碳素材料的X射线检测和声发射检测介绍
X 射线检测 是X 射线机的最大探测厚度可达500 mm，探伤灵敏度在2 %左右，配合机械自动传动机构还可实现连续批量检测，但无法检测尺寸过小的缺陷。与超声波检测法相比，X 射线检测费用高， 需要专用场地。 [2] 声发射检测 声发射技术是物体在外力或内应力作用下，根据结构内部缺陷发出的应力波判断损伤程度的一种动态无损检测方法，能连续监测结构内部损伤的全过程，几乎不受材料的限制，但不能检测静止缺陷。因此，声发射检测可以用来对碳素制品内部缺陷进行实时动态检测，但对非加载状态的碳素制品内部缺陷的检测无能为力。......阅读全文
铸件在线X射线检测系统的技术指标及应用
铸件在线X射线检测系统适合于铸件内部气孔、浃渣、疏松、裂缝等缺陷的无损检测。 应用领域 箱体检测 汽车零部件检测 球磨铸件检测 管棒材检测 铝铸件检测 发动机壳体检测 起动机壳体检测 船舶零部件检测 汽缸体检测 螺栓检测 航空零部件检测 缸盖检测
工业高清晰X射线异物检测仪简介
产品介绍 作为可以自动检测出肉眼无法看到的食品中的异物（金属，石子，玻璃，塑料。骨头等）以及产品内部的缺陷(Void, cracks)的装置，具有可以自动检测出异物的基本功能，还可以同时检测出包装后的产品的遗落以及不良品。 主要特性 -适用对象 -食品加工 -肉加工 -农畜加
梅特勒托利多AXR－X射线检测系统上市
利用这些技术保证产品的安全和完整性，以应对竞争激烈的市场环境。 AXRX射线检测系统在设计上做到地方标准和全球标准兼顾，针对不同形式包装产品提供适合的解决方案。 特点： 设备宽度300-600mm可选，满足不同应用的需要 每分钟高达500件的传输速度确保高通过量 领先的
便携能量色散X射线荧光光谱检测土壤
能量色散X 荧光光谱仪至今还没有形成统一的国家检定规程。因此，根据仪器的实际检定要求，参考相关仪器的检定规程，对能量色散X 荧光光谱仪的检定方法进行了深入的研究和探讨，提出了能量色散X 射线荧光光谱仪的检定方法。 X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦
Bruker－AXS推出全新X射线源与检测器
7月30日， 在美国丹佛举行的X射线会议上，Bruker AXS公司（全球领先的生命科学、材料研究和工业用X-ray分析工具供应商）和Incoatec GmbH公司（X-ray光学元件供应商）宣布推出一款全新的超速度的X射线源与检测器的组合，以进一步提高现有的Bruker AXS仪器的性能，其中包括
X射线异物检测仪适用在哪些行业？
广泛应用于机场、地铁、博物馆、大使馆、海关车站、港口码头、旅游景点、工厂企业、及其他公共场所的重要部门。 主要用来检测小件货物、包裹、邮件、小型箱包、手提箱、拎包、背包等物件中所隐藏的违禁物品等。 广泛应用于食品行业、医药行业、纺织行业。 精准地检测出各种包装产品中的异物，如金属、玻璃、陶
精工盈司用于检测大米中的镉的X射线荧光检测仪器发售
精工电子纳米科技有限公司(简称：SIINT，社长：川崎贤司，总公司：千叶县千叶市)是精工电子有限公司(简称：SII，社长：新保雅文，总公司：千叶县千叶市)的全资子公司，主要从事测量分析仪器的生产和销售。本次，将于7月1日发售X射线荧光检测仪器「SEA1300VX」，无需处理就能在数分钟内检测出大
X射线应力仪的介绍的介绍
X射线为表面残余应力测定技术中数量较少的无损检测法之一，其是利用材料或制品晶面间距的变化来对应力进行测定的，作为残余应力分析和检测方法，对其研究的非常广泛，深入以及成熟。X射线残余应力分析仪利用圆形全二维探测器对X射线在给定角度入射后的全部衍射德拜环进行获取，不需要测角仪，使传统X射线残余应力分
关于x光机的X射线发现的介绍
X射线发现 1895年德国物理学家伦琴(W．C．RÖntgen)在研究阴极射线管中气体放电现象时，用一只嵌有两个金属电极(一个叫做阳极，一个叫做阴极)的密封玻璃管，在电极两端加上几万伏的高压电，用抽气机从玻璃管内抽出空气。为了遮住高压放电时的光线(一种弧光)外泄，在玻璃管外面套上一层黑色纸板。
非金属材料的X射线衍射技术内容
非金属材料的X射线衍射技术可以分析材料合成结构、氧化物固相相转变、电化学材料结构变化、纳米材料掺杂、催化剂材料掺杂、晶体材料结构、金属非金属氧化膜、高分子材料结晶度、各种沉积物、挥发物、化学产物、氧化膜相分析、化学镀电镀层相分析等。
关于X射线的本质的介绍
X射线的本质是电磁辐射，具有波粒二像性。 1）波动性 X射线的波长范围：0.01~100 用于元素分析的X射线光谱所使用的波长范围在0.01~11nm 2）粒子性 特征表现为以光子形式辐射和吸收时具有的一定的质量、能量和动量。 表现形式为在与物质相互作用时交换能量。如光电效应、荧光辐
X射线管中X射线的产生原理
实验室中X射线由X射线管产生,X射线管是具有阴极和阳极的真空管,阴极用钨丝制成,通电后可发射热电子,阳极（就称靶极）用高熔点金属制成（一般用钨,用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、铜、镍等材料）.用几万伏至几十万伏的高压加速电子,电子束轰击靶极,X射线从靶极发出.
