X射线分析的简介

利用 X射线与物质间的交互作用来分析物质的结构、组织和成分的一种材料物理试验。 X射线是德国人W C 伦琴于 1895年发现的。它是一种肉眼不可见的射线,但能使感光材料感光和荧光物质发光;具有较强的穿透物质的本领;能使气体电离;与可见光一样,它是沿直线传播的,在电磁场中不发生偏转。由于当时对其本质不甚了解,因此称之为X射线。后人为了纪念其发现者,也称为伦琴射线。 1912年,德国人Mvon劳厄等通过实验证实,X射线与晶体相遇时能发生衍射现象,证明了它是一种波长很短的电磁波,从而奠定了X射线衍射学的基础。1912~1913年英国人布喇格父子在进行大量的晶体结构分析的基础上阐明,可以将晶体的衍射现象看作是晶体某些晶面的“镜面反射”的结果。当这些晶面与 X射线入射方向所形成的角度θ、该组晶面的晶面间距d和入射线的波长λ之间符合2dsinθ=nλ条件时才能产生反射。式中n为任意正整数,称为衍射级数。这一方程称为布喇格定律。 x......阅读全文

X射线衍射分析有什么特点

物理特性1、穿透作用。X射线因其波长短,能量大,照在物质上时,仅一部分被物质所吸收,大部分经由原子间隙而透过,表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关,X射线的波长越短,光子的能量越大,穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关,利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开

X射线荧光分析的技术简介

  X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术,即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。  X射线是一种电磁辐射,按传统的说法,其波长介于紫外线和γ射线之间,但随着高能电子加速器的发展,电子轫致辐射所产生的X射线的

X射线分析法的简介

中文名称X射线分析法英文名称X-ray analysis定  义测量试样在各种条件下所发射的特征X射线,或者是测定试样的X射线衍射图形,包括X射线衍射分析法、发射X射线谱法和吸收X射线谱法三类。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理(三级学

X射线衍射分析有什么特点

物理特性1、穿透作用。X射线因其波长短,能量大,照在物质上时,仅一部分被物质所吸收,大部分经由原子间隙而透过,表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关,X射线的波长越短,光子的能量越大,穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关,利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开

关于X射线荧光分析的简介

  X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术,即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。

X射线衍射分析有什么特点

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X射线分析器的简介

中文名称X射线分析器英文名称X-ray analyzer定  义对X射线波长进行分析的仪器。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件(三级学科)

X射线衍射分析有什么特点

物理特性1、穿透作用。X射线因其波长短,能量大,照在物质上时,仅一部分被物质所吸收,大部分经由原子间隙而透过,表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关,X射线的波长越短,光子的能量越大,穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关,利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开

X射线荧光分析的相关介绍

  确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用外界辐射激发待分析样品中的原子,使原子发出标识X射线(荧光),通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同,可分成带电粒子激发X荧光分析,电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。

X射线衍射分析有什么特点

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X射线荧光分析技术的应用

X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段,开始于20世纪50年代初,经历了50多年的不断发展,现在已成为物质组成分析的必备方法之一。在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中,X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径;与其他分析方法

X射线衍射分析有什么特点

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X射线衍射分析有什么特点

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X射线荧光分析技术相关介绍

  X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术,即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。  X射线是一种电磁辐射,按传统的说法,其波长介于紫外线和γ射线之间,但随着高能电子加速器的发展,电子轫致辐射所产生的X射线的

X射线能谱分析过程、原理

当X射线光子进入检测器后,在Si(Li)晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的(在低温下平均为3.8ev),而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε,因此,入射X射线光子的能量越高,N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对,经过前置放大器转换成电流脉

分析X射线测厚仪的系统构成

X射线测厚仪适用范围:生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业,可以与轧机配套,应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中, x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。  X射线测厚仪的的系统构成:  1.用户操作终端  触摸屏用户操作终端包括一个专用的计算机和高分

X射线管常见故障分析

  故障一 :旋转阳极转子的故障  (1)现象  ① 电路正常,但转速明显下降;静转时间短;曝光时阳极不转动 ;② 曝光时,管电流剧增,电源保险丝熔断 ;阳极靶面某点被熔化。  (2)分析  长期工作后导致轴承磨损变形及间隙改变,固体润滑剂分子结构也会改变。  故障二 :X 射线管阳极靶面损坏  (

简述X射线荧光分析的应用

  随着仪器技术和理论方法的发展,X射线荧光分析法的应用范同越来越广。在物质的成分分析上,在冶金、地质、化工、机械、石油、建筑材料等工业部门,农业和医药卫生,以及物理、化学、生物、地学、环境、天文及考古等研究部门都得到了广泛的应用:有效地用于测定薄膜的厚度和组成.如冶金镀层或金属薄片的厚度,金属腐蚀

X射线荧光分析技术的应用

   X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段,开始于20世纪50年代初,经历了50多年的不断发展,现在已成为物质组成分析的必备方法之一。   在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中,X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径;

X射线衍射分析有什么特点

物理特性1、穿透作用。X射线因其波长短,能量大,照在物质上时,仅一部分被物质所吸收,大部分经由原子间隙而透过,表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关,X射线的波长越短,光子的能量越大,穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关,利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开

X射线荧光分析的特点介绍

  1.分析速度快,通常每个元素分析测量时间在2~lOOs之内即可完成。  2.非破坏性,X射线荧光分析对样品是非破坏性测定,使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势  3.分析样品范围广,可以对元素周期表上的多种元素进行分析,并可直接测试各种形态的样品。  4.分析样品浓度范围宽

X射线荧光分析法简介

  X射线荧光分析法(X-ray fluorescence analysis),是对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据;谱线的强度是定量分析的依据。

X射线能谱定性分析

X射线能谱定性分析快速有效,是电子探针和扫描电镜分析必须的组成部分。用X射线能谱仪测量试样特征X射线全谱中各谱峰的能量值,计算机释谱得出试样的元素组成。X射线能谱定性分析要注意背景的判别、峰的位移、峰的重叠、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干扰峰等问题,以免导致错误的分析结果。(1)背景的判别在使用X射线

X射线衍射分析有什么特点

物理特性1、穿透作用。X射线因其波长短,能量大,照在物质上时,仅一部分被物质所吸收,大部分经由原子间隙而透过,表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关,X射线的波长越短,光子的能量越大,穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关,利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开

X射线荧光分析方法的简介

  X射线荧光分析方法是一种现代光学分析方法。X射线照射物质时,除发生散射现象和吸收现象外,还能产生次级X射线,即荧光X射线。荧光X射线的波长只取决于物质中原子的种类。因此,根据荧光X射线的波长就可确定物质的元素组分;再根据该荧光X射线的强度,还可定量分析所属元素的含量。20世纪50年代开始发展,6

X射线衍射分析的原理简介

  X射线衍射分析是利用晶体形成的X射线衍射,对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定 波长的X 射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在某些方向上相位得到加强,从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。衍射X 射线满足 布拉格(

X射线衍射分析的基本介绍

  X射线衍射分析(X-raydiffraction,简称XRD),是利用晶体形成的X射线衍射,对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在某些方向上相位得到加强,从而显示与结晶结构相对

X射线荧光分析技术的应用

   X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段,开始于20世纪50年代初,经历了50多年的不断发展,现在已成为物质组成分析的必备方法之一。  在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中,X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径;与其