X射线荧光光谱仪面罩转换器介绍

在样品和准直器之间装上一个视野限制面罩,作用相当于光栏,以消除由样品杯(主成分、杂质等)产生的X射线荧光和散射线,确保准直器只检测来自样品的荧光X射线。 目前,可根据分析样品尺寸的大小和被测元素的含量选择不同尺寸的面罩,被测元素含量较高可选择尺寸小的面罩,被测元素含量较低,为了提高强度可选择较大尺寸的面罩。......阅读全文

X射线荧光光谱仪面罩转换器介绍

  在样品和准直器之间装上一个视野限制面罩,作用相当于光栏,以消除由样品杯(主成分、杂质等)产生的X射线荧光和散射线,确保准直器只检测来自样品的荧光X射线。  目前,可根据分析样品尺寸的大小和被测元素的含量选择不同尺寸的面罩,被测元素含量较高可选择尺寸小的面罩,被测元素含量较低,为了提高强度可选择较

X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍

  当X射线穿过物质时,一方面受散射作用偏离原来的传播方向,另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收,散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。  当一单色X射线穿过均匀物体时,其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix,X射线的衰减符合指数衰减定律:  式中,μ为质量衰减系数;ρ为样

X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍

  相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关,可用于研究物质的结构。  其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品,测量衍射线的角度与强度,从而推断样品的结构,这就是X射线衍射结构分析(XRD)。  另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体

X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍

  除光电吸收外,入射光子还可与原子碰撞,在各个方向上发生散射。散射作用分为两种,即相干散射和非相干散射。  相干散射:当X射线照射到样品上时,X射线便与样品中的原子相互作用,带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多,原子核的振动可忽略不计,主要是原

X-射线荧光光谱仪

用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。图

X射线荧光光谱仪X射线光管结构

  常规X射线光管主要采用端窗和侧窗两种设计。普通X射线光管一般由真空玻璃管、阴极灯丝、阳极靶、铍窗以及聚焦栅极组成,并利用高压电缆与高压发生器相接,同时高功率光管还需要配有冷却系统。侧窗和端窗X射线光管结构如图6和图7所示。  当电流流经X射线光管灯丝线圈时,引起阴极灯丝发热发光,并向四周发射电子

概述X射线荧光光谱仪X射线的产生

  根据经典电磁理论,运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的X射线源便是利用这一原理产生的:利用被高压加速的电子轰击金属靶,电子被金属靶所减速,便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线,也包括了特征谱线。  1、连续谱线  连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高,对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2~3数量级,灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。

X射线荧光光谱仪的详细介绍

  X射线荧光光谱(XRF)是一种应用十分广泛的元素分析方法,利用X射线荧光光谱仪可以直接分析固体、粉末和液体样品,具有制样简单、测试效率高、可以进行非破坏性分析等特点。秒中对样品进行快速合金分析,秒即可进行实验室精度的测量。具有合金分析软件,内嵌数百种常见合金号,中英文界面自由切换、操作简易,即使

X射线荧光光谱仪的优点介绍

 X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象,适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。 X射线荧光光谱仪的优点: 1) 分析速度快。测定用时与

X射线荧光光谱仪的分类介绍

  根据X射线荧光的产生原理,一台X射线荧光光谱仪在结构上主要由激发源、色散系统、探测系统等3部分组成。按照色散方式的不同,X射线荧光光谱仪可以分为2类:波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)。下面主要介绍波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)的仪器结构

X射线荧光光谱仪的优点介绍

X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象,适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。 X射线荧光光谱仪的优点: 1) 分析速度快。测定用时与测

X射线荧光光谱仪相关知识介绍

X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱仪产品,可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱仪具有灵明度强、度高、检测范围广、自动快速等特点,广泛应用于地质、冶金、有色金属加工、建材、考古等领域,在主、次量和痕量元素分析中发挥的作用日趋重要

X射线荧光光谱仪简介

  X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水

X射线荧光光谱仪概述

  X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水

X射线荧光光谱仪原理

X射线荧光光谱仪原理       X射线荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。其原理就是:X射线管通过产生入射X射线(一次X射线),来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光),并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这

