X射线荧光光谱仪的使用形态

XRF用X光或其他激发源照射待分析样品,样品中的元素之内层电子被击出后,造成核外电子的跃迁,在被激发的电子返回基态的时候,会放射出特征X光;不同的元素会放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光,仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化学分析,特别是在研究金属,玻璃,陶瓷和建筑材料,以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管(EURoHS)和考古学等领域,在某种程度上与原子吸收光谱仪互补,减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。......阅读全文

X射线荧光光谱仪(XRF)-简介

X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF),是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的

X射线荧光光谱仪(XRF)基本结构

  现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成;X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统(分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统(脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。

X射线荧光光谱仪检测分析原理

  X射线荧光光谱分析仪可以对各种样品的元素组成进行定量分析,包括压片、融珠、粉末液体、甚至是庞大的样品。它使用一种高功率X射线管达到了检测限低和测量时间短的效果。具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。  X射线荧光光谱分析仪物理原理  当材料暴露在短波长X光检查,或伽马射线,其组成原子可能发生

能量色散X射线荧光光谱仪

(1)现场和原位EDXRF。现场和原位EDXRF分为两种: ①移动式谱仪,系指可以随身携带的谱仪,用于现场分析; ②手持式谱仪, 要求整机质量小于1.5 kg,可实施原位分析。现场EDXRF谱仪依据所用的激发源、探测器和电子学线路、谱仪的技术指标可划分为四代。第一代约在 20世纪60年代中期,由英、

概述x射线荧光光谱仪安全事项

  在分析过程中,给管通电后,分析仪会发射定向辐射束。应尽合理的努力使放射线的暴露量保持在实际可行的剂量限度以下。这就是所谓的ALARA(最低合理可行)原则。三个因素将有助于最大程度地减少您的辐射暴露:时间,距离和屏蔽。  尽管便携式x射线荧光光谱仪或手持式x射线荧光光谱仪元素分析仪发出的辐射与普通

X射线荧光光谱仪分光晶体简介

  分光晶体是光谱仪的重要元件,应用了X射线的衍射特性,将样品发射的各元素的特征X射线荧光,按波长分开以便测量每条谱线。不同的晶体和同一晶体的不同晶面具有不同的色散率和分辨率。  由上式可以看出,晶体角色散率和所用晶体的晶面间距2d、衍射角θ及衍射级有关,即2d间距越小,角色散率越大;衍射角越大,角

x射线荧光光谱仪材料辨识功能

  x射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。x射线荧光光谱仪检测技术的改进提高了检测速度。探测器技术及用于脉冲信号处理的电子学线路的迅速发展,在允许的死时间情况下,探测器接收光子的数量提高了1个数量级以上。   仪器是较新型X射线荧光光谱仪,具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能

能量色散X射线荧光光谱仪

在20世纪80年代初,EDXRF谱仪主要有:①液氮冷却的Si(Li)半导体探测器与X射线管及高压电源组成的谱仪; ②非色散型可携式谱仪,它主要由封闭式正比计数器和放射性核素源组成,通常一次仅能测定1~2个元素。EDXRF谱仪由于仪器性能的改善现在测定元素已由Na扩展到F,甚至可检出C; 可携式XRF

XRF(X射线荧光光谱仪)选择宝典

能测RoHS指令的仪器很多,而且这些仪器无论是国产的还是进口的,都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题,更主要的使用问题。      对六种有害物质总量的定量检测: 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。    该方法建议对来料先便携式(手持式)ROHS检测仪检测,能通过的就算合

波长色散X射线荧光光谱仪简介

  波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪,有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品,分析速度快,适用于测定原子序数4以上的所有化学元素,分析精度高,样品制备简单。

X射线荧光光谱仪的广泛应用

  X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用,是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手段之一,各种与X射线荧光光谱相关的分析技术,如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等,在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用。  X射线荧光光谱仪主要性能优势:   1.集合

波长色散X射线荧光光谱仪的特点

它的工作原理是:试样受X射线照射后,元素的原子内壳层电子被激发,并产生壳层电子跃迁而发射出该元素的特征X射线,通过探测器测量元素特征X射线的波长(能量)的强度与浓度的比例关系,便可进行定量分析   波长色散X射线荧光光谱仪的特点是什么呢?   1.可用于固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析   2

X射线荧光光谱仪的测量范围介绍

  仪器可以定量分析周期表中90%以上的元素,从镁到更重的元素。这些可测定的元素覆盖了商用发展以及合金中使用的大部分学生文化传统元素。这种方法的x射线分析仪检查技术能力,基于学生获取材料主要成分的信息,可以获得铝合金、不锈钢、铬钼合金、多管和法兰材料,很多企业基于这些合金、青铜合金、各种社会其他一些