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
X射线衍射仪的的X射线探测器和控制装置介绍
（1）X射线探测器 —— 测量X射线强度的计数装置； 计数器的主要功能是将X射线光子的能量转换成电脉冲信号。通常用于X射线衍射仪的辐射探测器有正比计数器、闪烁计数器和位敏正比探测器。 （2）X射线系统控制装置 —— 数据采集系统和各种电气系统、保护系统。 X射线能对人体组织造成伤害，在自己
无损检测的射线照相法介绍
是指用X射线或γ射线穿透试件，以胶片作为记录信息的器材的无损检测方法，该方法是最基本的，应用最广泛的一种非破坏性检验方法。 原理：射线能穿透肉眼无法穿透的物质使胶片感光，当X射线或r射线照射胶片时，与普通光线一样，能使胶片乳剂层中的卤化银产生潜影，由于不同密度的物质对射线的吸收系数不同，照射到
X射线荧光分析的相关介绍
确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用外界辐射激发待分析样品中的原子，使原子发出标识X射线（荧光），通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同，可分成带电粒子激发X荧光分析，电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。
X射线荧光分析的基本介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Bir
X射线荧光仪的相关介绍
X射线荧光仪一般是采用，激发样品中的目标元素，使之产生特征X射线，通过测量特征X射线的照射量率来确定目标元素及其含量的仪器。 仪器分为室内分析、野外便携式和X射线荧光测井仪三种类型。各种类型的仪器均由探测器和操作台两部分组成。由于目前使用的探测器（正比计数管及闪烁计数器）能量分辨率不高，不能区
特征X射线像的功能介绍
中文名称特征X射线像英文名称characteristic X-ray image定 义在扫描电子显微镜中，由电子探针激发样品而产生的特征X射线对样品所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
X射线应力仪的功能介绍
利用MSF/PSF-3M X射线应力仪可以无损地对金属材料及构件表面的残余应力进行测试。该仪器包括实验室测试部分及现场测试部分，也可以到现场对大型构件进行应力测试。测试对象中常见材料包括船体结构钢、不锈钢、有色金属等。具有无损、准确的特点。经常被用于检验各种构件处理工艺的有效性，，还可以测试应力
关于X射线的发现历史介绍
1895年11月8日傍晚，他研究阴极射线。为了防止外界光线对放电管的影响，也为了不使管内的可见光漏出管外，他把房间全部弄黑，还用黑色硬纸给放电管做了个封套。为了检查封套是否漏光，他给放电管接上电源（茹科夫线圈的电极），他看到封套没有漏光而满意。可是当他切断电源后，却意外地发现一米以外的一个小工作
X射线衍射分析的基本介绍
X射线衍射分析（X-raydiffraction，简称XRD），是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对
X射线荧光的物理原理介绍
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
X射线的基本内容介绍
X射线，是一种频率极高，波长极短、能量很大的电磁波。 X射线的频率和能量仅次于伽马射线，频率范围30PHz~300EHz，对应波长为1pm~10nm，能量为124eV~1.24MeV。X射线具有穿透性，但人体组织间有密度和厚度的差异，当X射线透过人体不同组织时，被吸收的程度不同，经过显像处理后
特征X射线像的功能介绍
中文名称特征X射线像英文名称characteristic X-ray image定 义在扫描电子显微镜中，由电子探针激发样品而产生的特征X射线对样品所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
x射线测厚仪的保养维护介绍
1）电气连接。逐个检查插拔式安装的板卡、各种插头安装连接是否牢固 ，每个接线端子是否松动或锈蚀。包括现场接线箱和 C 型架内的接插件也要仔细检查。 2）漂移测试。漂移量是测厚仪工作是否稳定的重要指标 ，如果测厚仪有故障可以明显反映出来。用一块样板连续测量 5分钟以上 ，观察是否有明显厚度变化。
关于X射线的化学效应介绍
（1）感光作用。X射线同可见光一样能使胶片感光。胶片感光的强弱与X射线量成正比，当X射线通过人体时，因人体各组织的密度不同，对X射线量的吸收不同，胶片上所获得的感光度不同，从而获得X射线的影像。 （2）着色作用。X射线长期照射某些物质如铂氰化钡、铅玻璃、水晶等，可使其结晶体脱水而改变颜色。
X射线荧光仪器的历史介绍
X射线荧光仪器是指波长为0.01~10nm的电磁波，1895年伦琴（W. C. Roentgen）在使用放电管工作时发现了X射线，因为这一个重大发现，伦琴于1901年获得了诺贝尔奖。1913年莫斯莱（H. G. Moseley）建立了X射线波长与原子序数的关系，奠定了X射线荧光光谱分析的基础，第
X射线荧光仪器的分类介绍
X射线荧光仪器根据能量分辨的原理不同，可分为波长色散型、能量色散X射线型和非色散型。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管作为激发源，产生入射X射线（一次X射线）用于激发被测样品，受激发的样品中的每一种元素都会放射出二次X射线。由于不同的元素所放射出的二次
X射线荧光仪器的基本介绍
X射线荧光仪器（X Ray Fluorescence，XRF）又称为X射线荧光光谱法，是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它是指根据原子在原级X射线或粒子的激发下发射出的次级的特征X射线（X射线荧光）的波长和长度，对元素进行定性和定量的分析方法。