X射线荧光光谱仪优点

X射线荧光光谱仪优点:1)可在一台仪器上可实现扫描式X射线波长色散分析、X射线能量色散分析、X-射线聚焦微小区域分析、游离氧化钙X射线衍射分析。2)波长色散通道(波谱核)和能量色散通道(能谱核)可同时分别得到Be- Am 和Na-Am 所有元素的光谱数据和定量分析结果。3)软件可以得到上述各种分析技

x射线荧光光谱仪简介

  x射线荧光光谱仪提供了一种最简单,最准确,最经济的分析方法,可用于确定多种类型材料的化学成分。它是无损且可靠的,不需要或只需很少的样品制备,适用于固体,液体和粉末状样品。它可以用于从钠到铀的多种元素,并提供亚ppm级以下的检测限;它也可以轻松,同时地测量高达100%的浓度。

X射线荧光光谱仪(XRF)

原理:用一束X射线或低能光线照射样品材料,致使样品发射二次特征X射线,也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的,样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类,根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种,前者测量精密度好

X射线荧光光谱仪(XRF)

  自1895年伦琴发现X射线以来,X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中,1910年特征X射线光谱的发现,为X射线光谱学的建立奠定了基础;20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世,使得X射线光谱学技术进入了实用阶段;60年代能量色散型X射线光谱仪的出现,促进了X射线光谱学仪器的迅

X射线荧光光谱仪结构

该系统由X射线发生器、光谱仪主体部分、电气部分及系统控制器、计算机部分组成。3.1 X射线发生器 X射线发生器由高压变压器及管流管压控制单元、X射线管、热交换器。 3.1.1高压变压器及管流管压控制单元 产生高稳定的高压加到X射线管上用以产生X射线。这里利用高电压加速的高速电子轰击X射线管金属靶面产

X射线荧光光谱仪荧光光谱的相关介绍

  能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的 半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁

X射线荧光光谱仪的测量范围介绍

  仪器可以定量分析周期表中90%以上的元素,从镁到更重的元素。这些可测定的元素覆盖了商用发展以及合金中使用的大部分学生文化传统元素。这种方法的x射线分析仪检查技术能力,基于学生获取材料主要成分的信息,可以获得铝合金、不锈钢、铬钼合金、多管和法兰材料,很多企业基于这些合金、青铜合金、各种社会其他一些

能量色散X射线荧光光谱仪介绍

能量色散X射线荧光光谱仪是根据元素辐射x射线荧光光子能量不同,经探测器接收后用脉冲高度分析器区别,进行元素鉴定,根据分析线脉冲高度分布的积分强度进行元素定量的分析方法。能量色散X射线荧光光谱仪主要用于固体、粉末或液体物质的元素分析,被广泛用于许多部门和领域,已成为理化检测、野外现场分析和过程控制分析

X射线荧光光谱仪的粒度效应介绍

  在荧光强度的推导公式中,假设的样品都是均匀且表面光滑的。但是实际上只有液体样品或经过充分抛光的纯金属或某些合金样品才能满足这些条件。对于其他固体样品特别是粉末样品常常存在着样品不均匀及粒度效应和表面效应。  均匀样品,对于固体粉末样品来说是指粉末的粒度和化学组成完全相同的样品。实验表明这种样品在

X射线荧光光谱仪分类的相关介绍

  按照色散方式的不同,X射线荧光光谱仪可以分为2类:波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)。  能量色散型x射线光谱仪  现代应用X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用,是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手

X射线荧光光谱仪的防护系统介绍

  X射线荧光光谱仪的防护系统是为了防止X射线泄漏,高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。高压发生器的输出功率4Kw,将高压加至X射线光管后,除小部分用于产生X射线外,大部分转化为热能,由内部油循环冷却系统带走。内循环冷却系统用于光管头部分,因此要求内循环油为电导率很低的专用油。如果长期

X射线荧光光谱仪的分析方法介绍

X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点,分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点: 分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方

X射线荧光光谱仪的物理原理介绍

  当材料暴露在短波长X光检查,或伽马射线,其组成原子可能发生电离,如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势,足以驱逐内层轨道的电子,然而这使原子的电子结构不稳定,在外轨道的电子会“回补”进入低轨道,以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源,光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此,物质

X射线荧光光谱仪的分析方法介绍

X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点,分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点: 分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方