子束末端,电子源在样品上方发射的电子束,经过几级电磁透镜缩小,到达样品。当然后续的信号探测

透射电镜的基本原理

透射电镜的基本原理用于透射电镜中待观察样品被制成薄膜状,利用入射电子柬与它作用后的透射电子作为信号,依靠电子透镜将其聚焦成惊,并经多级放大,zui后在荧光屏或照相底片上给出所要的图象。由的特性已知,透射电子共有三类。但是必须指出透射电镜成像所利用的是,三者中与样品性状关系zui密切的透射式弹性散射电

扫描透射电镜(STEM)有哪些特点

透射电镜(TEM)和扫描透射电镜(STEM)都是使用电子束使样品成像的相关技术。使用高能电子作用于超薄样本使成像分辨率达1-2埃的数量级。与SEM相比,TEM具有更好的空间分辨率,更适用于若干分析测量。但需要多得多的样品准备. 虽然比大多数其他常见分析工具更费时,但是这些实验的宝贵信息是令人赞叹的。

透射电镜样品制备方法是什么

透射电镜试样制备:一、实验内容及目的:了解透射电镜对试样的要求,熟悉透射电镜试样的制备过程,制备一个合格的透射 电镜试样。二、薄膜样品的制备:用于透射电镜下观察的试样厚度要求在50-200nm 之间,对于不导电的陶瓷材料和脆性材料,最终减薄可采用离子减薄法。该法是用离子束在样品的两侧以一定的倾角(5

扫描透射电镜(STEM)有哪些特点

扫描透射电镜(STEM)的特点:(1)STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。(2)加速电压低,可显著减少电子束对样品的损伤,而且可大大提高图像的衬度,特别适合于有机高分子、生物等软材料样品的透射分析。(3)可以观察较厚的试样和低衬度的试样。(4)扫描透射模式

扫描透射电镜(STEM)有哪些特点

扫描透射电镜(STEM)的特点:(1)STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。(2)加速电压低,可显著减少电子束对样品的损伤,而且可大大提高图像的衬度,特别适合于有机高分子、生物等软材料样品的透射分析。(3)可以观察较厚的试样和低衬度的试样。(4)扫描透射模式

TEM透射电镜衍射斑点标定目的

1、提高格调提高格调是很容易理解的,因为凡涉是比较有档次的研究,TEM可谓是必不可少,目前的文章要是少了透射实验品质会降低不少,审稿人也没有兴趣,这样的情况下要想引起业界关注怕也是也不太容易。当然,这并不是最主要的,第二个目的才是大家真正关心的。2、辅助进行物相鉴定注意这里说的是“辅助”进行物相鉴定

对透射电镜照相室的概述

  在观察中电子束长时间轰击生物医学样品标本,必会使样品污染或损伤。所以对有诊断分析价值的区域,若想长久地观察分析和反复使用电镜成像结果,应该尽快把它保留下来,将因为电子束轰击生物医学样品造成的污染或损伤降低到最小。此外,荧光屏上的粉质颗粒的解像力还不够高,尚不能充分反映出电镜成像的分辨本领。将影像

关于透射电镜物镜的相关介绍

  处于样品室下面,紧贴样品台,是电镜中的第1个成像元件,在物镜上产生哪怕是极微小的误差,都会经过多级高倍率放大而明显地暴露出来,所以这是电镜的一个最重要部件,决定了一台电镜的分辨本领,可看作是电镜的心脏。  (1)特点 物镜是一块强磁透镜,焦距很短,对材料的质地纯度、加工精度、使用中污染的状况等工

透射电镜样品为什么要脱水

脱水之后,才能进行石蜡包埋,才能进行切片。

影响透射电镜放大倍数的因素

  A. 入射电子束束斑直径:为扫描电镜分辨本领的极限。一般,热阴极电子枪的最小束斑直径可缩小到6nm,场发射电子枪可使束斑直径小于3nm。  B. 入射电子束在样品中的扩展效应:扩散程度取决于入射束电子能量和样品原子序数的高低。入射束能量越高,样品原子序数越小,则电子束作用体积越大,产生信号的区域

扫描透射电镜(STEM)有哪些特点

扫描透射电镜(STEM)的特点:(1)STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。(2)加速电压低,可显著减少电子束对样品的损伤,而且可大大提高图像的衬度,特别适合于有机高分子、生物等软材料样品的透射分析。(3)可以观察较厚的试样和低衬度的试样。(4)扫描透射模式

简介透射电镜对样品的要求

  由于TEM得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度,因此样品观测部位要非常的薄,例如存储器器件的TEM样品一般只能有10~100nm的厚度,这给TEM制样带来很大的难度。初学者在制样过程中用手工或者机械控制磨制的成品率不高,一旦过度削磨则使该样品报废。TEM制样的另一个问题是观测点的定位,一般的

简介透射电镜的相位衬度

  如果所用试样厚度小于l00nm,甚至30nm。它是让多束衍射光束穿过物镜光阑彼此相干成象,象的可分辨细节取决于入射波被试样散射引起的相位变化和物镜球差、散焦引起的附加相位差的选择。它追求的是试样小原子及其排列状态的直接显示。  一束单色平行的电子波射入试样内,与试样内原子相互作用,发生振幅和相位

应该这么使用透射电镜样品杆

  透射电镜样品杆是利用高能电子束充当照明光源而进行放大成像的大型显微分析设备,利用透射电镜电学测试样品杆与Quanta250型扫描电镜相结合,成功搭建出在扫描电镜和透射电镜中通用的原位电学性能测试装置。应用此装置在扫描电镜和透射电镜中实现单体纳米材料应变加载下的电学性能测试,充分利用扫描电镜和透射

影响透射电镜放大倍数的因素

  A. 入射电子束束斑直径:为扫描电镜分辨本领的极限。一般,热阴极电子枪的最小束斑直径可缩小到6nm,场发射电子枪可使束斑直径小于3nm。  B. 入射电子束在样品中的扩展效应:扩散程度取决于入射束电子能量和样品原子序数的高低。入射束能量越高,样品原子序数越小,则电子束作用体积越大,产生信号的区域

透射电镜超薄切片和染色实验

实验步骤1. 取材 对一般的动物组织取材的要求如下:(1) 标本材料要新鲜,取材速度要快:由于生物组织离体后,细胞将会立即释放出各种水解酶而引起细胞自溶,使其微细结构发生改变而产生假象,故要尽量保持材料的新鲜,经解剖、手术或活检取材后迅速投入固定液内,以尽量保持细胞在活体状态的结构。(2) 取材小,

扫描透射电镜(STEM)有哪些特点

扫描透射电镜(STEM)的特点:(1)STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。(2)加速电压低,可显著减少电子束对样品的损伤,而且可大大提高图像的衬度,特别适合于有机高分子、生物等软材料样品的透射分析。(3)可以观察较厚的试样和低衬度的试样。(4)扫描透射模式