X荧光光谱仪的应用简介

X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,可以 测定元素含量。 近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。 大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。......阅读全文

X荧光光谱仪的应用简介

  X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,可以 测定元素含量。  近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。  大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等

X荧光光谱仪的应用

 初从事近红外光谱分析的人员常常会提出这样的问题:什么样的近红外光谱仪器zui好? 如何选择一台合适的近红外光谱仪器?实际上,“zui好”仪器的定义是很难确定的, “zui好”的仪器也是不存在的。因为对某一特定的仪器所提出的各项要求是随着所需要解决的具体问题的不同而有所差异的。为了帮助使用者根据特定

x射线荧光光谱仪简介

  x射线荧光光谱仪提供了一种最简单,最准确,最经济的分析方法,可用于确定多种类型材料的化学成分。它是无损且可靠的,不需要或只需很少的样品制备,适用于固体,液体和粉末状样品。它可以用于从钠到铀的多种元素,并提供亚ppm级以下的检测限;它也可以轻松,同时地测量高达100%的浓度。

X射线荧光光谱仪简介

  X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水

X射线荧光光谱仪的简介

  X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特

X荧光光谱仪的原理简介

  X荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。其原理就是:X射线管通过产生入射X射线(一次X射线),来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光),并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量

能量色散型X射线荧光光谱仪的应用简介

  分析仪器主要应用于科学的研究和发展、工业过程控制以及半导体材料的物性测量领域。可为客户提供量身定制的无损分析解决方案,用以分析表征广泛的产品,例如石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。

X射线荧光发射光谱仪的简介

中文名称X射线荧光发射光谱仪英文名称X-ray fluorescent emission spectrometer定  义用于测量荧光X射线的X射线光谱仪。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件(三级学科)

X射线荧光光谱仪原理的简介

  X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。  X射线是一种波长较短的电磁辐射,通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。  XRF工作

x荧光光谱仪的应用及优点

x荧光分析已广泛应用于材料、冶金、地质、生物医学、环境监测、天体物理、文物考古、刑事侦察、工业生产等诸多领域,是一种快速、无损、多元素同时测定的分析技术,可为相关生产企业提供一种可行的、低成本的、及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素

X荧光光谱仪的应用及发展

如今,X荧光光谱仪技术已成功应用于环境、食物链、动植物、农产品、人体组织细胞及器官、生物医学材料、组织细胞、医学试剂、动植物器官、代谢产物中的无机元素测定。X荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U,含量范围ppb至100%,检

X荧光光谱仪的原理及应用

X射线光谱仪与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。X荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射,通常是指能t范围在0.1^-100keV的光子。X射线荧光光谱仪是由物质中的组成元素产生的特征辐射,通过侧里和分析样品产生的x射线荧光,即可获知样品中的元素组成,得到物质成分的定性和定量信息。 特征x射线的

X射线荧光光谱仪(XRF)的应用

可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析,X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 (Na)到92号元素(U)

X荧光光谱仪的应用及发展

X荧光光谱仪技术已成功应用于环境、食物链、动植物、农产品、人体组织细胞及器官、生物医学材料、组织细胞、医学试剂、动植物器官、代谢产物中的无机元素测定。  X荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射,通常是指能t范围在0.1^-100keV的光子。X射线光谱仪与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。X射

X荧光光谱仪的应用及原理

 X荧光光谱仪由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。技术原理受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集

X荧光光谱仪的原理及应用

  X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法,又称X射线次级发射光谱分析,是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。   X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射

简述X射线荧光光谱仪的应用

  X射线荧光光谱仪(X-rayFluorescenceSpectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在

波长色散X射线荧光光谱仪简介

  波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线),从而进行物质成分分析的仪器。  优点:  不破坏样品,分析速度快,适用于测定原子序数4以上的所有化学元素,分析精度高,样品制备简单。

波长色散X射线荧光光谱仪简介

  波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪,有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品,分析速度快,适用于测定原子序数4以上的所有化学元素,分析精度高,样品制备简单。

X射线荧光光谱仪(XRF)-简介

X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF),是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的

手持式X荧光光谱仪简介

  手持式X荧光光谱仪是是为野外、现场X荧光分析应用专门开发的仪器,可应用于各类地质矿样多元素检测和分析、矿渣精炼分析及考古研究,有长时间工作、轻巧方便等优点。  手持式能量色散分析仪,是为野外、现场X荧光分析应用专门开发的仪器类型。具有体积小、重量轻通人可手持测量的特点。它包括有害元素分析仪,合金

X射线荧光光谱仪分光晶体简介

  分光晶体是光谱仪的重要元件,应用了X射线的衍射特性,将样品发射的各元素的特征X射线荧光,按波长分开以便测量每条谱线。不同的晶体和同一晶体的不同晶面具有不同的色散率和分辨率。  由上式可以看出,晶体角色散率和所用晶体的晶面间距2d、衍射角θ及衍射级有关,即2d间距越小,角色散率越大;衍射角越大,角

手持X射线荧光光谱仪的用途简介

  针对岩石粉末、岩心、野外露头块样等样品,可分析从从12号元素Mg到94号元素PU之间的所有合金。  (标准型)合金分析仪器Innov-X Delta DPO2000的分析模式与元素种类  元素分析范围:从12号元素Mg镁到94号元素PU范围内的31种基本元素,在以上范围内,可以根据客户需要更换其

全反射X射线荧光(TXRF)应用简介

  全反射X射线荧光(TXRF)具有优异的检出限(低至ppt或pg),与其它具有类似元素检出限的检测手段相比,具有基体效应小、样品需求量小、操作相对简单、运行成本低等优势。  TXRF一次可以对70多种元素进行同时分析,这是原子吸收ETAAS和FAAS方法难以完成的。与质谱仪中的ICP-MS和GDM

X射线荧光光谱仪特点及应用

  1.优点:  设备相对简单。  可以在大气中工作,灵敏度高。  2.缺点:  X射线入射深度较大,因而当薄膜厚度在微米级以下时,常规射线技术在测定薄膜结构和成分信息时没有优势。  如:实验使用Cu靶X射线的波长约为0.15 nm,其在固体中的穿透厚度一般在100~10000 m之间,然而一般薄膜

X荧光光谱仪特点及应用范围

一、X荧光光谱仪应用范围X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素的含量信息。   近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得zui多也zui广泛。 大多数分析元素均可用其进行

X射线荧光光谱仪的广泛应用

  X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用,是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手段之一,各种与X射线荧光光谱相关的分析技术,如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等,在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用。  X射线荧光光谱仪主要性能优势:   1.集合

X荧光光谱仪在地矿行业的应用

    在目前地矿行业中,不管是矿业公司采购矿产资源、或开发矿权还是地矿系统单位在野外勘查和储量分析都会涉及到矿物品位问题。如果矿业公司在判断品位问题上不准确,可能会导致亏损。而地矿系统单位在野外勘查在判断品位上如果出现不准确那么会导致在估算蕴藏含量的不准确,可能会导致在开发和生产上出现重大的失误问

简述X射线荧光光谱仪(XRF)的应用

  可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析,X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 (Na)到92号元素(U)

X射线荧光光谱仪的广泛应用

 X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用,是各种无机材料中主组分分析重要的技术手段之一,各种与X射线荧光光谱相关的分析技术,如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等,在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用。  X射线荧光光谱仪主要性能优势:  1.集合了多年