手持X射线荧光光谱仪的用途简介

  针对岩石粉末、岩心、野外露头块样等样品,可分析从从12号元素Mg到94号元素PU之间的所有合金。  (标准型)合金分析仪器Innov-X Delta DPO2000的分析模式与元素种类  元素分析范围:从12号元素Mg镁到94号元素PU范围内的31种基本元素,在以上范围内,可以根据客户需要更换其

X射线荧光光谱仪的维护与保养

X射线荧光光谱仪属于大型分析测试仪器,对周围环境要求比较高。实验室内要保证恒温、恒湿,避免酸性气体存在;要保持清洁,避免震动;要保证电源稳定,并配有独立的地线。定期对X射线荧光光谱仪各组成部分,如高压X射线光管、检测晶体、探测器、真空系统等进行检查、维护和保养,保证仪器处于最佳的运行状态。

X射线荧光光谱仪的粒度效应介绍

  在荧光强度的推导公式中,假设的样品都是均匀且表面光滑的。但是实际上只有液体样品或经过充分抛光的纯金属或某些合金样品才能满足这些条件。对于其他固体样品特别是粉末样品常常存在着样品不均匀及粒度效应和表面效应。  均匀样品,对于固体粉末样品来说是指粉末的粒度和化学组成完全相同的样品。实验表明这种样品在

X射线荧光光谱仪的物理原理简述

X射线荧光光谱仪(X-rayFluorescenceSpectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属

x射线荧光光谱仪的应用领域

  荧光光谱仪被广泛应用于化学、环境和生物化学领域。  是研究小分子与核酸相互作用的主要手段。通过药物与核酸相互作用,使DNA与探针键合的程度减小,反映在探针荧光光谱的改变,从而可以了解药物和核酸的作用机理。  荧光光谱仪是研究药物与蛋白质相互作用的常用仪器。药物与蛋白质相互作用后可能引起药物自身荧

X射线荧光光谱仪的防护系统介绍

  X射线荧光光谱仪的防护系统是为了防止X射线泄漏,高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。高压发生器的输出功率4Kw,将高压加至X射线光管后,除小部分用于产生X射线外,大部分转化为热能,由内部油循环冷却系统带走。内循环冷却系统用于光管头部分,因此要求内循环油为电导率很低的专用油。如果长期

X射线荧光光谱仪的分类有几种

X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。X射线荧光光谱是一种常用的光谱技术,既可用于材料的组成成分分析,又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水平,分

简述X射线荧光光谱仪(XRF)的应用

  可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析,X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 (Na)到92号元素(U)

X射线荧光光谱仪的维护与保养

X射线荧光光谱仪属于大型分析测试仪器,对周围环境要求比较高。实验室内要保证恒温、恒湿,避免酸性气体存在;要保持清洁,避免震动;要保证电源稳定,并配有独立的地线。定期对X射线荧光光谱仪各组成部分,如高压X射线光管、检测晶体、探测器、真空系统等进行检查、维护和保养,保证仪器处于最佳的运行状态。

浅谈X射线荧光光谱仪的物理原理

  X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画

X射线荧光光谱仪的分析原理概括

X射线荧光光谱仪的分析原理概括X射线荧光光谱仪(X-rayFluorescenceSpectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元

X射线荧光光谱仪分类的相关介绍

  按照色散方式的不同,X射线荧光光谱仪可以分为2类:波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)。  能量色散型x射线光谱仪  现代应用X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用,是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手

分析X射线荧光光谱仪的产品特点

  X射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测,对产品和材料质量进行无损检测,对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要

X射线荧光光谱仪(XRF)的样品要求

  1.粉末样品需提供3-5g,样品要200目以下,完全烘干;  2.轻合金(铝镁合金)厚度不低于5mm,其他合金不小于1mm,其他材料厚度需满足3-5mm;  3.检测单元表面尽量平整,且长宽不超过45mm  4.粉末样品可能会使用硼酸压片,如有特殊要求,请提前说明

X射线荧光光谱仪的分析方法介绍

X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点,分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点: 分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方

X射线荧光光谱仪的分析方法介绍

X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点,分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点: 分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方

X射线荧光光谱仪的维护与保养

X射线荧光光谱仪属于大型分析测试仪器,对周围环境要求比较高。实验室内要保证恒温、恒湿,避免酸性气体存在;要保持清洁,避免震动;要保证电源稳定,并配有独立的地线。定期对X射线荧光光谱仪各组成部分,如高压X射线光管、检测晶体、探测器、真空系统等进行检查、维护和保养,保证仪器处于最佳的运行状态。