X射线荧光分析的介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一台波长色散X射线荧光分析仪，至60年代本法在分析领域的地位得以确立。......阅读全文
X射线荧光分析的介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
X射线荧光分析技术介绍
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。 在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径；与其
X射线荧光分析的特点介绍
1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。 2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势 3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。 4.分析样品浓度范围宽
X射线荧光分析的基本介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Bir
X射线荧光分析的相关介绍
确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用外界辐射激发待分析样品中的原子，使原子发出标识X射线（荧光），通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同，可分成带电粒子激发X荧光分析，电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。
X射线荧光分析技术相关介绍
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。 X射线是一种电磁辐射，按传统的说法，其波长介于紫外线和γ射线之间，但随着高能电子加速器的发展，电子轫致辐射所产生的X射线的
关于X射线荧光分析的分类介绍
1、根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。 通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长
X射线荧光分析技术的特点介绍
1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。 2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势 3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。 4.分析样品浓度范围宽
X射线荧光分析技术的应用介绍
随着仪器技术和理论方法的发展，X射线荧光分析法的应用范同越来越广。在物质的成分分析上，在冶金、地质、化工、机械、石油、建筑材料等工业部门，农业和医药卫生，以及物理、化学、生物、地学、环境、天文及考古等研究部门都得到了广泛的应用：有效地用于测定薄膜的厚度和组成．如冶金镀层或金属薄片的厚度，金属腐蚀
X射线荧光分析方法的优点介绍
①分析的元素范围广，除少数轻元素外，周期表中几乎其他所有的元素都能进行分析。随着仪器的改进，分析元素已经扩展到F，O，C等轻元素。 ②荧光X射线谱简单，谱线干扰少，对于化学性质极其相似的元素，如稀土、锆铪、铂系等，不需经过复杂的分离，就能成功地完成分析工作。 ③分析的浓度范围较宽，从常量组分
X射线荧光分析技术的相关介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。 X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S
X射线荧光分析仪的介绍
X射线荧光分析仪主要由激发、色散（波长和能量色散）、探测、记录和测量以及数据处理等部分组成。X射线光谱仪与X射线能谱仪两类分析仪器有其相似之处，但在色散和探测方法上却完全不同。在激发源和测量装置的要求上，两类仪器也有显著的区别。X射线荧光分析仪按其性能和应用范围，可分为实验室用的X射线荧光光谱仪
质子激发X射线荧光分析的X－射线谱
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽
X射线荧光分析固体样品的制备介绍
固体样品包括粉末样品、固体金属和非金属样品、固体块状样品。对于固体样品，可以采取将其制成溶液后按液体样品方式测定的方法，也可以直接以固体形态进行测定。而对于金属样品一般直接取样分析。 粉末样品制样方式比较多，通常采取压片法和熔融法。两者各有优缺点，压片法操作简便快捷但是干扰严重，测量精密度和准
X射线荧光分析所用仪器的组成介绍
X射线发生系统：产生初级高强X射线，用于激发样品； 冷却系统：用于冷却产生大量热的X射线管； 样品传输系统：将放置在样品盘中的样品传输到测定位置； 分光检测系统：把样品产生的X射线荧光用分光元件和检测器进行分光，检测； 计数系统：统计，测量由检测器测出的信号，同时也可以除去过强的信号和干
X射线荧光分析技术简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。
X射线荧光应用及分析
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量。c) 根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各
X射线荧光应用及分析
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量。 c) 根据各元素的特征X射线的强度，
X射线荧光分析技术分类
X射线荧光分析技术可以分为两大类型：波长色散X射线荧光分析(WDXRF)和能量色散X射线荧光分析(EDXRF)；而能量色散型又根据探测器的类型分为(Si-PIN)型和SDD型。在不同的应用条件下，这几种类型的技术各有其突出的特点。目前，X射线荧光分析不仅材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一
简述－X－射线荧光分析技术
X 射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为我国的相关部门提供了一种可行的、低成本的并且及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。相对于其他分析方法（例如发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等），XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理，快速、方便、测量成本低等明显优势，特别适
X射线荧光应用及分析
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量。 c) 根据各元素的特征X射线的强
X射线荧光分析法
原子发射与原子吸收光谱法是利用原子的价电子激发产生的特征光谱及其强度进行分析。 X- 射线荧光分析法则是利用原子内层电子的跃迁来进行分析。 X 射线是伦琴于 1895 年发现的一种电磁辐射，其波长为 0.01 ～ 10nm。在真空管内用电加热灯丝（钨丝阴极）产生大量热电子，热电子被高压（万伏）加速撞
简述X射线荧光分析的应用
随着仪器技术和理论方法的发展，X射线荧光分析法的应用范同越来越广。在物质的成分分析上，在冶金、地质、化工、机械、石油、建筑材料等工业部门，农业和医药卫生，以及物理、化学、生物、地学、环境、天文及考古等研究部门都得到了广泛的应用：有效地用于测定薄膜的厚度和组成．如冶金镀层或金属薄片的厚度，金属腐蚀
X射线荧光分析技术的应用
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。 在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径；与其
X射线荧光分析技术的应用
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。 在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径；
X射线荧光分析方法的简介
X射线荧光分析方法是一种现代光学分析方法。X射线照射物质时，除发生散射现象和吸收现象外，还能产生次级X射线，即荧光X射线。荧光X射线的波长只取决于物质中原子的种类。因此，根据荧光X射线的波长就可确定物质的元素组分；再根据该荧光X射线的强度，还可定量分析所属元素的含量。20世纪50年代开始发展，6
关于X射线荧光分析的简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。
X射线荧光分析的技术简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。 X射线是一种电磁辐射，按传统的说法，其波长介于紫外线和γ射线之间，但随着高能电子加速器的发展，电子轫致辐射所产生的X射线的
X射线荧光分析技术的应用
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径;与其他分析方法
X射线荧光分析实验所用的仪器介绍
根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。 通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散