关于高压x射线光管的保养介绍
（1）X射线荧光光谱仪中最昂贵的部分是高压 X射线光管，它是仪器的核心部件。高压发生器的输出功率一般为 3kW或 4 kW，将高压加至 X 射线光管后，除小部分能量用于产生X 射线外，大部分能量转化为热能，由内部水循环冷却系统带走。X射线光管对冷却水的温度、压力、电导率都有严格的要求，其最佳冷却水温为 22℃～24℃，一般不能超过 30℃，超过 35℃则使用寿命会大大降低。内部循环水用于冷却阳极靶附近的光管头部分，因此要求内部循环水为电导率很低的去离子水（必须保证该冷却水的电导率＜2 μs／cm），以防高压击穿导致 x射线光管损坏。冷却水箱内放置离子交换树脂，内部循环水通过仪器内部的去离子树脂降低电导率。树脂会年久失效，因此当高压发生器无法启动时，可检查一下内部循环水的电导率，如果电导率降不下来（电导率＞2 μs／cm时），就必须将旧的离子交换树脂取出，装入合乎要求的新离子交换树脂。另外，内部循环水的水位过低，也会导致高压......阅读全文
X射线的物理特性介绍
1、穿透作用。X射线因其波长短，能量大，照在物质上时，仅一部分被物质所吸收，大部分经由原子间隙而透过，表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关，X射线的波长越短，光子的能量越大，穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关，利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开来。
X射线荧光分析的介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
X射线衍射的应用介绍
X 射线衍射技术已经成为最基本、最重要的一种结构测试手段，其主要应用主要有以下几个方面：物相分析物相分析是X射线衍射在金属中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较，确定材料中存在的物相；后者则根据衍射花样的强度，确定材料中各相的含量。
X射线的生物特性介绍
X射线照射到生物机体时，可使生物细胞受到抑制、破坏甚至坏死，致使机体发生不同程度的生理、病理和生化等方面的改变。不同的生物细胞，对X射线有不同的敏感度，可用于治疗人体的某些疾病，特别是肿瘤的治疗。在利用X射线的同时，人们发现了导致病人脱发、皮肤烧伤、工作人员视力障碍，白血病等射线伤害的问题，在应
x射线测厚仪的X射线发射源及接收检测头介绍
采用X射线管和高压电源。X射线管装在一个抽真空后注满油的全密封的油箱中保证绝缘和良好冷却，高压等级根据所造型号不同有所区别，加上传感器具有的温度自动保护与报警功能，提高了X射线管的稳定性和使用寿命。模块化设计、免维护设计方案及规范的制造保证了设备系统高可靠性。 检测头采用电离室和电子前置放大器
XRF仪器X光管坏了有什么现象？
没有图谱、有少量的计数率或无计数率及漏油等现象。
关于X射线探伤的优缺点
X射线实时成像直观、照相底片可以长时间的保存，对薄壁工件无损探伤灵敏度较高。 对体积状缺陷敏感，缺陷影象的平面分布真实、尺寸测量精确。对工件表面光洁度没有严格要求，材料晶粒度对检测结果影响不大,可以适用于各种材料内部缺陷检测。所以在压力容器的焊接质量检验中得到广泛应用。 X射线探伤缺点：
关于X射线荧光分析的简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。
关于x射线测厚仪的检查维护
1）循环水。循环水恒温设备主要给射线源提供相对恒定的温度环境。射线源的温度波动将直接导致射线能量的变化 ，致使测量结果波动。循环水温度一般设定在 20℃ ±1℃。注意检查循环水的回水流量、水温是否正常。检查回水流量要实际查看回水管出水口的水流情况 ，不能依据测厚仪没有水流报警就断定冷却水正常—水
关于小角X射线散射的简介
小角X射线散射是一种区别于X射线大角（2θ从5 ～165 ）衍射的结构分析方法。一种区别于X射线大角（2θ从5 ～165 ）衍射的结构分析方法。利用X射线照射样品，相应的散射角2θ小（5 ～7 ），即为X射线小角散射。用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体
关于X射线荧光分析的理论基础的介绍
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子
x射线机中管电压的选择依据是什么
管电压决定了X射线的频率，频率越高穿透力越强，透射厚的工件一般选择较高的管电压。具体的依据是根据你的X射线机的曝光曲线来确定管电压。不知道你指的显像原理是照相法还是实时成像法。射线检测基本的原理是：用射线透照工件，如果工件局部区域存在缺陷，它将改变物体对射线的衰减，引起透射射线强度的变化，这样，采用
X射线应力仪的介绍的介绍
X射线为表面残余应力测定技术中数量较少的无损检测法之一，其是利用材料或制品晶面间距的变化来对应力进行测定的，作为残余应力分析和检测方法，对其研究的非常广泛，深入以及成熟。X射线残余应力分析仪利用圆形全二维探测器对X射线在给定角度入射后的全部衍射德拜环进行获取，不需要测角仪，使传统X射线残余应力分
关于平行光管的基本参数介绍
1、平行光管—成像位置（Focus position）：无穷远（Infinity position） 2、平行光管—靶面尺寸（Chart size）：127.2mm(W)x95.4mm(H) 3、平行光管—窗口尺寸（Luminance face size）：112mm(W)x 84mm(H)
X射线管中X射线的产生原理
实验室中X射线由X射线管产生,X射线管是具有阴极和阳极的真空管,阴极用钨丝制成,通电后可发射热电子,阳极（就称靶极）用高熔点金属制成（一般用钨,用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、铜、镍等材料）.用几万伏至几十万伏的高压加速电子,电子束轰击靶极,X射线从靶极发出.
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
关于X射线探测器的基本信息介绍
X射线探测器主要是用于测量目标样品发出的X射线荧光，目前市场上已经有多种不同类型的X射线荧光分析探测器可用。能量色散X射线荧光光谱分析技术通常使用的为固态探测器，例如SI-PIN探测器或者硅漂移探测器（SSD）等。每种类型的探测器在不同的应用方面都具有不同的优劣势，因此并不存在最好与最差之分，只
X射线荧光光谱仪的维护与保养
X射线荧光光谱仪属于大型分析测试仪器，对周围环境要求比较高。实验室内要保证恒温、恒湿，避免酸性气体存在；要保持清洁，避免震动；要保证电源稳定，并配有独立的地线。定期对X射线荧光光谱仪各组成部分，如高压X射线光管、检测晶体、探测器、真空系统等进行检查、维护和保养，保证仪器处于最佳的运行状态。
X射线荧光光谱仪的维护与保养
X射线荧光光谱仪属于大型分析测试仪器，对周围环境要求比较高。实验室内要保证恒温、恒湿，避免酸性气体存在；要保持清洁，避免震动；要保证电源稳定，并配有独立的地线。定期对X射线荧光光谱仪各组成部分，如高压X射线光管、检测晶体、探测器、真空系统等进行检查、维护和保养，保证仪器处于最佳的运行状态。
X射线荧光光谱仪的维护与保养
X射线荧光光谱仪属于大型分析测试仪器，对周围环境要求比较高。实验室内要保证恒温、恒湿，避免酸性气体存在；要保持清洁，避免震动；要保证电源稳定，并配有独立的地线。定期对X射线荧光光谱仪各组成部分，如高压X射线光管、检测晶体、探测器、真空系统等进行检查、维护和保养，保证仪器处于最佳的运行状态。
X射线衍射仪的的X射线探测器和控制装置介绍
（1）X射线探测器 —— 测量X射线强度的计数装置； 计数器的主要功能是将X射线光子的能量转换成电脉冲信号。通常用于X射线衍射仪的辐射探测器有正比计数器、闪烁计数器和位敏正比探测器。 （2）X射线系统控制装置 —— 数据采集系统和各种电气系统、保护系统。 X射线能对人体组织造成伤害，在自己
平行光管的功能介绍
平行光管主要是用来产生平行光束的光学仪器，是装校调整光学仪器的重要工具，也是光学量度仪器中的重要组成部分。
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
从纯技术角度讨论X光管的寿命问题
按照目前的情况来说，一般手持式EDXRF在几瓦，台式EDXRF仪器X光管的功率在几十瓦，固定道的WDXRF一般在几百瓦，而扫描道的WDXRF要用到几千瓦。另外，X光管的寿命和每个用户的仪器使用状态有很大的关系，比如，使用时，越接近光管的设计功率，使用寿命就越短；因此，X光管的寿命问题比较复杂。一
X射线荧光仪器的分类介绍
X射线荧光仪器根据能量分辨的原理不同，可分为波长色散型、能量色散X射线型和非色散型。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管作为激发源，产生入射X射线（一次X射线）用于激发被测样品，受激发的样品中的每一种元素都会放射出二次X射线。由于不同的元素所放射出的二次
X射线衍射仪的应用介绍
X射线衍射仪是对物质和材料的组成和原子级结构进行研究和鉴定的基本手段。X射线衍射仪对单晶、多晶和非晶样品进行结构参数分析，如物相鉴定和定量分析、室温至高温段的物相分析、晶胞参数测定（晶体结构分析）、多晶X-射线衍射的指标化以及晶粒尺寸和结晶度的测定等。可精确地测定物质的晶体结构，如：物相定性与定量分
X射线应力仪的功能介绍
利用MSF/PSF-3M X射线应力仪可以无损地对金属材料及构件表面的残余应力进行测试。该仪器包括实验室测试部分及现场测试部分，也可以到现场对大型构件进行应力测试。测试对象中常见材料包括船体结构钢、不锈钢、有色金属等。具有无损、准确的特点。经常被用于检验各种构件处理工艺的有效性，，还可以测试应力
特征X射线像的功能介绍
中文名称特征X射线像英文名称characteristic X-ray image定 义在扫描电子显微镜中，由电子探针激发样品而产生的特征X射线对样品所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
X射线衍射分析的基本介绍
X射线衍射分析（X-raydiffraction，简称XRD），是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对
X射线荧光分析的相关介绍
确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用外界辐射激发待分析样品中的原子，使原子发出标识X射线（荧光），通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同，可分成带电粒子激发X荧光分析，电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。